UI中的 样本索引。PCIE3.0规范要求DFE适配方法识别用于反馈系数山的最优值，使得最大化如 显示在例如示波器上的信号的眼高度和眼宽度。是根据在单位间隔（UI)的通常在 如图3中图示的UI中心附近的指定水平位置处评估的比特0的最大值和比特1的最小值 测量的。
[0033]依照本发明的实施例，提供了DFE适配方法和系统，其识别与在UI的一个特定水 平位置处测量的最大眼高度相关联的最优抽头系数值。在本发明的附加实施例中，一旦找 到与最大眼高度相关联的最优抽头系数值，方法和系统就可以搜索这些抽头系数值附近的 邻居以识别将最大化眼区域的最优值。
[0034]如本领域中已知的，眼高度的最大化使用基于峰-峰的准则。PCIE3. 0指定山在 范围[_30mV，30mV]之间。之前简要提到的已知的穷尽搜索方法分析遍及该范围(被称为 "允许的系数空间"）的数据点。为了确保精确度，用来分析所有数据点的步长大小是小的， 这意味着穷尽搜索方法必须检查大量数据点。这耗费时间。结果，穷尽搜索方法为了精确 性牺牲了计算速度。对于一些应用而言，在计算速度方面的牺牲是不可接受的。例如，测试 一些设备等要求高速计算和吞吐量，这转化成高速、计算上高效的DFE适配。出于前面阐述 的理由，穷尽搜索方法被本发明人发现是不足的。
[0035] 回溯一下，如之前简要指出的，DFE使用训练序列，该训练序列有时可以也被称为 "决策比特"序列。由于这一点，DFE可以被表征为使用"关于先前比特的决策"来确定系数 反馈值。如本领域中已知的，依照PCIE3. 0,当识别了最优抽头值时，这些抽头值保持不变， 除非信道或发射机被改变。因此，依照本发明的实施例，一旦最优抽头值被识别，它们就可 以被用来识别模拟波形输入信号（或其数字化版本的比特）的需要被调节来计及信号降级 的所有分量。例如，在图2中所示的模型DFE中，输出&由输入和被表示为/u的关于 先前比特的决策确定。之前提到的第8, 374, 231号美国专利阐述了用于使用诸如采样示波 器或实时示波器之类的性能示波器识别或确定用于输入信号的被表示为的决策比特 或训练序列的方法和系统。出于当前的目的，假定已经识别或确定了决策比特或训练序列 Λ。依照本发明的一个实施例，输入信号可以根据所识别的序列而与诸如由图4中的点6-9 所表示的组合之类的四个2-比特组合之一相关联。然后这些组合可以被用来生成如例如 在图4中所示的移位眼图并且将其显示在性能示波器上。
[0036]参考图5,描绘了包括根据本发明的一个实施例的用于在高速串行数据链路中优 化DFE的元件的系统400 (诸如示波器）的简化图示。应当理解的是，本文中讨论的所有方 法和过程以及在之前提到的第8, 374, 231号美国专利中阐述的那些可以使用包括与图5中 所示的示波器基本上类似的元件的示波器来实现。在本发明的实施例中，系统400可以包 括性能示波器，诸如实时示波器或采样示波器。
[0037] 系统400可以例如采取由Tektronix公司设计和开发的一个或多个示波器的形 式。示波器400可以包括用于将一个或多个附属设备440 (诸如由Tektronix公司设计和 开发的差分探针）连接到示波器400的多个附属接口 420。附属接口 420可以将电压功率 从示波器400提供到在图5中示出的示例性实施例中包括差分探针440的附属设备。附属 接口还可以在示波器400和探针440之间提供双向通信。探针440可以经由SMA同轴电缆 480耦合到被测设备（DUT) 460,诸如耦合到充当高速串行数据链路系统中的信道的SAS6 G电缆500的测试装备。
[0038] 探针440可以包括连接到示波器的控制盒和由信号电缆耦合到控制盒的探针头。 可以使用探针触点将探针440耦合到测试装备460。
[0039] 示波器400可以包括显示设备520,显示设备520可以包括用于显示由示波器400 处理的来自DUT460的信号的图形用户接口。一般地，示波器400可以包括前面板控件540， 诸如用于控制示波器的设置的可旋转把手、按钮等等。替换地，前面板控件可以被图形地生 成并且在显示部分520上呈现为所谓的"软键"以便由示波器400的用户访问。
[0040] 应当注意的是，尽管在图5中描绘的信道500由电缆500表示，但是信道500可以 采取其他介质的形式，诸如铜导线、同轴电缆或这可以被仿真。不管怎样，信道500包括降 级输入到DUT460中的信号的损害。这些损害必须由示波器400依照本发明的实施例来移 除和/或调节。替换地，可以移除DUT460并且示波器400可以直接连接到信道500(实际 的信道或仿真的信道)。
[0041] 从另一视角来看，应当理解的是，在本发明的一个实施例中，示波器400是图1中 描绘的接收装置或接收机16的示例。在供替换的实施例中，示波器400也可以被放置在图 1中所示的信道14之前，以实际上测试例如发射装置或发射机12的性能。不管那种情况， 示波器400可以使用实际或仿真的信道500而连接到信道14或发射装置12。
[0042] 现在参考图6,示出了根据本发明的一个实施例的示波器的代表性框图。更特别 地，所示的是图5中描绘的示波器400的框图。示波器400可以具有耦合到附属接口 420 的分离的信号信道600,所述分离的信号信道600中的二者都被表示在图6中。每一个信号 信道600可以具有分离的获取装置620,所述分离的获取装置620可以包括例如用于至少 从DUT460或信道500接收模拟波形输入信号并且将所接收的信号转换成数字化样本的已 知的电子电路和/或设备。耦合到信号信道600的模拟波形输入信号中的每一个也可以耦 合到触发电路640。获取装置620和触发电路640可以经由系统总线680耦合到可编程处 理装置660。系统总线680还可以耦合到存储器装置700,该存储器装置700可以例如采取 RAM、R0M和/或高速缓冲存储器的形式。RAM存储器可操作来存储易失性数据，诸如由获取 装置620生成的模拟波形输入信号的数字化样本。系统总线680还可以耦合到用于控制图 5中所示的显示部分520的显示电路720、一个或多个大容量存储单元740 (诸如从适当的 大容量存储介质读取和/或向其写入的硬盘驱动器、CDROM驱动器、磁带驱动器、软盘驱动 器等等）以及前面板控件540。应当理解的是，在示波器400中可以包括任何数目的信号信 道600，每一个信道具有分离的获取装置620。
[0043] 用于实现根据本发明的实施例的均衡方法并且用于以其他方式控制示波器400 的可执行指令可以被存储在存储器装置700、更特别地例如ROM并且从其来访问。替换地， 所述可执行指令可以被存储在在一些实施例中可以被包括在存储器装置700内的大容量 存储单元740的大容量介质并且从其来访问。处理装置660可以被实现为例如一个或多 个可编程微处理器，诸如由英特尔公司设计和开发的那些。处理装置660还可以使用多个 可编程控制器和/或一个或多个可编程数字信号处理器来实现。在又另一个实施例中，当 使用多个控制器来实现处理装置660时，一个可以用来控制模拟波形输入信号的获取和处 理，而第二个可以控制示波器400的其他操作。示波器400可以使用由微软公司设计和开 发的被存储在一个或多个处理器或控制器660以及相关联的存储器装置700内并被访问的 Windows.RTM操作系统(诸如Windows?XP.RTM)来控制。
[0044] 显示电路720可以包括用于从处理装置660接收用于控制显示部分520的指令的 显示控制器(未示出），并且也可以从例如作为处理装置660的一部分的数字信号处理器接 收用于由显示部分520显示的数据。总线控制器(未示出)也可以被包括在处理装置660内 或者被单独地包括在示波器400内用于监视接口 420和探针440。总线控制器也可以控制 探针440和处理器装置660之间经由通信总线760的通信。总线760可以包括提供双向通 信的I2C总线、IEEE1494总线、USB总线等等。
[0045] 电源780可以从处理装置660接收用于控制经由电压线800到探针440和附属接 口 420的电功率的控制信号。
[0046] 继续返回参考图4,如之前提到的，本发明的实施例针对最大化在UI的一个特定 水平位置(诸如图4中所示的点5)处测量的眼高度的DFE适配方法和系统。特别地，在本 发明的一个实施例中，处理装置660可以包括可编程数字信号处理器(简称为"处理器")， 其例如可操作来访问和执行存储在存储器装置700内的指令和相关联的数据以便通过最 大化在UI的一个特定水平位置处测量的眼高度来优化高速串行数据链路中的DFE。这样 的可执行存储指令和数据可以由处理器660用来选择UI的指定水平位置。更详细地，处理 器660还可以可操作来访问存储在存储器装置700内的指令和数据以便识别与所指定的水 平UI值相关联的一个或多个电压并且此后用于从所识别的电压生成最小和最大电压阵列 输入值（X值)。
[0047] 依照本发明的一个实施例，可以如下导出眼高度优化问题：
其中，表示对于由"XX"指定的比特图案中的最后比特在UI中心处测量的电压 阵列。例如，代表对于具有〇的先前比特的所有1比特测量的电压。注意根据等式（1) 和等式（2)，等式（3)中的项可以写为：
应当注意的是，等式（5冲的值是使用输入信号.量的。因 此，在本发明的一个实施例中，...