1.一种用于HDMI接口的测试装置，其特征在于包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；
其中，所述逻辑判断模块分别与所述解码模块、所述功能测试模块和所述集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控制、逻辑分析、通信与监测；
所述解码模块用于将接收的HDMI信号解码成低速信号，并将所述低速信号发送到所述功能测试模块进行测试。
2.如权利要求1所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：
所述功能测试模块包括锁相环高速信号产生器、数据分配电路、模式选择电路、校验电路和比较电路；
其中，所述数据分配电路连接所述模式选择电路，所述模式选择电路的输出端连接所述校验电路，所述校验电路输出端连接所述比较电路。
3.如权利要求2所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：
所述锁相环高速信号产生器用以产生高速时钟，连接解码模块，用于给解码模块发送时钟信号。
4.如权利要求2所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：
所述模式选择电路为1个2选1电路和1个4路输出选择器，分别用于选择校验模式和校验通道数。
5.如权利要求2所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：
所述校验电路包含3路奇偶校验校验或循环冗余校验，由所述模式选择电路确定校验电路的类型。
6.如权利要求2所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：
所述比较电路用于将校验电路传输的输出值与预先保存在结果存储器中的理论值进行比较，并将比较结果传输到所述逻辑判断模块。
7.如权利要求1所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：
所述集成电路测试仪通过测试通道接收比较电路和逻辑判断模块的输出结果；
所述集成电路测试仪通过电源和控制通道与解码模块连接，进行所述解码模块内部寄存器的测试；
所述集成电路测试仪与所述功能测试模块连接，进行功能测试模块中各电路的初始化操作。
8.如权利要求1所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：
所述逻辑判断模块通过串行总线连接解码模块，完成对所述解码模块寄存器的配置；
所述逻辑判断模块与所述集成电路测试仪相连，接收所述集成电路测试仪的指令，并对所述指令进行解码；
所述逻辑判断模块与所述功能测试模块相连接，完成对校验电路的配置和对测试结果的判断。
9.一种用于HDMI接口的测试方法，采用权利要求1所述的用于HDMI接口的测试装置实现，其特征在于包括如下步骤：
S1，从集成电路测试仪中获取配置测试码，按照指定时序为解码模块设置寄存器；
S2，当解码模块寄存器设置正常时，逻辑判断模块产生测试数据；
S3，当逻辑判断模块接收到启动测试码时，将测试数据发送到被测器件，所述被测器件将产生的HDMI信号发送到解码模块，所述解码模块将HDMI信号解码成低速信号；
S4，解码模块将解码的低速信号发送到功能测试模块，进行测试操作，并将产生的结果与预存的理论运行结果进行比较，得出测试结果。
10.如权利要求9所述的用于HDMI接口的测试方法，其特征在于在步骤S4中，所述将产生的结果与预存的理论运行结果进行比较，得出测试结果，进一步包括如下步骤：
S41，当校验电路未能按时发送校验完成信号时，比较电路将测试完成信号置低，发送给集成电路测试仪，测试失败；
S42，当校验电路按时发送校验完成信号时，将各路校验电路的输出值与预存的理论运行结果进行比较，当二者不同时，启动内部计数器完成加1操作。
S43，重复步骤S42，直至解码的低速信号全部操作完成，将内部计数器计数值发送到逻辑判断模块；
S44，逻辑判断模块将内部计数器计数值与给定的容差值进行比较，当内部计数器计数值小于容差值时，将测试成功的信息发送给集成电路测试仪；当内部计数器计数值大于等于容差值时，将比较电路将内部计数器计数值以及测试失败的信息返回给集成电路测试仪。