技术特征：
技术总结
提供一种封装结构，包括成型化合物。封装结构亦包括具有芯片边缘的集成电路芯片位于成型化合物中。封装结构亦包括集成电路芯片与成型化合物下的钝化层。此外，封装结构包括钝化层中的再布线层。封装结构亦包括经由再布线层电性连接至集成电路芯片的第一凸块。第一凸块位于芯片边缘之内且沿着芯片边缘配置。封装结构亦包括经由再布线层电性连接至集成电路芯片的第二凸块。第二凸块位于芯片边缘之外且沿着芯片边缘配置。第一凸块与第二凸块相邻。第一凸块与芯片边缘分隔，且第二凸块与芯片边缘分隔。
技术研发人员：邱铭彦;黄信杰;张兢夫
受保护的技术使用者：台湾积体电路制造股份有限公司
技术研发日：2017.06.09
技术公布日：2018.04.10