一种分立式无源器件的埋入方法和系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种分立式无源器件的埋入方法及系统，方法包括：根据分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度，判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的n颗；若判断为能够埋入，则将所述n颗分立式无源器件一起埋入电路板中；若判断为不能埋入，则令n=n-1，继续执行所述的判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的n颗的步骤。本发明技术方案可以优先埋入标称值最大的分立式无源器件，并保证所埋入的分立式无源器件的个数最小，从而，可以避免埋入过多的分立式无源器件而导致浪费，并且测试时容易判断分立式无源器件的个数，进而可以降低测试难度，提高测试准确性。
【专利说明】一种分立式无源器件的埋入方法和系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及电路板制造【技术领域】，具体涉及一种分立式无源器件的埋入方法和系统。
【背景技术】
[0002]电子元器件可以概括为三大类，即分立式(Discrete)器件，集成电路(integratedcircuit, IC)与连接器10，其中，分立式器件包括电容、电阻、电感、二极管等。无源器件是指在不需要外加电源的条件下，就可以显示其特性的电子元件，例如电阻类、电感类和电容类器件，它们的共同特点是在电路中无需加电源即可在有信号时工作。
[0003]为适应电子产品小型化及可靠性的发展趋势，向电路板内埋入分立式无源器件已成为一个技术亮点。但是，现有技术中，对分立式无源器件的埋入缺少技术指导，往往因盲目埋入而导致分立式无源器件的测试难度增加以及测试准确性降低。
【发明内容】
[0004]本发明实施例提供一种分立式无源器件的埋入方法和系统，以解决现有技术中因盲目埋入而导致分立式无源器件的测试难度增加以及测试准确性降低的技术问题。
[0005]一种分立式无源器件的埋入方法，包括:
[0006]根据分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度，判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗；
[0007]若判断为能够埋入，则将所述η颗分立式无源器件一起埋入电路板中；
[0008]若判断为不能埋入，则令η=η_1，继续执行所述的判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗的步骤。
[0009]一种分立式无源器件的埋入系统，包括:
[0010]获取装置，用于获取分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度；
[0011]校验装置，用于根据获取装置获取到的分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度，判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗；
[0012]执行装置，用于校验装置确定能够埋入时，将所述η颗分立式无源器件一起埋入电路板中。
[0013]本发明实施例方法，根据分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度，判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗，判断为不能埋入时，令η=η-1，继续执行所述的判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗的步骤，判断为是时，埋入分立式无源器件；采用该方案，可以实现按照分立式无源器件标称值的大小顺序，优先埋入标称值最大的分立式无源器件，并保证所埋入的分立式无源器件的个数最小，从而，可以避免埋入过多的分立式无源器件而导致浪费，并且测试时容易判断分立式无源器件的个数，进而可以降低测试难度，提高测试准确性。【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1是本发明实施例提供的分立式无源器件的埋入方法的流程图；
[0015]图2是本发明实施例提供的分立式无源器件的埋入系统的示意图。
【具体实施方式】
[0016]实施例一、
[0017]请参考图1，本发明实施例提供一种分立式无源器件的埋入方法，包括:
[0018]101、根据分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度，判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗；
[0019]102、若判断为能够埋入，则将所述η颗分立式无源器件一起埋入电路板中；
[0020]103、若判断为不能埋入，则令η=η_1 ;然后，继续执行所述的判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗的步骤101。
[0021]其中，η的初始值为N。
[0022]将待埋入的N个分立式无源器件按照标称值的大小顺序排列，令编号为i，则i可以是1、2、3.....N，其中，编号越小的分立式无源器件，其标称值越大，用Qi表示第i个分立式无源器件的标称值，则有Qi>Q(i+l)。本发明实施例提供的上述技术方案具体可以分解为:
[0023]首先，判断是否能够埋入全部的N颗分立式无源器件。
[0024]判断方法是:比较
【权利要求】
1.一种分立式无源器件的埋入方法，其特征在于，包括: 根据分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度，判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗； 若判断为能够埋入，则将所述η颗分立式无源器件一起埋入电路板中； 若判断为不能埋入，则令η=η-1，继续执行所述的判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗的步骤。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗包括: 比较
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于: η的初始值为N。
4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，所述分立式无源器件为电容，所述的将所述η颗分立式无源器件一起埋入电路板中包括: 将所述的η颗电容并联埋入电路板中。
5.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，所述分立式无源器件为电阻，所述的将所述η颗分立式无源器件一起埋入电路板中包括: 将所述的η颗电阻串联埋入电路板中。
6.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，所述分立式无源器件为电感，所述的将所述η颗分立式无源器件一起埋入电路板中包括: 将所述的η颗电感串联埋入电路板中。
7.一种分立式无源器件的埋入系统，其特征在于，包括: 获取装置，用于获取分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度； 校验装置，用于根据获取装置获取到的分立式无源器件的标称值和精度以及测试设备的测试精度，判断是否能够埋入N颗分立式无源器件中标称值较大的η颗； 执行装置，用于校验装置确定能够埋入时，将所述η颗分立式无源器件一起埋入电路板中。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述校验装置包括:
比较模块，用于比较
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述的执行装置具体用于: 所述分立式无源器件为电容时，将所述的η颗电容并联埋入电路板中； 所述分立式无源器件为电阻时，将所述的η颗电阻串联埋入电路板中； 所述分立式无源器 件为电感时，将所述的η颗电感串联埋入电路板中。
【文档编号】H05K3/30GK103429004SQ201210165665
【公开日】2013年12月4日 申请日期:2012年5月25日 优先权日:2012年5月25日
【发明者】曹小华, 黄冕, 刘建辉 申请人:深南电路有限公司