的类型。将标志存储在控制部分20中采用的存储设备中。该标志指示是否(以便执行这样的类型确定)可以当在光盘介质M上执行如上所述的类型确定处理时、通过也进行二次类型确定处理来确定光盘介质M的类型。控制部分20在确定是否也已经进行了二次类型确定处理时参照所存储的标志。
[0063]如果可以通过仅进行一次类型确定处理来确定光盘介质M的类型，则控制部分20推断出信号电平未降低。在此情况下，控制流程进行至步骤S14以便以与现有方法相同的方式进行错误处理。通常，控制部分20停止读取操作。另一方面，如果可以通过也进行二次类型确定处理来确定光盘介质M是否为BD，则进行光轴偏移控制。更具体地说，在步骤S15，控制部分20在跟踪方向上将物镜34的位置从基准位置移动预定距离+ Ar。应注意，物镜34的移动方向是朝向光盘介质M的最外周的方向。结果，以如同图9B中所示的位置关系的位置关系放置物镜34和光学系统33。
[0064]如果在此状态中读取操作成功，则控制流程进行至步骤S16以照原样继续读取操作。另一方面，如果产生另一读取错误，则控制流程进行至步骤S17。此时，此时，在此步骤，控制部分20在跟踪方向上将物镜34的位置从基准位置移动预定距离- Ar。也就是说，控制部分20在与在步骤S15进行的移动的方向相反的方向上将物镜34的位置移动相同距离(也就是说，控制部分20在向着光盘介质M的中心的方向上移动物镜34的位置)。如果在此状态中读取操作成功，则控制流程进行至步骤S16以照原样继续读取操作。如果读取操作失败，则即使已经在相反方向上移动物镜34，控制流程也进行至步骤S14以便以与现有方法相同的方式进行错误处理。
[0065]当在读取操作结束时将光盘介质M从光盘装置I移除时，控制部分20将上述物镜34的位置恢复至基准位置。这是因为，根据光盘介质M的类型，在某些情况下读取操作可能成功，并且，只要读取操作成功，就不需要进行光轴偏移控制。
[0066]应注意，当根据本实施例的光盘装置I正从光盘介质M读出信息时，物镜34的跟踪方向位置由两个参数确定，所述两个参数是跟踪伺服控制的偏离(offset)值、和表示光学系统33相对于光轴位置C的位置的参数。总是将跟踪伺服控制的偏离值设置在0，而与前述光轴偏移控制无关。因此，以与现有光盘装置相同的方式，在跟踪伺服控制的执行中，控制物镜34的焦点位置跟随光盘介质M的轨道位置。根据光轴偏移控制，相对于基准位置，在光盘外周方向或光盘内周方向上，仅改变物镜34相对于光学系统33的光轴位置C的位置。
[0067]根据上述根据本实施例的光盘装置1，当由信号电平的降低产生读取错误时，物镜34相对于光学系统33的光轴的位置被偏移，使得可以预期避免所产生的信号电平降低的地方的读取操作继续。
[0068]以上描述已经说明了只有执行操作以从BD读出信息才进行的光轴偏移控制。然而，还要记住，很有可能当执行操作以从并非BD的光盘介质M读出信息时也获得相同效果。例如，当在发射用于BD的小波长光和具有相对大波长的其它光的操作中共享光学系统33的一部分和/或物镜34时，获得相同效果。因此，光盘装置I可以在从另一类型的光盘介质M读出信息时也进行类似的光轴偏移控制。另外，以上描述已经说明了当在光盘介质M的外周或内周方向上偏移物镜34时也仅在一个阶段移动物镜34的情况。然而，如果甚至由一个阶段偏移产生读取错误，则可以进一步沿着更长距离移动物镜34。
[0069]另外，根据以上描述，光盘装置I根据在用以确定光盘介质M的类型的处理中是否已经执行了二次类型确定处理，确定是否进行光轴偏移控制。然而，类型确定处理不限于此技术。例如，光盘装置I可以在产生读取错误的情况下无条件地进行光轴偏移控制。作为替代，光盘装置I可以基于当重新设置光盘介质M时执行的初始处理中测量的各种类型的数据，确定是否进行光轴偏移控制。例如，光盘装置I可以基于在用以确定光盘介质M的类型的处理中测量的各种类型的数据，确定是否进行光轴偏移控制。更具体地说，例如，当介质表面反射信号S和/或信号表面反射信号T的峰值电平不高于预先确定的阈值时，光盘装置I可以进行光轴偏移控制。介质表面反射信号S和/或信号表面反射信号T的峰值电平是初始处理中测量的峰值电平。
[0070]如上所述，光学系统33和物镜34被使用大波长光和小波长光的类型确定共享。然而，要注意，为大波长光提供的光学系统33和物镜34可以分别不同于为小波长光提供的光学系统33和物镜34。
[0071]在以上描述中，光盘装置I是用于从⑶或BD读出信息的装置。除了⑶和BD之夕卜，光盘装置I还可以是用于从诸如DVD的另一光盘介质M读出信息的装置。在任一情况下，通过使用对于现有操作不合适的相对大波长的光以彼此独立地检测介质表面反射信号S和信号表面反射信号T，来确定盘的类型。最初，如果检测到信号表面反射信号T，则光盘介质M被确定为用于具有小波长的光的类型的光盘。因此，同样，如果无法通过使用具有小波长的光检测到介质表面反射信号S，则可以识别用于小波长的类型的光盘介质M。
[0072]本技术包含与于2013年11月8日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP2013-232292中公开的主题相关的主题，通过全文引用将其内容合并在此。
[0073]本领域技术人员应理解，根据设计需求和其它因素可以进行各种修改、组合、子组合和变更，只要它们在所附权利要求或其等价物的范围内即可。
【主权项】
1.一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置，所述光盘装置包含: 发射光的发光设备； 把所述发光设备所发射的光会聚在所述光盘介质上的物镜；以及控制部分，其执行控制，以在从所述光盘介质读出信息的操作中，相对所述发光设备所发射的光的光轴位置位移所述物镜的中心位置。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其中，在产生信息读取错误的情况下，所述控制部分执行控制以位移所述物镜的中心位置。
3.根据权利要求1所述的光盘装置，其中，如果在确定所述光盘介质的类型的操作中从所述光盘介质获得的信号的电平被确定为不足时，所述控制部分执行控制以位移所述物镜的中心位置。
4.根据权利要求1所述的光盘装置，其中，所述控制部分执行控制，以通过沿所述光盘介质的径向方向位移所述物镜的中心位置来读出信息，如果还产生信息读取错误，则所述控制部分执行控制，以沿所述径向方向相反的方向位移所述物镜的中心位置。
5.一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的控制方法，所述光盘装置包括: 发射光的发光设备；以及 把所述发光设备所发射的光会聚在所述光盘介质上的物镜， 所述方法包含: 执行控制，以在从所述光盘介质读出信息的操作中，相对所述发光设备所发射的光的光轴位置位移所述物镜的中心位置。
6.一种用于控制能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的程序，所述光盘装置包括: 发射光的发光设备；以及 把所述发光设备所发射的光会聚在所述光盘介质上的物镜， 用于计算机的所述程序包含: 执行控制，以在从所述光盘介质读出信息的操作中，相对所述发光设备所发射的光的光轴位置位移所述物镜的中心位置。
7.—种能够由计算机读取并且用于存储用于控制光盘装置的程序的信息存储介质，所述光盘装置能够读出存储在光盘介质中的信息，并且所述光盘装置包括: 发射光的发光设备；以及 把所述发光设备所发射的光会聚在所述光盘介质上的物镜， 用于计算机的所述程序包含: 执行控制，以在从所述光盘介质读出信息的操作中，相对所述发光设备所发射的光的光轴位置位移所述物镜的中心位置。
【专利摘要】此处公开了一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置，所述光盘装置包括：发射光的发光设备；把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜；以及控制部分，其执行控制，以在从光盘介质读出信息的操作中，相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。
【IPC分类】G11B7-09, G11B7-135
【公开号】CN104637502
【申请号】CN201410602282
【发明人】三村聪史, 中尾进一
【申请人】索尼电脑娱乐公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2014年10月31日
【公告号】US20150131422