专利名称：误差消除电路、方法以及占空比检测电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及电路领域，更具体的说，是涉及一种误差消除电路、方法以及占空比检测电路。
背景技术：
请参阅图1，为现有技术中的占空比检测电路的示意图，其中，Clk表示采样信号，Ton表示量化信号。占空比检测电路包括计数模块102以及第一与门电路101，量化信号与采样信号分别作用于第一与门电路102的不同输入端，占空比检测电路的原理如下在一预设时间段T中，当量化信号为高电平且采样信号为上升沿时，计数模块101对采样信号 的个数进行计数直至量化信号到达下降沿时停止计数，量化信号的高电平的长度等于计数模块记录的数值与采样信号周期的乘积，量化信号的平均占空比等于量化信号的高电的长度与T的比值。请参阅图2，为现有技术占空比检测电路的波形图，图中将量化信号的高电平按照时间顺序分为量化高电平I、量化高电平2以及量化高电平N等，其中N为大于等于I的正整数，从图2中可知，计数模块101在量化高电平I时只记录了一个采样信号的周期(因为量化高电平I对应一个采样信号的上升沿)，显然量化高电平I的长度大于一个采样信号的周期，且Al大于BI，将量化高电平的上升沿与采样信号的上升沿之间的时间差(例如Al、A2)称为误差A，计数模块101在量化高电平2时记录了两个采样信号的周期(因为量化高电平2对应两个采样信号的上升沿)，但是量化高电平2的长度不一定是采样信号周期的两倍，因为A2不一定等于B2，将量化高电平的下降沿与采样信号的上升沿之间的时间差(例如BI、B2)称为误差B，通常情况下，误差A误差+B不等于零，每一量化信号的高电平均可能有误差A和误差B，所以得到的每一量化信号的高电平的长度都有可能不准确，导致占空比检测电路检测出的量化信号的平均占空比与实际的平均占空比有很大误差。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种误差消除电路、方法以及占空比检测电路，以克服现有技术中的占空比检测电路在测量量化信号的占空比时，对每一量化信号的高电平的长度的测量都有可能存在误差，从而导致测量得到的占空比与真实的占空比存在很大误差的问题。为实现上述目的，本发明提供如下技术方案一种误差消除电路，包括补偿移相模块以及计数控制模块；量化信号作用于所述补偿移相模块的一输入端，采样信号作用于所述补偿移相模块的另一输入端，所述补偿移相模块的输出端与所述计数控制模块的输入端相连；所述补偿移相模块依次将当前量化高电平集合中的各个量化高电平进行移相，以使各个移相后的量化高电平的上升沿与采样信号的上升沿同步，且各个移相后的量化高电平的长度为采样信号周期的整数倍，所述当前量化高电平集合包括至少一个量化高电平，并在所述各个移相后的量化高电平期间控制所述计数控制模块，以使计数模块记录采样信号的个数，确定所述每一移相后的量化高电平的长度与未移相时对应的量化高电平长度的差值作为所述量化高电平的误差时长，将所述当前量化高电平集合中各个量化高电平的误差时长之和称为所述当前量化高电平的误差时长，当距离所述当前量化高电平集合时间最近的量化高电平到来时，将所述最近的量化高电平对所述当前量化高电平的误差时长进行补偿，并将下一量化高电平集合作为当前量化高电平集合，所述最近的量化高电平属于所述下一量化高电平集合。其中，所述当前量化高电平集合中的各个移相后的量化高电平的上升沿时刻为满足第一预设条件的时刻，下降沿时刻为满足第二预设条件的时刻，补偿移相后的所述最近的量化高电平的上升沿时刻为满足第三预设条件的时刻，补偿移相后的所述最近的量化高电平的下降沿时刻为满足第四预设条件的时刻。其中，所述补偿移相模块具体包括电容、充放电模块以及判断模块； 所述电容的一端接地，另一端分别与所述充放电模块的输出端以及所述判断模块的输入端相连；量化信号作用于所述充放电模块的输入端，所述充放电模块的控制端分别与所述判断模块的输出端以及所述计数控制模块的输入端相连；采样信号分别作用于所述判断模块的控制端以及所述计数控制模块的控制端；所述电容的初始电压为预设电压，所述充放电模块检测到量化信号的上升沿到来时，为所述电容充电，在所述量化高电平到来，且所述判断模块检测出所述采样信号的上升沿到来以及所述电容的电压不低于所述预设电压时，控制所述充放电模块停止为所述电容充电，并控制所述计数控制模块，以使计数模块对采样信号的个数进行计数，所述第三预设条件是指采样信号的上升沿到来且所述电容的电压不低于所述预设电压；当所述充放电模块检测到所述量化高电平的下降沿到来时，为所述电容放电，当所述判断模块检测出所述采样信号的上升沿到来且所述电容的电压值低于所述预设电压时，控制所述充放电模块停止为所述电容放电，并控制所述计数控制模块，以使计数模块停止对采样信号进行计数，所述第四预设条件是指所述采样信号的上升沿到来且所述电容的电压低于所述预设电压且所述量化信号为低电平。其中，所述判断模块具体包括比较器以及D触发器；所述比较器的正相输入端分别与所述充放电模块的输出端以及所述电容的非接地端相连，所述预设电压作用于所述比较器的反相输入端，所述比较器的输出端与所述D触发器的输入端D相连，采样信号作用于所述D触发器的时钟信号输入端，复位信号作用于所述D触发器的复位端R，所述D触发器的输出端Qtl为所述判断模块的输出端，所述复位信号只在量化信号的第一个上升沿到来之前有效。其中，所述补偿移相模块具体包括电容、充放电模块以及判断模块；所述电容的一端接地，另一端分别与所述充放电模块的输出端以及所述判断模块的输入端相连；量化信号作用于所述充放电模块的输入端，所述充放电模块的控制端分别与所述判断模块的输出端以及所述计数控制模块的输入端相连；采样信号分别作用于所述判断模块的控制端以及所述计数控制模块的控制端；所述电容的初始电压为所述预设电压，当判所述断模块判断出量化高电平η的上升沿到来时，所述判断模块控制所述充放电模块为所述电容充电，当采样信号的上升沿到来时，所述判断模块控制所述充放电模块停止为所述电容充电，并控制所述计数控制模块，以使所述计数模块开始对采样信号的个数进行计数，所述第一预设条件是指量化高电平η的上升沿到来后且采样信号的上升沿到来，当所述判断模块判断出量化高电平η的下降沿到来后，控制所述充放电模块为所述电容放电，当采样信号的上升沿到来时，控制所述充放电模块停止为所述电容放电，并控制所述计数控制模块，以使所述计数模块停止对采样信号的周期计数，所述第二预设条件是指量化高电平η的下降沿到来后且采样信号的上升沿到来；对后续的各个量化高电平的操作与量化高电平η相同，直至量化高电平n+i到来，量化高电平n+i的上升沿到来时，所述判断模块控制所述充放电模块为所述电容充电，在采样信号的上升沿时对所述电容电压进行判断，当所述电容电压低于预设电压时，继续对电容充电；当所述电容的电压高于所述预设电压且采样信号的上升沿到来时，停止为所述电容充电，并控制所述计数控制模块，以使所述计数模块对采样信号的个数进行计数，所述第三预设条件是指量化高电平n+i到来，所述电容的电压高于所述预设电压以及采 样信号的上升沿到来，直到当量化高电平n+i的下降沿到来时，且所述判断模块判断出所述电容的电压高于所述预设电压时，控制所述充放电模块为所述电容放电，当所述电容的电压小于所述预设电压且采样信号的上升沿到来时，控制所述充放电模块停止为所述电容放电，以及控制所述计数控制模块，以使所述计数模块停止对采样信号周期计数，所述第四预设条件是指量化高电平n+i的下降沿到来，所述电容的电压小于所述预设电压以及采样信号的上升沿到来，其中，所述η与i均为大于等于I的正整数，且n=l+kX (i+1)，其中，k=0，1，2，3，· · .。其中，所述判断模块具体包括N个D触发器、第一或非门、第一非门、第一与门、第二非门、第一或门、第二与门、第三与门、第二或门以及比较器；量化信号分别作用于第一个D触发器的时钟输入端以及第三与门的一输入端，复位信号作用于所述N个D触发器的复位端R，所述第一个D触发器的输入端D分别与所述第一个D触发器的输出端g、第二个D触发器的时钟输入端以及第一或非门的第一输入端相连，第二个D触发器的输入端D分别与所述第二个D触发器的输出端G以及所述第一或非门的第二输入端相连，以此类推，第N-I个D触发器的输入端D分别与所述第N-I个D触发器的输出端P以及所述第一或非门的第N-I输入端相连，所述第一或非门的输出端分别与所述第一非门的输入端以及所述第一与门的一输入端相连，所述第一与门的另一输入端与所述比较器的输出端相连，所述第一与门的输出端分别与所述第二与门的一输入端以及所述第一或门的一输入端相连，所述第一非门的输出端与所述第一或门的另一输入端相连，所述第一或门的输出端与所述第三与门的另一输入端相连，所述第三与门的输出端与所述第二或门的一输入端相连，所述第二或门的另一输入端与所述第二与门的输出端相连，所述第二或门的输出端与所述第N个D触发器的输入端D相连，采样信号作用于所述第N个D触发器的时钟输入端，所述第N触发器的输出端Q为所述判断模块的输出端。其中，所述判断模块还包括第三开关管；
脉冲信号作用于所述第三开关管的控制端，所述第三开关管的第一端与所述比较器的正相输入端相连，所述第三开关管的第二端与基准电压Vref的输出端相连；当所述量化信号的第一个上升沿到来之前，所述脉冲信号控制所述第三开关管闭合，以形成为所述电容充电的线路，当所述电容的电压为预设电压时，所述脉冲信号控制所述第三开关管断开，以使所述电容的初始电压为所述预设电压。其中，所述充放电模块具体包括异或门、第一与门、或非门、非门、第一电流源、第二电流源、第一开关管以及第二
开关管；所述判断模块的输出端与所述异或门的一输入端相连，量化信号作用于所述异或门的另一输入端，所述异或门的输出端分别与所述第一与门的一输入端以及所述非门的输入端相连，量化信号作用于所述第一与门的另一输入端，所述第一与门的输出端与所述第 一开关管的控制端相连；所述非门的输出端与所述或非门的一输入端相连，量化信号作用于所述或非门的另一输入端，所述或非门的输出端与所述第二开关管的制端相连；所述第一电流源的输入端与外接电源相连，输出端与所述第一开关管的第一端相连；所述第一开关管的第二端与所述第二开关管的第一端相连，所述第二开关管的第二端与所述第二电流源的输入端相连，所述第二电流源的输出端接地；所述第一开关管的第二端为所述充放电模块的输出端；其中，所述第一电流源与所述第一开关管形成为所述电容供电的线路，所述第二电流源与所述第二开关管形成为所述电容放电的线路，所述第一电流源为所述电容充电的电流与所述第二电流源为所述电容放电的电流相同。其中，所述计数控制模块包括第二与门；采样信号作用于所述第二与门的一输入端相连；所述第二与门的另一输入端与所述判断模块的输出端相连，所述第二与门的输出端为所述计数控制模块的输出端；当所述采样信号的上升沿到来且所述判断模块输出高电平时，所述第二与门输出高电平，以控制所述计数模块计数。其中，所述计数控制模块还包括延迟单元采样信号作用于所述延迟单元的输入端，所述延迟单元的输出端与所述第二与门的所述一输入端相连，所述延迟单元的延迟时间大于等于所述D触发器的延迟时间。一种占空比检测电路，包括上述任一项所述电路以及计数模块。一种误差消除方法，包括依次将当前量化高电平集合中的各个量化高电平进行移相，以使各个移相后的量化高电平的上升沿与采样信号的上升沿同步，且各个移相后的量化高电平的长度为采样信号周期的整数倍，所述当前量化高电平集合包括至少一个量化高电平；在所述各个移相后的量化高电平期间记录采样信号的个数；确定所述每一移相后的量化高电平的长度与未移相时对应的量化高电平长度的差值作为所述量化高电平的误差时长，将所述当前量化高电平集合中各个量化高电平的误差时长之和称为所述当前量化高电平集合的误差时长；当距离所述当前量化高电平集合时间最近的量化高电平到来时，将所述最近的量化高电平对所述当前量化高电平集合的误差时长进行补偿，并将下一量化高电平集合作为当前量化高电平集合，所述最近的量化高电平属于所述下一量化高电平集合。经由上述的技术方案可知，采用本发明实施例提供的误差消除电路，通过对当前量化高电平集合进行移相和补偿，这样得到的平均占空比的误差仅仅在于最后一个量化高电平或最后一个采样信号，从而大大降低了误差。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图I为现有技术中的占空比检测电路的不意图；图2为现有技术占空比检测电路的波形图； 图3为本发明实施例提供的将量化信号移相以消除误差A的波形图；图4为本发明实施例提供的第一种计算平均占空比方法的波形图；图5所示为本发明实施例提供的第一种计算平均占空比的第二种误差波形图；图6为本发明实施例提供的第二种计算平均占空比的波形图；图7为本发明实施例提供的第一种误差消除电路的结构示意图；图8为本发明实施例提供的第二种误差消除电路的结构示意图；图9为本发明实施例提供的量化高电平移相补偿的波形图；图10为本发明实施例提供的一种判断模块的电路图；图11为本发明实施例提供的一种充放电模块的电路图；图12为本发明实施例提供的一种计数控制模块的电路图；图13为本发明实施例提供的一种判断模块的电路图；图14为本发明实施例提供的一种误差消除电路的波形图；图15为本发明实施例提供的一种消除误差电路的波形图；图16为本发明实施提供的一种误差消除方法的流程图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。发明人发现产生误差A的原因在于量化高电平I的上升沿与采样信号的上升沿不同步，如果对量化信号移相，使量化高电平I的上升沿与采样信号的上升沿同步就可以消除误差A，请参阅图3，为本发明实施例提供的将量化信号移相以消除误差A的波形图。由于量化信号的高电平的长度不一定是采样信号周期的整数倍，且量化信号各个高电平的长度可能不同，从图3中可以看出由于量化高电平I不是采样信号周期的整倍数，由于量化高电平I对应两个采样信号的上升沿，所以实际计算得到的量化高电平I的长度比真实的量化高电平I的长度长BI，BI为量化高电平I的误差时长，为了消除量化高电平I中多记录的BI，可以先由量化高电平2去BI(即补偿量化高电平1)，即量化高电平2的长度减少BI，如果在减去BI后的量化高电平2的上升沿与采样信号的上升沿同步，那么计数模块开始计数，如果不同步，从图2中可以看出还需要将量化高电平2向右移Al，那么再将量化高电平2向右Al (即将量化高电平2进行移相)，再触发计数模块计数，当补偿移相后的量化高电平2的下降沿到来时，控制计数模块停止计数，从图中可以看出量化高电平2多记录了 B2，那么先将量化高电平3减去B2 (即补偿量化高电平2)，如果量化高电平3在减去B2后的上升沿与采样信号的上升沿同步，那么计数模块开始计数，如果不同步，从图2中可以看出还需要将量化高电平3向右移A3 (即将量化信号3进行移相)，才能使补偿移相后的量化高电平3的上升沿与采样信号的上升沿同步，那么将量化高电平3向右A2，再触发计数模块计数直至补偿移相后的量化高电平3的下降沿到达时停止计数，对于量化高电平N都进行如图3所示的补偿一移相处理，如果在补偿之后发现量化高电平N与采样信号同步，那么不用移相，其中N为大于等于3的正整数。 当然，也可以先将量化高电平2进行移相，移相后的量化高电平2与采样信号的上升沿同步，然后在补偿量化高电平1，量化高电平3也可以先移相在补偿量化高电平2，是先移相再补偿，还是先补偿再移相不影响本发明实施例的具体实现，所以在此不作具体限定。在不同的实际情况下，也可以每隔i个量化高电平，就补偿一次，即量化高电平I至量化高电平i的误差时长集中在量化高电平Ι+i补偿，也就是，只对量化高电平I至量化高电平i进行移相，并记录下量化高电平I至量化高电平i的误差时长)，由于量化高电平i并不能对自己的误差时长进行补偿，所以量化高电平2X (i+1)在对量化高电平2X (i+l)+l至量化高电平i+2进行补偿时，也会对量化高电平i+Ι进行补偿，量化高电平2X (i+Ι)的误差时长为所述量化高电平Ι+i的长度与，补偿移相后的量化高电平Ι+i的长度与量化高电平i至量化高电平I中的误差时长之和的差值的差值。综上，量化高电平n+i对量化高电平η+i-l至量化高电平n_l的误差时长进行补偿，其中，η与i均为大于等于I的正整数,且n=l+kX (i+1),其中，k=0, 1，2，3，. . ·。当η等于I时，量化高电平η-I为量化高电平0，由于实际上不存在量化高电平0，所以可以将量化高电平O的误差时长看做零。量化高电平n+i可以先移相在补偿量化高电平η至量化高电平n+i_l的误差时长，是先移相再补偿，还是先补偿再移相不影响本发明实施例的具体实现，所以在此不作具体限定。假设量化高电平I对应的量化信号周期定义为量化高电平I的上升沿至量化高电平2的上升沿，且将量化高电平I对应的量化信号周期称之为Tswl，量化高电平2对应的周期定义为量化高电平2的上升沿至量化信号3的上升沿，且将量化高电平2对应的量化信号周期称之为Tsw2，量化高电平N对应的周期定义为量化高电平N的上升沿至量化高电平N+1的上升沿，且将量化高电平N对应的量化信号周期称之为TswN，N个量化信号周期的平均占空比的定义如下
权利要求
1.一种误差消除电路，其特征在于，包括补偿移相模块以及计数控制模块； 量化信号作用于所述补偿移相模块的一输入端，采样信号作用于所述补偿移相模块的另一输入端，所述补偿移相模块的输出端与所述计数控制模块的输入端相连； 所述补偿移相模块依次将当前量化高电平集合中的各个量化高电平进行移相，以使各个移相后的量化高电平的上升沿与采样信号的上升沿同步，且各个移相后的量化高电平的长度为采样信号周期的整数倍，所述当前量化高电平集合包括至少一个量化高电平，并在所述各个移相后的量化高电平期间控制所述计数控制模块，以使计数模块记录采样信号的个数，确定所述每一移相后的量化高电平的长度与未移相时对应的量化高电平长度的差值作为所述量化高电平的误差时长，将所述当前量化高电平集合中各个量化高电平的误差时长之和称为所述当前量化高电平的误差时长，当距离所述当前量化高电平集合时间最近的量化高电平到来时，将所述最近的量化高电平对所述当前量化高电平的误差时长进行补偿，并将下一量化高电平集合作为当前量化高电平集合，所述最近的量化高电平属于所述下一量化高电平集合。
2.根据权利要求I所述电路，其特征在于，所述当前量化高电平集合中的各个移相后的量化高电平的上升沿时刻为满足第一预设条件的时刻，下降沿时刻为满足第二预设条件的时刻，补偿移相后的所述最近的量化高电平的上升沿时刻为满足第三预设条件的时刻，补偿移相后的所述最近的量化高电平的下降沿时刻为满足第四预设条件的时刻。
3.根据权利要求2所述电路，其特征在于，所述补偿移相模块具体包括 电容、充放电模块以及判断模块； 所述电容的一端接地，另一端分别与所述充放电模块的输出端以及所述判断模块的输入端相连；量化信号作用于所述充放电模块的输入端，所述充放电模块的控制端分别与所述判断模块的输出端以及所述计数控制模块的输入端相连；采样信号分别作用于所述判断模块的控制端以及所述计数控制模块的控制端； 所述电容的初始电压为预设电压，所述充放电模块检测到量化信号的上升沿到来时，为所述电容充电，在所述量化高电平到来，且所述判断模块检测出所述采样信号的上升沿到来以及所述电容的电压不低于所述预设电压时，控制所述充放电模块停止为所述电容充电，并控制所述计数控制模块，以使计数模块对采样信号的个数进行计数，所述第三预设条件是指采样信号的上升沿到来且所述电容的电压不低于所述预设电压；当所述充放电模块检测到所述量化高电平的下降沿到来时，为所述电容放电，当所述判断模块检测出所述采样信号的上升沿到来且所述电容的电压值低于所述预设电压时，控制所述充放电模块停止为所述电容放电，并控制所述计数控制模块，以使计数模块停止对采样信号进行计数，所述第四预设条件是指所述采样信号的上升沿到来且所述电容的电压低于所述预设电压且所述量化信号为低电平。
4.根据权利要求3所述电路，其特征在于，所述判断模块具体包括 比较器以及D触发器； 所述比较器的正相输入端分别与所述充放电模块的输出端以及所述电容的非接地端相连，所述预设电压作用于所述比较器的反相输入端，所述比较器的输出端与所述D触发器的输入端D相连，采样信号作用于所述D触发器的时钟信号输入端，复位信号作用于所述D触发器的复位端R，所述D触发器的输出端Qtl为所述判断模块的输出端，所述复位信号只在量化信号的第一个上升沿到来之前有效。
5.根据权利要求2所述电路，其特征在于，所述补偿移相模块具体包括 电容、充放电模块以及判断模块； 所述电容的一端接地，另一端分别与所述充放电模块的输出端以及所述判断模块的输入端相连；量化信号作用于所述充放电模块的输入端，所述充放电模块的控制端分别与所述判断模块的输出端以及所述计数控制模块的输入端相连；采样信号分别作用于所述判断模块的控制端以及所述计数控制模块的控制端； 所述电容的初始电压为所述预设电压，当判所述断模块判断出量化高电平η的上升沿到来时，所述判断模块控制所述充放电模块为所述电容充电，当采样信号的上升沿到来时，所述判断模块控制所述充放电模块停止为所述电容充电，并控制所述计数控制模块，以使所述计数模块开始对采样信号的个数进行计数，所述第一预设条件是指量化高电平η的上升沿到来后且采样信号的上升沿到来，当所述判断模块判断出量化高电平η的下降沿到来后，控制所述充放电模块为所述电容放电，当采样信号的上升沿到来时，控制所述充放电模块停止为所述电容放电，并控制所述计数控制模块，以使所述计数模块停止对采样信号的周期计数，所述第二预设条件是指量化高电平η的下降沿到来后且采样信号的上升沿到来；对后续的各个量化高电平的操作与量化高电平η相同，直至量化高电平n+i到来，量化高电平n+i的上升沿到来时，所述判断模块控制所述充放电模块为所述电容充电，在采样信号的上升沿时对所述电容电压进行判断，当所述电容电压低于预设电压时，继续对电容充电；当所述电容的电压高于所述预设电压且采样信号的上升沿到来时，停止为所述电容充电，并控制所述计数控制模块，以使所述计数模块对采样信号的个数进行计数，所述第三预设条件是指量化高电平n+i到来，所述电容的电压高于所述预设电压以及采样信号的上升沿到来，直到当量化高电平n+i的下降沿到来时，且所述判断模块判断出所述电容的电压高于所述预设电压时，控制所述充放电模块为所述电容放电，当所述电容的电压小于所述预设电压且采样信号的上升沿到来时，控制所述充放电模块停止为所述电容放电，以及控制所述计数控制模块，以使所述计数模块停止对采样信号周期计数，所述第四预设条件是指量化高电平n+i的下降沿到来，所述电容的电压小于所述预设电压以及采样信号的上升沿到来，其中，所述η与i均为大于等于I的正整数，且n=l+kX (i+1)，其中，k=0，1，2，3，· · .。
6.根据权利要求5所述电路，其特征在于，所述判断模块具体包括 N个D触发器、第一或非门、第一非门、第一与门、第二非门、第一或门、第二与门、第三与门、第二或门以及比较器； 量化信号分别作用于第一个D触发器的时钟输入端以及第三与门的一输入端，复位信号作用于所述N个D触发器的复位端R，所述第一个D触发器的输入端D分别与所述第一个D触发器的输出端β、第二个D触发器的时钟输入端以及第一或非门的第一输入端相连,第二个D触发器的输入端D分别与所述第二个D触发器的输出端g以及所述第一或非门的第二输入端相连，以此类推，第N-I个D触发器的输入端D分别与所述第N-I个D触发器的输出端^以及所述第一或非门的第N-I输入端相连，所述第一或非门的输出端分别与所述第一非门的输入端以及所述第一与门的一输入端相连，所述第一与门的另一输入端与所述比较器的输出端相连，所述第一与门的输出端分别与所述第二与门的一输入端以及所述第一或门的一输入端相连，所述第一非门的输出端与所述第一或门的另一输入端相连，所述第一或门的输出端与所述第三与门的另一输入端相连，所述第三与门的输出端与所述第二或门的一输入端相连，所述第二或门的另一输入端与所述第二与门的输出端相连，所述第二或门的输出端与所述第N个D触发器的输入端D相连，采样信号作用于所述第N个D触发器的时钟输入端，所述第N触发器的输出端Q为所述判断模块的输出端。
7.根据权利要求3-6任一所述电路，其特征在于，所述判断模块还包括第三开关管；脉冲信号作用于所述第三开关管的控制端，所述第三开关管的第一端与所述比较器的正相输入端相连，所述第三开关管的第二端与基准电压Vref的输出端相连； 当所述量化信号的第一个上升沿到来之前，所述脉冲信号控制所述第三开关管闭合，以形成为所述电容充电的线路，当所述电容的电压为预设电压时，所述脉冲信号控制所述第三开关管断开，以使所述电容的初始电压为所述预设电压。
8.根据权利要求3-6任一所述电路，其特征在于，所述充放电模块具体包括 异或门、第一与门、或非门、非门、第一电流源、第二电流源、第一开关管以及第二开关管； 所述判断模块的输出端与所述异或门的一输入端相连，量化信号作用于所述异或门的另一输入端，所述异或门的输出端分别与所述第一与门的一输入端以及所述非门的输入端相连，量化信号作用于所述第一与门的另一输入端，所述第一与门的输出端与所述第一开关管的控制端相连；所述非门的输出端与所述或非门的一输入端相连，量化信号作用于所述或非门的另一输入端，所述或非门的输出端与所述第二开关管的制端相连；所述第一电流源的输入端与外接电源相连，输出端与所述第一开关管的第一端相连；所述第一开关管的第二端与所述第二开关管的第一端相连，所述第二开关管的第二端与所述第二电流源的输入端相连，所述第二电流源的输出端接地；所述第一开关管的第二端为所述充放电模块的输出端； 其中，所述第一电流源与所述第一开关管形成为所述电容供电的线路，所述第二电流源与所述第二开关管形成为所述电容放电的线路，所述第一电流源为所述电容充电的电流与所述第二电流源为所述电容放电的电流相同。
9.根据权利要求1-6任一项所述电路，其特征在于，所述计数控制模块包括第二与门； 采样信号作用于所述第二与门的一输入端相连；所述第二与门的另一输入端与所述判断模块的输出端相连，所述第二与门的输出端为所述计数控制模块的输出端； 当所述采样信号的上升沿到来且所述判断模块输出高电平时，所述第二与门输出高电平，以控制所述计数模块计数。
10.根据权利要求9所述电路，其特征在于，所述计数控制模块还包括延迟单元 采样信号作用于所述延迟单元的输入端，所述延迟单元的输出端与所述第二与门的所述一输入端相连，所述延迟单元的延迟时间大于等于所述D触发器的延迟时间。
11.一种占空比检测电路，其特征在于，包括1-10任一项所述电路以及计数模块。
12.—种误差消除方法，其特征在于，包括依次将当前量化高电平集合中的各个量化高电平进行移相，以使各个移相后的量化高电平的上升沿与采样信号的上升沿同步，且各个移相后的量化高电平的长度为采样信号周期的整数倍，所述当前量化高电平集合包括至少一个量化高电平； 在所述各个移相后的量化高电平期间记录采样信号的个数； 确定所述每一移相后的量化高电平的长度与未移相时对应的量化高电平长度的差值作为所述量化高电平的误差时长，将所述当前量化高电平集合中各个量化高电平的误差时长之和称为所述当前量化高电平集合的误差时长； 当距离所述当前量化高电平集合时间最近的量化高电平到来时，将所述最近的量化高电平对所述当前量化高电平集合的误差时长进行补偿，并将下一量化高电平集合作为当前量化高电平集合，所述最近的量化高电平属于所述下一量化高电平集合。
13.根据权利要求12所述方法，其特征在于，还包括 根据所述记录的采样信号的个数，计算量化信号的占空比。
14.根据权利要求12或13所述方法，其特征在于，对当前量化高电平集合进行移相和补偿的过程是通过在设定的时间点对电容的充放电实现的。
全文摘要
本发明实施例公开了一种误差消除电路、方法以及占空比检测电路，误差消除电路包括补偿移相模块以及计数控制模块；量化信号作用于所述补偿移相模块的一输入端，采样信号作用于所述补偿移相模块的另一输入端，所述补偿移相模块的输出端与所述计数控制模块的输入端相连。采用本发明实施例提供的误差消除电路，得到的平均占空比的误差仅仅在于最后一个量化高电平或最后一个采样信号，从而大大降低了误差。
文档编号H03K5/19GK102832913SQ201210299880
公开日2012年12月19日 申请日期2012年8月21日 优先权日2012年8月21日
发明者罗东旭, 宗强, 方绍华 申请人:上海新进半导体制造有限公司