技术特征：
技术总结
本发明公开了一种NB‑IoT设备的OTA测试系统和方法。其中，该系统包括：暗室；转台，设置在暗室内，用于放置待测设备，待测设备为基于蜂窝网的窄带物联网设备；环形天线支撑架，垂直设置在暗室内，环形天线支撑架上分布着多个天线；控制终端；以及综测仪，与待测设备和控制终端连接，用于在控制终端的控制下测量待测设备的发射性能和接收性能。本发明解决了现有技术中还没有针对NB‑IoT设备的OTA测试系统的技术问题。
技术研发人员：吕文晶;陈涛;李雨翔;张志华
受保护的技术使用者：北京中科国技信息系统有限公司
技术研发日：2017.06.26
技术公布日：2017.09.12