电子器件的制造方法与流程

文档序号:21369197发布日期:2020-07-04 04:45阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种电子器件的制造方法,是至少依次具有有机功能层、防溶出膜及密封膜的电子器件的制造方法,其特征在于,具有:

将有机硅树脂涂布后照射真空紫外线而形成所述防溶出膜的工序;和

将金属醇盐和氟代醇的混合液在所述防溶出膜上涂布后、照射真空紫外线而形成所述密封膜的工序。

2.根据权利要求1所述的电子器件的制造方法,其特征在于,在所述形成防溶出膜的工序中,在有机硅树脂中混合硅氧烷系溶剂而涂布。

3.根据权利要求2所述的电子器件的制造方法,其特征在于,所述硅氧烷系溶剂为环状硅氧烷系溶剂。

4.根据权利要求2或3所述的电子器件的制造方法,其特征在于,使所述硅氧烷系溶剂的含量(质量)相对于所述有机硅树脂在1~30倍的范围内。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的电子器件的制造方法,其特征在于,所述防溶出膜的涂布后的湿膜厚为10μm以下。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的电子器件的制造方法,其特征在于,在所述形成防溶出膜的工序中,真空紫外线的照射量为0.1~10j/cm2的范围内。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的电子器件的制造方法,其特征在于,在所述形成密封膜的工序中,真空紫外线的照射量为0.1~10j/cm2的范围内。


技术总结
本发明的课题在于提供具备对于有机电致发光元件等电子器件作为水分透过的密封膜发挥功能的有机薄膜的电子器件的制造方法。本发明的电子器件的制造方法是至少依次具有有机功能层、防溶出膜及密封膜的电子器件的制造方法,其特征在于,具有:将有机硅树脂涂布后照射真空紫外线而形成所述防溶出膜的工序;和将金属醇盐和氟代醇的混合液在所述防溶出膜上涂布后照射真空紫外线而形成所述密封膜的工序。

技术研发人员:牧岛幸宏;高秀雄;北弘志;砚里善幸;吉田丽娜
受保护的技术使用者:柯尼卡美能达株式会社
技术研发日:2018.11.09
技术公布日:2020.07.03
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1