光介质伺服跟踪的制作方法
【技术领域】
[0001]本公开内容涉及光介质伺服系统。
【背景技术】
[0002]光带是数据存储介质。在某些例子中，它可以采用长窄条的形式，其上可以写入图案并且从中可以读取图案。相对于磁带，光带可以促进更高的数据传输率、更大的存储容量并减少存取时间。此外，由于光带利用不接触带记录表面的光学拾取单元(optical pickupunit)来写和读，因此它会比磁带更耐用。
【发明内容】
[0003]光介质存储系统包括光学拾取单元、致动器和控制器。光学拾取单元从光介质的轨道中读取数据标记、检测光学拾取单元和数据标记之间的相对位置、以及检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置。控制器基于检测到的两个相对位置命令致动器放置光学拾取单元。光学拾取单元可以产生指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的差分相位检测跟踪信号。光学拾取单元可以产生指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的主推挽跟踪信号(main push pull tracking signal)。光学拾取单元可以过滤掉差分相位检测跟踪信号的频率大于阈值频率的频率内容并且过滤掉主推挽跟踪信号的频率小于阈值频率的频率内容。光学拾取单元可以组合过滤后的差分相位检测跟踪信号和过滤后的主推挽跟踪信号，以产生混合跟踪信号。控制器可以命令致动器基于检测到的相对位置按照混合跟踪信号来放置光学拾取单元。轨道可以通过槽脊(land)和沟槽(groove)来界定。检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置可以包括检测光学拾取单元与槽脊和沟槽的边缘之间的相对位置。光介质可以是光带。
[0004]一种用于控制光学拾取单元的方法可以包括检测光学拾取单元和光介质的轨道内的数据标记之间的相对位置、检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置、以及基于检测到两个相对位置放置光学拾取单元。该方法还可以包括产生指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的差分相位检测跟踪信号。该方法还可以包括产生指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的主推挽跟踪信号。该方法还可以包括过滤掉差分相位检测跟踪信号的频率大于阈值频率的频率内容和过滤掉主推挽跟踪信号的频率小于阈值频率的频率内容。该方法还可以包括组合过滤后的差分相位检测跟踪信号和过滤后的主推挽跟踪信号，以产生混合跟踪信号。基于检测到的相对位置放置光学拾取单元可以包括处理混合跟踪信号。轨道可以通过槽脊和沟槽来界定。检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置可以包括检测光学拾取单元与槽脊和沟槽的边缘之间的相对位置。光介质可以是光带。
[0005]一种光介质系统包括光学拾取单元。光学拾取单元包括配置为产生激光束以从光介质的轨道中读取数据标记的激光二极管、配置为检测指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的数据和指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的数据的多个检测器、以及配置为基于指示光学拾取单元和数据标记之间的相对位置的数据产生差分相位检测跟踪信号的电路系统。光学拾取单元还包括配置为基于指示光学拾取单元和轨道之间的相对位置的数据产生主推挽跟踪信号的电路系统、配置为过滤掉差分相位检测跟踪信号的大于阈值的频率内容的滤波器、配置为过滤掉主推挽跟踪信号的小于阈值的频率内容的另一个滤波器、以及配置为组合过滤后的信号以产生混合跟踪信号的电路系统。轨道可以通过槽脊和沟槽来界定。检测光学拾取单元和轨道之间的相对位置可以包括检测光学拾取单元与槽脊和沟槽的边缘之间的相对位置。光介质可以是光带。
【附图说明】
[0006]图1是可重写光介质和配置为产生主推挽(MPP)或径向推挽跟踪信号的光学拾取单元的示意图。
[0007]图2是示例MPP跟踪信号的曲线图。
[0008]图3是只读光介质和配置为产生差分相位检测(DPD)跟踪信号的光学拾取单元的示意图。
[0009]图4是示例的Dro跟踪信号的曲线图。
[0010]图5是包括数据的可重写光介质和由图1的光学拾取单元产生的激光光点的相对位置的的示意图。
[0011]图6是图5的可重写光介质和由图3的光学拾取单元产生的激光光点的相对位置的示意图。
[0012]图7A和7B是包括配置为产生MPP和DB)跟踪信号的光学拾取单元的光学系统的示意图。
[0013]图8是图5的可重写光介质和由图7B的光学拾取单元产生的激光光点的相对位置的示意图。
【具体实施方式】
[0014]本文描述了本公开内容的实施例。但是，应当理解，公开的实施例仅仅是例子，并且其它的实施例可以采用各种形式和替代的形式。附图不一定是按比例绘制；一些特征可能被夸大或最小化以显示特定组件的细节。因此，本文所公开的具体结构和功能细节不应该被解释为限制，而仅仅作为教导本领域技术人员以各种方式利用本发明的代表性基础。如本领域普通技术人员将理解的，参照附图中任何一个所示出和描述的各种特征可以与在一个或多个其它附图中示出的特征组合，以产生没有被明确示出或描述的实施例。所示出的特征的组合为典型的应用提供了代表性的实施例。但是，与本公开内容的教导相一致的特征的各种组合和修改可能是特定应用或实现所期望的。
[0015]在每英寸轨道数高的光存储系统中，数据的可靠检索取决于相关联的跟踪伺服系统的性能。对这些系统中可能导致性能下降和数据丢失的轨道套准失误(mis-registrat1n)的研宄揭示了在包含数据的轨道上精确放置光学头的重要性。当前用于可重写光介质的跟踪伺服系统基于由光学拾取单元根据它的衍射性质和介质的物理格式产生的参考跟踪信号在感知的数据轨道上放置光学头。由于这些类型的放置系统通常完全取决于参考跟踪信号而不是已写入数据的实际位置，因此它们会由于各种干扰和异常易于跟踪套准失误，比如机械和光学子系统之间不对准(misalignment)或光学拾取单元之间的变化。光学拾取单元之间的变化在当介质用一个光学拾取单元写入而由另一个光学拾取单元读取时，会尤为明显，表现为轨道套准失误。
[0016]参照图1，可重写光介质10可以包括槽脊12和沟槽14。如本领域已知的，数据可以被写入到沟槽14内的相变材料或从中读取。槽脊12和沟槽14界定边缘16，其如以下所解释的，可用于跟踪的目的。
[0017]光学系统18除其它之外还可以包括光学拾取单元20。光学拾取单元20可以包括基础结构，诸如激光二极管等，以产生激光束22、正交光电集成电路(quad-PDIC)探测器24，26，28，30、放大器32，34，36，38、求和模块40，42以及求差模块44。(普通技术人员将识别出这个配置作为主推挽(MPP)或径向推挽跟踪基础结构45。短语“主推挽”通常用在光带或光盘介质的上下文中。短语“径向推挽”通常是用在盘介质的上下文中。从概念的角度看，这些短语可以被互换使用。)
[0018]指示边缘16相对于光学拾取单元20的位置的从检测器24、26、28、30的输出被分别馈送到放大器32、34、36、38。从放大器32、34的输出被馈送到求和模块40。从放大器36、38的输出被馈送到求和模块42。从求和模块40、42的输出被馈送到求差模块44。结果产生的输出可以被称为MPP或径向推挽跟踪信号。
[0019]MPP信号的形状反映了边缘16和光学拾取单元20之间的相对运动。具有水平直线形状的MPP信号，例如，将指示激光束22在边缘16之间居中。具有正弦曲线形状的MPP信号，例如，将指示激光束22相对于边缘16在移动。图2示出了这种信号的例子。因此光学系统18将试图控制光学拾取单元20的位置，以最小化这种行为。
[0020]参照图3，只读光介质46可以包括写在相变材料中的数据标记48。(不同于可重写光介质10，介质46没有槽脊和沟槽。因此，不能使用边缘用于跟踪目的。)
[0021]光学系统50除其它之外还可以包括光学拾取单元52。光学拾取单元52可以包括基础结构，诸如二极管等，以产生激光束54、quad-PDIC探测器56，58，60，62、放大器64，66，68，70、求和模块72，74、滤波器76，78、比较器80，82、相位检测器84、滤波器86，88和差分放大器90 (本领域普通技术人员将识别出这种配置作为差分相位检测(DPD)跟踪基础结构 91。)
[0022]指示数据标记48和光学拾取单元52之间的相对位置的从检测器56、58、60、62的输出被分别馈送到放大器64、66、68、70。从放大器64、68的输出被馈送到求和模块72。从放大器66、70的输出被馈送到求和模块74。从求和模块72的输出沿着路径经过滤波器76、比较器80、相位检测器84和滤波器86到差分放大器90。同样地，从求和模块74的输出沿着路径经过滤波器78、比较器82、相位检测器84和滤波器88到差分放大器90。结果产生的输出可以被称为DH)跟踪信号。
[0023]Dro信号的形状反映了数据标记48和光学拾取单元52之间的相对移动。具有水平直线形状的DH)信号，例如，将指示激光束54在数据标记48上居中。具有锯齿形状的DPD信号，例如，将指示激光束54相对于数据标记48在移动。图4示出了这种信号的例子。因此光学系统50将试图控制光学拾取单元52的位置，以最小化这种行为。
[0024]参考图5，可重写光介质92，例如光带，可以包括槽脊94和沟槽96。槽脊94和沟槽96界定边缘98。数据标记100已被写入在沟槽96内的相变材料中。但是，数据标记100并不在边缘98之间居中。即，它们从沟槽96的中心偏移。这种偏移可以导致以上提到的用于写数据标记100的光学系统的不对准、套准失误等等。
[0025]光学系统，诸如图1的光学系统18，可用于读取数据标记100。但是，如以上所解释的，光学系统18将试图在边缘98之间居中激光束22-无论数据标记100的位置在哪里-因为它使用了 MPP或径向推挽跟踪技术。激光束22和数据标记1