射频电路及电路测试设备、测试方法、电子设备与流程

本公开涉及终端技术领域，尤其涉及一种射频电路及电路测试设备、测试方法、电子设备。

背景技术：

随着手机、平板等电子设备在人们日常生活中的应用越来越广泛，人们对电子设备的结构和功能也在不断提出新的需求，比如要求更小的设备规格、更大的屏占比、手感更佳的金属壳体等。

然而，电子设备的任何结构和功能上的变化，都可能对天线结构的性能造成影响，从而影响电子设备最为基础的通讯功能、降低人们的使用体验。

技术实现要素：

本公开提供一种射频电路及电路测试设备、测试方法、电子设备，以解决相关技术中的不足。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种射频电路，包括：

主集通路和分集通路；

测试座；

切换开关，所述切换开关的一端分别与所述主集通路和所述分集通路连接，另一端与所述测试座连接；所述切换开关在所述主集通路为待测目标的情况下切换至第一状态以与所述主集通路导通，在所述分集通路为待测目标的情况下切换至第二状态以与所述分集通路导通。

可选的，所述切换开关在所述主集通路用于发射和接收数据的情况下被切换至所述第一状态。

可选的，还包括：

连接座，所述连接座连接于所述切换开关的另一端，在所述切换开关切换至所述第二状态的情况下与所述主集通路导通，以使得所述主集通路维持在数据发射状态；

所述切换开关在所述分集通路用于接收数据的情况下被切换至所述第二状态。

可选的，所述连接座包括cable线缆座。

可选的，所述切换开关包括双刀双掷开关。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种电路测试设备，所述电路测试设备用于测试上述实施例中任一所述的射频电路；所述电路测试设备包括：

测试模块，所述测试模块用于测试所述主集通路和所述分集通路；

第一测试针，所述第一测试针一端用于与所述待测目标的测试座电连接，另一端与所述测试模块电连接；

第一天线，所述第一天线用于在与所述主集通路导通的情况下发射和接收数据，以及在与所述分集通路导通的情况下接收数据；

控制模块，所述控制模块可与所述切换开关电连接，以切换所述切换开关的开关状态。

可选的，所述射频电路还包括连接座，所述连接座连接于所述切换开关的另一端，在所述切换开关切换至所述第二状态的情况下与所述主集通路导通，以使得所述主集通路维持在数据发射状态，所述切换开关在所述分集通路用于接收数据的情况下切换至所述第二状态；所述设备还包括：

第二测试针，所述第二测试针一端用于与所述连接座电连接，另一端与所述测试模块电连接；

第二天线，所述第二天线用于在与所述主集通路导通的情况下发射数据。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种射频电路的测试方法，所述方法基于上述实施例中任一所述的射频电路实现；所述方法包括：

根据所述主集通路和所述分集通路的工作状态确定待测目标；其中，所述主集通路在用于发射和接收数据时被作为待测目标，所述分集通路在用于接收数据时被作为待测目标；

当所述主集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第一状态；

当所述分集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第二状态。

根据本公开实施例的第四方面，提供一种电子设备，包括：如上述实施例中任一项所述的射频电路。

可选的，所述电子设备的主集天线与所述射频电路的主集通路电连接，所述电子设备的分集天线与所述射频电路的分集通路电连接。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

由上述实施例可知，本公开通过切换开关来切换与测试座相连的对象，一方面可保证利用测试座对主集通路和分集通路分别进行精准的测试，另一方面只需通过同一测试座便可完成对射频电路中主集通路和分集通路的测试，而无需分别针对主集通路和分集通路设置相应的测试座，从而降低了硬件成本，并减少了射频电路所占用的空间。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是相关技术中测试射频电路的示意图。

图2是根据一示例性实施例示出的一种射频电路的结构示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的另一种射频电路的结构示意图。

图4是根据一示例性实施例示出的测试射频电路的示意图。

图5是根据一示例性实施例示出的射频电路的测试方法的流程图。

图6-7是根据一示例性实施例示出的切换切换开关的开关状态的示意图。

图8是根据一示例性实施例示出的一种射频电路的测试装置的框图。

图9是根据一示例性实施例示出的一种用于射频电路的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本申请可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

在相关技术中，针对射频电路中的每个通路，均需设置相应的测试座以供射频研发人员进行测试。举例而言，如图1所示，射频电路1包含主集通路10和分集通路11；其中，针对主集通路10设置有测试座12，针对分集通路11设置有测试座13。然而，相关技术中设置测试座的方式导致测试座占用了pcb(printedcircuitboard，印制电路板)大量的空间，且成本较高。

因此，本公开通过对射频电路的结构予以改进，以解决相关技术中存在的上述技术问题。

请参见图2，图2是根据一示例性实施例示出的一种射频电路的结构示意图。如图2所示，射频电路2包括主集通路20、分集通路21、测试座22和切换开关23。其中，测试座22可通过与测试设备电连接以供该测试设备对主集通路20和分集通路21进行精确的测试；切换开关23的一端(图2中以右端为例)分别与主集通路20和分集通路21连接，另一端(图2中以左端为例)与测试座22连接。基于上述射频电路2的结构，切换开关23在主集通路20为待测目标的情况下切换至第一状态以与主集通路20导通，以及在分集通路21为待测目标的情况下切换至第二状态以与分集通路21导通。当然，图2以射频电路2仅包含一个分集通路的情况为例进行说明，实际上射频电路2还可包含多个分集通路，其原理可参考上述图2所示的实施例，在此不再赘述。可见，在本公开的射频电路中，通过切换开关来切换与测试座相连的对象(即待测目标)，一方面可保证利用测试座实现对主集通路和分集通路的精准测试，另一方面只需通过同一测试座便可完成对射频电路中主集通路和分集通路的测试，而无需分别针对主集通路和分集通路设置相应的测试座，从而降低了硬件成本，并减少了射频电路所占用的空间。

在本实施例中，切换开关23可在主集通路20用于发射和接收数据的情况下被切换至第一状态。换言之，在测试过程中，当主集通路20用于发射和接收数据时，主集通路20被作为待测目标。

在本实施例中，如图3所示，射频电路2还可包括连接座24，需要说明的是，相比于测试座22，连接座24占用pcb的空间较小，但是在用于测试时的精度较低。举例说明，测试座通常具有下扣弹簧，可保证工厂的测试设备与主板(射频电路的载体)接触良好；而在将cable线缆座作为测试座直接进行测试的情况下，由于cable线缆座无下扣弹簧，不能够保证测试设备与主板接触良好，即使位置仅出现微小偏差，也将导致测试数据出现较大的偏差。其中，连接座24连接于切换开关23的另一端(图2-3中以左端为例)，并在切换开关23切换至第二状态的情况下与主集通路20导通，以使得主集通路维持在数据发射状态。同时，切换开关23在分集通路21用于接收数据的情况下被切换至第二状态。作为一示例性实施例，连接座24可以包括cable线缆座；切换开关23包括双刀双掷开关。可见，虽然相比于测试座，连接座用于进行测试的精度较低，但仅需维持主集通路20在数据发射状态即可。换言之，在对分集通路21进行测试的情况下，对主集通路20的精度要求不高，足够维持数据的连接即可(可理解为主集通路20可以发射和接收数据即可)，而对分集通路21接收数据方面则需要通过测试座22进行精准的测试。

为了便于理解，下面以电路测试设备测试射频电路为例，对本公开的电路测试设备以及射频电路进行详细说明。

请参见图4，图4是根据一示例性实施例示出的测试射频电路的示意图。如图4所示，电路测试设备3用于测试上述实施例中的射频电路2，可包括测试模块30、第一测试针31、第一天线32、控制模块33、第二测试针34和第二天线35。

其中，测试模块30用于测试主集通路20和分集通路21。比如，作为信号源向主集通路20和分集通路21提供信号，校准主集通路20和分集通路21是否能正常工作，以及测试与主集通路20、分集通路21的性能相关的参数等。

第一测试针31的一端(图4以右端为例)用于与待测目标的测试座22电连接，另一端(图4以左端为例)与测试模块30电连接。

第一天线32用于在与主集通路20导通的情况下发射和接收数据，以及在与分集通路21导通的情况下接收数据。

控制模块33可与切换开关23电连接以切换切换开关23的开关状态。

在本实施例中，连接座24连接于切换开关23的另一端(图4以左端为例)，并在切换开关23切换至第二状态的情况下与主集通路20导通，以使得主集通路20维持在数据发射状态，切换开关23在分集通路21用于接收数据的情况下切换至第二状态。基于上述配置，本公开的电路测试设备还可包括：第二测试针34，第二测试针34的一端(图4中以右端为例)用于与连接座24电连接，另一端(图4中以左端为例)与测试模块30电连接；第二天线35，用于在与主集通路20导通的情况下发射数据。

基于上述电路测试设备3与射频电路2的连接关系，下面结合图5-7对本公开的测试过程进行详细说明。请参见图5，图5是根据一示例性实施例示出的射频电路的测试方法的流程图。如图5所示，该测试方法可以包括以下步骤：

在步骤502中，确定待测目标。

在本实施例中，可根据主集通路和分集通路的工作状态确定待测目标；其中，主集通路在用于发射和接收数据时被作为待测目标，分集通路在用于接收数据时被作为待测目标。

举例而言，通常在对射频电路进行测试时，可分为工厂校准和工厂测试两个阶段。在工厂校准阶段，需确定主集通路20和分集通路21是否能正常工作；在工厂测试阶段，则进一步测试与主集通路20、分集通路21的性能相关的参数。那么，在工厂校准阶段，当校准对象为主集通路时，则主集通路为待测目标；当校准对象为分集通路时，则分集通路为待测目标。而在工厂测试阶段，当测试对象为主集通路(测试主集通路发送和接收数据的性能)时，则主集通路为待测目标；当测试对象为分集通路(测试分集通路接收数据的性能)时，则分集通路为待测目标。

在步骤504a中，当待测目标为主集通路时，将切换开关切换至第一状态。

在步骤504b中，当待测目标为分集通路时，将切换开关切换至第二状态。

以切换开关23为双刀双掷开关(dpdt)为例，如图6(电路测试设备3的部分硬件未示出)所示，测试座22在第一天线32与双刀双掷开关23之间，cable线缆座24(即连接座24)在第二天线与双刀双掷开关23之间，双刀双掷开关23的右端可以切换至主集通路20或分集通路21。当双刀双掷开关23为直通状态(即第一状态)时，第一天线32与主集通路20导通，作为主集天线发射和接收数据，测试座22在主集通路上；第二天线35与分集通路21导通，作为分集天线接收数据，cable线缆座24在分集通路上。如图7所示，当双刀双掷开关23为交叉状态(即第二状态)时，第一天线32与分集通路21导通，作为分集天线接收数据，测试座22在分集通路上；第二天线35与主集通路20导通，作为主集天线发射和接收数据，cable线缆座在主集通路上。

那么，当待测目标为主集通路时，可将双刀双掷开关23切换至直通状态。如图6所示，针对工厂校准阶段，当校准对象为主集通路时，切换双刀双掷开关23至直通状态(可由控制模块33控制切换双刀双掷开关23的开关状态)，则测试座22与主集通路20电连接，测试模块30可对主集通路20进行准确的主集校准。针对工厂测试阶段，当测试对象为主集通路时，切换双刀双掷开关23至直通状态，则测试座22与主集通路20电连接，测试模块30可对主集通路20通过第一天线32进行发射和接收数据的过程进行准确的主集测试。当待测目标为分集通路时，可将双刀双掷开关23切换至交叉状态。如图7所示，针对工厂校准阶段，当校准对象为分集通路时，切换双刀双掷开关23至交叉状态(可由控制模块33控制切换双刀双掷开关23的开关状态)，则测试座22与分集通路21电连接，测试模块30可对分集通路21进行准确的分集校准。针对工厂测试阶段，当测试对象为分集通路时，切换双刀双掷开关23至交叉状态，则测试座22与分集通路21电连接，cable线缆座24与主集通路20电连接，以维持主集通路20在数据发射状态，测试模块30可对分集通路21进行准确的分集接收数据的测试。本领域技术人员应当理解的是，虽然相比于测试座，cable线缆座24(作为连接座)用于在工厂测试阶段进行测试的精度较低，但仅需维持主集通路20在数据发射状态即可。换言之，在工厂测试阶段中对分集通路21进行测试的情况下，对主集通路20的精度要求不高，足够维持数据的连接即可(可理解为主集通路20可以发射和接收数据即可)，而对分集通路21接收数据方面则需要通过测试座22进行精准的测试。可见，在本公开的射频电路的测试方案中，通过控制切换双刀双掷开关23的开关状态，可使得测试座始终与需要进行精准测试的通路相连，从而进行精准的测试。一方面可保证利用测试座对主集通路和分集通路进行测试的准确性，另一方面只需通过同一测试座便可完成对射频电路中主集通路和分集通路的测试，而无需分别针对主集通路和分集通路设置相应的测试座，从而降低了硬件成本，并减少了射频电路所占用的空间。

在步骤506中，测试主集通路或分集通路。

在本实施例中，承接于步骤504a，当切换开关切换至第一状态时，对主集通路进行测试；承接于步骤504b，当切换开关切换至第二状态时，对分集通路进行测试。

本公开还提供了一种电子设备，该电子设备中可以包含上述任一实施例中的射频电路，而关于电子设备中该射频电路的描述，可参考上述实施例，在此不再赘述。进一步的，在本公开提供的电子设备中，该电子设备可将上述任一实施例中的射频电路应用于天线结构。作为一示例性实施例，该电子设备的主集天线可与该射频电路的主集通路电连接，分集天线可与该射频电路的分集通路电连接，从而可减小该电子设备中主板(用于承载该射频电路)的面积。

与前述的射频电路的测试方法的实施例相对应，本公开还提供了射频电路的测试装置的实施例。

图8是根据一示例性实施例示出的一种射频电路的测试装置的框图。参照图8，该装置包括：

确定单元81，被配置为根据所述主集通路和所述分集通路的工作状态确定待测目标；其中，所述主集通路在用于发射和接收数据时被作为待测目标，所述分集通路在用于接收数据时被作为待测目标；

第一切换单元82，被配置为当所述主集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第一状态以对所述主集通路进行测试；

第二切换单元83，被配置为当所述分集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第二状态以对所述分集通路进行测试。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

对于装置实施例而言，由于其基本对应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

相应的，本公开还提供一种射频电路的测试装置，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为实现如上述实施例中任一所述的射频电路的测试方法，比如该方法可以包括：根据所述主集通路和所述分集通路的工作状态确定待测目标；其中，所述主集通路在用于发射和接收数据时被作为待测目标，所述分集通路在用于接收数据时被作为待测目标；当所述主集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第一状态以对所述主集通路进行测试；当所述分集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第二状态以对所述分集通路进行测试。

相应的，本公开还提供一种终端，所述终端包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于实现如上述实施例中任一所述的射频电路的测试方法，比如该方法可以包括：根据所述主集通路和所述分集通路的工作状态确定待测目标；其中，所述主集通路在用于发射和接收数据时被作为待测目标，所述分集通路在用于接收数据时被作为待测目标；当所述主集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第一状态以对所述主集通路进行测试；当所述分集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第二状态以对所述分集通路进行测试。

图9是根据一示例性实施例示出的一种用于射频电路的测试装置900的框图。例如，装置900可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。

参照图9，装置900可以包括以下一个或多个组件：处理组件902，存储器904，电源组件906，多媒体组件908，音频组件910，输入/输出(i/o)的接口912，传感器组件914，以及通信组件916。

处理组件902通常控制装置900的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件902可以包括一个或多个处理器920来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件902可以包括一个或多个模块，便于处理组件902和其他组件之间的交互。例如，处理组件902可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件908和处理组件902之间的交互。

存储器904被配置为存储各种类型的数据以支持在装置900的操作。这些数据的示例包括用于在装置900上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器904可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(sram)，电可擦除可编程只读存储器(eeprom)，可擦除可编程只读存储器(eprom)，可编程只读存储器(prom)，只读存储器(rom)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件906为装置900的各种组件提供电力。电源组件906可以包括电源管理系统，一个或多个电源，及其他与为装置900生成、管理和分配电力相关联的组件。

多媒体组件908包括在所述装置900和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(lcd)和触摸面板(tp)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件908包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置900处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件910被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件910包括一个麦克风(mic)，当装置900处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器904或经由通信组件916发送。在一些实施例中，音频组件910还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

i/o接口912为处理组件902和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件914包括一个或多个传感器，用于为装置900提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件914可以检测到装置900的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置900的显示器和小键盘，传感器组件914还可以检测装置900或装置900一个组件的位置改变，用户与装置900接触的存在或不存在，装置900方位或加速/减速和装置900的温度变化。传感器组件914可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件914还可以包括光传感器，如cmos或ccd图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件914还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件916被配置为便于装置900和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置900可以接入基于通信标准的无线网络，如wifi，2g或3g，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件916经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件916还包括近场通信(nfc)模块，以促进短程通信。例如，在nfc模块可基于射频识别(rfid)技术，红外数据协会(irda)技术，超宽带(uwb)技术，蓝牙(bt)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置900可以被一个或多个应用专用集成电路(asic)、数字信号处理器(dsp)、数字信号处理设备(dspd)、可编程逻辑器件(pld)、现场可编程门阵列(fpga)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器904，上述指令可由装置900的处理器920执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是rom、随机存取存储器(ram)、cd-rom、磁带、软盘和光数据存储设备等。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。