专利名称：一种射频sim卡的测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及通信领域，尤其涉及一种射频SIM卡的测试系统及方法。
背景技术：
随着射频识别技术的发展和移动通信终端(例如手机)的日益普及，在手机等移动通信终端中嵌入射频智能卡，使人们能够利用手机等移动通信终端中的射频智能卡处理购物消费、小额支付和考勤等日常事务，已经成为现实。能够反映射频SM卡(包括RFID-SM卡)功能好坏的最直接的方法就是测试射频SIM卡的射频基本性能，看是否符合规定标准。在裸露的环境中对射频SIM卡进行测试时，射频SIM卡参数指标容易受到外界其他信号的干扰，从而导致测试结果不可靠。现有技术中，射频SIM卡的测试需要借助频谱仪等测试设备,测试成本比较高，
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种射频SIM卡的测试系统及方法，提高测试结果的可靠性，同时降低测试成本。为解决上述技术问题，本发明提出了一种射频SIM卡的测试系统，包括:
屏蔽装置，用于容纳射频SIM卡，屏蔽测试过程中外界信号对所述射频SIM卡的干扰； 测试装置，用于对所述射频SIM卡进行测试；
通信终端，用于为所述射频SM卡和所述测试装置供电，控制所述射频SIM卡，以及显示测试结果；
读卡装置，用于连接所述通信终端和所述射频SIM卡。进一步地，上述射频SM卡的测试系统还可具有以下特点，还包括:连接装置，用于连接所述射频SIM卡和所述读卡装置。进一步地，上述射频SM卡的测试系统还可具有以下特点，所述屏蔽装置为屏蔽箱，所述屏蔽箱的内壁覆盖有吸波材料，所述屏蔽装置内设置有卡座，所述卡座用于固定所述射频SIM卡。进一步地，上述射频SM卡的测试系统还可具有以下特点，所述屏蔽装置内设置有天线，所述天线与所述射频SIM卡相连，且与所述测试装置通过射频同轴线连接。进一步地，上述射频SM卡的测试系统还可具有以下特点，所述测试装置包括: 射频通信模块，用于测试所述测试装置与所述射频SM卡的射频通信状况；
功率检测模块，用于检测所述射频SIM卡的发射功率，以及测试所述射频SIM卡的射频性能指标；
功率衰减模块，用于对所述功率检测模块检测到的所述射频SIM卡的发射功率按照设定比例进行衰减；
主控模块，用于控制所述射频通信模块、所述功率检测模块和所述功率衰减模块。进一步地，上述射频SM卡的测试系统还可具有以下特点，所述通信终端为计算机。
进一步地，上述射频SM卡的测试系统还可具有以下特点，所述连接装置为7816接口信号连接电路板。进一步地，上述射频SM卡的测试系统还可具有以下特点，所述测试装置通过USB连接线与所述通信终端连接。进一步地，上述射频SM卡的测试系统还可具有以下特点，所述读卡装置为PC/SC读卡器。为解决上述技术问题，本发明提出了一种射频SIM卡的测试方法，包括:
将待测试的射频SIM卡置于屏蔽环境中；
对置于屏蔽环境中的所述射频SIM卡进行测试。本发明的射频SIM卡的测试系统及方法，能够屏蔽测试过程中外界信号的干扰，提高了测试结果的可靠性。并且，本发明的射频SIM卡的测试系统中的各个装置价格低廉，不需要频谱仪等昂贵测试设备，因此降低了射频SIM卡的测试成本。再者，本发明的射频SIM卡的测试系统，测试操作简单，适用于量产测试。
图1为本发明射频SIM卡的测试系统的结构框图； 图2为图1中测试装置120的一种结构框 图3为本发明实施例中射频SIM卡的测试系统的连接示意图。
具体实施例方式以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。图1为本发明射频SM卡的测试系统的结构框图。如图1所示，本发明的射频SIM卡的测试系统100包括屏蔽装置110、测试装置120、通信终端130、读卡装置140和连接装置150。屏蔽装置110用于容纳射频SM卡，屏蔽测试过程中外界信号对射频SM卡的干扰。测试装置120用于对射频SM卡进行测试。通信终端130用于为射频SIM卡和测试装置120供电，控制射频SM卡，以及显示测试结果。读卡装置140用于连接通信终端130和连接装置150。连接装置150用于连接射频SM卡和读卡装置140。通信终端130通过读卡装置140和连接装置150，将电能传送给置于屏蔽装置110内的射频SM卡。读卡装置140和通信终端130通过USB连接线相连。读卡装置140内具有连接装置150的插槽，连接装置150可以直接插入到读卡装置140里面。其中，屏蔽装置110可以为屏蔽箱，该屏蔽箱的内壁覆盖有吸波材料，屏蔽箱外部使用螺钉加固进行密封，能够起到抗干扰的作用，使得测试结果更可靠。屏蔽装置110内可以设置有卡座，该卡座用于固定待测试的射频SM卡。屏蔽装置110内还可以设置有天线，该天线用于接收射频SM卡发射的射频信号，然后通过同轴线引出辐射到屏蔽装置110外的测试装置120上，且该天线还与测试装置120通过RF同轴线(即射频同轴线)连接。RF同轴线能有效保证射频SIM卡和RF测试板之间的通信不受到其他信号干扰，进一步提高测试结果的可靠性。其中，通信终端130可以为计算机。
其中，读卡装置140 可以是 PC/SC (Personal Computer/ Smart Card,个人计算机/智能卡)读卡器。PC/SC是为智能卡访问Windows平台而定义的一种标准结构。其中，连接装置150可以为7816接口信号连接电路板。7816接口信号连接电路板可以滤除射频信号，只允许通过7816信号。其中，测试装置120可以通过USB连接线与通信终端130连接。图2为图1中测试装置120的一种结构框图。如图2所示，测试装置120可以包括射频通信模块121、功率检测模块122、功率衰减模块123和主控模块124。其中，射频通信模块121用于测试测试装置120与射频SIM卡的射频通信状况。功率检测模块122用于检测射频SIM卡的发射功率，以及测试射频SIM卡的射频性能指标。功率衰减模块123用于对功率检测模块122检测到的射频SIM卡的发射功率按照设定比例进行衰减。 主控模块124用于控制射频通信模块121、功率检测模块122和功率衰减模块123。利用本发明的射频SIM卡的测试系统，可以对射频SM卡进行如下测试:
功率测试:待测射频SIM卡实测的功率值和基准卡的功率值作比较，若在指标范围内，则R测试通过；
误码率测试:检验待测射频SIM卡在预设的发射功率和频点下是否能进行正常通信。下面通过一个实施例来说明本发明射频SIM卡的测试系统中各装置之间的连接关系以及射频SIM卡的测试系统的工作过程。图3为本发明实施例中射频SIM卡的测试系统的连接示意图。如图3所示，本实施例中，射频SM卡的测试系统包括屏蔽箱、RF (射频)测试板、PC机(即个人计算机)、PC/SC读卡器和7816接口信号连接电路板。其中，屏蔽箱为屏蔽装置，RF测试板为测试装置，PC机为通信终端，PC/SC读卡器为读卡装置，7816接口信号连接电路板为连接装置。这里对卡座作一点说明:卡座的大部分处于屏蔽箱内部，只是卡座的卡槽(用于插入射频SIM卡)部分在屏蔽箱外，以便于射频SIM卡的插入，因此在图3中，将卡座的外框画到屏蔽箱外面。图3中，屏蔽箱的内壁覆盖有吸波材料。屏蔽箱内设置有用于固定射频SIM卡的卡座。屏蔽箱内还设置有天线，该天线与置于卡座内的射频SM卡相连。PC机与PC/SC读卡器之间通过USB连接线相连，7816接口信号连接电路板直接插入到PC/SC读卡器中。测试时，将待测卡(即待测试的射频SIM卡)放置在屏蔽箱内的卡座中。放置在屏蔽箱内的射频SM卡，插入到卡座的卡槽，卡座与7816接口信号连接电路板之间通过排线连接，屏蔽箱内的天线位于射频SIM卡正下方Icm处，用于接收射频SIM卡发射的射频信号。屏蔽箱内的天线与RF测试板之间通过RF同轴线连接。RF测试板与PC机通过RS232连接线和USB连接线相连，USB连接线用于给RF测试板供电和下载测试程序，RS232连接线用于显示或打印测试结果。在进行测试前，首先将射频SIM卡的测试系统中各个装置按照图3连接好。图3所示射频SIM卡的测试系统测试射频SIM卡发射功率的工作过程是:
步骤一，在使用射频SIM卡的测试系统对射频SIM卡进行测试前，要对射频SIM卡的测试系统进行校准，以避免测试环境的变化对测试结果的影响；
可以使用基准射频SIM卡(以下简称基准卡)校准射频SIM卡的测试系统。校准过程中，如果发现基准卡与历史标准值相差较大，则认为该基准卡是不合格的基准卡，需要更换基准卡再次校准。校准成功后，将基准卡环境校验功率值(即通过本发明射频SIM卡的测试系统所测得的基准卡的发射功率值)存储在测试系统中作为后续待测射频SIM卡的基准值。在每次量产测试前，需要对测试系统进行一次校准，以确保测试系统适用于当前的测试。本文中提到的基准卡是指事先挑选的射频性能非常优异的射频SIM卡，后面量产测试的射频SIM卡都需要和基准卡进行比较，和基准卡的差异越小，待测卡的射频性能越好。步骤二，将待测射频SIM卡插入屏蔽箱的卡座中，连接PC/SC读卡器，PC机便能给射频SIM卡以及整个测试系统供电，并控制射频SIM卡；
在进行测试前，待测射频SIM卡和RF测试板中要下载相应的测试程序。在测试程序中，将每一个测试项目(例如发射功率、误码率等)单独封装为测试函数，在上电复位成功后，会依次进行各项测试。测试程序分为两个部分，一部分用于下载到射频SIM卡中，另一部分用于下载到RF测试板中。步骤三，PC机向被测频识别SM卡发送发射频信号命令，射频SM卡通过天线发射射频信号；
步骤四，RF测试板检测射频信号强度，将检测到的功率值与基准值进行比较，若二者差值在设定范围的，则被测频识别SIM卡合格；若二者差值超过设定范围，则被测频识别SIM卡不合格；
需要注意的是，RF测试板检测到的功率值的单位和实际功率单位不同，需要做一定转 换。我们将RF测试板检测到的功率单位称为RSSI，RSSI量测的公式是:_100dbm+(160-RSSI)/3，在实际测试换算时，若衰减模块有衰减量，还需要加上衰减量(衰减量的单位为dbm)。例如，如果RF测试板测试出功率值为40RSSI，衰减量为25dbm，按照公式-1OOdbm+ (160-RSSI) /3计算得到实际功率为_35dbm。步骤五，RF测试板将测试结果通过串口(如RS232)传送至PC机。用图3所示射频SM卡的测试系统测试误码率时，设置RF测试板的射频通信模块的发射功率为最低，功率衰减模块衰减值为最大。然后在此基础上，让RF测试板与被测射频SIM卡在固定频点上进行通信，测试是否出现数据包丢失，RF测试板将传输成功的数据包个数以及成功率传送到PC机进行显示。本发明的射频SIM卡的测试系统还可以测试其他的射频参数。例如本发明的射频SM卡的测试系统还可以测试射频SM卡的频偏。测试射频SM卡的频偏的方法是:通过调整测试装置(比如RF测试板)上的功率检测模块的接收频率，来接收射频SIM卡的射频信号强度并检测该射频信号的强度，如果检测出的射频信号强度值在预设的偏差范围内，认为射频SIM卡的频偏测试通过，频偏指标符合要求，否则认为频偏指标不符合要求。由上可见，本发明的射频SM卡的测试系统，能够屏蔽测试过程中外界信号的干扰，提高了测试结果的可靠性。并且，本发明的射频SIM卡的测试系统中的各个装置价格低廉，不需要频谱仪等昂贵测试设备，因此降低了射频SIM卡的测试成本。再者，本发明的射频SIM卡的测试系统，测试操作简单，适用于量产测试。本发明还提出了一种射频SM卡的测试方法，该方法包括如下步骤:
将待测试的射频SIM卡置于屏蔽环境中； 对置于屏蔽环境中的射频SIM卡进行测试。本发明的射频SIM卡的测试方法，能够屏蔽测试过程中外界信号的干扰，提高了测试结果的可靠性。以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种射频SIM卡的测试系统，其特征在于，包括: 屏蔽装置，用于容纳射频SIM卡，屏蔽测试过程中外界信号对所述射频SIM卡的干扰； 测试装置，用于对所述射频SIM卡进行测试； 通信终端，用于为所述射频SM卡和所述测试装置供电，控制所述射频SIM卡，以及显示测试结果； 读卡装置，用于连接所述通信终端和所述射频SIM卡。
2.根据权利要求1所述的射频SIM卡的测试系统，其特征在于，还包括:连接装置，用于连接所述射频SIM卡和所述读卡装置。
3.根据权利要求1所述的射频SIM卡的测试系统，其特征在于，所述屏蔽装置为屏蔽箱，所述屏蔽箱的内壁覆盖有吸波材料，所述屏蔽装置内设置有卡座，所述卡座用于固定所述射频SIM卡。
4.根据权利要求1所述的射频SIM卡的测试系统，其特征在于，所述屏蔽装置内设置有天线，所述天线与所述射频SIM卡相连，且与所述测试装置通过射频同轴线连接。
5.根据权利要求1所述的射频SM卡的测试系统，其特征在于，所述测试装置包括: 射频通信模块，用于测试所述测试装置与所述射频SM卡的射频通信状况； 功率检测模块，用于检测所述射频SIM卡的发射功率，以及测试所述射频SIM卡的射频性能指标； 功率衰减模块，用于对所述功率检测模块检测到的所述射频SIM卡的发射功率按照设定比例进行衰减；主控模块，用于控制所述射频通信模块、所述功率检测模块和所述功率衰减模块。
6.根据权利要求1所述的射频SIM卡的测试系统，其特征在于，所述通信终端为计算机。
7.根据权利要求1所述的射频SM卡的测试系统，其特征在于，所述连接装置为7816接口信号连接电路板。
8.根据权利要求1所述的射频SIM卡的测试系统，其特征在于，所述测试装置通过USB连接线与所述通信终端连接。
9.根据权利要求1所述的射频SIM卡的测试系统，其特征在于，所述读卡装置为PC/SC读卡器。
10.一种射频SIM卡的测试方法，其特征在于，包括:将待测试的射频SIM卡置于屏蔽环境中； 对置于屏蔽环境中的所述射频SIM卡进行测试。
全文摘要
本发明涉及一种射频SIM卡的测试系统及方法。其中，射频SIM卡的测试系统包括屏蔽装置，用于容纳射频SIM卡，屏蔽测试过程中外界信号对所述射频SIM卡的干扰；测试装置，用于对所述射频SIM卡进行测试；通信终端，用于为所述射频SIM卡和所述测试装置供电，控制所述射频SIM卡，以及显示测试结果；读卡装置，用于连接所述通信终端和所述射频SIM卡。本发明的射频SIM卡的测试系统及方法，能够屏蔽测试过程中外界信号的干扰，提高了测试结果的可靠性。并且，本发明的射频SIM卡的测试系统中的各个装置价格低廉，不需要频谱仪等昂贵测试设备，因此降低了射频SIM卡的测试成本。再者，本发明的射频SIM卡的测试系统，测试操作简单，适用于量产测试。
文档编号H04W24/00GK103179590SQ20111043787
公开日2013年6月26日 申请日期2011年12月23日 优先权日2011年12月23日
发明者段星恒 申请人:国民技术股份有限公司