电子设备的存储器性能的测试方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子设备性能测试领域，特别涉及一种电子设备的存储器性能的测试方法及装置。
【背景技术】
[0002]随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得电子设备成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分。
[0003]而涌现在市场上的电子设备性能高低不一，很多用户在购买电子设备时或者购买之后有了解设备性能的意愿。其中，电子设备都有存储的功能，比如存储文件、图片、音乐等等，这使得存储器性能在电子设备性能中占有举足轻重的地位，也是用户非常关心的性能，因此，对电子设备的存储器性能的测试具有非常重要的意义。
[0004]现有技术中，对存储器性能的测试技术通常为:将文件写入存储器，然后再从存储器读取文件，进而根据写入文件和读取文件的时间确定出存储器性能。尽管现有技术能够基于存储器的性能测试标准(读写性能)进行测试，但是，没有充分考虑到存储器中文件碎片(读写过程中所产生的不连续文件)和自带的缓存区(位于存储器内部，并非I/o缓存)的影响，将导致测试结果不够准确，不能真正反映存储器的性能。
[0005]可见，如何提高电子设备的存储器性能的测试准确性是一个亟待解决的问题。
【发明内容】
[0006]基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备的存储器性能的测试方法及装置，以提高电子设备的存储器性能的测试准确性。技术方案如下:
[0007]第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备的存储器性能的测试方法，包括:
[0008]接收开始测试指令；
[0009]响应所述开始测试指令，通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，并确定通过I/o接口向所述存储器写入预定测试量的数据所消耗的第一总时间，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；
[0010]在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据，并确定通过I/o接口从所述存储器中读取已写入的数据所消耗的第二总时间；
[0011]依据所述第一总时间和所述第二总时间，确定所述存储器的性能结果。
[0012]可选的，
[0013]在向所述存储器写入预定测试量的数据时，每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同。
[0014]可选的，
[0015]通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据，包括:
[0016]通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；
[0017]在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/o接口向存储器写入数据的操作；否则，继续执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。
[0018]可选的，
[0019]所述预定测试量的数据包括本地预先存储的数据量大小为预定测试量的目标文件，所述目标文件中包括至少一个符合预定大小的预设子文件，所述预设子文件包括至少一个数据块，各所述数据块不同；
[0020]所述通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程，包括:
[0021]获得预设子文件的未被写入所述存储器的数据块，并将所获得的数据块确定为本次待写入的数据块；
[0022]将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器中；
[0023]判断是否存在所述预设子文件的未被写入到所述存储器的数据块，如果是，继续执行获得预设子文件的未被写入所述存储器的数据块，并将所获得的数据块确定为本次待写入的数据块的步骤；
[0024]否则，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程。
[0025]可选的，
[0026]所述通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程，包括:
[0027]生成随机数据，将所述随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；
[0028]对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；
[0029]将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；
[0030]判断已写入所述存储器中的关于本次待写入文件的数据量是否达到所述预定大小，如果否，将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，并继续执行对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块的步骤；
[0031]如果是，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程。
[0032]可选的，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据，包括:
[0033]通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件；
[0034]在所述当前待读取的文件读取完毕后，判断所述当前待读取的文件是否为所述至少一个符合预定大小的文件中的最后一个文件，如果是，结束读取已写入的数据的过程；否贝U，将所需读取的下一个文件作为当前待读取的文件，继续执行通过I/O接口从存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的步骤。
[0035]可选的，所述通过I/O接口从所述存储器中读取所述至少一个符合预定大小的文件中当前待读取的文件的过程，包括:
[0036]通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的数据块；
[0037]对所读取出的数据块经过第二加工方式处理；
[0038]并在经过第二加工方式处理后，继续通过I/O接口从所述存储器中读取当前待读取的文件的下一数据块，直到所述当前待读取的文件的所有数据块被读取完毕。
[0039]可选的，所述预定大小为5M-25M。
[0040]可选的，所述确定通过I/O接口向所述存储器写入预定测试量的数据所消耗的第一总时间，包括:
[0041]在开始写入数据时，记录第一系统时间；
[0042]并在结束写入数据时，记录第二系统时间；
[0043]将所述第二系统时间与所述第一系统时间之差确定为通过I/O接口向所述存储器写入预定测试量的数据所消耗的第一总时间；
[0044]相应的，所述确定通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据所消耗的第二总时间，包括:
[0045]在开始读取数据时，记录第三系统时间；
[0046]并在结束读取数据时，记录第四系统时间；
[0047]将所述第四系统时间与所述第三系统时间之差确定为通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据所消耗的第二总时间。
[0048]可选的，所述确定通过I/O接口向所述存储器写入预定测试量的数据所消耗的第一总时间，包括:
[0049]依次记录写入每一文件所消耗的第一时间；
[0050]将各个第一时间之和确定为通过I/O接口向所述存储器写入预定测试量的数据所消耗的第一总时间；
[0051]相应的，所述确定通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据所消耗的第二总时间，包括:
[0052]依次记录读取每一文件所消耗的第二时间；
[0053]将各个第二时间之和确定为通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据所消耗的第二总时间。
[0054]第二方面，本发明实施例提供了一种电子设备的存储器性能的测试装置，包括:
[0055]指令接收模式，用于接收开始测试指令；
[0056]指令响应模块，用于响应所述开始测试指令，触发数据写入模块；
[0057]所述数据写入模块，用于通过I/O接口向存储器写入预定测试量的数据；第一总时间确定模块，用于确定通过I/o接口向所述存储器写入预定测试量的数据所消耗的第一总时间，其中，所述预定测试量的数据以至少一个符合预定大小的文件的方式写入所述存储器；
[0058]数据读取模块，用于在预定测试量的数据写入完毕后，通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据；
[0059]第二总时间确定模块，用于确定通过I/O接口从所述存储器中读取已写入的数据所消耗的第二总时间；
[0060]结果确定模块，用于依据所述第一总时间和所述第二总时间，确定出所述存储器的性能结果。
[0061]可选的，在向所述存储器写入预定测试量的数据时，每个所述符合预定大小的文件以至少一个数据块的方式写入到所述存储器中，各个所述数据块不同。
[0062]可选的，所述数据写入模块，包括:
[0063]写入单元，用于通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件；
[0064]第一判断单元，用于在所述一个文件存储完成后，判断已写入所述存储器的数据是否为预定测试量，如果是，结束通过I/o接口向存储器写入数据的操作；否则，触发所述写入单元执行通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的步骤。
[0065]可选的，所述预定测试量的数据包括本地预先存储的数据量大小为预定测试量的目标文件，所述目标文件中包括至少一个符合预定大小的预设子文件，所述预设子文件包括至少一个数据块，各所述数据块不同；
[0066]所述写入单元，包括:
[0067]第一待写入数据块确定子单元，用于获得预设子文件的未被写入所述存储器的数据块，并将所获得的数据块确定为本次待写入的数据块；
[0068]第一数据块写入子单元，用于将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器中；
[0069]第一判断子单元，用于判断是否存在所述预设子文件的未被写入到所述存储器的数据块，如果是，触发所述第一待写入数据块确定子单元；否则，结束通过I/O接口向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程。
[0070]可选的，所述写入单元，包括:
[0071]第一数据块获得子单元，用于生成随机数据，将所述随机数据确定为本次待写入文件的第一数据块，所述第一数据块不大于所述预定大小；
[0072]第二待写入数据块确定子单元，用于对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块；
[0073]第二数据块写入子单元，用于将本次待写入的数据块通过I/O接口写入存储器；
[0074]第二判断子单元，用于判断已写入所述存储器中的关于本次待写入文件的数据是否达到所述预定大小，如果否，触发第二获得子单元；如果是，结束通过I/o缓冲向存储器写入数据，形成存储于存储器的一个文件的过程；
[0075]所述第二数据块获得子单元，用于将本次待写入的数据块作为下一次所需的第一数据块，并触发所述第二待写入数据块确定子单元执行对所述第一数据块经过第一加工方式处理，形成本次待写入的数据块的步骤。
[0076]可选的，所述数据读取模块，包括:
[0077]读取单元，用于通过I/O接口从所述存