示第一检测端是否与第一接口相连接，第二检测信号用以表示第二检测端是否与第二接口相连接。
[0047]具体地，本实施例的第一检测单元I和第二检测单元2分别包括晶体管和电流源。所述晶体管可以是MOS管，也可以是三极管，下面以MOS管为例进行说明，本领域技术人员可以理解，基于以下采用MOS管的检测单元的电路连接结构，也可以得到采用三极管的检测单元的电路连接结构。
[0048]图4是本发明实施例的检测单元的一种电路结构，图4所示的检测单元(a)包括NMOS管MNl和电流源Ia，NMOS管MNl的栅极连接参考电压输入端VREF，源极与检测输入端IN相连接，漏极适于与检测输出端OUT相连接。电流源Ia串接在工作电压Vdd输入端和NMOS管的漏极之间，用于控制电路的电流，以控制电路的功耗，通常采用电流值较小的电流源Ia，例如可以小于或等于ΙμΑ，因此检测电路的功耗就可以很小。当检测输入端的电压Vin大于(Vref - Vth (η))时，NMOS管截止，NMOS管的漏极输出的信号的电压为工作电压Vdd输入端的电压；当检测输入端的电压Vin小于(Vref-Vth (η))时，NMOS管导通，NMOS管的漏极输出的信号的电压为检测输入端IN的电压VIN，Vref为参考电压输入端VREF的电压，Vth (η)为NMOS管的阈值电压。
[0049]图4所示的检测单元(b)是(a)的变换例，图4所示的检测单元(b)包括PMOS管MPl和电流源Ia，PMOS管MPl的栅极连接参考电压输入端VREF，源极与检测输入端IN相连接，漏极适于与检测输出端OUT相连接。电流源Ia串接在地端和PMOS管MPl的漏极之间，用于控制电路的电流，以控制电路的功耗。当检测输入端IN的电压Vin大于(Vref - Vth (p))时，PMOS管导通，PMOS管的漏极输出的信号的电压为检测输入端IN的电压Vin ;当检测输入端的电压Vin小于(Vref - Vth(p))时，PMOS管截止，PMOS管的漏极输出的信号的电压为地端电压，Vref为参考电压输入端VREF的电压，Vth (p)为PMOS管的阈值电压。
[0050]进一步，检测单元还可以包括整形器，用于对晶体管的第三极输出的信号进行整形，以输出稳定的高电平(逻辑I)或低电平(逻辑O)，整形器可以为反相器，串接在晶体管的第三极和检测输出端OUT之间，以图4为例，反相器INV的输入端与MOS管的漏极相连接，反相器INV的输出端与检测输出端OUT相连接。
[0051]第一检测单元I可以是图4(a)或图4(b)所示的电路，其中，检测输入端IN与第一检测端HEADSET_L_INT相连接，参考电压输入端VREF输入第一参考电压Vrefl，第一参考电压Vrefl的设置可以根据耳机电路的电路结构和元件参数确定的。第一检测单元I的检测输出端OUT输出的检测信号为第一检测信号AUD10_HEAD_INSERT1，输出高电平或低电平可以分别表示第一检测端HEADSET_L_INT与第一接口连接或第一检测端HEADSET_L_INT未与第一接口连接。
[0052]第二检测单元2可以是图4(a)或图4(b)所示的电路，其中，检测输入端IN与第二检测端HEADMIC_IN相连接，参考电压输入端VREF输入第二参考电压Vref 2，第一参考电压Vref2的设置可以根据耳机电路的电路结构和元件参数确定的。第二检测单元2的检测输出端OUT输出的检测信号为第二检测信号AUD1_HEAD_INSERT，输出高电平或低电平可以分别表示第二检测端HEADMIC_IN与第二接口连接或第二检测端HEADMIC_IN未与第二接口连接。
[0053]以图1所示的耳机电路为例，当耳机拔出或未插入，左声道L接口未与第一检测端HEADSET_L_INT相连接，第一检测端HEADSET_L_INT输出电压为第一电源VDD_10的电压的高电平；当耳机插入后，左声道L接口与第一检测端HEADSET_L_INT相连接，第一检测端HEADSET_L_INT的电压通过电阻R2和电阻R4对第一电源VDD_10的电压分压获得，通常电阻R2的阻值较大，一般为几百K Ω，电阻R4的阻值较小，一般为几十Ω，检测端HEADSET_L_INT输出接近OV的低电平。因此，第一参考电压Vrefl的设置与第一电源VDD_10的电压值、电阻R2和R4的阻值以及MOS管的阈值电压相关。
[0054]当耳机拔出或未插入，麦克风MIC接口未与第二检测端HEADMIC_IN相连接，第二检测端HEADMIC_IN输出电压为第二电源HEADMICBIAS的电压的高电平；当耳机插入后，麦克风MIC接口与第二检测端HEADMIC_IN相连接，没有按键触发时，第二检测端HEADMIC_IN的电压通过电阻Rl和麦克风Mic对第二电源HEADMICBIAS的电压分压获得，当有按键触发时，第二检测端HEADMIC_IN的电压通过电阻Rl和并联电阻(麦克风Mic与按键并联)对第二电源HEADMICBIAS的电压分压获得。因此，第二参考电压Vref2的设置与第二电源HEADMICBIAS的电压值、电阻Rl和麦克风Mic的阻值以及MOS管的阈值电压相关。
[0055]第二检测端HEADMIC_IN还可用于检测被触发的按键类型，当检测输入端IN与第二检测端HEADMIC_IN相连接以检测耳机按键触发时，输入参考电压输入端VREF的参考电压的设置与第二电源HEADMICBIAS的电压值、电阻R1、麦克风Mic和按键的阻值以及MOS管的阈值电压相关。不同的按键的阻值通常是不相同，当不同的按键被触发时，第二检测端HEADMIC_IN的分压值也不同，如果仅通过第二检测端HEADMIC_IN检测耳机的某一个按键是否被触发时，输入参考电压输入端VREF的参考电压的设置与第二电源HEADMICBIAS的电压值、电阻R1、麦克风Mic和被检测的按键的阻值以及MOS管的阈值电压相关。
[0056]第一检测单元I和第二检测单元2的电路结构并不限于图4所示，还可以是其他的电路结构，例如图5所示，检测单元也可以采用比较器，比较器COMP的正输入端VINl和负输入端VIN2可以分别输入检测端的电压和参考电压，比较器COMP的输出端输出的信号用以表示比较结果。进一步，检测单元还可以包括去抖电路10，用于对比较器COMP的输出信号进行去抖处理，以输出稳定的检测信号。
[0057]具体地，第一检测单元I的比较器COMP适于比较第一参考电压Vrefl和第一检测端的电压，可以是比较器COMP的正输入端VINl与第一检测端HEADSET_L_INT相连接，负输入端VIN2输入第一参考电压Vrefl。第一检测单兀I的去抖电路10适于对第一检测单兀I的比较器COMP的输出信号进行去抖处理，去抖电路10的输出端OUT输出第一检测信号AUD10_HEAD_INSERT1。
[0058]第二检测单元2的比较器COMP适于比较第二参考电压Vref2和第二检测端HEADMIC_IN的电压，可以是比较器COMP的正输入端VINl与第二检测端HEADMIC_IN相连接，负输入端VIN2输入第二参考电压Vref2。第一检测单兀2的去抖电路10适于对第二检测单元2的比较器COMP的输出信号进行去抖处理，去抖电路10的输出端OUT输出第二检测信号 AUD1_HEAD_INSERT。
[0059]上述输入检测单元的参考电压可以由电压提供单元提供，所述电压提供单元可以采用现有的基准源电路，例如最简单的结构可以是分压电路，如通过电阻分压或通过晶体管分压得到电路设计所确定的第一参考电压Vrefl和第二参考电压Vref2。
[0060]基于图3所示的耳机检测电路，图6所示的本发明实施例的耳机检测方法的流程包括:
[0061]步骤S11，判断第一检测端是否与耳机的第一接口连接；若是则执行步骤S12，若否则重复步骤S11。通过第一检测信号AUD10_HEAD_INSERT1判断第一检测端HEADSET_L_INT是否与耳机的第一接口连接。
[0062]步骤S12，判断第二检测端是否与耳机的第二接口连接，若是则执行步骤S13，若否则执行步骤Sll。通过第二检测信号AUD1_HEAD_INSERT判断第二检测端HEADMIC_IN是否与耳机的第二接口连接。
[0063]步骤S13，确认耳机插入。在确认耳机插入后，可以继续检测第二检测端HEADMIC_IN的电压，以确定是否有按键触发以及被触发的按键类型。
[0064]基于图3所示的耳机检测电路，图7所示的本发明实施例的耳机检测方法的流程包括:
[0065]步骤S21，判断第一检测端是否与耳机的第一接口连接，若是则执行步骤S22，若否则重复步骤S21。通过第一检测信号AUD10_HEAD_INSERT1判断第一检测端HEADSET_L_INT是否与耳机的第一接口连接。
[0066]步骤S22，启动第二电源。
[0067]步骤S23，判断第二检测端是否与耳机的第二接口连接，若是则执行步骤S24，若否则执行步骤S25。通过第二检测信号AUD1_HEAD_INSERT判断第二检测端HEADMIC_IN是否与耳机的第二接口连接。
[0068]步骤S24,确认耳机插入。
[0069]步骤S25，判断第一检测端是否与耳机的第一接口连接，若是则执行步骤S23，若否则执行步骤S26。
[0070]步骤S26，关闭第二电源，继续执行步骤S21。
[0071]基于图3所示的耳机检测电路，图8所示的本发明实施例的电子设备包括耳机接口电路Al、耳机检测电路A2和耳机检测装置A3。耳机检测电路A2适于与耳机接口电路Al连接，具体结构可以参考上述对图3所示的耳机检测电路的说明。如图8所示，所述的耳机检测装置A3可以用于实现图7所示的耳机检测方法，包括:第一判断单元A31、确认单元(图中未示出)和启动控制单元A34。
[0072]第一判断单元A31适于通过耳机检测电路A2输出的第一检测信号AUD10_HEAD_INSERT I判断所述第一检测端HEADSET_L_INT是否与耳机的第一接口连接。
[0073]所述确认单元适于当第一判断单元A31的判断结果为是，即所述第一检测端与耳机的第一接口连接时，至少通过检测所述第二检测端的信号确认耳机是否插入。本实施例的确认单元包括第二判断单元A32和确认子单元A33。
[0074]第二判断单元A32适于当第一判断单元A31的判断结果为是，即第一检测端HEADSET_L_INT与耳机的第一接口连接时，通过耳机检测电路A2输出的第二检测信号AUD1_HEAD_INSERT判断第二检测端HEADMIC_IN是否与耳机的第二接口连接。
[0075]确认子单元A33适于当第二判断单元A32的判断结果为是，即第二检测端HEADMIC_IN与耳机的第二接口连接时，确认耳机插入。
[0076]启动控制单元A34适于当第一判断单元A31的判断结果为是，即当第一检测端HEADSET_L_INT与耳机的第一接口连接时，在第二判断单元A32通过