镜39、光信息记录介质300入射到电流计式反射镜50。电流计式反射镜50由控制器89控制成使得入射光相对于电流计式反射镜50大致垂直，从而入射的参考光向大致相反方向反射，再次向光信息记录介质300入射。然后，由于参考光入射到光信息记录介质300中，从而作为规定的册所含的页的衍射光产生再现光。另外，从要再现的规定的册所含的页以外的、位于要再现的册附近的册所含的页也会同时产生衍射光。此处，将要再现的规定的册所含的页以外的再现光称为其它衍射光。
[0057]再现光和其它衍射光经过物镜32向中继透镜30内的分割波片200入射。中继透镜30由至少2片透镜构成，再现光和其它衍射光大致会聚在中继透镜30内的分割波片200的位置上。其中，分割波片200能够在光轴方向和与光轴垂直的平面方向上驱动。此处，分割波片200是为了使再现光与其它衍射光分离而配置的。
[0058]图4示出了分割波片200。分割波片200包括区域200A和区域200B，区域200A是透射区域，区域200B是1/2波片区域，从区域200A出射的再现光以与入射的偏振相同的状态出射，从区域200B出射的再现光以与入射的偏振不同的偏振出射。其中，再现时再现光入射到区域200A，以与入射偏振相同的偏振出射。其它衍射光入射到区域200B，以与入射偏振正交的偏振出射。分割波片200是使再现光和衍射光中规定的光的偏振改变的偏振部。
[0059]从分割波片200出射的再现光，经过中继透镜30、PBS棱镜51入射到偏振变换元件
52。偏振变换兀件52是在再现时将S偏振变换为P偏振的兀件。因此，从偏振变换兀件52出射的再现光透过PBS棱镜28，对摄像元件53入射。
[0060]然后，基于入射到摄像元件53的再现光生成再现图像数据。另外，从分割波片200出射的其它衍射光在PBS棱镜51上反射，经过检测透镜54入射到光检测器55。不过，此时其它衍射光不入射到光检测器55上的受光部中。如上所述，本实施例中使再现光与其它衍射光分离。
[0061 ]接着，电流计式反射镜38微量旋转，变更参考光对光信息记录介质300的入射角度。由此再现同一册所含的记录角度不同的页的图像数据。然后，在完成了规定的页数的再现的情况下，基于位置误差信号控制光信息记录介质300、分割波片200，进行下一册的再现。
[0062]此处，说明本实施例的位置误差信号检测方法。当包括要再现的页的册的位置相对于物镜32有偏差时，再现光会入射到分割波片200的区域200B上。因此，再现光的偏振被变换，结果在PBS棱镜51上反射，经过检测透镜54入射到光检测器55。
[0063]图5示出了光检测器55。光检测器55包括4个受光部Da、Db、Dc、Dd。本实施例采用了根据分割波片200的区域200B上的再现光入射的位置，再现光相应地入射到受光部Da、Db、Dc、Dd的结构。令受光部Da、Db、Dc、Dd检测出的信号为信号A、B、C、D时，表示光信息记录介质300与分割波片200的相对位置偏差的位置误差信号XPES、YPES、ZPES如下所示。
[0064][式I]
[0065]XPES=A-C
[0066]YPES = B-D
[0067]ZPES=A+B+C+D
[0068]图6示出了要再现的册的位置相对于物镜32有偏差的情况下的分割波片200和光检测器55。其中，图6(A)、(B)、(C)、(D)分别表示要再现的册位置相对于物镜最佳的情况、在X方向上有偏差的情况、在y方向上有偏差的情况、在z方向上有偏差的情况。另外，图中的斜线区域表示再现光。
[0069]例如，如图6(B)所示再现光相对于分割波片200在X方向的正向上偏离的情况下，从分割波片200的区域200B透射的再现光入射到光检测器55的受光部Da，信号A产生电压。因此，通过式I记载的运算方法进行XPES的运算(A-C)能够得到正的电压。与此相对，再现光相对于分割波片200在X方向的负向上偏离的情况下，从分割波片200的区域200B透射的再现光入射到光检测器55的受光部Dc，所以信号C产生电压，进行XPES的运算能够得到负的电压。在分割波片200与再现光在X方向上一致的情况下(图6(A))，不存在从区域200B透射的再现光，所以进行XPES的运算得到电压为零。
[0070]根据以上所述，只要在X方向上驱动分割波片200以使XPES的电压成为零即可。由此，能够使分割波片200的区域200A与再现光的相对位置一致。关于这一点，y方向(图6(C))上也是同样的。
[0071]接着，在z方向的正向上偏离的情况下，分割波片200上的再现光的形状相对于区域200A变大，再现光的一部分入射到分割波片200B。由此，光检测器55的4个受光部Da、Db、Dc、Dd有再现光入射，通过式I记载的运算方法进行ZPES的运算能够得到正的电压。另外，在z方向的负向上偏离的情况下，ZPES也能够得到正的电压。而在z方向没有偏差的情况下(图6(A))，不存在入射到区域200B的再现光，所以进行ZPES的运算得到电压为零。
[0072]根据以上所述，只要在z方向上驱动分割波片200以使ZPES的电压成为零即可。由此，能够使分割波片200的区域200A与再现光一致。这样的位置误差信号的检测利用伺服信号生成电路83进行，并将检测出的位置误差信号发送给控制器89。分割波片200由伺服控制电路84使用发送到控制器89的位置误差信号进行驱动。关于具体的驱动方法，例如使用步进电机或磁路的驱动元件等即可。
[0073]接着，说明对分割波片200的位置进行控制时的效果。图7示意性地示出了再现光的状态。其中，为了简化说明，省略了再现时必要的部件以外的部件。另外，(A)表示要再现的册的位置相对于物镜32—致的情况，(B)、(C)表示不一致的情况。而且，(C)表示基于位置误差信号对分割波片200进行了控制的情况，(B)表示没有进行控制的情况。此处，分割波片200本不具有遮光功能，但为了简化说明，以其为开口进行说明。
[0074]如图7(B)、(C)所示，当要再现的册的位置相对于物镜32有偏差时，再现光会入射到分割波片200的区域200B。因此，存在入射到摄像元件53的再现光的光量减少，不能够进行稳定的再现的问题。与此相对，如图7(A)所示，通过对分割波片200进行位置控制，所有再现光都入射到分割波片200的区域200A。由此，足够的再现光入射到摄像元件53，能够进行稳定的再现。图7中，对于分割波片200以平面方向的位置偏差进行了说明，但对于分割波片200在光轴方向上有偏差的情况下也是相同的。
[0075]这样，本实施例中，使用XPES、YPES、ZPES进行分割波片200的控制。专利文献I中对光信息记录介质300进行了控制，但本实施例的情况下，主要特征在于对分割波片200的位置进行控制。本实施例的情况下，相对于光信息记录介质300，分割波片200更轻，所以即使使用相同的驱动元件也能够高速地进行控制。另外，通过使用上述位置误差信号能够高精度地进行控制。并且，本实施例的分割波片200优选按以下顺序控制。
[0076](I)使用XPES、YPES进行分割波片200的平面方向的控制
[0077](2)使用ZPES进行分割波片200的光轴方向的控制
[0078]即使顺序相反也能够进行控制，但该情况下，ZPES中残留有较大信号的状态成为最佳位置，所以从控制的角度来看不稳定，这成为问题。通过按上述顺序控制，可以进行更稳定的控制。但控制也可以同时进行。
[0079]此处，本实施例的结构中，在减小册间隔的情况下会担心来自邻接的册的衍射光入射到光检测器55。该情况下，通过以在进行规定册的再现的参考光入射角度时不产生来自邻接册的衍射光的方式进行邻接册的记录，能够应对这样的问题。此时，因为来自相距2册以上的册的衍射光不会入射到受光部，所以不会成为问题。另外，分割波片200的位置按每个册改变即可，因此也可以预先在册内决定用于进行位置控制的页。这样，能够仅在规定页上使邻接册之间的记录角度错开，所以即使错开不产生其它衍射光的程度的较大角度进行记录，也不会使容量大幅减少，而能够避免来自邻接册的衍射光。
[0080]进而，也可以以来自邻接册的衍射光相同的方式进行记录，该情况下，其它衍射光会入射到受光部，但因为计算的是差分信号，所以其它衍射光被抵消。
[0081]接着，说明再现时的控制流程。图8示出了再现时的控制流程。
[0082](SI)初始调整:控制器89对光拾取器装置60中包括的电流计式反射镜38和相位共轭光学系统512中包括的电流计式反射镜50等进行驱动来执行初始调整。该初始调整中，以再现光的光量在摄像元件53中成为最大的方式，驱动上述电流计式反射镜38、50调整参考光对光信息记录介质300的入射角。另外，使用此时产生的再现光，利用伺服信号生成电路83生成位置误差信号。
[0083](S2)粗调整:控制器89将SI的初始调整时生成的位置误差信号发送至位置控制电路88，位置控制电路88驱动光信息存储介质驱动元件70，调整(粗调整)光信息记录介质300的位置。
[0084](S3)微调整:控制器89将S2的粗调整时生成的位置误差信号发送至伺服控制电路84，驱动分割波片200的位置进行调整(微调整)。
[0085](S4)微调整之后，控制器89对光拾取器装置60中包括的电流计式反射镜38和相位共轭光学系统512中包括的电流计式反射镜50等进行驱动，再现册内的页数据。
[0086](S5)控制器89使用从再现的页数据中得到的信息确认是否存在下一册，在存在下一册的情况下，进行光信息记录介质300的调整。
[0087]该控制流程中，位置误差信号是表示光信息记录介质300与分割波片200的相对位置的误差信号，所以用光信息记录介质300进行位置的粗调整，用分割波片200进行位置的微调整。但是，对于光信息记录介质300，例如也可以按机械精度或者传感器等的精度进行控制。
[0088]如上所述，本实施例中，通过使用分割波片200和I3BS棱镜51使再现光与其它衍射光分离。并且，通过使用分割波片200分离、检测再现光，不仅能够高精度地控制光信息记录介质300，也能够高精度地控制分割波片200。例如，如专利文献I所示，在开口前使再现光分束而生成位置误差信号时，存在信号对于开口(分割波片)的位置偏差不发生变化，所以不能得知实际的位置的问题。因此，存在例如发生驱动元件的热等外部干扰时，再现信号的一部分不能够检测出的问题。因此，优选像本实施例这样，在开口(分割波片200)之后检测位置误差信号。
[0089]另外，本实施例的特征在于对分割波片200进行驱动。由此，相对于实施例1的高精度地驱动光信息记录介质300的方法，具有可以实现高速化的优点。其中，本实施例中，在图4中示出了分割波片200，但不限于此，例如如图9(A)所示地设置区域200C的区域，使区域200C成为遮光区域也可以得到同样的效果。另外，如图9(B)所示也可以形成为区域200B1、200B2、200B3、200B4。该情况下，可以使区域200B1、200B2、200B3、200B4为偏振性