层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明设计层叠结构空间光调制器的缺陷检测领域，具体涉及一种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法及系统。
【背景技术】
[0002]空间光调制器是一种利用信号在时间或空间上控制光源的振幅、相位或偏振状态等传播状态，以便有效地利用光的固有速度、并行性和互连能力的器件。1968年，美国RCA公司发明了世界上第一台液晶显示屏幕一一电寻LC-SCM。197 I年，美国休斯公司J.D.Margerum等人研制出了第一台透射式液晶光调制器，从此空间光调制器得到广泛应用。同年，瑞士罗切公司的W.He If rich和Schadt发现了扭曲丝状液晶场效应，使得液晶显示技术迅速发展。
[0003]空间光调制器是现代光信息处理系统中一个非常关键的器件，它性能的好坏直接决定了系统的处理能力。空间光调制器以其分辨率高、信息存储量大被广泛地应用于军事、医疗、工业生产等领域。在人们的日常生活中，最常见的就是层叠结构的空间光调制器。层叠结构空间光调制器以其结构简单、体积小、质量轻等特点广受人们的欢迎，最常见的莫过于液晶屏了。
[0004]在工业生产中，厂商往往需要对层叠结构空间光调制器进行缺陷检测以确保层叠结构空间光调制器能够实现其功能。然而，层叠结构空间光调制器往往有多个部分组成。以智能手机上的液晶面板为例，一般而言它由背光源、上下两层偏光片、上下两层玻璃基板、ITO透明导电层、薄膜晶体管、液晶分子层、滤光片以及框胶等构成。能够准确地检测出缺陷的位置对于厂家节省成本、追究责任等具有非常大的现实意义。
[0005]然而，层叠结构空间光调制器的表面往往会有一层掩膜，生产人员需要根据掩膜上的信息正确分辨出层叠结构空间光调制器的方向，同时掩膜还能在运输的过程中起到保护的作用。为了防止灰尘污染、划伤等，在缺陷检测的过程中，厂商们往往会选择带着掩膜直接进行缺陷检测，因而如何进行掩膜的自动提取对与提高缺陷检测的正确率以及速度，对于提尚生广效率、减少生广成本意义重大。
【发明内容】
[0006]本发明旨在至少解决上述技术问题之一。
[0007]为此，本发明的第一个目的在于提出一种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法。
[0008]本发明的第二个目的在于提出一种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取系统。
[0009]为了实现上述目的，本发明的实施例公开了一种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法，包括以下步骤:S1:获取空间光调制器在预设波长范围下照射形成的图像;S2:对所述图像进行二值化处理得到掩膜标识;S3:对所述图像进行膨胀腐蚀，得到所述掩膜标识的区域。
[0010]根据本发明实施例的层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法，提高空间光调制器缺陷检测的正确率和效率，提高空间光调制器的生产效率、降低生产成本。
[0011]另外，根据本发明上述实施例的层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法，还可以具有如下附加的技术特征:
[0012]进一步地，在步骤S3中，所述膨胀腐蚀是通过上位机的软件实现的。
[0013]为了实现上述目的，本发明的实施例公开了一种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取系统，包括:光源，用于提供预设范围的波长照射空间光调制器；图像采集装置，用于采集所述光源照射所述空间光调制器形成的图像;二值化处理模块，用于对所述图像进行而治化处理得到掩膜标识；以及上位机，用于通过软件对所述图像进行膨胀腐蚀得到所述掩膜标识的区域。
[0014]根据本发明实施例的层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取系统，提高空间光调制器缺陷检测的正确率和效率，提高空间光调制器的生产效率、降低生产成本。
[0015]本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
【附图说明】
[0016]本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中:
[0017]图1是本发明一个实施例的层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法的流程图；
[0018]图2是本发明一个实施例的被测物体的结构示意图；
[0019]图3是本发明一个实施例的层叠结构空间光调制器在白色背光源所成像的灰度图像；
[0020]图4是本发明一个实施例对图3进行二值化处理后的示意图；
[0021]图5是本发明一个实施例对图4经过膨胀腐蚀提取出掩膜标识区域后的示意图。
【具体实施方式】
[0022]下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
[0023]在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0024]在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接;可以是机械连接，也可以是电连接;可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0025]参照下面的描述和附图，将清楚本发明的实施例的这些和其他方面。在这些描述和附图中，具体公开了本发明的实施例中的一些特定实施方式，来表示实施本发明的实施例的原理的一些方式，但是应当理解，本发明的实施例的范围不受此限制。相反，本发明的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。
[0026]以下结合附图描述根据本发明实施例的层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法及系统。
[0027]请参考图1，一种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法，包括以下步骤:
[0028]S1:获取空间光调制器在预设波长范围下照射形成的图像。
[0029]S2:对图像进行二值化处理得到掩膜标识。
[0030]S3:对图像进行膨胀腐蚀，得到所述掩膜标识的区域。
[0031 ]为使本领域技术人员进一步理解本发明，将通过以下实施例进行详细说明。
[0032]请参考图2，在本发明的实施例中，被测物体为智能手机的液晶屏，一般来说，智能手机液晶屏有两层掩膜，分为上层掩膜和下层掩膜，其他液晶层、薄膜晶体管层、玻璃基板层等在此合称为中间层。
[0033]请参考图3，通过用白色背光源对智能手机液晶屏进行照射，可以看到，左上角有一个下层掩膜的标准，右上角有一个上层掩膜的标识，以方便工作人员区分液晶屏的方向。在缺陷检测中，能够准确地提取这两个标识的大致区域。
[0034]请参考图4，对图3进行二值化处理，使上下两层的掩膜标识在二值化后更加明显。
[0035]请参考图5，利用软件膨胀腐蚀后，得到的掩膜标识的大致区域。
[0036]另外，本发明实施例的层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法及系统的其它构成以及作用对于本领域的技术人员而言都是已知的，为了减少冗余，不做赘述。
[0037]在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
[0038]尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同限定。
【主权项】
1.一种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法，其特征在于，包括以下步骤: S1:获取空间光调制器在预设波长范围下照射形成的图像； 52:对所述图像进行二值化处理得到掩膜标识； 53:对所述图像进行膨胀腐蚀，得到所述掩膜标识的区域。2.根据权利要求1所述的层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的自动提取方法，其特征在于，在步骤S3中，所述膨胀腐蚀是通过上位机的软件实现的。3.—种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取系统，其特征在于，包括: 光源，用于提供预设范围的波长照射空间光调制器； 图像采集装置，用于采集所述光源照射所述空间光调制器形成的图像； 二值化处理模块，用于对所述图像进行而治化处理得到掩膜标识；以及 上位机，用于通过软件对所述图像进行膨胀腐蚀得到所述掩膜标识的区域。
【专利摘要】本发明公开了一种层叠结构空间光调制器缺陷检测中掩膜的提取方法及系统，其中方法包括以下步骤：S1：获取空间光调制器在预设波长范围下照射形成的图像；S2：对所述图像进行二值化处理得到掩膜标识；S3：对所述图像进行膨胀腐蚀，得到所述掩膜标识的区域。本发明具有如下优点：提高空间光调制器缺陷检测的正确率和效率，提高空间光调制器的生产效率、降低生产成本。
【IPC分类】G02F1/13, G06T7/00
【公开号】CN105678800
【申请号】CN201610152980
【发明人】戴琼海, 范静涛, 熊博
【申请人】清华大学
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年3月17日