一种ADC有效位检测系统的制作方法

文档序号:12729378阅读:264来源:国知局

本发明属于信号检测领域,具体涉及一种ADC有效位检测系统。



背景技术:

随着ADC模数转换器在软件无线电中的广泛应用, ADC模数转换器的性能参数也变得越来越重要。而评价ADC模数转换器的性能指标主要有A/D转换位数, 无杂散动态范围( SFDR) 、信噪比( SNR) 、转换速率和量化灵敏度等。一般来说, ADC的转换位数越多, 其动态范围就越高。但由于ADC本身的量化噪声, 以及由它的微分非线性和积分非线性误差带来的噪声和谐波、采样时钟抖动引入的噪声、系统的热噪声、印刷电路板内信号之间串扰带来的噪声等,ADC的实际转换位数与理想的转换位数有差别。因此确定ADC的实际有效位对精确评价系统性能就显的非常重要。

目前常用的ADC检测是采用优良的信号源产生一定频率的正弦波,通过一定频率的带通滤波器后,接到ADC系统中,通过对采样信号的SFDR进行求取,最后通过SFDR/6.02进行求取。可是这种方法对硬件设备的要求很高,因而不易实现。



技术实现要素:

本发明的目的是克服现有技术的上述缺点,提供一种ADC有效位检测系统,其中有效位检测模块通过幅度控制器控制信号源产生两次幅度不同的信号,之后将两次ADC采样的结果进行存储,对存储的数据进行ADC的SNR计算,随后进行有效位计算,最后将结果显示在LCD显示屏上。

为了实现上述目的,本发明所采用的技术方案是:一种ADC有效位检测系统,包括信号源、ADC待测模块、ADC有效位检测模块、有效位显示模块;所述信号源通过ADC待测模块与ADC有效位检测模块相连接;所述ADC有效位检测模块还分别连接有信号源和有效位显示模块;所述ADC有效位检测模块包括幅度控制器、ADC数据存储模块和ADC有效位计算模块;所述ADC数据存储模块的输入端与ADC待测模块连接,输出端与ADC有效位计算模块的输入端连接;所述ADC有效位计算模块的输出端连接有效位显示模块的输入端;所述幅度控制器与信号源相连接。

上述一种ADC有效位检测系统,所述有效位显示模块采用LCD液晶显示屏。

上述一种ADC有效位检测系统,所述ADC有效位检测模块通过幅度控制器控制信号源产生两次幅度不同的信号,幅度差在8位以上。

上述一种ADC有效位检测系统,所述ADC有效位计算模块中需进行两次SNR计算,两次测量中信号源输出幅度相差信号要在20以上,,避免噪声的随机性, 造成测量结果的不准确,即m2/m1 > 20。

本发明的有益效果:本发明集成了AD有效位测量的所有测试环境,集成度高,测量精准,成本低,满足不同用户的需求,应用广泛,方便用户使用。

附图说明

下面通过附图并结合实施例具体描述本发明,本发明的优点和实现方式将会更加明显,其中附图所示内容仅用于对本发明的解释说明,而不构成对本发明的任何意义上的限制。

图1是本发明一种ADC有效位检测系统的结构示意图;

附图标记说明:1、信号源;2、ADC待测模块;3、ADC有效位检测模块;4、有效位显示模块;5、幅度控制器;6、ADC数据存储模块;7、ADC有效位计算模块。

具体实施方式

下面对本发明的实施例作详细说明:本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,给出了详细的实施方式和具体的操作过程。应当指出的是,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变型和改进,这些都属于本发明保护范围。

如图1所示,一种ADC有效位检测系统,包括信号源1、ADC待测模块2、ADC有效位检测模块3、有效位显示模块4;所述信号源1通过ADC待测模块2与ADC有效位检测模块3相连接;所述ADC有效位检测模块3还分别连接有信号源1和有效位显示模块4;所述ADC有效位检测模块3包括幅度控制器5、ADC数据存储模块6和ADC有效位计算模块7;所述ADC数据存储模块6的输入端与ADC待测模块2连接,输出端与ADC有效位计算模块7的输入端连接;所述ADC有效位计算模块7的输出端连接有效位显示模块4的输入端;所述幅度控制器5与信号源1相连接。

进一步地,所述ADC有效位检测模块3通过幅度控制器5控制信号源1产生两次幅度不同的信号,幅度差在8位以上。

进一步地,所述ADC有效位计算模块7中需进行两次SNR计算,两次测量中信号源1输出幅度相差信号要在20以上,避免噪声的随机性, 造成测量结果的不准确,即m2/m1 > 20。

本发明的工作原理:

ADC有效位检测模块主要有三部分组成:普通信号源、ADC有效位计算模块、有效位显示模块。

有效位检测模块通过幅度控制器控制信号源产生两次幅度不同的信号,幅度差在8位以上,将两次ADC采样的结果进行存储,对存储的数据进行ADC的SNR计算,随后进行有效位计算,最后将结果显示在LCD显示屏上。

以上所述为本发明的优选应用范例,并非对本发明的限制,凡是根据本发明技术要点做出的简单修改、结构更改变化均属于本发明的保护范围之内。

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