1.一种非接触式射频芯片晶元测试方法，其特征在于，包括：
待测试非接触式射频芯片晶元接收测试信号，所述测试信号的载波频率低于对应的射频通信协议规定频率；
基于预置的内部时钟对所述测试信号进行处理，以获得对应的通信信息。
2.根据权利要求1所述的非接触式射频芯片晶元测试方法，其特征在于，所述测试信号的载波频率为零。
3.根据权利要求2所述的非接触式射频芯片晶元测试方法，其特征在于，所述测试信号为直流偏置信号。
4.根据权利要求1所述的非接触式射频芯片晶元测试方法，其特征在于，还包括：根据所述测试信号中携带的时钟校准信息校准预置的内部时钟。
5.根据权利要求4所述的非接触式射频芯片晶元测试方法，其特征在于，在根据所述测试信号中携带的时钟校准信息校准预置的内部时钟前，还包括：发送分频后的时钟信号；所述测试信号中携带的时钟校准信息包括时钟频率判断结果信息。
6.根据权利要求4所述的非接触式射频芯片晶元测试方法，其特征在于，所述测试信号中携带的时钟校准信息包括同步头；所述根据所述测试信号中携带的时钟校准信息校准预置的内部时钟，包括：根据预设的同步头内的时钟数目校准预置的内部时钟。
7.一种非接触式射频芯片晶元测试装置，其特征在于，包括：
测试信号接收单元，适于接收测试信号，所述测试信号的载波频率低于对应的射频通信协议规定频率；
通信信息获取单元，适于基于预置的内部时钟对所述测试信号进行处理，以获得对应的通信信息。
8.根据权利要求7所述的非接触式射频芯片晶元测试装置，其特征在于，所述测试信号接收单元适于接收载波频率为零的测试信号。
9.根据权利要求7所述的非接触式射频芯片晶元测试装置，其特征在于，还包括：时钟校准单元，适于根据所述测试信号中携带的时钟校准信息校准 预置的内部时钟。
10.一种非接触式射频芯片晶元测试方法，其特征在于，包括：
向待测试非接触式射频芯片晶元发送测试信号，所述测试信号的载波频率低于对应的射频通信协议规定频率；所述测试信号携带时钟校准信息。