天线综合测试系统的制作方法

本实用新型涉及天线测试系统，更具体地说，它涉及一种天线综合测试系统。

背景技术：

移动通信的迅猛发展推动了天线的研发工作，国内出现了一些年产天线达到几百万台、品种达到数百种之多的企业，这些企业的产品涵盖了消费类电子产品使用的小型天线，移动通信基站、军工装备等设备使用的中型或大型天线，天线测试的速度已经成为企业研发工作进程的瓶颈。

目前，公开号为CN204694782U的中国专利公开了一种单探头近场天线测试系统，包括水平驱动机构底座，设置在水平驱动机构底座上的水平驱动机构导轨和水平驱动轴，水平驱动轴与水平驱动电机联动，升降驱动机构立柱设置在水平驱动机构导轨上，升降驱动机构立柱还与水平驱动轴联动，升降驱动机构立柱侧壁设置有升降驱动机构导轨和升降驱动轴，升降驱动轴与升降驱动电机联动，伸缩驱动机构底座设置在升降驱动机构导轨上，升降驱动轴与伸缩驱动机构底座联动，伸缩驱动机构底座上安装有伸缩杆，伸缩杆与伸缩驱动电机联动，伸缩杆远离伸缩驱动电机的一端上安装有俯仰机构座，俯仰机构座上安装有俯仰机构旋转轴，俯仰机构旋转轴与俯仰驱动电机联动。

但是，该天线测试系统在测试天线的性能前，需要借助工具对天线的摆放位置进行测量，较为麻烦。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种天线综合测试系统，具有更快的对基站天线进行定位的效果。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种天线综合测试系统，包括测试平台，所述测试平台上设有沿测试平台长度方向的刻度尺，所述测试平台上设有与刻度尺相互垂直的定位块，所述定位块上设有用于将定位块固定于测试平台上的固定组件。

通过采用上述技术方案，对基站天线的性能进行测试前，需要对基站天线的摆放位置进行定位，通过测试平台上的刻度尺进行测量，将非常的容易；基站天线的摆放位置测量好后，通过定位块对基站天线进行定位，在经过固定组件将定位块固定在测试平台上，减少基站天线在测试平台上滑移的情况。

优选的，所述刻度尺的下表面设有固定块，所述测试平台上设置有与固定块插接配合的固定孔。

通过采用上述技术方案，固定块和固定孔的插接配合，减少刻度尺在测试平台上移动的情况，进而使刻度尺对基站天线摆放位置的测量更加精确，对基站天线的测试效果更佳。

优选的，所述固定块的端部呈圆角设置。

通过采用上述技术方案，固定块的端部呈圆角设置，便于将固定块插接到固定孔内，进而使刻度尺固定在测试平台上将更加的容易。

优选的，所述固定组件包括设于定位块下表面的若干个吸盘。

通过采用上述技术方案，在基站天线的摆放位置测量好后，通过吸盘将定位块固定在测试平台上，减少对定位块的固定时造成对测试平台的影响，同时不会像磁铁一样会产生磁场，对基站天线的测试效果造成影响。

优选的，所述吸盘的吸附面设置有凹槽，凹槽周缘形成外环，所述凹槽上内嵌有凸出外环表面的密封圈。

通过采用上述技术方案，由于凹槽上内嵌有凸出外环表面的密封圈，在挤压吸盘进行吸附时，密封圈受压而紧压接触面减少空气进入凹槽的情况，从而提高吸附效果，减少定位块滑动或者脱落的情况。

优选的，所述凹槽由外及里依次设置有多层内环，内环把凹槽分成多个凹腔，所述内环与外环处于同一平面，且与吸盘的吸附面齐平。

通过采用上述技术方案，设置的内环把凹槽分成多个凹腔，从而形成多层密封，外部的空气更不容易进入凹槽，进一步增加吸附的牢固性。

优选的，所述测试平台上设有若干个限制块，限制块沿测试平台长度方向上均匀分布。

通过采用上述技术方案，限制块的设置，能够对基站天线在测试平台的宽度方向上进行限制，进而更好的对基站天线进行定位。

优选的，所述测试平台上设置有螺孔，所述限制块上设有与螺孔螺纹配合的螺栓。

通过采用上述技术方案，螺孔和螺栓的配合，能够对限制块进行固定，结构简单方便。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

1、对基站天线的性能进行测试前，需要对基站天线的摆放位置进行定位，通过测试平台上的刻度尺进行测量，将非常的容易；基站天线的摆放位置测量好后，通过定位块对基站天线进行定位，在经过固定组件将定位块固定在测试平台上，减少基站天线在测试平台上滑移的情况；

2、通过吸盘将定位块固定在测试平台上，减少对定位块的固定时造成对测试平台的影响，同时不会像磁铁一样会产生磁场，对基站天线的测试效果造成影响。

附图说明

图1是本实施例的结构示意图；

图2是图1中A部分的放大图；

图3是本实施例中刻度尺、限制块与测试平台的连接示意图；

图4是图3中B部分的放大图；

图5是本实施例中定位块的示意图；

图6是图5中C部分的放大图。

图中：1、测试平台；2、刻度尺；3、定位块；4、固定块；5、固定孔；6、吸盘；7、凹槽；8、外环；9、密封圈；10、内环；11、凹腔；12、限制块；13、螺孔；14、螺栓。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

一种天线综合测试系统，如图1和图2所示，包括测试平台1，测试平台1呈矩形，测试平台1的表面由塑料或者玻璃制成，在对基站天线进行测试时，基站天线的信号能够穿过塑料和玻璃，减少测试平台1对基站天线的测试效果造成影响。

测试平台1上安装有刻度尺2，刻度尺2沿测试平台1的长度方向设置，且刻度尺2的表面可有刻度，便于操作人员通过刻度尺2对基站天线的摆放位置进行定位。

如图3和图4所示，刻度尺2的下表面一体成型有固定块4，固定块4的端部呈圆角设置，固定块4有三个，且呈均匀的分布，测试平台1上开有三个固定孔5，固定孔5和固定块4插接配合，能够将刻度尺2固定在测试平台1上，减少刻度尺2在测试平台1上移动的情况。

测试平台1上安装有五个限制块12，限制块12沿测试平台1的长度方向上均匀分布，其中，测试平台1上开有螺孔13，限制块12上开有与螺孔13对齐的通孔，限制块12上的螺栓14穿过通孔与螺栓14螺纹配合，能够对限制块12进行固定，结构简单方便，限制块12对基站天线在测试平台1的宽度方向上进行限制，进而更好的对基站天线进行定位。

测试平台1上安装有定位块3，定位块3呈矩形，且与刻度尺2相互垂直，在基站天线的摆放位置测量好后，通过定位块3对基站天线进行定位，减少基站天线在测试平台1上滑移的情况。

如图5和图6所示，定位块3的下表面通过固体胶固定有吸盘6，吸盘6有八个，且呈均匀的分布，通过吸盘6将定位块3固定在测试平台1（图1）上，而不是通过磁铁对定位块3进行固定，由于磁铁会产生磁场，对基站天线的测试效果造成影响。

吸盘6的吸附面开有凹槽7，凹槽7的周缘形成外环8，外环8上内嵌有凸出外环8表面的密封圈9，在挤压吸盘6进行吸附时，密封圈9受压而紧压接触面减少空气进入凹槽7的情况，从而提高吸附效果，减少定位块3滑动或者脱落的情况。

凹槽7由外及里依次凸起有多层内环10，内环10将凹槽7分成多个凹腔11，内环10与外环8处于同一平面，且与吸盘6的吸附面齐平，这样就可以形成多层密封，外部的空气更不容易进入凹槽7，进一步增加吸附的牢固性。