用于射频电路测试的夹具的制作方法

本申请涉及射频电路测试领域，具体涉及一种用于射频电路测试的夹具。

背景技术：

随着人类社会进入信息化时代，无线通信技术有了飞速发展。手机、无线局域网、蓝牙等已成为社会生活和发展不可或缺的一部分。无线通信技术的进步离不开射频芯片和微波技术的发展。

射频芯片在研发过程中需要进行调试。目前，射频芯片调试的主要方法是将芯片焊接在测试板上，然后将测试板通过同轴连接线与电源相连，形成射频电路。通过对射频电路进行系统性能测试，类获取芯片的相关性能参数。

上述方法中存在的问题在于：一方面，同轴连接线的sma接头是损耗元器件，需要定期更换以保证测试的准确性；另一方面，电源线采用排线连接，频繁的测试插拔会造成线路接触不良，影响测试的稳定性；此外，测试板呈裸露状态，操作过程操作人员携带的静电有可能对射频电路和芯片造成破坏。

技术实现要素：

本申请旨在提供一种用于射频电路测试的夹具。将射频电路放置于夹具内，采用微带转波导接口替代同轴连接线进行信号输出。既可解决信号连接的问题，又可以提供屏蔽防护，从而保证射频电路测试的稳定性。

根据本申请的第一方面，提供一种用于射频电路测试的夹具，其特征在于，包括金属屏蔽盒和一对信号转换端口。所述金属屏蔽盒，包括第一盖板、第二盖板和侧壁，所述侧壁连接于所述第一盖板和第二盖板之间。所述一对信号转换端口，设置于所述侧壁上，包括通道和设置于所述通道端部的接口。

通过设置夹具，将射频电路放置在所述夹具内进行测试，通过信号转换端口进行信号输出，可解决信号连接的问题，并屏蔽外界的信号干扰。

根据本申请的一些实施例，所述金属屏蔽盒包括第一部分和第二部分。所述第一部分包括第一盖板和第一侧壁，所述第一侧壁设置于所述第一盖板周围。所述第二部分设置于所述第一部分上，包括第二盖板和第二侧壁，所述第二侧壁设置于所述第二盖板周围，所述第一侧壁与所述第二组壁上下贴合形成所述侧壁。

根据本申请的一些实施例，所述第一侧壁包括一组定位杆，所述第二侧壁包括一组定位孔，所述一组定位杆插入所述一组定位孔内。

通过在第一部分、第二部分上设置定位孔和定位杆，便于上下两部分的组装和定位。

根据本申请的一些实施例，所述第二部分还包括一组固定部件，设置于所述第二盖板上。

进一步地，所述一组固定部件包括一组固定杆。

通过在第二盖板上设置固定部件，当上下两部分闭合后，固定杆与被测电路板接触，对被测电路板起到固定作用，以保证测试过程中的电连接的稳定性。

根据本申请的一些实施例，所述夹具还包括一对电连接件，一端通过绝缘防护装置设置于所述第一盖板内，另一端突出所述第一盖板。

进一步地，所述第一盖板包括一对安装孔，所述绝缘防护装置设置于所述一对安装孔内，所述一对电连接件设置于所述绝缘防护装置内。

根据本申请的一些实施例，所述一对电连接件包括一对弹簧针。

被测电路板放置于第一盖板上，通过所述一对弹簧针与被测电路板的供电电极相接触，实现被测电路板与电源的连接。

根据本申请的一些实施例，所述夹具还包括一对电容，与所述一对电连接件相连。

进一步地，所述一对电容包括一对穿心电容，所述穿心电容的外电极通过螺纹连接于所述第一侧壁上，所述穿心电容的穿心内电极穿入所述第一盖板与所述一对电连接件连接。

外部电源系统通过穿心电容对被测电路板进行供电，可对供电信号起到滤波作用，进一步保证供电电源的稳定性。

根据本申请的一些实施例，所述第一部分包括第一凹槽和第二凹槽，分别于设置相对设置的第一侧壁上。

进一步地，所述第二部分包括第三凹槽和第四凹槽，分别于设置分别于设置于相对设置的第二侧壁上，所述第一凹槽、第二凹槽分别于所述第三凹槽、第四凹槽上下贴合，形成所述一对信号转换端口的所述通道。

根据本申请的一些实施例，所述第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽、第四凹槽包括z字形凹槽。

根据本申请的一些实施例，所述第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽、第四凹槽的外侧端部分别包括第一凸台、第二凸台、第三凸台、第四凸台。

进一步地，所述第一凸台、第二凸台分别与第三凸台、第四凸台贴合形成所述一对信号转换端口的所述接口。

通过一对信号转换端口可以将被测射频电路板的微带信号转换为波导信号并输出。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例。

图1示出根据本申请示例实施例的夹具外部结构示意图。

图2示出根据本申请示例实施例的第一部分结构示意图。

图3示出根据本申请示例实施例的第一部分结构局部示意图。

图4示出根据本申请示例实施例的穿心电容与电连接件局部示意图。

图5示出根据本申请示例实施例的第二部分结构示意图。

图6示出根据本申请示例实施例的被测射频电路板示意图。

图7示出根据本申请示例实施例的被测射频电路板安装示意图。

图8示出根据本申请示例实施例的测试方法流程图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例。提供这些实施例是为使得本申请更全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本申请的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本申请的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本申请的各方面。

本领域技术人员可以理解，附图只是示例实施例的示意图，可能不是按比例的。附图中的模块或流程并不一定是实施本申请所必须的，因此不能用于限制本申请的保护范围。

针对现有技术中，射频电路测试构成中存在的接头需定期更换、电源易接触不良以及静电干扰等问题，本发明人提出一种夹具。对射频电路进行测试时，将被电路板放置于夹具内，采用穿心电容与弹簧针结合的方式对被测电路进行供电，采用波导转微带接口替代同轴连接线进行信号输出。既可解决信号连接的问题，又可以解决供电线接触不良的问题，同时还可以提供静电防护，从而保证射频电路测试的稳定性。

以下将结合附图，对本申请的技术方案进行详细说明。

图1示出根据本申请示例实施例的夹具外部结构示意图。

如图1所示，根据本申请的第一方面，提供一种用于射频电路测试的夹具1000，包括第一部分100和第二部分200。第一部分100和第二部分200的材料为金属材料，例如黄铜、铝等。将被测电路板放置于金属材质的夹具1000内，能够对被测电路板起到屏蔽和保护作用。

第一部分100包括第一盖板110和第一组侧壁120。所述第一组侧壁120设置于所述第一盖板110周围。

第二部分200，设置于所述第一部分100上。第二部分200包括第二盖板210和第二组侧壁220。所述第二组侧壁220设置于所述第二盖板210周围。

所述第一组侧壁120与所述第二组侧壁220上下贴合，形成封闭空间。所述夹具1000还包括第一信号转换端口310和第二信号转换端口320，设置于所述封闭空间外侧。

第一部分100和第二部分200可以是完全分开独立的两个部分，也可以在一侧壁处铰接在一起。

参见图1，所述第一组侧壁120中相对设置的第一侧壁121和第二侧壁122上分别设置第一凸台125、第三凸台126。所述第二组侧壁220中相对设置的第三侧壁221和第四侧壁222上分别设置第二凸台225、第四凸台226。

根据本申请的一些实施例，所述第一凸台125、第二凸台126、第三凸台225、第四凸台226的形状可以是半圆形、半椭圆形、正方形或者长方形。相应地，形成的第一信号转换端口310和第二信号转换端口320的形状可以是圆形、椭圆形长方形或者正方形。但本申请并不限于此，具体的形状能够与外部接口的形状相匹配即可。

图2示出根据本申请示例实施例的第一部分结构示意图。

图3示出根据本申请示例实施例的第一部分局部结构示意图。

如图2所示，所述夹具1000还包括一对电连接件400，一端设置于所述第一盖板110内，另一端突出所述第一盖板110。所述第一盖板110上设置一对安装孔111。

如图3所示一对绝缘防护装置112设置于所述一对安装孔111内，所述一对电连接件400设置于所述绝缘防护装置112内。根据本申请的一些实施例，所述一对电连接件400可以是一对弹簧针。

参见图2，所述第一组侧壁120中相对设置的第一侧壁121和第二侧壁122上分别包括第一凹槽127和第二凹槽128。第一凹槽127和第二凹槽128的形状为z字形。

第一凹槽127和第二凹槽128的内侧一端与被测电路板的微带转波导结构相连，外侧一端分别为第一凸台125、第三凸台126。

根据本申请的示例实施例，如图2所示，所述第一组侧壁120上设置一组定位杆129。当第一部分100与第二部分200组装时，可以通过所述一组定位杆129进行定位。如图2所示，一组定位杆129的数量为4根、沿第一组侧壁120对角设置，但不申请不限于此。一组定位杆129的数量和位置满足第一部分100与第二部分200的组装要求即可。

如图2所示，根据本申请的示例实施例，所述夹具1000还包括一对穿心电容500。所述一对穿心电容500设置于所述第一部分100的第一组侧壁120上，穿入所述第一盖板110与所述一对电连接件400连接。例如，一对穿心电容500设置于第三侧壁123上，也可以设置在第四侧壁124上。

穿心电容500设置于外部电源与电连接件400之间，在电路板进行测试时起到进一步的滤波作用。根据本申请的一些实施例，也可以选用其他电容，满足滤波效果即可。

图4示出根据本申请示例实施例的穿心电容与电连接件局部示意图。

如图4所示，所述一对穿心电容500包括穿心内电极510和外电极520。所述穿心内电极510的一端穿入所述第一盖板110，分别与一对电连接400件连接。外电极520带螺纹，可以旋转固定在所述侧壁上。在测试过程中，一对穿心电容500与外部电源连接，一对电连接400件连接与被测电路板的供电电极连接，形成供电回路。

图5示出根据本申请示例实施例的第二部分结构示意图。

如图5所示，所述第二组侧壁220中相对设置的第一侧壁221和第二侧壁222上分别包括第三凹槽227和第四凹槽228。第三凹槽227和第四凹槽228的形状为z字形。

第三凹槽227和第四凹槽228的外侧一端分别为第三凸台225、第四凸台226。

第一部分100和第二部分200组装后，第一凸台125、第三凸台126分别与第三凸台225、第四凸台226贴合，第一凹槽127、第二凹槽128分别与第三凹槽227、第四凹槽228贴合，形成第一信号转换端口310和第二信号转换端口320。进行射频电路测试时，通过第一信号转换端口310和第二信号转换端口320将电路板产生的微带电信号转换成波导能量进行传输。

根据本申请的示例实施例，如图5所示，所述第二组侧壁220上设置一组定位孔229。当第一部分100与第二部分200组装时，可以通过所述一组定位孔229与第一部分100上的一组定位杆129进行配合定位。一组定位孔229的数量与一组定位杆129的数量相同。

参见图5，所述第二部分200还包括一组固定杆230，设置于所述第二盖板210上。第一部分100和第二部分200组装后，一组固定杆230与被测电路板接触，对被测电路板起到固定作用，以保证测试过程中的电连接的稳定性。根据本申请的示例实施例，一组固定杆230的数量为4根，但本申请不限于此，其数量能够满足被测电路板的固定需求即可。

图6示出根据本申请示例实施例的被测射频电路板示意图。

如图6所示，被测射频电路板700包括射频芯片710、一对微带转波导接头720，以及一对供电电极730。射频芯片710、微带转波导接头720供电电极730之间电连接。

图7示出根据本申请示例实施例的被测射频电路板测试安装示意图。

如图7所示，采用所述夹具对被测射频电路板700进行测试时，被测射频电路板700放置于第一部分100的第一空腔130内、第一盖板110上。一对微带转波导接头720分别放置于第一信号通道127和第二信号通道128的内侧一端。一对供电电极730分别于一对电连接400件相连。

图8示出根据本申请示例实施例的测试方法流程图。

如图8所示，使用上述夹具对射频电路进行测试的流程包括：

在步骤s1，被测电路板安置于第一部分内。被测电路板的供电电极与第一部分的一对电连接件接触。电路板的信号输出接头放置于第一部分的凹槽内。

在步骤s2，第二部分与第一部分组装将电路板固定。第一部分和第二部分通过定位孔和定位柱进行组装，一组固定柱将被测电路板固定，被测电路板与电连接件稳定连接。第一部分和第二部分上下贴合后，形成一对信号转换端口。

在步骤s3，通过一对信号转换端口连接外部信号端口。一对信号转换端口将被测电路板输出的微带信号转换为波导信号并通过外部信号端口将其输出。

在步骤s4：连接外部电源对穿心电容供电并开始测试。外部电源通过穿心电容对被测电路板进行供电。供电信号经过穿心电容的滤波后更加稳定。

需要说明的是，以上参照附图所描述的每个实施例仅用以说明本申请而非限制本申请的范围，本领域的普通技术人员应当理解，在不脱离本申请的精神和范围的前提下对本申请进行的修改或者等同替换，均应涵盖在本申请的范围之内。此外，除上下文另有所指外，以单数形式出现的词包括复数形式，反之亦然。另外，除非特别说明，那么任何实施例的全部或一部分可结合任何其它实施例的全部或一部分来使用。