本发明涉及一种显示装置，尤其涉及一种测量像素电压充电速率的显示装置。
背景技术：
一般薄型显示器的图像是通过显示不同灰阶度的多个像素(pixel)所形成，其通常是由栅极线(gateline)上的栅极驱动信号决定像素接收数据电压的时间，并由数据线传输数据电压至像素，以对像素充电而使其呈现对应显示数据的灰阶度。因此，像素的充电速率攸关显示器的显示质量，若像素的充电速率过慢将使得显示数据无法正确地被写入像素，也就是说像素无法显示正确的图像。
在面板制作阶段为了知悉面板像素的实际充电速率和仿真计算的结果是否匹配，必须对像素进行充电速率的测量。由于在进行像素的驱动时，个别像素上的电压变化很小，一般的电压测量装置并无法有效地进行测量，因此如何进行像素充电速率的测量为待解决的问题。
技术实现要素：
本发明提供一种显示装置，可便利且有效地进行像素充电速率的测量。
本发明的显示装置，包括显示面板以及驱动电路。显示面板包括多条栅极线以及多条数据线，显示面板具有显示区域以及非显示区域。非显示区域包括多个虚拟(dummy)像素，其配置于对应的栅极线与数据线交叉所形成的区域，至少部分的虚拟像素相互连接。驱动电路耦接显示面板，提供栅极驱动电压至与拟像素对应的栅极线，并提供测试数据电压至数据线，以使相互连接的虚拟像素反应测试数据电压产生充电速率测试信号。
在本发明的一实施例中，上述的驱动电路于测试期间提供栅极驱动电压与测试数据电压。
在本发明的一实施例中，上述的显示区域包括多个显示像素，其配置于栅极线与数据线交叉所形成的区域，驱动电路于帧期间依序驱动栅极线，并提供测试数据电压至数据线。
在本发明的一实施例中，上述的显示器装置的分辨率由虚拟像素与显示像素所对应的栅极线以及数据线定义。
在本发明的一实施例中，上述的显示装置还包括放大电路，其输入端耦接相互连接的虚拟像素至少其一，放大电路的输出端耦接测试接点，放大电路放大充电速率测试信号，以在测试接点产生放大测试信号。
在本发明的一实施例中，上述的放大电路包括运算放大器，其正输入端接收充电速率测试信号，运算放大器的负输入端与输出端相耦接。
在本发明的一实施例中，上述的放大电路整合于显示面板内。
在本发明的一实施例中，上述相互连接的虚拟像素的其中一个具有一测试接点，相互连接的虚拟像素通过测试接点输出充电速率测试信号。
在本发明的一实施例中，上述的测试数据电压用以驱动虚拟像素显示最小灰阶值。
在本发明的一实施例中，上述的测试数据电压为15伏特。
基于上述，本发明实施例通过将非显示区域的多个虚拟像素相互连接，并提供栅极驱动电压以及测试数据电压给相互连接的虚拟像素，可使相互连接的虚拟像素反应测试数据电压提供电压值足够大的充电速率测试信号，而可便利且有效地进行像素充电速率的测量。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
附图说明
图1显示本发明一实施例的显示装置的概要示意图；
图2显示图1实施例的显示装置的栅极驱动电压以及数据测试电压的波形示意图；
图3显示本发明另一实施例的显示装置的概要示意图；
图4显示图3实施例的显示装置的栅极驱动电压以及数据测试电压的波形示意图。
附图标记：
100、300：显示装置；
102：显示面板；
104：驱动电路；
gl1：栅极线；
dl1：数据线；
p1～p10：虚拟像素；
dp1：显示像素；
da1：显示区域；
fa1：非显示区域；
op1：运算放大器；
s1：充电速率测试信号；
s1’：放大测试信号；
sg1、sg2：栅极驱动电压；
sd1：数据测试电压；
t1、t2：测试期间。
具体实施方式
图1显示本发明一实施例的显示装置的概要示意图。请参考图1，显示装置100包括显示面板102以及驱动电路104，驱动电路耦接显示面板102。显示面板102可为硬式显示面板或是软性显示面板，例如a-sitft显示面板、otft显示面板或oled显示面板…等等，其包括多条栅极线gl1、多条数据线dl1、多个虚拟像素(如p1～p5)以及多个显示像素dp1。显示面板102具有显示区域da1以及非显示区域fa1(图1所示的斜线区域)，其中虚拟像素位于非显示区域fa1中，且配置于对应的栅极线gl1与数据线dl1的交叉处而与对应的栅极线gl1与数据线dl1连接。为保持图示简洁以及易于说明，在图1中仅标示出5个虚拟像素p1～p5以及1个显示像素dp1，而未对其它的虚拟像素以及显示像素进行标示。此外，须注意的是，虚拟像素以及显示画数dp1的个数并不以图1实施例所示为限。
在本实施例中，虚拟像素p1～p5相互连接(例如通过像素电极进行连接，在图1中，以虚线隔开两个虚拟像素表示此两个虚拟像素相互连接，例如虚拟像素p1与p2相连接)，而形成虚拟像素串，驱动电路104可提供栅极驱动电压以及测试数据电压至栅极线gl1以及数据线dl1，以使相互连接的虚拟像素p1～p5反应测试数据电压而产生充电速率测试信号s1。其中，由于一般在显示面板中虚拟像素并不参与显示，因此虚拟像素p1～p5的栅极驱动电压须额外提供，其可例如利用驱动电路104(如驱动芯片)上剩余的输出引脚来提供。另外，测试数据电压可用以驱动虚拟像素显示最小灰阶值(例如黑色)，在部分实施例中以可显示最大的灰阶值或特定的灰阶值，测试数据电压的电压值可例如为15伏特，但不以此为限。此外，相互连接的虚拟像素p1～p5的其中一个可具有测试接点(在本实施例中测试接点的可例如为虚拟像素p1的像素电极，但不以此为限)，相互连接的虚拟像素p1～p5可通过测试接点输出充电速率测试信号s1。
充电速率测试信号s1用以反应虚拟像素p1～p5被测试数据电压充电的速率，举例来说，可依据虚拟像素p1～p5在接收测试数据电压后的一段默认期间内虚拟像素p1～p5的电压是否能上升至一默认电压，若是，则代表虚拟像素p1～p5的充电速率符合要求。由于虚拟像素p1～p5与显示像素dp1的工艺与结构相同，因此虚拟像素p1～p5与显示像素dp1的充电特性也相同，虚拟像素p1～p5的充电速率符合要求，代表显示像素dp1的充电速率也符合要求，而可正确地显示数据所对应的图像画面。
由于充电速率测试信号s1为由串接的虚拟像素p1～p5提供，因此充电速率测试信号s1的电压值及电压变化幅度将明显大于单一虚拟像素所能提供的电压值及电压变化幅度，因此可解决电压测量装置因待测电压过小而无法进行测量的问题，且通过将测量结果除以串接的虚拟像素个数即可得知单一个虚拟像素的平均电压变化值。
在部分实施例中，若欲再提高充电速率测试信号s1的电压值，可通过与测试接点耦接的放大电路106来放大充电速率测试信号s1以产生放大测试信号s1’，再将其输出至电压测量装置，例如示波器，以便于判断虚拟像素p1～p5的充电速率。其中放大电路106可例如以运算放大器op1来实施，如图1所示运算放大器op1的正输入端耦接虚拟像素p1上的测试接点，负输入端则与运算放大器op1的输出端相互耦接。值得注意的是，在部分实施中，放大电路106也可整合于显示面板内，放大电路106的输入端可例如与虚拟像素p1耦接，而输出端则作为测试接点以便于与电压测量装置连接。
值得注意的是，驱动电路可在特定的测试期间进行。图2显示图1实施例的显示装置的栅极驱动电压以及数据测试电压的波形示意图。其中，栅极驱动电压sg1为虚拟像素p1～p5所对应的栅极在线的电压，而栅极驱动电压sg2为与虚拟像素p1～p5相邻的显示像素所对应的栅极在线的电压，为保持图标简洁，在此不再绘示其它栅极在线的栅极驱动电压，另外数据测试电压sd1则为数据线dl1上的电压。如图2所示，驱动电路104可仅在帧期间f1中的一段测试期间t1提高栅极驱动电压sg1与数据测试电压sd1的电压电平，以对虚拟像素p1～p5进行充电速率的测试。类似地，在帧期间f2也仅在测试期间t2进行对虚拟像素p1～p5进行充电速率的测试。
图3显示本发明另一实施例的显示装置300的概要示意图。本实施例与图1实施例的不同之处在于，图1实施例仅将部分的虚拟像素(p1～p5)进行串接，而本实施例则将非显示区域fa1所有的虚拟像素(p1～p10)串接。也就是说虚拟像素的串接个数并不以图1实施例或本申请实施例为限，随着虚拟像素串接个数的增加，充电速率测试信号s1的电压值及电压变化幅度将越大，而越利于电压测量装置进行测量。此外，在部分实施例中，也可将显示面板102设计为分辨率由虚拟像素与显示像素dp1定义。例如假设显示面板102的原分辨率为1024x786，若虚拟像素对应2条栅极线，可将显示面板102设计为分辨率为1024x788的面板，也就是说不利用驱动电路104上剩余的输出引脚来驱动虚拟像素，直接将驱动电路104设计为负责驱动788条栅极线的电路，而不使用驱动电路104的预留引脚。类似地，本实施例也由虚拟像素p1上的测试接点来输出充电速率测试信号s1，且充电速率测试信号s1也可如图1实施例由放大电路106进行放大，其进一步实施方式在此不再赘述。
图4显示图3实施例的显示装置的栅极驱动电压以及数据测试电压的波形示意图。在本实施例中，驱动电路104可在帧期间f1以及f2依序地驱动虚拟像素以及显示像素dp1的栅极线，并持续地将数据测试电压sd1维持在高电压电平，使驱动虚拟像素与显示电路皆显示最低灰阶度的图像，而不限于仅在图2的测试期间t1、t2将数据测试电压sd1维持在高电压电平。
综上所述，在本发明的范例实施例中，通过将非显示区域的多个虚拟像素相互连接，并由驱动电路提供栅极驱动电压以及测试数据电压给相互连接的虚拟像素，可使相互连接的虚拟像素反应测试数据电压提供电压值足够大的充电速率测试信号，而可便利且有效地进行像素充电速率的测量。
虽然本发明已以实施例揭示如上，但其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的改动与润饰，故本发明的保护范围当视所附权利要求界定范围为准。