技术总结
本实用新型公开了一种天线综合测试系统，包括测试平台，所述测试平台上设有沿测试平台长度方向的刻度尺，所述测试平台上设有与刻度尺相互垂直的定位块，所述定位块上设有用于将定位块固定于测试平台上的固定组件，对基站天线的性能进行测试前，需要对基站天线的摆放位置进行定位，通过测试平台上的刻度尺进行测量，将非常的容易；基站天线的摆放位置测量好后，通过定位块对基站天线进行定位，在经过固定组件将定位块固定在测试平台上，减少基站天线在测试平台上滑移的情况。
技术研发人员：蒋宇
受保护的技术使用者：深圳市新益技术有限公司
文档号码：201720037370
技术研发日：2017.01.12
技术公布日：2017.08.25