眼图质量的判断方法及装置的制作方法

文档序号:7892367阅读:462来源:国知局
专利名称:眼图质量的判断方法及装置的制作方法
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种眼图质量的判断方法及装置。
背景技术
光模块的眼图是示波器屏幕上所显示的数字通信符号,由大量波形叠加形成,其形状类似“眼”的图形。在光模块的优化过程中,需要根据眼图质量的好坏对眼图进行调节。目前,对于符合标准模板的眼图,调节过程中可以使用交叉点、消光比等指标作为衡量眼图质量好坏的标准,但是对于不符合标准模板的眼图,如采用差分四相相移键控(Differential Quadrature Phase Shift Keying,DQPSK)码型的光模块的眼图,通常需要工作人员通过肉眼判断该眼图是否符合DQPSK眼图的规格,由于判断标准依赖于工作人员的主观感受,无法保证眼图调节的精确程度,可能导致某些光模块的眼图并没有达到要求,但是工作人员认为眼图合格,由于主要的光模块实际并没有达到最优,在长期运行中可能会出现问题。

发明内容
本发明的实施例提供一种眼图质量的判断方法及装置,通过量化指标判断眼图质量的好坏,使眼图的调节更加精确。为解决上述技术问题,本发明的实施例采用如下技术方案一种眼图质量的判断方法,包括将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上,得到统计坐标以及所述每个统计坐标的取值次数,每个统计坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计坐标处的波的个数;根据所述统计坐标和所述每个统计坐标的取值次数获得所述统计坐标的离散程度指标;若所述统计坐标的离散程度指标大于预设离散程度指标,则判断所述眼图不合格。一种眼图质量的判断方法,包括在眼图的波峰处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波峰统计横坐标以及所述每个波峰统计横坐标的取值次数,每个波峰统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波峰统计横坐标处的波的个数;根据所述波峰统计横坐标和所述每个波峰统计横坐标的取值次数获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标;
在眼图的波谷处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波谷统计横坐标以及所述每个波谷统计横坐标的取值次数,每个波谷统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波谷统计横坐标处的波的个数;根据所述波谷统计横坐标和所述每个波谷统计横坐标的取值次数获得所述波谷统计横坐标的离散程度指标;获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标与波谷统计横坐标的离散程度指标的差值和/或比值;若所述差值和/或比值不满足预设条件,则判断所述眼图不合格。 一种眼图质量的判断装置,包括第一截取单元,用于将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上,得到统计坐标以及所述每个统计坐标的取值次数,每个统计坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计坐标处的波的个数;第一统计单元,用于根据所述统计坐标和所述每个统计坐标的取值次数获得所述统计坐标的离散程度指标;第一判断单元,用于若所述统计坐标的离散程度指标大于预设离散程度指标,则判断所述眼图不合格。一种眼图质量的判断装置,包括第二截取单元,用于在眼图的波峰处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波峰统计横坐标以及所述每个波峰统计横坐标的取值次数,每个波峰统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波峰统计横坐标处的波的个数;第二统计单元,用于根据所述波峰统计横坐标和所述每个波峰统计横坐标的取值次数获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标;所述第二截取单元还用于,在眼图的波谷处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波谷统计横坐标以及所述每个波谷统计横坐标的取值次数,每个波谷统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波谷统计横坐标处的波的个数;所述第二统计单元还用于,根据所述波谷统计横坐标和所述每个波谷统计横坐标的取值次数获得所述波谷统计横坐标的离散程度指标;所述第二统计单元还用于,获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标与波谷统计横坐标的离散程度指标的差值和/或比值;第二判断单元,用于若所述差值和/或比值不满足预设条件,则判断所述眼图不合格。由于眼图上形成的波形是大量的波形叠加形成的,理论情况下眼图的波形应该是完全重叠的,但是实际中不可能实现,重叠区域存在一定的宽度,合格的眼图满足正态分布,因此,重叠区域的离散程度越小,则眼图质量越好。上述统计坐标的离散程度即表示了在重叠区域内大量波的离散程度,而大量波的离散程度可以反映眼图中波形是否存在多线,即眼图质量的好坏。波峰统计坐标和波谷统计坐标满足正态分布,离散程度与波形的厚度成正比,因此对它们的离散程度指标进行比较,即上述差值和/或比值,可以反映波峰与波谷处是否厚度相当,即眼图质量的好坏。与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断眼图质量的好坏相比,使用量化指标判断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确。


为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为本发明实施例中一种眼图质量的判断方法的流程图;图2为NRZ-DPSK码型眼图的一种示意图; 图3为本发明实施例中单路NRZ-DPSK码型眼图质量的判断方法的流程图;图4为NRZ-DPSK码型眼图的另一种示意图;图5为NRZ-DQPSK码型眼图的示意图;图6为本发明实施例中RZ码型的眼图质量的判断方法的一种流程图;图7为本发明实施例中RZ码型的眼图质量的判断方法的另一种流程图;图8为RZ码型的眼图的示意图;图9为本发明实施例中眼图质量的一种判断装置的结构框图;图10为本发明实施例中眼图质量的另一种判断装置的结构框图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获取的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。如图I所示,本发明实施例提供一种眼图质量的判断方法,包括步骤101、将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上,得到统计坐标以及每个统计坐标的取值次数,每个统计坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计坐标处的波的个数;具体为,在眼图中需要判断是否存在多线的波形位置处截取部分区域作为统计区域。对于非归零差分相移键控(Non-Return-to-Zero Differential Phase Shift Keying,NRZ-DPSK)码型的眼图,如图2所示,需要判断“I”电平即高电平是否存在多线,则截取“I”电平的部分区域A作为统计区域投影到Y轴上,需要说明的是,图2只是眼图的示意图,实际的眼图是由大量波形叠加形成的。步骤102、根据统计坐标和每个统计坐标的取值次数获得统计坐标的离散程度指标;步骤103、若统计坐标的离散程度指标大于预设离散程度指标,则判断眼图不合格。需要对眼图进行调节。由于眼图上形成的波形是大量的波形叠加形成的,理论情况下眼图的波形应该是完全重叠的,但是实际中不可能实现,重叠区域存在一定的宽度,合格的眼图类似正态分布,因此,重叠区域的离散程度越小,则眼图质量越好。上述统计坐标的离散程度即表示了在重叠区域内大量波的离散程度,而大量波的离散程度可以反映眼图中波形是否存在多线,即眼图质量的好坏。与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断波形是否存在多线相t匕,使用离散程度这一量化指标判断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确。
以下以非归零差分正交相移键控(Non-Return-to-Zero DifferentialQuadrature Reference Phase Shift Keying,NRZ-DQPSK)码型眼图的调节方法为例,进一步说明本发明实施例提供的一种眼图质量的判断方法。NRZ-DQPSK码型眼图由两路NRZ-DPSK码型眼图组成,因此,首先调节到单路NRZ-DPSK码型眼图,判断其质量好坏并进行调节。
如图3所示,与上述实施例类似,单路NRZ-DPSK码型眼图质量的判断方法包括以下步骤步骤201、将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上,得到统计坐标以及所述每个统计坐标的取值次数,每个统计坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计坐标处的波的个数;具体地,如图4所示,将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上包括在眼图的“ I”电平的波峰处截取矩形区域A作为统计区域投影到Y轴,矩形区域A上下两条边分别位于“ I ”电平之外的上下两侧,即矩形区域A上下两条边不与波形相交,左右两条边与波形相交;和/或在眼图的上升沿处截取矩形区域B作为统计区域投影到X轴,矩形区域B左右两条边分别位于上升沿之外的左右两侧,即矩形区域B左右两条边不与波形相交,上下两条边与波形相交;与矩形区域B的截取方法相同,和/或在眼图的下降沿处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴。步骤202、根据统计坐标和每个统计坐标的取值次数获得统计坐标的离散程度指标;步骤203、根据统计坐标和每个统计坐标的取值次数,获得统计坐标分布在0-3o,u +3 O )内的概率,其中ii为期望,O为标准方差;步骤204、若统计坐标的离散程度指标大于预设离散程度指标,且概率小于预设概率值,则判断眼图不合格;需要对眼图进行调节。具体地,离散程度指标优选为标准方差,与上述眼图质量的判断原理相同,统计区域内统计坐标的离散程度可以反映眼图在统计区域内是否存在多线,即眼图的好坏,并且由于统计坐标分布在-3 0,U+3o)内的概率可以反映统计区域内的大量波是否满足正态分布,因此也可以判断眼图质量的好坏,当“I”电平的波峰处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴上时,统计坐标的标准方差大于预设标准方差,且统计坐标分布在(U -3 O,U+3o)内概率小于预设概率值,则判断眼图的“I”电平不合格,需要对眼图进行调节,同样的,当在眼图的上升沿或下降沿处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴时,统计坐标的标准方差大于预设标准方差,且统计坐标分布在(U-3o,U+3o)内概率小于预设概率值,则判断眼图的上升沿或下降沿不合格,需要对眼图进行调节。在对该单路NRZ-DPSK码型眼图判断并调节完成之后,调节到另外一路NRZ-DPSK码型眼图,用同样的方法进行判断并调节。之后调节到两路NRZ-DPSK码型眼图合成的NRZ-DQPSK码型眼图,如图5所示,判断其质量好坏并进行调节。与上述判断调节方法相同,判断眼图的“I”电平处是否合格,并对眼图进行调节,由于根据眼图上升沿或下降沿处的统计区域内统计坐标的标准方差和/或分布在(ii -3 O,ii +3 O )内的概率可以判断两路NRZ-DPSK码型眼图是否有位移,即可以判断NRZ-DQPSK码型眼图的两个眼孔是否对齐且清晰可见,并对眼图进行调节。
与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断NRZ-DQPSK码型眼图“ I ”电平是否有多线及两个眼孔是否对齐、清晰可见相比,本发明实施例提供的NRZ-DQPSK码型眼图质量的判断方法,使用量化指标判断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确,并且能够实现全自动判断和调节,无需人工干预。如图6所示,本发明实施例还提供一种眼图质量的判断方法,用于判断归零(Return-to-Zero, RZ)码型的眼图质量好坏,合格的RZ码型的眼图如图8所示,为类正弦曲线,其“I”电平和“0”电平要厚度相当,即需要判断波峰、波谷处是否厚度相当,该眼图质量的判断方法包括步骤301、在眼图的波峰处截取矩形区C域作为统计区域投影到X轴上,得到波峰统计横坐标以及每个波峰统计横坐标的取值次数,每个波峰统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波峰统计横坐标处的波的个数;具体地,矩形区域C的上下两条边分别位于波峰之外的上下两侧,左右两条边分别位于波峰左右外侧的边沿之外,即矩形区域C的上边和左右两条边不与波形相交,下边与波形相交。步骤302、根据波峰统计横坐标和每个波峰统计横坐标的取值次数获得波峰统计横坐标的离散程度指标;步骤303、在眼图的波谷处截取矩形区域D作为统计区域投影到X轴上,得到波谷统计横坐标以及每个波谷统计横坐标的取值次数,每个波谷统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波谷统计横坐标处的波的个数;具体地,矩形区域D上下两条边分别位于波谷之外的上下两侧,左右两条边分别位于波谷左右外侧的边沿之外,即矩形区域D下边和左右两条边不与波形相交,上边与波形相交。步骤304、根据波谷统计横坐标和每个波谷统计横坐标的取值次数获得波谷统计横坐标的离散程度指标;步骤305、获得波峰统计横坐标的离散程度指标与波谷统计横坐标的离散程度指标的差值和/或比值;步骤306、若上述差值和/或比值不满足预设条件,则判断眼图不合格。需要对眼图进行调节。与上述眼图质量的判断原理类似,波峰统计横坐标和波谷统计横坐标类似正态分布,离散程度与波形的厚度成正比,因此对它们的离散程度指标进行比较,即上述差值和/或比值,可以反映波峰与波谷处是否厚度相当,即眼图质量的好坏。与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断波峰、波谷处是否厚度相当相比,使用量化指标判断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确。进一步地,如图7所示,该眼图质量的判断方法还可以包括步骤307、在眼图的波峰和/或波谷处截取矩形区域E作为统计区域投影到Y轴上,得到统计纵坐标以及每个统计纵坐标的取值次数,每个统计纵坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计纵坐标处的波的个数;
具体地,如图8所示,矩形区域E上下两条边分别位于波峰或波谷之外的上下两侧且不与波形相交,左右两条边与波形相交。
步骤308、根据统计纵坐标和每个统计纵坐标的取值次数,获得统计纵坐标分布在0-3o,u +3 O )内的概率,其中ii为期望,O为标准方差;步骤309、若所述概率小于预设概率值,则进一步判断眼图不合格。优选地,上述离散程度指标为标准方差。以下以DQPSK码型眼图的调节方法为例,进一步说明本发明实施例提供的眼图质量的判断方法,对DQPSK码型眼图进行调节时,需要分别对NRZ-DQPSK码型眼图和RZ码型的眼图进行调节,首先判断NRZ-DQPSK码型眼图质量,并进行调节,然后判断RZ码型的眼图质量,并进行调节。判断及调节方法与上述实施例相同,在此不再赘述。与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断眼图是否合格相比,使用量化指标判 断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确,并且能够实现全自动判断和调节,无需人工干预。如图9所示,本发明实施例还提供一种眼图质量的判断装置,包括第一截取单元1,用于将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上,得到统计坐标以及每个统计坐标的取值次数,每个统计坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计坐标处的波的个数;第一统计单元2,用于根据统计坐标和每个统计坐标的取值次数获得统计坐标的离散程度指标;第一判断单元3,用于若统计坐标的离散程度指标大于预设离散程度指标,则判断眼图不合格。具体的判断原理和方法与上述实施例相同,在此不再赘述。与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断波形是否存在多线相比,使用离散程度这一量化指标判断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确。具体地,上述将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上包括在眼图的“I”电平处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴;和/或在眼图的上升沿处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴;和/或在眼图的下降沿处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴。进一步地,第一统计单元2还用于,根据统计坐标和每个统计坐标的取值次数,获得统计坐标分布在0-3o,u +3 O )内的概率,其中ii为期望,O为标准方差;所述判断单元还用于,若所述概率小于预设概率值,则进一步判断所述眼图不合格。进一步地,第一判断单元3还用于,若上述概率小于预设概率值,则进一步判断眼图不合格。优选地,上述离散程度指标为标准方差。具体地判断原理和方法与上述实施例相同,在此不再赘述。与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断眼图是否合格相比,使用量化指标判断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确,并且能够实现全自动判断和调节,无需人工干预。如图10所示,本发明实施例还提供一种眼图质量的判断装置,包括
第二截取单元4,用于在眼图的波峰处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波峰统计横坐标以及每个波峰统计横坐标的取值次数,每个波峰统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波峰统计横坐标处的波的个数;第二统计单元5,用于根据波峰统计横坐标和每个波峰统计横坐标的取值次数获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标;第二截取单元4还用于,在眼图的波谷处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波谷统计横坐标以及每个波谷统计横坐标的取值次数,每个波谷统计横坐标的取 值次数为统计区域内投影在每个波谷统计横坐标处的波的个数;第二统计单元5还用于,根据波谷统计横坐标和每个波谷统计横坐标的取值次数获得波谷统计横坐标的离散程度指标;第二统计单元5还用于,获得波峰统计横坐标的离散程度指标与波谷统计横坐标的离散程度指标的差值和/或比值;第二判断单元6,用于若上述差值和/或比值不满足预设条件,则判断眼图不合格。具体的判断原理和方法与上述实施例相同,在此不再赘述。由于波峰统计坐标和波谷统计坐标满足正态分布,离散程度与波形的厚度成正t匕,因此对它们的离散程度指标进行比较,即上述差值和/或比值,可以反映波峰与波谷处是否厚度相当。与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断波峰、波谷处是否厚度相当相t匕,使用量化指标判断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确。进一步地,第二截取单元4还用于,在眼图的波峰和/或波谷处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴上,得到统计纵坐标以及每个统计纵坐标的取值次数,每个统计纵坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计纵坐标处的波的个数;第二统计单元5还用于,根据统计纵坐标和所述每个统计纵坐标的取值次数,获得统计纵坐标分布在0-3o,u +3 O )内的概率,其中ii为期望,O为标准方差;第二判断单元6还用于,若概率小于预设概率值,则进一步判断所述眼图不合格。
优选地,上述离散程度指标为标准方差。与现有技术需要工作人员通过肉眼观察判断眼图是否合格相比,使用量化指标判断眼图质量的好坏,避免了由于工作人员的主观感受造成的误差,使眼图的调节更加精确,并且能够实现全自动判断和调节,无需人工干预。需要说明的是,上述实施例中的离散程度指标可以为标准方差、方差或其他能够表示离散程度的指标。通过以上的实施方式的描述,所属领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在可读取的存储介质中,如计算机的软盘,硬盘或光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。以上所述,仅为本发明的具体实施方式
,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵 盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
权利要求
1.ー种眼图质量的判断方法,其特征在于,包括 将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上,得到统计坐标以及所述每个统计坐标的取值次数,每个统计坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计坐标处的波的个数; 根据所述统计坐标和所述每个统计坐标的取值次数获得所述统计坐标的离散程度指标; 若所述统计坐标的离散程度指标大于预设离散程度指标,则判断所述眼图不合格。
2.根据权利要求I所述的眼图质量的判断方法,其特征在于,所述将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上包括 在眼图的“I”电平处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴; 和/或 在眼图的上升沿处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴; 和/或 在眼图的下降沿处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴。
3.根据权利要求2所述的眼图质量的判断方法,其特征在干, 所述在眼图的“I”电平处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴具体为 在眼图的波峰处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴。
4.根据权利要求I至3中任意一项所述的眼图质量的判断方法,其特征在于,还包括 根据所述统计坐标和所述每个统计坐标的取值次数,获得所述统计坐标分布在(μ-3 ο,μ+3 σ)内的概率,其中μ为期望,σ为标准方差; 若所述概率小于预设概率值,则进一歩判断所述眼图不合格。
5.根据权利要求4所述的眼图质量的判断方法,其特征在干, 所述离散程度指标为标准方差。
6.ー种眼图质量的判断方法,其特征在于,包括 在眼图的波峰处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波峰统计横坐标以及所述每个波峰统计横坐标的取值次数,每个波峰统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波峰统计横坐标处的波的个数; 根据所述波峰统计横坐标和所述每个波峰统计横坐标的取值次数获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标; 在眼图的波谷处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波谷统计横坐标以及所述每个波谷统计横坐标的取值次数,每个波谷统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波谷统计横坐标处的波的个数; 根据所述波谷统计横坐标和所述每个波谷统计横坐标的取值次数获得所述波谷统计横坐标的离散程度指标; 获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标与波谷统计横坐标的离散程度指标的差值和/或比值; 若所述差值和/或比值不满足预设条件,则判断所述眼图不合格。
7.根据权利要求6所述的眼图质量的判断方法,其特征在于,还包括 在眼图的波峰和/或波谷处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴上,得到统计纵坐标以及所述每个统计纵坐标的取值次数,每个统计纵坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计纵坐标处的波的个数; 根据所述统计纵坐标和所述每个统计纵坐标的取值次数,获得所述统计纵坐标分布在(μ-3 σ,μ+3 σ)内的概率,其中μ为期望,σ为标准方差; 若所述概率小于预设概率值,则进一歩判断所述眼图不合格。
8.根据权利要求6或7所述的眼图质量的判断方法,其特征在干, 所述离散程度指标为标准方差。
9.ー种眼图质量的判断装置,其特征在于,包括 第一截取单元,用于将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上,得到统计坐标以及所述每个统计坐标的取值次数,每个统计坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计坐标处的波的个数; 第一统计单元,用于根据所述统计坐标和所述每个统计坐标的取值次数获得所述统计坐标的离散程度指标; 第一判断単元,用于若所述统计坐标的离散程度指标大于预设离散程度指标,则判断所述眼图不合格。
10.根据权利要求9所述的眼图质量的判断装置,其特征在于,所述将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上包括 在眼图的“I”电平处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴; 和/或 在眼图的上升沿处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴; 和/或 在眼图的下降沿处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴。
11.根据权利要求8至10中任意一项所述的眼图质量的判断装置,其特征在干, 所述第一统计单元还用于,根据所述统计坐标和所述每个统计坐标的取值次数,获得所述统计坐标分布在(μ _3 σ,μ+3 σ)内的概率,其中μ为期望,σ为标准方差; 所述第一判断単元还用于,若所述概率小于预设概率值,则进一歩判断所述眼图不合格。
12.根据权利要求11所述的眼图质量的判断装置,其特征在干, 所述离散程度指标为标准方差。
13.—种眼图质量的判断装置,其特征在于,包括 第二截取单元,用于在眼图的波峰处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波峰统计横坐标以及所述每个波峰统计横坐标的取值次数,每个波峰统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波峰统计横坐标处的波的个数; 第二统计单元,用于根据所述波峰统计横坐标和所述每个波峰统计横坐标的取值次数获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标; 所述第二截取单元还用于,在眼图的波谷处截取矩形区域作为统计区域投影到X轴上,得到波谷统计横坐标以及所述每个波谷统计横坐标的取值次数,每个波谷统计横坐标的取值次数为统计区域内投影在每个波谷统计横坐标处的波的个数; 所述第二统计单元还用于,根据所述波谷统计横坐标和所述每个波谷统计横坐标的取值次数获得所述波谷统计横坐标的离散程度指标; 所述第二统计单元还用于,获得所述波峰统计横坐标的离散程度指标与波谷统计横坐标的离散程度指标的差值和/或比值; 第二判断単元,用于若所述差值和/或比值不满足预设条件,则判断所述眼图不合格。
14.根据权利要求13所述的眼图质量的判断装置,其特征在干, 第二截取单元还用于,在眼图的波峰和/或波谷处截取矩形区域作为统计区域投影到Y轴上,得到统计纵坐标以及所述每个统计纵坐标的取值次数,每个统计纵坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计纵坐标处的波的个数; 第二统计单元还用于,根据所述统计纵坐标和所述每个统计纵坐标的取值次数,获得所述统计纵坐标分布在(μ _3 σ,μ+3 σ)内的概率,其中μ为期望,σ为标准方差; 第二判断単元还用于,若所述概率小于预设概率值,则进一歩判断所述眼图不合格。
15.根据权利要求13或14所述的眼图质量的判断装置,其特征在干, 所述离散程度指标为标准方差。
全文摘要
本发明公开了一种眼图质量的判断方法及装置,涉及通信技术领域,通过量化指标判断眼图质量的好坏,使眼图的调节更加精确。一种眼图质量的判断方法,包括将在眼图中截取的统计区域投影到X轴和/或Y轴上,得到统计坐标以及所述每个统计坐标的取值次数,每个统计坐标的取值次数为统计区域内投影在每个统计坐标处的波的个数;根据所述统计坐标和所述每个统计坐标的取值次数获得所述统计坐标的离散程度指标;若所述统计坐标的离散程度指标大于预设离散程度指标,则判断所述眼图不合格。
文档编号H04B17/00GK102664689SQ20121008294
公开日2012年9月12日 申请日期2012年3月26日 优先权日2012年3月26日
发明者孙媛媛, 张磊, 胡礼德, 黄庆丰 申请人:华为技术有限公司
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