一种温度补偿型移相器的制作方法

文档序号:16764639发布日期:2019-01-29 17:55阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种温度补偿型移相器,其特征是包括温度检测单元,移相单元和可调器件单元,其中移相器单元的输入端口连接至射频输入端口,移相单元的输入/输出端口连接至可调器件单元的输出/输入端口,移相单元的输出端连接射频输出端口;温度检测单元输入端口连接电压/电流源信号输入端口,温度检测单元的输出端口连接可调器件单元的输入端口。

2.根据权利要求1所述的一种温度补偿型移相器,其特征是所述的移相单元包括三个晶体管:M1晶体管、M2晶体管和M3晶体管,三个电阻:R1电阻、R2电阻和R3电阻,以及三个电感:L1电感、L2电感和L3电感;其中M1晶体管的栅极和R1电阻的A端连接,M1晶体管的源极和L1电感的A端连接同时连接射频输入端口,M1晶体管的漏极与L2电感的A端连接同时连接至输出端口,R1电阻的B端连接至Ven控制信号端,L1电感的B端与L2电感的B端相连,同时与M2晶体管的漏极相连;M2晶体管的栅极与R2电阻的A端相连,M2晶体管的源极与M3晶体管的漏极相连,同时与L3电感的A端、可调器件单元输出/输入端口相连,R2电阻的B端与B控制信号端相连;M3晶体管的栅极与R3电阻的A端相连,M3晶体管的源极接地;R3电阻的B端与Venf控制电压端相连;L3电感的B端接地。

3.根据权利要求2所述的一种温度补偿型移相器,其特征是所述的移相单元中的M1晶体管、M2晶体管和M3晶体管为NMOS管。

4.根据权利要求1所述的一种温度补偿型移相器,其特征是所述的可调器件单元包括一个VC1压控电容和C1隔直电容;VC1压控电容的A端与C1隔直电容的A端相连,同时连到可调器件单元的输入端口,VC1压控电容的B端接地;C1隔直电容的B端与可调器件单元的输出/输入端口相连。

5.根据权利要求1所述的一种温度补偿型移相器,其特征是所述的温度检测单元包括三个晶体管:M4晶体管、P1晶体管和P2晶体管,R4电阻和D1二极管;P1晶体管源极与VDD电源端相连,P1晶体管的栅极与P2晶体管的栅极以及P1晶体管的漏极相连,P1晶体管的漏极还与M4晶体管的漏极相连;P2晶体管的源极与VDD电源端相连,P2晶体管的漏极与R4电阻的A端相连,同时与可调器件单元的输入端口相连;R4电阻的B端与地相连;M4晶体管的栅极与D1二极管的正极相连,M4晶体管的源极与地相连;D1二极管的负极接地。

6.根据权利要求5所述的一种温度补偿型移相器,其特征是所述的温度检测单元中M4晶体管为NMOS管,P1晶体管和P2晶体管为PMOS管。

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