一种基于反射式空间光调制器的笼式多功能光学实验设备、系统的制作方法

文档序号:13935609阅读:280来源:国知局

本申请涉及光学实验技术领域,具体涉及一种基于反射式空间光调制器的笼式多功能光学实验设备,还涉及一种基于反射式空间光调制器的笼式多功能光学实验系统。



背景技术:

传统的光学实验都是通过独立的系统完成,许多实验所用的器件都是很多年前的,缺乏实时调节性及智能性。一些现代化的光学设备价格昂贵,且自动化程度太高,供学生操作的空间不够,并不适合于学生的训练,而且大多设备都只支持完成一种实验,要想让学生掌握光学方面的综合知识,学校必须采购大量的设备,这也使得学校采购设备成本大幅增加。总而言之,现有技术中光学实验设备落后、器具杂散、而且综合性能不高。

为了深化教学改革,培养适应新世纪需要的高素质人才,使学生毕业后能带头运用高新技术,参与国际竞争,普物实验内容的现代化改革势在必行。因此,有必要提供一种新的实验系统。



技术实现要素:

基于此,有必要针对上述问题,提供一种基于反射式空间光调制器的笼式多功能光学实验设备、系统,以解决现有技术中光学实验设备落后、器具杂散、综合性能不高等问题,能够较大限度地提高光学实验设备的使用性能,而且集成度高、利用整理以及进行教学实验,操作简单且成本较低。

一种基于反射式空间光调制器的笼式多功能光学实验设备,所述光学实验设备包括:

光源组件,用于设置光源;

光反射组件,与所述光源组件对应间隔设置,用于设置反射镜并通过所述反射镜对来自光源的光进行反射传输;

扩束器组件,与所述光反射组件间隔设置、并位于所述光反射组件对光进行反射传输的路径上,用于设置扩束器并通过扩束器对反射镜反射传输的光进行扩束、滤波处理;

起偏器组件,与所述扩束器组件间隔设置,用于设置起偏器并通过起偏器对经过扩束器扩束、滤波处理的光进行处理以得到偏振光;

分光组件,与所述起偏器组件间隔设置,用于设置分光棱镜并通过分光棱镜对所述偏振光进行分光处理;

光学处理分析组件,与所述分光组件间隔设置,用于设置空间光调制器,以及用于设置检偏器、功率计、拍摄装置、光学狭缝、光学网格、观察屏、聚焦镜、对准板、反射镜和衰减片的至少其中之一;

笼式组装件,用于将所述光源组件、光反射组件、扩束器组件、起偏器组件、分光组件和光学处理分析组件进行可拆卸式组装成一体。

一种笼式多功能光学实验系统,其包括上述的光学实验设备,所述光学实验设备用于配置不同的光学元件,以进行结构测量、振幅调制、偏振态的调制、实时图像变换、talbot影像、像素大小的测量、空间滤波器、空间滤波实验、成像与投影、双缝干涉、衍射、双缝干涉法研究slm的相位调制特性、迈克尔逊干涉、数字全息再现、移相式数字全息、菲涅尔透镜、中空光束、光束变换、平面波与其他波形的干涉或色散的多种光学实验。

上述笼式多功能光学实验设备、系统,通过设置的光源组件、光反射组件、扩束器组件、起偏器组件、分光组件、光学处理分析组件等,利用空间光调制器、以及检偏器、功率计、拍摄装置、光学狭缝、光学网格、观察屏、聚焦镜、对准板、反射镜和/或衰减片等进行多种光学实验。本申请通过笼式组装件将上述多种组件可拆卸式组装成一体,集成度高、操作简单且成本较低,设备可靠不易损坏。同时,本申请能够较大限度地提高光学实验设备的使用性能,可简单方便地进行各种实验,能很好的锻炼学生的动手能力,学生可以自由改变各种光学元件。

附图说明

图1为一实施例中笼式多功能光学实验设备的结构示意图,其中,还显示了多种光学元件。

具体实施方式

请参阅图1,图1为一实施例中笼式多功能光学实验设备的结构示意图,本实施例的笼式多功能光学实验设备,包括但不限于光源组件10、光反射组件(未标示)、扩束器组件(未标示)、起偏器组件40、分光组件50、光学处理分析组件、笼式组装件以及笼板组件41。

需要说明的是,以某一使用光源100的实验为例,本实施例的多功能光学实验设备的工作原理包括如下。

所述光源组件10用于设置光源100;

所述光反射组件与所述光源组件10对应间隔设置,用于设置反射镜并通过所述反射镜对来自光源100的光进行反射传输;

所述扩束器组件与所述光反射组件间隔设置、并位于所述光反射组件对光进行反射传输的路径上,用于设置扩束器并通过扩束器对反射镜反射传输的光进行扩束、滤波处理;

所述起偏器组件40与所述扩束器组件间隔设置,用于设置起偏器并通过起偏器对经过扩束器扩束、滤波处理的光进行处理以得到偏振光;

所述笼板组件41,与所述扩束器组件中的用于设置小孔滤波器的x-y平移调整架间隔设置,用于在必要时增减光学元件,包括透镜,光学网格等。

所述分光组件50与所述起偏器组件40间隔设置,用于设置分光棱镜并通过分光棱镜对所述偏振光进行分光处理;

所述光学处理分析组件与所述分光组件50间隔设置,用于设置空间光调制器(slm,spatiallightmodulator)61,以及用于设置检偏器、功率计、拍摄装置、光学狭缝、光学网格、观察屏、聚焦镜、对准板、反射镜和衰减片的至少其中之一;

在本实施例中,所述笼式组装件用于将所述光源组件10、光反射组件、扩束器组件、笼板组件41、起偏器组件40、分光组件50和光学处理分析组件进行可拆卸式组装成一体。

在本实施例中,所述光源组件10可以为l型固定架的方式,光源100可以采用激光光源。

如图1所示,本实施例所述光反射组件采用了两次反射的方式,而使得光的传输途径发生了180°的改变,当然,在其他实施例中,也可以只采用一次发射的方式。

具体而言,所述第一光学调整架21为直角光学调整架,其上可以设置第一反射镜210,并通过所述第一反射镜210改变来自光源100的光的传输路径。

同理,所述第二光学调整架22也可以为直角光学调整架,与所述第一光学调整架21连接设置并邻接所述扩束器组件,用于设置第二反射镜220并通过第二反射镜220对来自所述第一光学调整架21的第一反射镜210的光进行二次反射。

在所述光反射组件的具体连接过程中,所述笼式组装件包括多根第一笼杆91,第一笼杆91的一端连接所述第一光学调整架21,第一笼杆91的另一端连接所述第二光学调整架22。在优选的实施例中,所述笼式组装件还包括多个柱状接杆套件910,嵌设于所述第一光学调整架21的多个几何边角位置,用于实现所述第一笼杆91的一端与所述第一光学调整架21的紧固连接、并通过顶丝固定。

需要说明的是,本实施例所述笼式组装件还包括多根第二笼杆92,用于依序将所述第二光学调整架22、所述扩束器组件、所述笼板组件41、所述起偏器组件40和所述分光组件50依次连接。

其中,所述扩束器组件包括依序设置的第一笼板31、第二笼板32和第三笼板33,所述第一笼板31与所述第二光学调整架22邻接,用于设置扩束器的第一透镜;所述第二笼板32与所述第一笼板31邻接,用于设置扩束器的小孔滤波器;所述第三笼板33与所述第二笼板32邻接,用于设置扩束器的第二透镜。

需要说明的是,本申请优选地采用开普勒式扩束器,在其他实施例中也可以采用伽利略式扩束器,在此不作细述。

在优选的实施例中,所述多根第二笼杆92依序依次连接所述第一笼板31、第二笼板32和第三笼板33调节好位置后用顶丝固定,以实现位置的可调、固定。

为了实现实验的误差调整、或者实验校准,本实施例所述笼式组装件还包括二维调整架320,设置于所述第二笼板32上,用于调节小孔滤波器的位置。

所述起偏器组件40可以采用螺纹笼板或者笼式旋转安装座的方式,其上设置起偏器400并通过起偏器400对经过扩束器扩束、滤波处理的光进行处理以得到偏振光。

在本实施例中,如图1所示,所述光学处理分析组件至少包括四维调整架62、第三光学调整架63和多块笼板64。所述四维调整架62与所述分光组件50邻近设置,用于设置所述空间光调制器61,并可调整所述空间光调制器61的四维方向;所述第三光学调整架63与所述分光组件50连接设置,用于设置反射镜;所述多块笼板64,与所述分光组件50连接设置,用于设置检偏器、功率计、拍摄装置、光学狭缝、光学网格、观察屏、聚焦镜、对准板和衰减片的至少其中之一。需要说明的是,检偏器、功率计、拍摄装置、光学狭缝和观察屏可以单独设置,在此不作限定。

举例而言,在搭建实验过程中,譬如搭建检偏器640、用于设置检偏器640的笼式旋转安装座641、第三反射镜630以及观察屏642等。

在本实施例中,所述笼式组装件还可以包括多根第三笼杆93、多根第四笼杆94和多根第五笼杆95。所述多根第三笼杆93用于实现所述第三光学调整架63与所述分光组件50的连接;所述多根第四笼杆94,用于依次连接所述多块笼板64并实现所述多块笼板64与所述分光组件50的连接;所述多根第五笼杆95,与所述第一光学调整架21顶丝连接,用于设置并固定所述光源组件10,当然,在其他实施方式中也可以用于增减设置其他光学元件。

需要说明的是,所述多根第三笼杆93与所述第三光学调整架63之间可以通过柱状接杆套件930或者螺纹实现固定连接,所述多根第四笼杆94与所述多块笼板64之间依次连接,所述多根第四笼杆94与所述分光组件50之间通过顶丝固定连接。

在本实施例中,所述笼式组装件还可以包括支撑架96,用于支撑所述光学实验设备并调整其高度位置。

具体而言,所述支撑架96可以包括多个固定安装架960和多个插入式压块961,以分别支撑不同的组件。其中,固定安装架960可以为笼式安装架,其可以采用30厘米、20厘米或者40厘米的高度不等。

需要说明的是,本实施例可以在第二笼杆92上设置更多的笼板组件41进行备用,以进行不同的实验。

此外,本实施例的第一笼杆91、第二笼杆92、第三笼杆93、第四笼杆94和第五笼杆95的数目均可以为三根、四根、五根或者六根等,优选为四根并围绕呈笼式设置,而将其他组件都形成于笼中。此外,第一笼杆91、第二笼杆92、第三笼杆93、第四笼杆94和第五笼杆95的长度可以根据实际光学实验的需要而设置不同的长度,比如,第一笼杆91可以为10厘米、第二笼杆92可以为30厘米、第三笼杆93为5厘米、第四笼杆94为10厘米而第五笼杆95为5厘米;当然,也可以按照此比例进行分别调整设置,在此不作限定。

本实施例的拍摄装置可以采用ccd图像传感器,ccd(charge-coupleddevice,电荷耦合元件)。

本申请通过笼式组装件将上述多种组件可拆卸式组装成一体,集成度高、利用整理以及进行教学实验,操作简单且成本较低,设备可靠不易损坏。

本申请还提供一种笼式多功能光学实验系统,其任一上述实施例所述的光学实验设备,所述光学实验设备用于配置不同的光学元件,以进行结构测量、振幅调制、偏振态的调制、实时图像变换、talbot(泰伯效应)影像、像素大小的测量、空间滤波器、空间滤波实验、成像与投影、双缝干涉、衍射、双缝干涉法研究slm的相位调制特性、迈克尔逊干涉、数字全息再现、全息记录与再现、移相式数字全息、菲涅尔透镜、中空光束、光束变换、平面波与其他波形的干涉或色散的多种光学实验。

本申请能够较大限度地提高光学实验设备的使用性能,可简单方便地进行各种实验,能很好的锻炼学生的动手能力,学生可以自由改变各种光学元件。

下面将结合其中几个实验以对本申请作具体说明。

首先,进行光路调节:

1、在第一光学调整架21前放置对准板,光打至对准板靶面;用光源组件10连接激光光源,调整激光光源的高度使光斑恰好通过对准板的中心,将光源组件10固定在光学平台上。

2、再将对准板放在第二光学调整架22后(定义此位置为近场),调整第一光学调整架21后面的手轮,使得光斑恰好通过对准板中心。

3、将第二笼杆92的光学元件全部滑动至分光组件50一侧,再将对准板放置在紧挨着扩束器中第一透镜的右侧(图1所示的右侧为右、左侧为左,并定义此位置为远场),调节第二光学调整架22后的手轮,使光斑恰好通过对准板。

4、再把对准板放置在近场,调节第一光学调整架21的调节手轮,使光斑通过对准板中心,对准板放置在远场,调节第二光学调整架22的调节手轮,使光斑通过对准板中心,重复这个过程,直到光斑在近场和远场都恰好通过对准板中心。

5、然后再将第二笼杆92的光学元件分开。扩束器中小孔滤波器和第一透镜移到第二笼杆92的右侧,并靠近,使得小孔滤波器处于光斑聚焦的位置,在小孔滤波器后放小纸片,调节小孔滤波器上的x平移和y平移手轮,使得小纸片上光最强,此时通过旋转扩束器中的第一透镜微调透镜的位置,直到小纸片上光最强,微调小孔滤波器上的x平移和y平移,使得通过小孔滤波器的光斑亮度最亮且均匀,并且无衍射。

6、将对准板放在分光组件50前,微调第二光学调整架22和二维调整架320,使得光斑正好处于对准板中央,移动扩束器中第二透镜的位置,通过观察观察屏642上光斑的大小将光斑调成平行光束,使其既不发散也不汇聚。

至此,完成光路调节。

几个实验的操作过程如下,其中,为方便描述,slm即为空间光调制器61。

(实验一)结构测量:

1、搭建光路,借助对准板将激光光源的出射光调至光路的中心。方法为微调激光光源的俯仰,使得激光在激光光源后及slm前都能够正好通过对准板的中心。微调slm的俯仰,将对准板放置在第四笼杆上,使得光束正好通过对准板中心。功率计设置在第四笼杆之后。

2、slm不通电。

3、激光光源出射的光斑直接打在slm上,用观察屏642接收反射光斑。用卷尺测量slm到分光棱镜的距离,分光棱镜到观察屏642的距离,0级和1级衍射光之间的距离b,计算像素大小。

4、用功率计测量0级和1级衍射光的功率,计算开口率的大小。

(实验二)振幅调制(一):

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上只设置检偏器和功率计,本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、第一步寻找配向角。slm启动,去掉检偏器,选择相位调制菜单下的迈克尔逊干涉实验,调节灰度1,直到在观察屏642上观察到的反射光斑中间有一条清晰的分界线,旋转起偏器400,直到中间分界线看不清楚,此时调节灰度1和灰度2会发现观察屏642上光斑的左右两部分亮度都不变化,此时记录起偏器的角度即为配向角,配向角大约在45度附近。

3、接下来光路中加入检偏器,注意检偏器的方向(零刻度线在左侧),光从可旋转面入射,将起偏器400角度旋转为配向角减去45°,检偏器角度旋转为配向角加上45°,此时slm处于振幅调制状态。

4、选择振幅调制菜单下的振幅调制(一)实验,改变灰度值,在观察屏642上观察光斑的亮度,微调起偏器400和检偏器角度使得出射光在灰度为0和255时最暗,此时灰度从0到255变化,光斑强度会以最暗到最亮再到最暗的趋势变化,此时表明起偏器400和检偏器角度调整合适。

5、在检偏器后方固定功率计的探头,调节高度使得光斑正好打在功率计探头的中心。灰度值每隔10改变一次,用功率计测量出射光的功率变化(值稳定后再读数),并记录,并绘制功率随灰度的变化曲线。记录光强最强和最弱时对应的灰度值,为以后做其他振幅调制实验做准备。

(实验三)振幅调制(二):

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、启动slm,旋转起偏器400与检偏器使得slm工作在振幅调制状态(参考实验二的方法及结果)。

3、在检偏器后方固定ccd,注意光斑的中心打至ccd镜头的中心,连接ccd数据线。

4、选择振幅调制菜单下的振幅调制(二)实验,改变灰度值,调整ccd软件中的曝光时间,使得光强最强时,没有达到饱和状态,灰度值每隔10用ccd拍摄当前的光强度图片,并分别保存,命名方式最好以当前的灰度值命名。

5、将保存的ccd采集的图片导入多功能光学教学系统软件中,计算导入图片的平均灰度值,并记录,绘制输出光灰度随slm上输入图像灰度的变化曲线。

(实验四)偏振态的调制:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及观察屏642,本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、起偏器400角度调至振幅调制时的角度。slm不通电,旋转检偏器,直到观察屏642上光斑强度最大,记录检偏器角度。

3、启动slm,选择振幅调制菜单下的偏振态的调制实验,灰度值设置为0,旋转检偏器,至观察屏642上的光斑强度最大,记录此时检偏器的角度。灰度值每增加30,旋转检偏器,至观察屏642上的光斑强度最大,记录检偏器的角度,直到灰度值调至255,测试结束。测试3次,求检偏器角度的平均值,记录数据。

4、测试结束后拿检偏器角度减去起偏器400角度,得出入射光偏振方向的改变量,最后绘制出偏振态随灰度值的变化曲线,值得注意的是如果检偏器角度大于180度,则用读取的数据减去180度记为检偏器的角度。

(实验五)实时图像变换:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器和观察屏642,本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、旋转起偏器400及检偏器使slm工作在振幅调制状态(参考实验二的方法及结果)。

3、选择振幅调制下的实时图像变换实验,选择图像1,通过操作软件中的大小、xy偏移参数设置图像,调节灰度1和灰度2,使得观察屏上观察到的图像对比度最高,记录检偏器的角度。

4、旋转检偏器,至观察屏642上出现边缘增强的微分图像,记录检偏器的角度。

5、接着旋转角度,至观察屏642上出现对比度相反的图像,也就是负像,记录检偏器的角度。

6、针对图像2可再做一次实验。

7、将两幅图像进行相加或相减,观察图像的变化。

(实验六)talbot影像:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在振幅调制状态(参考实验二的方法及结果)。

3、操作软件中选择振幅调制菜单下的talbot影像实验,调节灰度1和灰度2,使得灰度1处光最强,灰度2对应的光最弱。

4、保持灰度1和灰度2不变,设定缝宽和周期值,连接ccd,开启ccd应用软件,调节ccd的高度使得ccd镜头中心与光斑的中心高度相等,前后移动ccd,分别寻找该光栅的清晰像,对比刚好相反的像以及周期变为一半且对比度降低的影像,保存图片,测量slm到像之间的距离,并记录在表格中。这个位置包含slm到分光棱镜中心的距离,分光棱镜中心到ccd镜头的距离,并需要减掉ccd镜头的成像距离。

5、控制缝宽不变,改变周期,多做几组实验,并总结规律。控制周期不变,改变缝宽,观察talbot影像的位置有无影响。

(实验七)像素大小的测量:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器、并在螺纹笼板41上设置聚焦镜)、起偏器400、在多块笼板64上设置对准板以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、小孔滤波器后面的笼板上加焦距为75毫米的聚焦镜。在分光棱镜前设置对准板,移动聚焦镜,使得入射光在分光棱镜前聚焦,且焦点正好通过对准板的中心,如果不能通过,则微调第二光学调整架22的手轮和小孔滤波器上的二维调整架320。

3、slm无需通电,起偏器400角度随意。测量slm液晶光阀距离对准板的距离d。

4、调节ccd的位置,直到看到清晰的液晶像素的talbot图像,保存图像并记录ccd距slm的距离z1,此距离应该包含两部分,一部分是slm液晶光阀距离分光棱镜中心的距离a,一部分是ccd镜头距离分光棱镜中心的距离b,并且需要减掉ccd镜头的成像距离c。

5、向后移动ccd,直到再次看到清晰的talbot图像,保存图像并记录ccd距slm的距离z2。

6、再次移动ccd,直到再出现清晰的talbot图像,保存图像并记录ccd距slm的距离z3。

7、根据记录的几组数据,ccd镜头的成像距离,以及ccd采集到图像中n个液晶像元的大小,计算slm的像素大小,计算时,可多取几个像素,多算几组,以此减小误差。

(试验八)空间滤波器:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器、并在螺纹笼板41上设置聚焦镜、在小孔滤波器和聚焦镜之间设置十字的光学网格)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器、聚焦镜以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光,ccd采集信号。

2、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在振幅调制状态。

3、操作软件中选择振幅调制菜单下的空间滤波器实验。空间滤波器后面的笼板上先不加聚焦镜和光学网格,选择光学单缝,调节灰度1和灰度2,使得入射光通过slm后恰好使得光学单缝处光透过,其他部分光挡掉。加上聚焦镜和光学网格,移动光学网格使得网格的频谱恰好落在液晶面板上,可以通过在ccd中观察,前后微调光学网格位置,ccd中成的像最清晰时频谱就落在液晶面板上了。

4、旋转光学网格,使得ccd中观察到的光学网格保持水平或垂直。调节软件中的缝宽和y平移,直到ccd中观察到清晰的横向滤波后的图像,保存图像,这就是横向滤波。改变角度,配合x平移与y平移,用ccd采集纵向滤波,斜45度滤波后的信号。

5、低通和高通实验类似,低通滤波是在操作软件中选择圆孔,灰度1和灰度2调成与加载光学单缝时相同。将孔大小调大,寻找液晶面板上0级频谱的位置,接着配合二维调整架320,调整孔的大小,使得入射光的0级频谱恰好通过小孔滤波器的中心,用ccd采集滤波后的信号;

6、高通滤波是在操作软件中选择圆斑,灰度1和灰度2调成与加载单缝时相反,即出射光斑变为圆斑处暗,四周亮,将孔大小以及x平移、y平移设置成与低通滤波一样的数值。此时,圆斑恰好挡住入射光的0级频谱,用ccd采集高通滤波后的信号,保存图像。

(实验九)空间滤波实验:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器、第一个聚焦镜、光学狭缝、第二个聚焦镜以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、调整第一个聚焦镜的位置,使得slm处于第一个聚焦镜的前焦面上,将第二个笼板移动到第一个聚焦镜的后焦面上,调整第二个聚焦镜的位置,使得光学狭缝处于第二个聚焦镜的前焦面上。

3、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在振幅调制状态。

4、操作软件中选择空间滤波实验。改变灰度1和灰度2使得产生的网格亮暗对比度最高。

5、小孔滤波器。设置缝宽和周期(周期不能太大),将对准板放置在第一透镜的后焦面上,微调slm的俯仰,直至0级光的焦点正好通过对准板的中心,用ccd采集信号。

6、拿掉对准板,加上光学狭缝,微调光学狭缝位置使得光学狭缝处于第一个聚焦镜的后焦面上,旋转光学狭缝,分别用ccd拍摄0°,45度,90°以及负45度滤波的图像并保存,观察各种滤波情况下图样的区别。可以改变缝宽、周期,多做几组实验。

(实验十)成像与投影:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器、第一个聚焦镜、对准板、第二个聚焦镜以及观察屏642,本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、第一聚焦镜为短焦透镜,移动第一聚焦镜使得液晶面板处于这个短焦透镜的前焦面上,微调slm的俯仰,直至0级光的焦点正好通过对准板的中心,再在对准板后方放置第二个聚焦镜(短焦透镜),移动第二个聚焦镜使得对准板处于第二个聚焦镜的前焦面上,在第二个聚焦镜的后焦面上放置观察屏642。

3、启动slm,旋转起偏器400及检偏器使slm工作在振幅调制状态。

4、在操作软件中选择振幅调制下的成像与投影实验,在操作软件右侧的图像区域点击鼠标左键输入文字或字母,输入完成后点击左键获得图像,可以在软件中调节字的大小及位置,获得文字图像后调节灰度1和灰度2,微调光路使得观察屏642上观察到的图像对比度最好。

5、这样生成的图像较小,为了便于观察,也可以去掉第二个聚焦镜在观察屏642上观察放大的像。

(实验十一)双缝干涉:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器、聚焦镜以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、ccd采集干涉条纹。

3、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在振幅调制状态。

4、在操作软件中选择振幅调制菜单下的双缝干涉实验,将缝宽调大,调节灰度1和灰度2使得在观察屏642上观察到双缝的对比度最高,也就是缝最亮,其余地方光最弱。

5、调节双缝间隔,及缝宽,用ccd采集干涉条纹并保存,改变双缝间距多做几组实验。在双缝间距很小的时候用肉眼也可以看到清晰的干涉条纹。

(实验十二)衍射:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器、聚焦镜以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。聚焦镜的焦距为75毫米,ccd用于采集干涉条纹。

2、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在振幅调制状态。

3、操作软件中选择振幅调制菜单下的衍射实验,选择单缝,将缝宽调大,调节灰度1和灰度2使得在观察屏642上观察到双缝的对比度最高,也就是缝最亮,其余地方光最弱。

4、保持灰度1和灰度2不变,调节缝宽,用ccd采集衍射条纹并保存,改变缝宽,用ccd采集不同缝宽情况下的衍射条纹。

5、同样的道理完成圆孔、光栅及其他规则图形的衍射实验(保持灰度1和灰度2与单缝衍射时相同)。

(实验十三)双缝干涉法研究slm的相位调制特性:

1、光路包括激光光源、衰减片、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在振幅调制状态。

3、操作软件中选择振幅调制菜单下的双缝干涉法研究slm的相位调制特性实验。将缝宽调大,改变灰度2和灰度3,使得透过单缝的光最亮,其他地方光最暗。

4、将灰度1调至0,改变操作软件中的y平移,直到在ccd中正好采集到灰度变化的地方。设定缝宽和间距(间距尽量设置在10以内),用ccd拍摄干涉条纹,灰度1从何灰度2一样的值开始改变,用ccd采集干涉条纹,灰度每隔30采集一次干涉条纹,并保存。

(实验十四)迈克尔逊干涉:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及拍摄装置(如ccd),本实验需要第三光学调整架63及其第三反射镜630。

2、第一步是寻找配向角。slm正常启动,去掉检偏器400,操作软件中选择相位调制菜单下的迈克尔逊干涉实验,调节灰度1,至在观察屏642观察到的反射光斑中间有一条清晰的分界线,旋转起偏器400,直到中间分界线看不清楚,此时调节操作软件中的灰度1和灰度2会发现观察屏642上光斑的左右两部分亮度都不变化,此时记录起偏器400的角度即为配向角(配向角约在45°附近)。加上检偏器,旋转检偏器至和起偏器400一样的角度。

3、启动slm,打开软件,选择迈克尔逊干涉实验,在检偏器后面放置对准板,用观察屏642观察,调节slm和第三反射镜630的调节手轮,使得经slm和第三反射镜630反射的光在观察屏642上重合,拿掉对准板,此时两光束一般情况就会发生干涉。

4、如干涉条纹太细看不清,可以在检偏器后面的放置焦距为75毫米的透镜,移动观察屏642,观察干涉条纹的放大像。

5、移除透镜和观察屏642,架设ccd,调节第三反射镜630的调节手轮,将干涉条纹调成水平,灰度2保持255不变,灰度1每改变20用ccd采集干涉条纹并保存,注意重点要采集和观察灰度1和灰度2交界的地方。

6、计算干涉条纹偏移量,并计算相位改变量。

7、绘制相位调制曲线。

(实验十五)数字全息再现:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器、聚焦镜以及观察屏642,本实验不需要第三光学调整架63,因此拿小纸板挡掉这一路光。

2、启动slm,调节起偏器400和检偏器使slm工作在相位调制状态。

3、操作软件中选择相位调制菜单下的数字全息再现实验,软件安装包中提供了几幅计算好的全息图,可直接导入观察再现像。微调起偏器400和检偏器的角度使得观察屏642上的再现像最清晰。更换不同焦距的聚焦镜,观察再现像的变化。

4、可以从本地导入其他图形,软件中提供了两种全息算法,将导入的图像转换成全息图,在透镜的焦平面上观察导入图像的再现像。

5、另外,软件提供了绘制图像功能,可以将写上的文字或字符转换完成全息图进行再现。

(实验十六)移相式数字全息:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及拍摄装置(如ccd),本实验在第三光学调整架63上切换设置第三反射镜630或硬币、并在slm与分光组件50之间设置衰减片。

2、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在相位调制状态。

3、操作软件中选择移相式数字全息实验,在检偏器后面放置对准板,调节slm和第三反射镜630的调节手轮,使得经slm和第三反射镜630反射的光都打至对准板小孔的旁边(为了避开中央杂散光)。微调slm和第三反射镜630的调节手轮,直至在观察屏642观察到经slm和第三反射镜630反射的光完全重合。

4、拿掉对准板,此时两光束一般情况就会发生干涉,微调slm和第三反射镜630上的调节手轮使得干涉程度最大,干涉条纹数最少。

5、将硬币放置在第三反射镜630前方,用小纸片挡掉slm反射的光,在聚焦镜后方前后移动观察屏642,找到硬币最清晰的像,拿掉观察屏642,在聚焦镜后放置ccd,ccd倍率调至最小(0.7),移动ccd使得ccd的像面处于观察屏642刚处的位置,前后移动ccd找到硬币清晰的像,旋转硬币,使得ccd采集到的图像最清晰。用胶带在边缘固定硬币。

6、拿掉slm前的纸片,将ccd倍率调至最大(4.5),用ccd分别采集灰度为0、64、128、192时候的干涉图样,并保存。

7、将保存的四幅图案导入到软件中的移相式数字全息实验中,点击重构可以得到硬币经过移相式数字全息以后的再现图像,调节参数,直到得到清晰的再现像。

(实验十七)菲涅尔透镜:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及观察屏642,本实验不需要第三光学调整架63。

2、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在相位调制状态。

3、操作软件中选择菲涅尔透镜实验,选择所用slm的像元大小,给定焦距,前后移动观察屏642,找到入射光经过slm后的焦点位置,微调起偏器400和检偏器角度,使得聚焦情况最好。测量slm到焦点的距离并记录。这个距离包含两部分,slm液晶面板到分光棱镜中心的距离,以及分光棱镜到观察屏642的距离。

4、实际测量的焦距与软件中的理论焦距进行对比,求误差,通过改变软件中的x平移和y平移参数,观察观察屏642上光斑的变化。

(实验十八)中空光束:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及拍摄装置(如ccd),本实验不需要第三光学调整架63,ccd采集信号。

2、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在相位调制状态。

3、操作软件中选择中空光束,选择所用slm的像元大小。

4、架设ccd,调节软件中的x平移和y平移,使得ccd能够拍摄到光斑,改变焦距,直到ccd中采集到中空光束,可微调起偏器400和检偏器的角度改善产生的中空光束的质量。

5、记录ccd到slm的距离。这个距离包含slm液晶面板到分光棱镜中心的距离,以及分光棱镜到ccd的距离,并减掉ccd镜头的成像距离。

6、前后移动观察屏642,找到入射光经过slm后的焦点位置,测量slm到焦点的距离并记录。

7、改变ccd位置多做几次实验。

(实验十九)光束变换:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及观察屏642,本实验不需要第三光学调整架63。

2、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在相位调制状态。

3、操作软件中选择光束变换,选择所用slm的像元大小,给定焦距,分别加载球面波和柱面波图样,前后移动观察屏642,找到焦点位置,微调起偏器400和检偏器角度,使得聚焦情况最好。

4、测量slm到焦点的距离并记录,这个距离包含两部分,slm液晶面板到分光棱镜中心的距离,以及分光棱镜到观察屏642的距离。实际测量的焦距与软件中的理论焦距进行对比,求误差,通过改变软件中的x平移和y平移参数以及旋转角度,观察观察屏642上光斑的变化。

5、通过软件加载平面波,改变衍射角度和旋转角度,在观察屏642上观察光斑的变化。

(实验二十)平面波与其他波形的干涉:

1、光路包括激光光源、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器以及观察屏642,本实验需要第三光学调整架63及其第三反射镜630。

2、启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在相位调制状态,由第三反射镜630反射的光斑此时可能很弱,可以微调起偏器400的角度。

3、软件中选择迈克尔逊干涉实验,检偏器后面放一个对准板,调节slm和第三反射镜630的调节手轮,使得经slm和第三反射镜630反射的光都处于对准板的中心,并且透过对准板中心在观察屏642上重合,拿掉对准板,此时两光束一般情况就会发生干涉。

4、此时干涉条纹一般都会很细,不便于观察,可以在检偏器后面的笼板上放置焦距为75毫米的透镜,在观察屏642上观察干涉条纹的放大像。

5、调出迈克尔逊干涉条纹后软件中选择平面波与其他波形的干涉实验,选择所用slm的像元大小,调节软件中的参数,观察平面波与其他波形的干涉结果。

(实验二十一)色散:

1、光路包括白光源(可用手电筒)、光反射组件、扩束器(包括小孔滤波器)、起偏器400、在多块笼板64上设置检偏器、聚焦镜以及观察屏642,本实验不需要第三光学调整架63及其第三反射镜630,观察屏642用于观察衍射谱。

2、正常启动slm,调整起偏器400与检偏器角度使得slm工作在相位调制状态。

3、软件中选择色散实验,在透镜的焦平面上用观察屏642观察衍射谱。在软件中改变衍射角度和旋转角度,观察衍射谱的变化。

本申请实验采用反射式的slm,不同的实验是通过软件改变加载在slm上的图片,且每个实验所需要的光学元件都稍有差距,实验时只需要更换或取掉个别光学元件,用ccd、功率计或观察屏642记录实验结果,并根据记录的结果进行数据处理。本申请实验操作与传统实验相比更加的方便快捷,实时操作,实验效果显著,还可以通过本申请熟悉ccd及功率计的使用,而slm的特性为学生自行设计实验留有一定的空间。

以上所述仅为本申请的实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。

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