技术特征：
技术总结
一种空间环境下CMOS器件单粒子闩锁效应防护装置，属于过流保护领域，解决了现有商业级过流保护芯片在空间环境下可靠性低的问题。所述防护装置：供电电源与CMOS器件构成电气回路。电流采集模块将所述电气回路中的电流信号转换为电压信号。电压比较模块判断转换的电压信号与基准电压信号的大小，当前者小于或等于后者时，开关控制模块通过开关模块使电气回路保持连通，否则，开关控制模块通过开关模块断开所述电气回路。开关定时开启模块用于在电气回路断开后的T时间通过控制开关控制模块和开关模块，使电气回路连通。所述防护装置所采用的电子元器件均为模拟元器件。本发明所述装置适用于空间环境下CMOS器件单粒子闩锁效应的防护。
技术研发人员：王少军;郭玥;李攀;马宁;彭宇
受保护的技术使用者：哈尔滨工业大学
技术研发日：2017.05.08
技术公布日：2017.09.05