1.一种天线综合测试系统，其特征是：包括测试平台(1)，所述测试平台(1)上设有沿测试平台(1)长度方向的刻度尺(2)，所述测试平台(1)上设有与刻度尺(2)相互垂直的定位块(3)，所述定位块(3)上设有用于将定位块(3)固定于测试平台(1)上的固定组件。
2.根据权利要求1所述的天线综合测试系统，其特征是：所述刻度尺(2)的下表面设有固定块(4)，所述测试平台(1)上设置有与固定块(4)插接配合的固定孔(5)。
3.根据权利要求2所述的天线综合测试系统，其特征是：所述固定块(4)的端部呈圆角设置。
4.根据权利要求1所述的天线综合测试系统，其特征是：所述固定组件包括设于定位块(3)下表面的若干个吸盘(6)。
5.根据权利要求4所述的天线综合测试系统，其特征是：所述吸盘(6)的吸附面设置有凹槽(7)，凹槽(7)周缘形成外环(8)，所述凹槽(7)上内嵌有凸出外环(8)表面的密封圈(9)。
6.根据权利要求5所述的天线综合测试系统，其特征是：所述凹槽(7)由外及里依次设置有多层内环(10)，内环(10)把凹槽(7)分成多个凹腔(11)，所述内环(10)与外环(8)处于同一平面，且与吸盘(6)的吸附面齐平。
7.根据权利要求1所述的天线综合测试系统，其特征是：所述测试平台(1)上设有若干个限制块(12)，限制块(12)沿测试平台(1)长度方向上均匀分布。
8.根据权利要求7所述的天线综合测试系统，其特征是：所述测试平台(1)上设置有螺孔(13)，所述限制块(12)上设有与螺孔(13)螺纹配合的螺栓(14)。