一种口腔曲面体层X射线机成像性能测试模体的制作方法

本实用新型涉及口腔曲面体层X射线检测技术领域，具体为一种口腔曲面体层X射线机成像性能测试模体。

背景技术：

X射线具有良好的穿透性和优良的投影性，因此X射线被广泛应用于人体器官的检测，随着X射线技术的成熟运用，很多具有优良性能的X射线机被开发出来，而X射线成像性能测试就成为一个衡量X射线机性能的重要指标，现有技术中通常使用X射线模体来完成对X射线机成像性能的测试，但它在实际使用的过程中仍存在以下弊端：

1.现有技术无法评估口腔曲面体层X射线机聚焦层的位置；

2.现有技术无法评估聚焦层某点上X射线基准轴的方向；

3.现有技术无法将试验器件精确定位到聚焦层上某点及某基准轴方向上。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种口腔曲面体层X射线机成像性能测试模体，以解决上述背景技术中提出现有技术无法评估口腔曲面体层X射线机聚焦层的位置，无法评估聚焦层某点上X射线基准轴的方向以及无法将试验器件精确定位到聚焦层上某点及某基准轴方向上的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种口腔曲面体层X射线机成像性能测试模体,包括金属底盘、金属底盘上端所设的定位底座、定位底座上端所滑配的聚焦定位模块、定位底座上端所滑配的检测块I与定位底座上端所滑配的检测块II，所述金属底盘的主体为板状结构，且在金属底盘的中间设有槽体结构的对线槽，所述对线槽的周边均布设有圆柱形孔状结构的安装孔，且在安装孔内插配有块状结构的定位底座，且在定位底座的左右两侧均设有刻度标线，所述定位底座的上端滑配有聚焦定位模块，且聚焦定位模块的主体为T形块状结构的聚焦板，所述聚焦板的下端设有与定位底座的上端相滑配的方形槽体结构的滑槽I，且在聚焦板的中间均布倾斜均布嵌配有定位钢珠I、定位钢珠II、定位钢珠III、定位钢珠IV与定位钢珠V；

所述检测块I的下端与滑座相滑配，且在检测块I前端面的左右两侧对称设有圆柱形孔状结构的检测孔；

所述检测块II的下端与滑座相滑配，且在检测块II的中间均布设有球状结构的检测钢珠。

优选的，所述定位底座的上端设有与滑槽I相滑配的方形凸台结构的滑座，且在定位底座的下端设有与安装孔相插配的圆柱形结构的导柱。

优选的，所述定位底座的侧边设有与金属底盘的上端面相吸合的定位磁块，所述定位磁块的下端设有块状结构的磁座，且在磁座的上端固定连接有手柄。

优选的，所述检测块I的主体为方形块状结构，且在检测块I的下端设有与滑座相滑配的槽体结构的滑槽II。

优选的，所述检测块II的主体为方形块状结构，且在检测块II的下端设有与滑座相滑配的槽体结构的滑槽III。

以选的，所述检测钢珠的数量为七个，且检测钢珠的直径为五毫米。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型结构设置合理，功能性强，具有以下优点：

1.通过本测试模体可评估口腔曲面体层X射线机聚焦层的位置；

2.通过本测试模体可评估聚焦层某点上X射线基准轴的方向；

3.通过本测试模体可将试验器件精确定位到聚焦层上某点及某基准轴方向上。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为金属底盘结构示意图；

图3为聚焦定位模块轴侧结构视图与半剖结构视图；

图4为定位底座结构视图；

图5为定位磁块结构视图；

图6为检测块I结构视图；

图7为检测块II轴侧结构视图与检测块II半剖结构视图。

图中：1、金属底盘；2、聚焦定位模块；3、定位底座；4、定位磁块；5、检测块I；6、检测块II；101、对线槽；102、安装孔；201、聚焦板；202、滑槽I；203、定位钢珠I；204、定位钢珠II；205、定位钢珠III；206、定位钢珠IV；207、定位钢珠V；301、滑座；302、导柱；401、磁座；402、手柄；501、滑槽II；502、检测孔；601、滑槽III；602、检测钢珠。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1至图7，本实用新型提供一种技术方案：一种口腔曲面体层X射线机成像性能测试模体,包括金属底盘1、金属底盘1上端所设的定位底座3、定位底座3上端所滑配的聚焦定位模块2、定位底座3上端所滑配的检测块I 5与定位底座3上端所滑配的检测块II 6，金属底盘1的主体为板状结构，且在金属底盘1的中间设有槽体结构的对线槽101，对线槽101的周边均布设有圆柱形孔状结构的安装孔102，且在安装孔102内插配有块状结构的定位底座3，且在定位底座3的左右两侧均设有刻度标线，定位底座3的上端滑配有聚焦定位模块2，且聚焦定位模块2的主体为T形块状结构的聚焦板201，聚焦板201的下端设有与定位底座3的上端相滑配的方形槽体结构的滑槽I 202，且在聚焦板201的中间均布倾斜均布嵌配有定位钢珠I 203、定位钢珠II 204、定位钢珠III 205、定位钢珠IV 206与定位钢珠V 207，其中，聚焦定位模块2与定位底座3在金属底盘1的上端绕金属底盘1的对称中心旋转，通过获取到的X射线全景图像调节聚焦定位模块2和定位底座3的角度，使定位钢珠I 203、定位钢珠II 204、定位钢珠III 205、定位钢珠IV 206、定位钢珠V 207在图像上沿一条垂线排列，此时此时聚焦定位模块2与定位底座3的角度是沿着X射线基准轴的，通过聚焦定位模块2在定位底座3上沿长轴方向滑动，来调节全景图像中定位钢珠I 203、定位钢珠II 204、定位钢珠III 205、定位钢珠IV 206、定位钢珠V 207的放大率使得定位钢珠III 205的横向与纵向放大率相等；

检测块I 5的下端与滑座301相滑配，且在检测块I 5前端面的左右两侧对称设有圆柱形孔状结构的检测孔502，其中，检测孔502的深度除以15mm即为该孔对应的低对比度分辨率；

检测块II 6的下端与滑座301相滑配，且在检测块II 6的中间均布设有球状结构的检测钢珠602，其中，通过图像调节好聚焦定位模块2的位置后，记录下聚焦定位模块2在定位底座3上的刻度即为口腔曲面体层X射线机聚焦层的位置，在此过程中保持定位底座3的角度不变，移走聚焦定位模块2，再分别将检测块I 5、检测块II 6放在定位底座3上对应刻度的位置上，即可进行后续的图像性能测试，而通过测量检测钢珠602在口腔曲面体层X射线机图像中的横向放大率与纵向放大率的标准差，可以计算设备的放大率一致性。

进一步的，定位底座3的上端设有与滑槽I 202相滑配的方形凸台结构的滑座301，且在定位底座3的下端设有与安装孔102相插配的圆柱形结构的导柱302，这种结构使得聚焦定位模块2与定位底座3可在金属底盘1的上端绕金属底盘1的对称中心旋转。

进一步的，定位底座3的侧边设有与金属底盘1的上端面相吸合的定位磁块4，定位磁块4的下端设有块状结构的磁座401，且在磁座401的上端固定连接有手柄402，当聚焦定位模块2与定位底座3的角度位置确认好后，将定位磁块4靠在定位底座3的一侧并使定位磁块4与金属底盘1的上端面吸合，进而保证定位底座3在金属底盘1上端面的角度不变。

进一步的，检测块I 5的主体为方形块状结构，且在检测块I 5的下端设有与滑座301相滑配的槽体结构的滑槽II 501，这使得检测块I 5可在定位底座3的上端沿定位底座3的角度方向左右移动，方便检测块I 5的检测。

进一步的，检测块II 6的主体为方形块状结构，且在检测块II 6的下端设有与滑座301相滑配的槽体结构的滑槽III 601，这使得检测块II 6可在定位底座3的上端沿定位底座3的角度方向左右移动，方便检测块II 6的检测。

进一步的，检测钢珠602的数量为七个，且检测钢珠602的直径为五毫米。

工作原理：聚焦定位模块2与定位底座3在金属底盘1的上端绕金属底盘1的对称中心旋转，通过获取到的X射线全景图像调节聚焦定位模块2和定位底座3的角度，使定位钢珠I 203、定位钢珠II 204、定位钢珠III 205、定位钢珠IV 206、定位钢珠V 207在图像上沿一条垂线排列，此时此时聚焦定位模块2与定位底座3的角度是沿着X射线基准轴的，通过聚焦定位模块2在定位底座3上沿长轴方向滑动，来调节全景图像中定位钢珠I 203、定位钢珠II 204、定位钢珠III 205、定位钢珠IV 206、定位钢珠V 207的放大率使得定位钢珠III 205的横向与纵向放大率相等，通过图像调节好聚焦定位模块2的位置后，记录下聚焦定位模块2在定位底座3上的刻度即为口腔曲面体层X射线机聚焦层的位置，在此过程中保持定位底座3的角度不变，移走聚焦定位模块2，再分别将检测块I 5、检测块II 6放在定位底座3上对应刻度的位置上，即可进行后续的图像性能测试，而通过测量检测钢珠602在口腔曲面体层X射线机图像中的横向放大率与纵向放大率的标准差，可以计算设备的放大率一致性。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。