带膜的介质斜台的制作方法

成像装置––包括扫描仪、复印机、传真机、多功能打印机、一体化装置或其他装置––将物理对象(例如文档、照片等)转换成电子数据。在一些示例中，成像装置可以包括自动文档馈送器(adf)，用于接收介质堆，以提供给扫描器子组件用于成像。adf可以利用具有一系列电机和辊的传动装置在托盘之间输送介质。

附图说明

下面的详细描述参考附图，其中：

图1是根据示例的装置的局部示意性等距视图。

图2是根据示例的图1的装置的局部示意性等距视图。

图3是根据示例的图1的装置的局部示意性等距视图。

图4是根据示例的图1的装置的示意性等距视图。

图5是根据示例的图1的装置的局部示意图。

图6是根据示例的沿线6-6’截取的图3的装置的剖视图。

具体实施方式

自动文档馈送器(adf)可以联接到成像装置，以提供用于扫描的对象。adf可以包括输入托盘以接收用于成像的介质堆，并且可以通过扫描区将介质堆输送到输出托盘。为了减小adf的大小，许多adf将输入托盘和输出托盘彼此叠放在一起，以形成大致上为“c”形的介质路径。在这样的adf中，扫描区可以包含静止扫描器(例如，线扫描器)，以在介质行进通过介质路径时对介质成像。扫描介质时，介质行进经过扫描区的速度应保持恒定。这可以通过确保通过“c”形介质路径的平滑过渡来实现。然而，考虑到“c”形路径的性质，路径中的介质过渡不是恒定的。当这些过渡不恒定时，扫描出的图像可能会有伪像。

为了解决这些问题，在这里描述的示例中，描述了一种装置，该装置包括设置在“c”形介质路径中的介质斜台上的膜元件，以减少扫描伪像。该装置包括沿着介质路径在扫描区下游的介质斜台，以将介质引导到出口。膜元件可以设置在介质斜台上以形成通道。膜元件可以由聚酯材料构成，例如双轴取向聚对苯二甲酸乙二醇酯。在示例中，膜元件可以在介质斜台上创建过渡区，以减少沿介质路径行进的介质的前缘遇到介质斜台的位置的数量。过渡区可以设置在膜元件之间，并且可以是介质在介质斜台上行进所沿的方向的变化可被平滑化的区域。在这样的示例中，已经发现扫描伪像减少了。

因此，在一个示例中，本说明书描述了一种装置，该装置包括：设置在扫描区中的扫描器，以对行进穿过扫描区的介质进行成像；设置在扫描区上方的透明构件；邻近扫描区设置的介质斜台，以将介质引导到出口；以及第一膜元件，在第一端处设置在透明构件下方并邻近扫描区，并且在第二端处被设置成在介质斜台的至少一部分上延伸。

在另一示例中，本说明书描述了一种成像装置，该成像装置包括：设置在扫描区中的扫描器，以对介质进行成像；设置在扫描区上方的透明构件；邻近扫描区设置的介质斜台，以将介质引导到输出路径；第一膜元件，在第一端处设置在透明构件下方并邻近扫描区，并且在第二端处被设置成在介质斜台的至少一部分上延伸；以及第二膜元件，与第一膜元件间隔开以在它们之间形成通道，第二膜在第一端处设置在透明构件下方并邻近扫描区，并且在第二端处被设置成在介质斜台的至少一部分上延伸。

在另一示例中，本说明书描述了一种成像装置，该成像装置包括：设置在扫描区中的扫描器，以对介质进行成像；设置在扫描区上方的透明构件；邻近扫描区设置的介质斜台，以将介质引导到自动文件馈送器的输出路径；第一膜元件，在第一端处设置在透明构件下方并邻近扫描区，并且在第二端处被设置成在介质斜台的至少一部分上延伸；第二膜元件，与第一膜元件间隔开以在它们之间形成通道，第二膜在第一端处设置在透明构件下方并邻近所述扫描区，并且在第二端处被设置成在介质斜台的至少一部分上延伸；以及校准标签，设置在扫描区上方和透明构件下方，并被设置成在介质斜台的至少一部分上延伸，第一膜元件的第一端和第二膜元件的第一端设置在校准标签内部。

现在参考附图，图1是根据示例的装置10的局部示意性等距视图。图2是根据示例的图1的装置10的局部示意性等距视图。图3是根据示例的图1的装置10的局部示意性等距视图。图4是根据示例的图1的装置10的示意图。图5是根据示例的图1的装置10的局部示意图。示例装置10包括扫描器20、透明构件30、介质斜台40和膜元件51。在示例中，装置10还包括校准标签60和粘合层70。在示例中，行进通过装置10的介质可以沿着介质路径15从输入托盘5朝向输出托盘7行进。在示例中，介质路径15可以是大致“c”形的介质路径。

在示例中，装置10可以是沿“c”形介质路径输送介质的任何成像装置。“成像装置”可以是硬件设备，例如扫描仪、复印机、多功能打印机(mfp)或者具有产生代表物理对象的电子数据的功能的任何其他设备。在一些示例中，mfp能够执行多种不同功能的组合，例如打印、复印、扫描、传真等。在示例中，介质可以是可堆叠在装置10的输入托盘5上的任何类型的纸、光聚合物、热聚合物、塑料、织物、复合材料、金属、木材等。

在示例中，装置10可以供应介质沿着介质路径15行进，以由扫描器20成像。在示例中，介质路径15可以是将介质从输入托盘5输送到输出托盘7的介质路径。在示例中，沿着介质路径15行进的介质将穿过扫描区20a，并沿介质斜台40上行而离开装置10。在示例中，给定“c”形路径的性质，路径中的介质过渡可能不是恒定的。在示例中，当这些过渡不恒定时，扫描出的图像可能会有伪像。在本文描述的示例中，可以改进从扫描区20a到介质斜台40的过渡，以减少扫描伪像。

在示例中，扫描器20可以是扫描物理对象以产生该对象的电子表征的硬件部件。在示例中，扫描器20可以对放置在扫描器的扫描区中的各种物理对象进行扫描或成像。在示例中，扫描器20可以扫过扫描区以对物体成像。在其他示例中，扫描器20可以保持静止，而物体可以沿着扫描器20的扫描区行进以进行成像。在图1的示例中，扫描器20可以设置在扫描区20a中。在图1至图6的示例中，扫描区20a可以是静止扫描器20的扫描区，以对沿着“c”形介质路径15行进穿过扫描区的介质(例如，文档)进行成像。

在示例中，透明构件30可以被设置为覆盖扫描区20a。在示例中，透明构件30可以由具有结构完整性的任何脊状透明材料组成，以支撑被成像的物体。在示例中，透明构件30可以是玻璃、树脂玻璃、透明塑料等。

在示例中，装置10可以包括设置在透明构件30下方和扫描器20上方的校准标签60。在示例中，校准标签60可以在介质斜台40的一部分上延伸。在这样的示例中，校准标签60可以联接到透明构件30，并且延伸超过透明构件30的第一边缘30a而被设置在介质斜台40的至少一部分上。在以下的讨论及权利要求中，术语“联接”旨在包括合适的间接和/或直接的连接。因此，如果第一部件被描述为联接到第二部件，则该联接可以例如是：(1)通过直接的电连接或机械连接，(2)通过经由其他装置和连接件的间接的电连接或机械连接，(3)通过光电连接，(4)通过无线电连接，和/或(5)另一个合适的联接。术语“连接”或“被连接”旨在包括合适的直接连接。在图1至图6的示例中，校准标签60可以包括膜51在一端可被设置于其中的凹槽或凹口。在示例中，校准标签60可用于确保介质的连续的和高质量的数字图像。例如，不同的扫描器或同一扫描器在不同的时间点扫描介质可能不同。换句话说，扫描器的响应可能在扫描作业间有所不同。校准标签60可用于负责这些变化，以确保产生高质量的数字图像。在示例中，校准标签60可以是均匀着色的白色条带，其具有一定的反射率并且可被扫描器20看到。在示例中，在校准期间，扫描器20捕获校准标签60的图像，并且可以使用校准标签60的图像来补偿扫描器20的响应的变化。在示例中，扫描器的响应的变化可能发生在扫描的不同时间点。例如，校准可以在扫描作业之间、通电时或每次扫描作业之前周期性地发生。

在示例中，膜51可以设置在透明构件30下方。在这样的示例中，膜51可以在第一端51a处设置在校准标签60内部。在示例中，膜51可以在第一端51a处设置为邻近扫描区20a，并在第二端51b处设置成沿着介质路径15的方向在介质斜台40的至少一部分上延伸。在示例中，膜51可以设置在介质斜台40的至少一部分上，以接收沿介质路径15行进的介质100的前缘。在示例中，膜51可以是聚酯膜。在这样的示例中，膜51可以是双轴取向聚对苯二甲酸乙二醇酯。在示例中，膜51的尺寸可以使膜覆盖介质斜台40的一部分而留下未覆盖的部分。在示例中，大部分介质斜台40可以不被覆盖。在示例中，粘合层70可以在介质斜台40上设置在校准标签60和膜51之间。在一些示例中，粘合层70可以延伸超过校准标签60而到介质斜台40上，以将膜51联接到介质斜台40。

在示例中，膜52可以是基本类似于膜51的膜。在示例中，膜52可以与膜51间隔开以在其间形成通道41。在示例中，膜52可以在第一端(未示出)处设置为邻近扫描区20a，并且在第二端52b处设置为沿着介质路径15的方向在介质斜台40的至少一部分上延伸。在一个示例中，膜52可以在第一端处设置在透明构件30的下方。在其他示例中，膜52可在第一端处设置为邻近透明构件30。在示例中，膜52的尺寸可以使膜覆盖介质斜台40的一部分而留下未覆盖的部分。在示例中，大部分介质斜台40可以不被覆盖。在一些示例中，粘合层70可以被设置成以与如上所述关于膜51的基本类似的方式将膜52联接到校准标签60和介质斜台40。

在示例中，膜53可以是基本上类似于膜52的膜。在示例中，膜53可以与膜51和膜52间隔开。在这样的示例中，膜53可以被设置为在膜53和膜52之间形成通道42。在示例中，膜53可以在第一端(未示出)处设置为邻近扫描区20a，并且在第二端53b处设置为沿着介质路径15的方向在介质斜台40的至少一部分上延伸。在示例中，膜53可以在第一端处设置在透明构件30的下方。在其他示例中，膜53可在第一端处设置为邻近透明构件30。在示例中，膜53的尺寸可以使膜在基本上垂直于介质路径15的方向上覆盖介质斜台40的一部分。在示例中，垂直于介质路径15的大部分介质斜台40可以不被覆盖。在示例中，大部分介质斜台40可以不被覆盖。在一些示例中，粘合层70可以被设置为以与上所述关于膜51的基本类似的方式将膜53联接到校准标签60和介质斜台40。

在示例中，膜54可以是基本上类似于膜53的膜。在示例中，膜54可以与膜51、膜52和膜53间隔开。在这样的示例中，膜54可以被设置成在膜54和膜53之间形成通道43。在示例中，膜54可以在第一端(未示出)处被设置为邻近扫描区20a，并且在第二端54b处被设置为沿着介质路径15的方向在介质斜台40的至少一部分上延伸。在示例中，膜54可以在第一端处设置在透明构件30的下方。在其他示例中，膜54可以在第一端处设置为邻近透明构件30。在示例中，膜54的尺寸可以使膜在基本垂直于介质路径15的方向上覆盖介质斜台40的一部分。在示例中，垂直于介质路径15的大部分介质斜台40可以不被覆盖。在示例中，大部分介质斜台40可以不被覆盖。在一些示例中，粘合层70可以被设置成以与上所述关于膜51的基本类似的方式将膜54联接到校准标签60和介质斜台40。

在示例中，膜55可以是基本上类似于膜54的膜。在示例中，膜55可以与膜51、膜52、膜53和膜54间隔开。在这样的示例中，膜55可以被设置成在膜55和膜54之间形成通道44。在示例中，膜55可以在第一端(未示出)处被设置为邻近扫描区20a，并且在第二端(未示出)处被设置为沿着介质路径15的方向在介质斜台40的至少一部分上延伸。在示例中，膜55可以在第一端处设置在透明构件30的下方。在其他示例中，膜55可以在第一端处设置为邻近透明构件30。在示例中，膜55的尺寸可以使膜在基本垂直于介质路径15的方向上覆盖介质斜台40的一部分。在示例中，垂直于介质路径15的大部分介质斜台40可以不被覆盖。在示例中，大部分介质斜台40可以不被覆盖。在一些示例中，粘合层70可以被设置成以与上所述关于膜51的基本类似的方式将膜55联接到校准标签60和介质斜台40。

图6是根据示例的沿线6-6’截取的图3的装置的剖视图。在图6的示例中，介质100沿着介质路径15行进。在示例中，装置10可以包括膜51、膜52、膜53、膜54和膜55中的一个或多个。在示例中，在一个膜被设置在介质斜台40上的情况下，可以理解，介质斜台40的与扫描区20a邻近的大部分表面区域将没有膜。类似地，在一个以上的膜被设置在斜台40上的其他示例中，如图6所示，介质斜台40的邻近扫描区20a的大部分表面区域将没有膜。在图6的示例中，示出了多个波动点a，其中，当介质100接触膜51、膜52、膜53、膜54和膜55时，在介质100发生振动之后，在这些波动点a处介质100接触介质斜台40。应当理解，当膜设置在介质斜台40上时，波动点a的数量减少。此外，应当理解，膜51、膜52、膜53、膜54和膜55的相对位置可以影响施加到介质100以产生波动点a的位置和力。

虽然上面已经示出和描述了某些实施方式，但是可以在形式和细节上进行各种改变。例如，关于一个实施方式和/或处理已经描述的一些特征可以与其他实施方式相关。换句话说，关于一个实施方式描述的处理、特征、部件和/或特性在其他实施方式中也可能是有用的。此外，应该理解，这里描述的系统、装置和方法可以包括所描述的不同实施方式的部件和/或特征的各种组合和/或子组合。因此，参考一个或多个实施方式描述的特征可以与本文描述的其他实施方式组合。

上述讨论旨在说明本公开的原理和各种实施例。一旦完全理解了上述公开内容，许多变化和修改对于本领域技术人员来说将变得显而易见。应该将权利要求解释为包括所有这些变化和修改。