差分阻抗的阻抗条结构的制作方法
【专利摘要】差分阻抗的阻抗条结构，包括第一阻抗层、第二阻抗层、第三阻抗层、两个第一过孔和两个第二过孔。该第一阻抗层上设有两个信号孔、两个地孔和两个第一差分阻抗条，每个第一差分阻抗条均包括多个相互串联的第一阻抗线；第二阻抗层设于第一阻抗层下方，该第二阻抗层上设有两个第二差分阻抗条，每个第二差分阻抗条均包括多个相互串联的第二阻抗线；两个第一过孔均位于第一阻抗层和第二阻抗层之间；第三阻抗层设于第二阻抗层下方，该第三阻抗层上设有两个第三差分阻抗条，每个第三差分阻抗条均包括多个相互串联的第三阻抗线；两个第二过孔均位于第二阻抗层和第三阻抗层之间。本实用新型既可以降低阻抗条空间占有率，又可以提高阻抗测量效率。
【专利说明】
差分阻抗的阻抗条结构
技术领域
[0001]本实用新型涉及差分阻抗的阻抗条结构。
【背景技术】
[0002]PCB厂家制作有差分阻抗要求的PCB时会在板边设计一个阻抗条，阻抗条包含有需要阻抗控制的阻抗线，如同一层有不同的阻抗设计值，会将不同阻抗要求的阻抗线并排设计，另外，如PCB有多个层次需要进行阻抗控制，受阻抗条设计宽度限制，会设计多个阻抗条来满足要求，此种设计存在以下几个问题:(I)阻抗条占用的空间会较大，这样会降低拼板图形对材料的利用率，造成PCB制作成本增加；(2)当阻抗线较多时，需要单个测试阻抗，阻抗测试时间较长，影响生产效率。
【实用新型内容】
[0003]针对现有技术的不足，本实用新型的目的旨在于提供一种差分阻抗的阻抗条结构，既可以降低阻抗条空间占有率，又可以提高阻抗测量效率。
[0004]为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0005]差分阻抗的阻抗条结构，包括:
[0006]第一阻抗层，该第一阻抗层上设有两个信号孔、两个地孔和两个第一差分阻抗条，每个第一差分阻抗条均包括多个相互串联的第一阻抗线，两个信号孔分别与两个第一差分阻抗条的一端电性连接，该两个地孔均位于信号孔的一侧，并且该两个地孔均电连接于印刷电路板的屏蔽层；
[0007]设于第一阻抗层下方的第二阻抗层，该第二阻抗层上设有两个第二差分阻抗条，每个第二差分阻抗条均包括多个相互串联的第二阻抗线；
[0008]两个第一过孔，均位于第一阻抗层和第二阻抗层之间，每个第一过孔的一端均与该第一差分阻抗条远离信号孔的一端电性连接、另一端均与该第二差分阻抗条的一端电性连接；
[0009]设于第二阻抗层下方的第三阻抗层，该第三阻抗层上设有两个第三差分阻抗条，每个第三差分阻抗条均包括多个相互串联的第三阻抗线；
[0010]两个第二过孔，均位于第二阻抗层和第三阻抗层之间，每个第二过孔的一端均与该第二差分阻抗条远离第一过孔的一端电性连接、另一端均与该第三差分阻抗条的一端电性连接。
[0011 ]每个第一差分阻抗条均包括三个阻抗值相异的第一阻抗线。
[0012]每个第二差分阻抗条均包括三个阻抗值相异的第二阻抗线。
[0013]每个第三差分阻抗条均包括三个阻抗值相异的第三阻抗线。
[0014]本实用新型的有益效果在于:
[0015]相比于现有技术，本实用新型的差分阻抗的阻抗线结构的第一阻抗层、第二阻抗层和第三阻抗层上分别设有两个第一差分阻抗条、两个第二差分阻抗条和两个第三差分阻抗条，每个阻抗条包括多个相互串联的阻抗线，这样，可以减少阻抗条的空间占有率，可节约生产成本，而且，由于第一差分阻抗条、第二差分阻抗条和第三差分阻抗条通过第一过孔和第二过孔电性连接，这样，两个第一差分阻抗条、两个第二差分阻抗条和两个第三差分阻抗条形成了一对差分导线，在测量阻抗时，阻抗测试仪的探头上的两个探针同时插入两个信号孔中，因此，根据阻抗测试仪的TDR曲线便可以得知各个阻抗线的阻抗值，这样，提高了阻抗的测量效率。
【附图说明】
[0016]图1为本实用新型的结构不意图；
[0017]图2为阻抗测试仪的TDR曲线；
[0018]其中:10、第一阻抗层；20、第二阻抗层;30、第三阻抗层;40、第一差分阻抗条;41、第一阻抗线；50、第二差分阻抗条;51、第二阻抗线；60、第三差分阻抗条;61、第三阻抗线；70、信号孔;80、地孔;90、第一过孔;100、第二过孔。
【具体实施方式】
[0019]下面，结合附图以及【具体实施方式】，对本实用新型做进一步描述:
[0020]如图1所示，本实用新型的差分阻抗的阻抗条结构，包括第一阻抗层10、第二阻抗层20、第三阻抗层30、两个第一过孔90和两个第二过孔100。该第一阻抗层10上设有两个信号孔70、两个地孔80和两个第一差分阻抗条40，每个第一差分阻抗条40均包括多个相互串联的第一阻抗线41，两个信号孔70分别与两个第一差分阻抗条40的一端电性连接，该两个地孔80均位于信号孔70的一侧，并且该两个地孔80均电连接于印刷电路板的屏蔽层;第二阻抗层20设于第一阻抗层10下方，该第二阻抗层20上设有两个第二差分阻抗条50，每个第二差分阻抗条50均包括多个相互串联的第二阻抗线51;两个第一过孔90均位于第一阻抗层10和第二阻抗层20之间，每个第一过孔90的一端均与该第一差分阻抗条40远离信号孔70的一端电性连接、另一端均与该第二差分阻抗条50的一端电性连接;第三阻抗层30设于第二阻抗层20下方，该第三阻抗层30上设有两个第三差分阻抗条60，每个第三差分阻抗条60均包括多个相互串联的第三阻抗线61;两个第二过孔100均位于第二阻抗层20和第三阻抗层30之间，每个第二过孔100的一端均与该第二差分阻抗条50远离第一过孔90的一端电性连接、另一端均与该第三差分阻抗条60的一端电性连接。
[0021]本实用新型的差分阻抗的阻抗线结构的第一阻抗层10、第二阻抗层20和第三阻抗层30上分别设有两个第一差分阻抗条40、两个第二差分阻抗条50和两个第三差分阻抗条60，每个阻抗条包括多个相互串联的阻抗线，这样，可以减少阻抗条的空间占有率，可节约生产成本，而且，由于第一差分阻抗条40、第二差分阻抗条50和第三差分阻抗条60通过第一过孔90和第二过孔100电性连接，这样，两个第一差分阻抗条40、两个第二差分阻抗条50和两个第三差分阻抗条60形成了一对差分导线，一对差分导线用于传输差分信号，在测量阻抗时，阻抗测试仪的探头上的两个探针同时插入两个信号孔70中，因此，根据阻抗测试仪的TDR曲线便可以得知各个阻抗线的阻抗值，这样，提高了阻抗的测量效率。
[0022]比如，当一个差分阻抗条的阻抗线的数量一共有5个时(即第一差分阻抗条40、第二差分阻抗条50和第三差分阻抗条60上的阻抗线的数量一共有5个)，阻抗测试仪的TDR曲线如图2所示(图2的横坐标为时间，纵坐标为阻抗值)，由于TDR曲线对应相邻的阻抗线的连接位置会有明显的波动，依序找出各个阻抗线对应的直线段，而且每个直线段的长度与相应的阻抗线的长度成正比，因此，可以较为容易地找出各个阻抗线对应的直线段，从而得知各个阻抗线的阻抗值。比如办和^对应的直线段的时间为tjPt2。
[0023]优选地，每个第一差分阻抗条40均包括三个阻抗值相异的第一阻抗线41。优选地，每个第二差分阻抗条50均包括三个阻抗值相异的第二阻抗线51。优选地，每个第三差分阻抗条60均包括三个阻抗值相异的第三阻抗线61。这样，可以更加容易地得知出各个阻抗线的阻抗值。更优选地，每个阻抗条上的阻抗线的长度均不一致。
[0024]对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本实用新型权利要求的保护范围之内。
【主权项】
1.差分阻抗的阻抗条结构，其特征在于，包括: 第一阻抗层，该第一阻抗层上设有两个信号孔、两个地孔和两个第一差分阻抗条，每个第一差分阻抗条均包括多个相互串联的第一阻抗线，两个信号孔分别与两个第一差分阻抗条的一端电性连接，该两个地孔均位于信号孔的一侧，并且该两个地孔均电连接于印刷电路板的屏蔽层； 设于第一阻抗层下方的第二阻抗层，该第二阻抗层上设有两个第二差分阻抗条，每个第二差分阻抗条均包括多个相互串联的第二阻抗线； 两个第一过孔，均位于第一阻抗层和第二阻抗层之间，每个第一过孔的一端均与该第一差分阻抗条远离信号孔的一端电性连接、另一端均与该第二差分阻抗条的一端电性连接； 设于第二阻抗层下方的第三阻抗层，该第三阻抗层上设有两个第三差分阻抗条，每个第三差分阻抗条均包括多个相互串联的第三阻抗线； 两个第二过孔，均位于第二阻抗层和第三阻抗层之间，每个第二过孔的一端均与该第二差分阻抗条远离第一过孔的一端电性连接、另一端均与该第三差分阻抗条的一端电性连接。2.如权利要求1所述的差分阻抗的阻抗条结构，其特征在于，每个第一差分阻抗条均包括三个阻抗值相异的第一阻抗线。3.如权利要求1所述的差分阻抗的阻抗条结构，其特征在于，每个第二差分阻抗条均包括三个阻抗值相异的第二阻抗线。4.如权利要求1所述的差分阻抗的阻抗条结构，其特征在于，每个第三差分阻抗条均包括三个阻抗值相异的第三阻抗线。
【文档编号】H05K1/02GK205491422SQ201620011817
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年1月1日
【发明人】刘文敏, 王红飞, 陈蓓, 程柳军
【申请人】广州兴森快捷电路科技有限公司, 深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司, 广州市兴森电子有限公司