一种纳米银焊膏低压烧结混合功率模块方法与流程

文档序号:16931084发布日期:2019-02-22 20:16阅读:503来源:国知局
一种纳米银焊膏低压烧结混合功率模块方法与流程

本发明涉及功率电子器件封装领域,尤其涉及一种纳米银焊膏低压烧结混合功率模块方法。



背景技术:

碳化硅(sic)材料具有热导率高、击穿电场强度高和禁带宽度大等优点,这使得sic器件表现出更好的高温特性、更低的功耗以及更快的开关速度。近几年来,随着sic材料技术的进一步发展,在电力电子器件领域内的sic高功率模块逐渐成为研究和开发的热点。研究表明使用sic肖特基二极管替代传统的si二极管,与si基igbt组成的混合功率模块可以降低功率模块的通态损耗和开关损耗。

传统的混合功率模块采用低熔点的焊料合金连接igbt芯片和铜基板,但是随着功率模块技术的快速发展,要求功率模块能承受更大的功率密度和更好的高温工作特性,传统的合金焊料已经无法满足这些要求。新出现的纳米银焊膏可实现低温烧结,高温服役的功能,成为一种较好的可替代传统合金焊料的功率模块连接材料。所以采用纳米银焊膏烧结封装igbt混合功率模块,可在降低模块开关损耗的同时提高混合功率模块的高温服役特性。

但是,使用纳米银焊膏烧结封装混合功率模块时,混合功率模块内部的siigbt芯片面积较大(≥100mm2),sic二极管芯片面积较小(≤25mm2),二者面积相差较大,且sic二极管芯片易损坏不宜加压,现有技术方法不能实现在裸铜基板上同时烧结两种芯片时,获得的焊膏层都具有较高强度,这就需要一种方法解决此问题,实现纳米银焊膏封装混合功率模块的功能。



技术实现要素:

本发明提供一种纳米银焊膏低压烧结混合功率模块的封装方法,实现在裸铜基板上同时烧结面积相差很大的两种芯片时,获得的焊膏层都具有大于30mpa的剪切强度。

为实现上述目的,本发明的技术方案如下:

一种纳米银焊膏低压烧结混合功率模块的封装方法;包括预干燥、加压、烧结和还原四个过程;其中预干燥和加压在空气环境中进行,烧结和还原在密闭的真空回流炉中进行。

所述预干燥过程,先在空气气氛中预干燥印刷完纳米银焊膏并贴好igbt芯片的基板,然后再印刷焊膏并贴放二极管芯片。

所述的预干燥温度90-100℃,预干燥时间10-12min。

所述加压过程,在空气环境下对预干燥后基板上面积大于100mm2的硅igbt芯片施加压力;对面积小于25mm2的sic二极管芯片不加压,防止sic芯片加压易受损的现象出现。

所述加压过程施加压力优选2mpa的压力。

所述烧结过程,对施加好压力的芯片和基板在可控气氛密闭炉中烧结,纳米银焊膏烧结气氛为50%空气+50%氮气混合气氛,烧结升温致密化温度270-290℃,烧结致密化时间20-40min。

所述升温速率5℃/min。

所述还原过程,在烧结致密化结束后,抽真空并通入氮气甲酸混合气体,对基板表面生成的氧化物进行还原,还原时间10-15min;还原完成后,冷却芯片和基板。

所述冷却速率5℃/min。

本发明一种纳米银焊膏低压烧结混合功率模块的封装方法,可以实现同时烧结面积相差很大的两种芯片,且获得两种芯片的纳米银焊膏层强度都较高。本方法包括四个过程:预干燥、加压、烧结和还原。预干燥过程是为了让焊膏获得一定的粘稠度,防止大面积芯片加压过程中焊膏的过多溢出,预干燥温度和时间都要严格控制,温度过高或者时间过长,都会导致小芯片焊膏层中的有机物过多挥发,纳米银颗粒大量团聚。加压过程是对大面积si芯片加压促进烧结,对小面积sic芯片不加压防止损坏。烧结过程在50%空气+50%氮气混合气氛下进行,保证焊膏烧结有足够的氧气同时限制基板表面氧化物的生成。还原过程使用甲酸对基板表面氧化物进行还原,防止氧化物对模块电性能产生影响。本发明整体工艺流程较为简单,可实现在裸铜基板上同时烧结面积相差很大的两种芯片时,获得的焊膏层都具有大于30mpa的剪切强度,适用于芯片面积相差较大的混合功率模块的生产制造。

附图说明

图1是本发明使用裸铜基板的示意图;

图2是本发明底板的示意图;

图3是未安装外壳的俯视结构示意图;

图4是安装外壳的结构示意图;

图中:1-底板、2-基板、3-sic二极管芯片、4-si基igbt芯片、5-粗铝线、6-电极、7-外壳。

具体实施方式

现在结合附图对本发明方法做进一步的说明。

一种纳米银焊膏低压烧结混合功率模块的封装方法;包括预干燥、加压、烧结和还原四个过程;其中预干燥和加压在空气环境中进行,烧结和还原在密闭的真空回流炉中进行。

所述预干燥过程,先在空气气氛中预干燥印刷完纳米银焊膏并贴好igbt芯片的基板,预干燥温度90-100℃,预干燥时间10-12min,然后再印刷焊膏并贴放二极管芯片。

所述加压过程,在空气环境下,对预干燥后基板上面积大于100mm2的硅igbt芯片施加2mpa的压力;对面积小于25mm2的sic二极管芯片不加压,防止sic芯片加压易受损的现象出现。

所述烧结过程,对施加好压力的芯片和基板在可控气氛密闭炉中烧结,纳米银焊膏烧结气氛为50%空气+50%氮气混合气氛,升温速率5℃/min,烧结致密化温度270-290℃,烧结致密化时间20-40min。

所述还原过程,在烧结致密化结束后,抽真空并通入氮气甲酸混合气体,对基板表面生成的氧化物进行还原,还原时间10-15min。还原完成后,冷却芯片和基板,冷却速度5℃/min。

结合附图说明如下

准备工作:如图1所示,选择覆铜陶瓷基板(2)作为衬板材料,如图2所示,选择镀镍的铜板作为铜底板(1);然后依照9%浓度稀盐酸-去离子水-酒精的顺序清洗基板(2)和铜底板(1)。

预干燥:使用钢网印刷的方法在基板(2)上涂覆一层纳米银焊膏,厚度60μm;之后将si基igbt芯片(4)贴在焊膏上方对齐并轻轻挤压,使芯片与焊膏良好润湿;然后将基板(2)置于加热台上加热,加热温度控制在90-100℃,加热时间控制在10-12min;加热后取下基板(2),再印刷焊膏并贴放sic二极管芯片(3)。

加压:对预干燥后基板上面积大于100mm2的硅igbt芯片施加2mpa的压力;对面积小于25mm2的sic二极管芯片(3)不加压,防止sic二极管芯片(3)加压易受损的现象出现。

烧结:对施加好压力的芯片和基板(2)在可控气氛真空回流炉中烧结,纳米银焊膏烧结气氛为50%空气+50%氮气混合气氛,升温速率5℃/min,烧结致密化温度控制在270-290℃,烧结致密化时间控制在20-40min。

还原:在烧结致密化结束后,抽真空并通入氮气甲酸混合气体,对基板(2)表面生成的氧化物进行还原,还原时间10-15min。还原完成后,冷却芯片和基板,冷却速度5℃/min。

后序工作:如图3所示,采用粗铝丝(5)实现大功率igbt芯片,二极管芯片和衬板电极(6)区连接,再使用sac305焊片将基板(2)焊接到铜底板(1)上,接着安装外壳(7),涂胶封装,最后填充密闭剂,如图4所示为完成所有工序后的完整模块。

实施例1:超声清洗覆铜基板(2)和铜底板(1),然后在基板(2)上印刷纳米银焊膏并贴片润湿;预干燥:先把试样放在加热台上加热到90℃并保温10min完成预干燥;加压:对大面积si基igbt芯片(4)施加2mpa的压力,小面积sic二极管芯片(3)不加压;烧结:然后以5℃/min的升温速率加热到270℃并在50%空气+50%氮气混合气氛中保温20min;还原:随后抽真空通氮气甲酸混合气体还原10min。烧结成型后,两种面积芯片剪切强度均达到30mpa以上。烧结后进行引线键合,二次焊,安装外壳,涂胶封装,填充密闭剂等后续工序。

实施例2:超声清洗覆铜基板(2)和铜底板(1),然后在基板(2)上印刷纳米银焊膏并贴片润湿。预干燥:先把试样放在加热台上加热到100℃并保温12min完成预干燥;加压:对大面积si基igbt芯片(4)施加2mpa的压力,小面积sic二极管芯片(3)不加压;烧结:然后以5℃/min的升温速率加热到270℃并在50%空气+50%氮气混合气氛中保温20min;还原:随后抽真空通氮气甲酸混合气体还原10min。烧结成型后,两种面积芯片剪切强度均达到30mpa以上。烧结后进行引线键合,二次焊,安装外壳,涂胶封装,填充密闭剂等后续工序。

实施例3:超声清洗覆铜基板(2)和铜底板(1),然后在基板(2)上印刷纳米银焊膏并贴片润湿。预干燥:先把试样放在加热台上加热到90℃并保温10min完成预干燥;加压:对大面积si基igbt芯片(4)施加2mpa的压力,小面积sic二极管芯片(3)不加压;烧结:然后以5℃/min的升温速率加热到280℃并在50%空气+50%氮气混合气氛中保温30min;还原:随后抽真空通氮气甲酸混合气体还原12.5min。烧结成型后,两种面积芯片剪切强度均达到30mpa以上。烧结后进行引线键合,二次焊,安装外壳,涂胶封装,填充密闭剂等后续工序。

实施例4:超声清洗覆铜基板(2)和铜底板(1),然后在基板(2)上印刷纳米银焊膏并贴片润湿。预干燥:先把试样放在加热台上加热到100℃并保温12min完成预干燥;加压:对大面积si基igbt芯片(4)施加2mpa的压力,小面积sic二极管芯片不加压;烧结:然后以5℃/min的升温速率加热到280℃并在50%空气+50%氮气混合气氛中保温30min;还原:随后抽真空通氮气甲酸混合气体还原12.5min。烧结成型后,两种面积芯片剪切强度均达到30mpa以上。烧结后进行引线键合,二次焊,安装外壳,涂胶封装,填充密闭剂等后续工序。

实施例5:超声清洗覆铜基板(2)和铜底板(1),然后在基板(2)上印刷纳米银焊膏并贴片润湿。预干燥:先把试样放在加热台上加热到90℃并保温10min完成预干燥;加压:对大面积si基igbt芯片(4)施加2mpa的压力,小面积sic二极管芯片(3)不加压;烧结:然后以5℃/min的升温速率加热到290℃并在50%空气+50%氮气混合气氛中保温40min;还原:随后抽真空通氮气甲酸混合气体还原15min。烧结成型后,两种面积芯片剪切强度均达到30mpa以上。烧结后进行引线键合,二次焊,安装外壳,涂胶封装,填充密闭剂等后续工序。

实施例6:超声清洗覆铜基板(2)和铜底板(1),然后在基板(2)上印刷纳米银焊膏并贴片润湿。预干燥:先把试样放在加热台上加热到100℃并保温12min完成预干燥;加压:对大面积si基igbt芯片(4)施加2mpa的压力,小面积sic二极管芯片(3)不加压;烧结:然后以5℃/min的升温速率加热到290℃并在50%空气+50%氮气混合气氛中保温40min;还原:随后抽真空通氮气甲酸混合气体还原15min。烧结成型后,两种面积芯片剪切强度均达到30mpa以上。烧结后进行引线键合,二次焊,安装外壳,涂胶封装,填充密闭剂等后续工序。

本发明封装方法操作简单,相对于传统合金焊料连接的芯片和基板,表现出更好的耐热循环和热疲劳能力,在大功率混合模块领域有较高的应用价值。

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