电子设备的制造方法

文档序号:8501437阅读:229来源:国知局
电子设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及例如设置有多个发光二极管(以下为LED)等元件的电子设备。
【背景技术】
[0002]以往,对设置有多个元件的电子设备,提案有各种能够检测该元件的异常的电子设备。具体而言,例如在专利文献I中提案有设置有用于检测LED的异常的电路的照明装置。
[0003]参照附图对该专利文献I中提案的照明装置进行说明。图10是表示现有的照明装置的框图。
[0004]如图10所示,照明装置100包括:将多个LED200串联连接而构成的X个(X为2以上的自然数)LED列1011?1lX ;对LED200供给电力的电源102 ;将电源102的电源电压分压而生成参考电压的参考电压生成部103 ;与1^0列1011?1lX串联连接,生成与在LED列1011?1lX中流动的电流相应的检测电压的X个电阻器1041?104X ;和将检测电压与参考电压按每个LED列1011?1lX进行比较而输出输出信号COUT的X个比较部1051 ?105X。
[0005]该照明装置100中,在LED列1011?1lX里的任一列中,在LED和配线等产生异常的情况下,与产生异常的LED列1011?1lX对应的比较部1051?105X输出表示该LED列1011?1lX中存在异常的输出信号COUT。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1:特开2010-123273号公报

【发明内容】

[0009]发明所要解决的问题
[0010]但是,在上述的照明装置100中,需要与LED列1011?1lX相同数量的比较部1051?105X,因此随着电路规模显著增大,成本变高。
[0011]因此,本发明的目的在于,提供能够以简易的结构检测元件的异常的电子设备。
[0012]用于解决问题的手段
[0013]为了达到上述目的,本发明的特征在于,包括:至少一个元件列并联连接而构成的第一元件列组,该元件列由至少一个元件串联连接而构成;至少一个上述元件列并联连接而构成的第二元件列组;和异常检测部,其基于第一电流与第二电流是否满足规定的关系,对构成上述第一元件列组和上述第二元件列组中的至少一个元件列组的上述元件列的异常进行检测,该第一电流为构成上述第一元件列组的上述元件列中流动的电流的合计,该第二电流为构成上述第二元件列组的上述元件列中流动的电流的合计。
[0014]进一步,优选如下方式:在上述特征的电子设备中,上述异常检测部包括:第一负载部,其一端与上述第一元件列组连接,从该一端输出作为与上述第一电流相应的电压的第一电压;第二负载部,其一端与上述第二元件列组连接,从该一端输出作为与上述第二电流相应的电压的第二电压;和比较部,其通过进行上述第一电压与上述第二电压的大小比较,对属于上述第一元件列组和上述第二元件列组中的至少一个元件列组的上述元件列的异常进行检测,上述第一负载部的另一端与上述第二负载部的另一端连接,上述第一负载部的电阻值与上述第二负载部的电阻值之比,为构成上述第二元件列组的上述元件列的并联数与构成上述第一元件列组的上述元件列的并联数之比。
[0015]进一步,优选如下方式:在上述特征的电子设备中,上述第一负载部和上述第二负载部各自并联连接至少一个电阻器,构成上述第一负载部的上述电阻器的并联数与构成上述第二负载部的上述电阻器的并联数之比,为构成上述第一元件列组的上述元件列的并联数与构成上述第二元件列组的上述元件列的并联数之比。
[0016]进一步,优选如下方式:在上述特征的电子设备中,上述第一负载部和上述第二负载部各自通过将上述一端为第一电极、上述另一端为第二电极的至少一个晶体管并联连接而构成,分别构成上述第一负载部和上述第二负载部的上述晶体管的控制电极相互连接,并且构成上述第一负载部的至少一个上述晶体管的上述控制电极与上述第一电极连接,构成上述第一负载部的上述晶体管的并联数与构成上述第二负载部的上述晶体管的并联数之比,为构成上述第一元件列组的上述元件列的并联数与构成上述第二元件列组的上述元件列的并联数之比。
[0017]进一步,优选如下方式:在上述特征的电子设备中,上述晶体管是上述第一电极为集电极、上述第二电极为发射极、上述控制电极为基极的NPN型双极晶体管。
[0018]进一步,优选如下方式:在上述特征的电子设备中,还包括偏置负载部,其与上述第一负载部和上述第二负载部中的任一个负载部并联连接。
[0019]进一步,优选如下方式:在上述特征的电子设备中,构成上述第一元件列组和上述第二元件列组的各个上述元件列是电流电压特性相同的元件列,上述异常检测部在上述第一电流与上述第二电流之比从构成上述第一元件列组的上述元件列的并联数与构成上述第二元件列组的上述元件列的并联数之比偏离超过规定程度的情况下,对构成上述第一元件列组和上述第二元件列组中的至少一个元件列组的上述元件列的异常进行检测。
[0020]发明的效果
[0021]根据上述特征的照明装置,仅通过设置对第一电流与第二电流的关系变得异常的情况进行检测的异常检测部,就能够检测元件列的异常。因此,能够不设置用于检测各个元件列的异常的装置而以简易的结构检测元件列的异常。
【附图说明】
[0022]图1是表示本发明的实施方式的照明装置的整体结构例的框图。
[0023]图2是表示图1所示的异常检测部的结构例的框图。
[0024]图3是表示图2所示的第一负载部和第二负载部的具体的电路结构的第一例的电路图。
[0025]图4是表示图2所示的第一负载部和第二负载部的具体的电路结构的第二例的电路图。
[0026]图5是表示图2所示的比较部的具体的电路结构的第一例的电路图。
[0027]图6是表示图2所示的比较部的具体的电路结构的第二例的电路图。
[0028]图7是表示图2所示的异常检测部的具体的电路结构的第一其它例的电路图。
[0029]图8是表示图2所示的异常检测部的具体的电路结构的第二其它例的电路图。
[0030]图9是表示LED的排列方法的其它例的框图。
[0031]图10是表示现有的照明装置的框图。
【具体实施方式】
[0032]以下,作为本发明的实施方式的电子设备,以能够检测LED的异常的照明装置为例进行说明。不过,以下说明的照明装置只不过是本发明的电子设备的一个实施方式而已。
[0033]<照明装置的整体结构例>
[0034]首先,参照附图对本发明的实施方式的照明装置的整体结构例进行说明。图1是表示本发明的实施方式的照明装置的整体结构例的框图。
[0035]如图1所示,照明装置I包括第一 LED元件列组21 (第一元件列组)、第二 LED元件列组22 (第二元件列组)、电源部3、异常检测部4和驱动控制部5。
[0036]第一 LED元件列组21由m列LED元件列211?21m(元件列)构成(m为自然数)。第二 LED元件列组22由η列的LED元件列221?22η构成(η为自然数)。LED元件列211?21m、221?22η由串联连接的至少一个LED20 (元件)构成。
[0037]电源部3对LED元件列211?21m、221?22η供给电力(例如直流电力或被PWM控制的脉冲电力)。
[0038]异常检测部4基于作为构成第一 LED元件列组21的LED元件列211?21m中流动的电流的合计的第一电流121与作为构成第二 LED元件列组22的LED元件列221?22η中流动的电流的合计的第二电流I22是否满足规定的关系,对构成第一 LED元件列组21和第二 LED元件列组22中的至少一个元件列组的LED元件列211?21m、221?22η的异常进行检测。之后,异常检测部4对驱动控制部5输出表示LED元件列211?21m、221?22η的异常的有无的输出信号S。另外,关于异常检测部4的详细情况,在之后进行叙述。
[0039]驱动控制部5在取得异常检测部4输出的输出信号S,确认LED元件列211?21m、221?22η中不存在异常时,对电源部3输出指示进行正常时动作(例如,对LED元件列211?21m、221?22η的持续的电力供给)之意的控制信号D。另一方面,驱动控制部5在取得异常检测部4输出的输出信号S,确认在LED元件列211?21m、221?22η中存在异常时,对电源部3输出指示进行异常时动作(例如,对LED元件列211?21m、221?22η的电力供给的停止)之意的控制信号D。
[0040]优选LED元件列211?21m、221?22η分别为电特性相同的元件列。具体而言,例如优选以使LED元件列211?21m、221?22η各自的电流电压特性相同的方式选择构成各个LED元件列211?21m、221?22η的LED20的等级(特别是关于正向电压的等级)。另外,因为电特性以LED元件列的单位相同即可,所以不需要使构成LED元件列211?21m、221?22η的所有LED20的等级(rank)相同,也可以在一个LED元件列中混合存在不同等级的LED20。
[0041]如上所述,在本发明的实施方式的照明装置I中,仅通过设置对第一电流I21与第二电流I22的关系变得异常的情况进行检测的异常检测部4,就能够检测LED元件列211?21m,221?22n的异常。因此,能够不设置用于检测各个元件列211?21m、221?22η的异常的装置而以简易的结构检测LED元件列211?21m、221?22η的异常。
[0042]另外,在图1中,驱动控制部5作为通过对电源部3输出控制信号D而控制电源部3的动作的结构进行例示,但还存在驱动控制部5由对电源部3可否动作进行控制的开关等单纯的装置构成的情况。在这样的情况下,也可以为如下结构:将驱动控制部5解释为电源部3的一部分,异常检测部4输出的输出信号S直接输入电源部3。
[0043]<异常检测部的结构例>
[0044]接着,参照附图对图1的异常检
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