技术特征：
技术总结
本发明公开了一种识别单颗产品在QFN框架上位置信息的方法，包括以下步骤：将QFN引线框架上的产品进行排列；在单颗产品芯片基座蚀刻点的排列矩阵；分别获取单颗产品在框架上面的位置信息与单颗产品芯片基座蚀刻点矩阵位置信息，将分别获取的两种位置信息相对应，然后取消单颗产品在芯片基座相对应位置的蚀刻点；检查单颗产品芯片基座点的排列矩阵，获取检查结果，即得单颗产品在QFN框架上面的位置。本发明可以实现对有特殊产品位置要求的实验，主要解决了单颗产品无法做到ID识别和无法满足生产过程中的共性或规律性需求的使用问题，提升了QFN产品在制造过程中的可追溯性，其操作简单、成本低，值得推广。
技术研发人员：王玲;彭林源
受保护的技术使用者：南京矽邦半导体有限公司
技术研发日：2017.06.20
技术公布日：2017.09.29