本实用新型涉及通信仪器仪表技术领域，具体涉及一种多工位无源互调测试装置。
背景技术：
无源互调（PIM）是两个或更多不同频率的载波信号经过系统无源器件的混频效用而相互调制所引起的对系统的额外烦扰。无线通信系统中的无源互调是由发射系统中各种无源器件（如双工器、天线、馈线、射频线连接头等）的非线性特性引起的。如果这些互调失真信号落入接收频带内，且功率超过系统中有用信号的最小幅度，则会使接受信号的信噪比下降，使接收机的灵敏度降低甚至无法正常工作，严重影响通信系统的容量和质量。虽然通过改进制作工艺和规范安装的方式可以获得拥有良好PIM水平的无源器件，但是却存在时效性问题，无源器件出厂之后，由于其内部结构细微形变、热胀冷缩、表面空气氧化等因素会使PIM指标逐渐恶化。同时，随着通信系统的发展和系统质量的提高，对器件无源互调的测量越来越受到重视。
现有的无源互调测试装置只能单一工位测试，而互调测试是一项较为耗时的工作，绝大多数时间都浪费在连接测试界面上，此时互调测试装置处于空闲状态，极大的减低了测试装置的利用率。
技术实现要素：
本实用新型的目的是提供一种多工位无源互调测试装置，可以进行多工位测试，提高测试装置的利用率。
本实用新型通过以下技术方案实现的：
一种多工位无源互调测试装置，其特征在于，包括信号源、单刀双掷开关、功率放大器、3dB电桥、单刀多掷开关、低互调双工器、频谱仪和控制单元；
所述信号源包括第一信号源和第二信号源，所述单刀双掷开关包括第一单刀双掷开关和第二单刀双掷开关，所述功率放大器包括第一功率放大器和第二功率放大器，所述3dB电桥设有第一输入口、第二输入口、第一输出口和第二输出口，所述单刀多掷开关包括第一单刀多掷开关和第二单刀多掷开关，所述低互调双工器为多个，分别为第一低互调双工器、第二低互调双工器至第N低互调双工器，所述低互调双工器分别设有TX端口、RX端口和测试端口；所述单刀多掷开关的固定端数量与所述低互调双工器的数量一致；
所述第一信号源和所述第二信号源分别串接到所述第一单刀双掷开关和所述第二单刀双掷开关的活动端；
所述第一单刀双掷开关的其中一个固定端连接所述第一功率放大器的输入端，所述第二单刀双掷开关的其中一个固定端连接所述第二功率放大器的输入端；
所述第一功率放大器和第二功率放大器的输出端分别连接所述第一输入口和所述第二输入口；所述第一输出口连接所述第一单刀多掷开关的活动端；
所述第一单刀多掷开关的固定端分别对应连接所述低互调双工器的TX端口，所述低互调双工器的测试端口分别连接被测器件，所述低互调双工器的RX端口分别对应连接所述第二单刀多掷开关的固定端；
所述第二单刀多掷开关的活动端连接所述频谱仪的输入端；
所述频谱仪的输出端连接到所述控制单元；
上述的一种多工位无源互调测试设备，其中，所述低互调双工器的个数不少于2个；
上述的一种多工位无源互调测试设备，其中，所述信号源为宽带信号源。
上述的一种多工位无源互调测试设备，其中，所述单刀双掷开关的另一个固定端分别连接有负载，所述第二输出口连接有负载。
上述的一种多工位无源互调测试设备，其中，所述控制单元为开启式控制按钮。
上述的一种多工位无源互调测试设备，其中，用接收机代替所述频谱仪。
首先将多个被测器件的互调反射测试端分别连接到多个低互调双工器的测试端口，通过同步控制两个单刀多掷开关以选择不同的工位进行测试，通过控制单元实现测试的开始控制。
在单刀双掷开关分别连接到功率放大器，单刀多掷开关分别同时连接到同一被测工位后，按下控制单元的测试按钮，此时两个信号源产生的测试信号分别通过单刀双掷开关控制传输到功率放大器进行放大，放大后的信号传输到3dB电桥进行信号合成处理，合成处理后的信号经过第一个单刀多掷开关后通过低互调双工器的TX端口传输至低互调双工器，再经由测试端口传送到被测器件，此时的测试信号再次经过测试端口反射至RX端口，形成发射互调产物，上述的发射互调产物再经过第二个单刀多掷开关传输到频谱仪进行解调显示。
本实用新型具有以下突出效果：
改变传统的单一工位测试方式，在测试的同时可以调整布置下一被测工位的连接设置，当一个工位测试完成后，无需耗费很长时间连接下一工位的测试界面，通过单刀多掷开关实现测试工位的切换，充分利用时间，提高了测试仪器的利用率和工作效率；分别在信号源与功率放大器之间设置有单刀双掷开关，在非测试状态时，使信号源连接到负载上，保证信号源的设备安全，同时该测试设备的操作灵活，测试快捷方便。
附图说明
图1本实用新型的6工位无源互调测试原理图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明：
如图1所示为本实用新型的一种6工位无源测试设备，包括第一信号源101、第二信号源102，第一单刀双掷开关201、第二单刀双掷开关202，第一功率放大器301、第二功率放大器302，3dB电桥401，第一单刀六掷开关501、第二单刀六掷开关502，所述第一单刀六掷开关501的固定端分别为1~6，所述第二单刀六掷开关502的固定端分别为1’~6’，低互调双工器601~606，频谱仪701，控制单元801为开启式控制按钮；3dB电桥401设有第一输入口41、第二输入口42、第一输出口43和第二输出口44，低互调双工器 601~606均各自设有TX端口61、DX端口62和测试端口63；
所述第一信号源101和所述第二信号源102分别串接到所述第一单刀双掷开关201和所述第二单刀双掷开关202的活动端；所述第一单刀双掷开关201的其中一个固定端连接所述第一功率放大器301的输入端，所述第二单刀双掷开关202的其中一个固定端连接所述第二功率放大器302的输入端；所述第一功率放大器301和第二功率放大器302的输出端分别连接所述第一输入口41和所述第二输入口42；所述第一输出口43连接所述第一单刀多掷开关501的活动端；所述第一单刀多掷开关501的固定端1~6分别对应连接所述低互调双工器601~606的TX端口，所述低互调双工器601~606的测试端口分别连接被测器件901~906，所述低互调双工器601~606的RX端口分别对应连接所述第二单刀多掷开关502的固定端1’~6’；所述第二单刀多掷开关502的活动端连接所述频谱仪701的输入端；所述频谱仪701的输出端连接到所述控制单元801；第一单刀双掷开关201、第二单刀双掷开关202的另一个固定端分别连接有第一负载111、第二负载112，所述第二输出口连接有第三负载113。
下面具体以测试的第一工位即被测器件901为例具体说明本实用新型的结构和工作原理：
第一单刀六掷开关501连接到固定端1，第二单刀六掷开关502连接到固定端1’,第一单刀双掷开关201和第二单刀双掷开关202分别连接到第一功率放大器301和第二功率放大器302，使测试线路连通，按下控制单元801的测试按钮，此时第一信号源101和第二信号源102同时产生测试信号，并分别将信号传输到第一功率放大器301和第二功率放大器302，放大后的测试信号再分别通过第一输入端41和第二输入端42传输到3dB电桥401，合并后的测试信号由第一输出口43输出，通过第一单刀多掷开关501和相连的TX端口61传输到第一低互调双工器601，同时第一低互调双工器601将测试信号通过测试端口63传输至被测器件901后再经测试端口63反射到RX端口62，形成发射互调产物，发射互调产物经过DX端口62和与之通路的第二单刀多掷开关502传输到频谱仪701，频谱仪701对接收到的发射互调产物进行分析解调显示，完成此被测器件过程。
对其他被测器件902~906的测试流程相似，仅需调整两个单刀六掷开关的连接端口实现不同工位的切换。
本实用新型具有以下突出效果：
改变传统的单一工位测试方式，在测试的同时可以调整布置下一被测工位的连接设置，当一个工位测试完成后，无需耗费很长时间连接下一工位的测试界面，通过单刀多掷开关实现测试工位的切换，充分利用时间，提高了测试仪器的利用率和工作效率；分别在信号源与功率放大器之间设置有单刀双掷开关，在非测试状态时，使信号源连接到负载上，保证信号源的设备安全，同时该测试设备的操作灵活，测试快捷方便。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。