技术总结
本发明涉及一种依据于检测皮肤角质层自发荧光的活体无创预测紫外线诱导皮肤损伤的方法，是以介于440‑560nm波段的激发光激发出表皮角质层介于450‑580nm波长的自发荧光，该角质层自发荧光的强度与未来的紫外线损伤程度成正相关关系。因此通过检测分析该介于450‑580nm波长的自发荧光的变化，可以对紫外光造成的皮肤损伤进行预测。该介于450‑580nm波长的自发荧光可以成为一个全新的预测紫外皮肤损伤程度的新标志物。
技术研发人员：殷卫海;张铭超
受保护的技术使用者：上海交通大学
文档号码：201710061517
技术研发日：2017.01.26
技术公布日：2017.05.31