显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质与流程

本发明涉及显示屏测试技术领域，尤其涉及一种显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质。

背景技术：

显示屏的亮度均匀性反映了显示屏的质量好坏，若显示屏均匀，则图像显示效果较好；若不均匀，则显示效果较差，显示的图像就会出现各种痕迹。

传统的显示屏均匀性的测试方法是利用人的视觉和亮度计相结合检测去判断其均匀性的好坏。这种方法由于利用了人的主观感觉，容易因为主观感觉的差异影响到评定的结果。还有一种常见的测试方法是九点测试法，即根据周围8个像素点与中心像素点的亮度，利用相关公式计算均匀性的结果，根据此结果作为最终亮度均匀性的评估。但是在采用九点测试法时，像素点位置选择不同将影响到后续的计算结果，在选点位置不恰当时将导致测试结果的不准确。而且目前电视机都是曲面电视机，目前测试方法针对的是形状规则的长方形电视机，对曲面电视机的测量方法也利用形状规则的长方形电视机的测量方法，也将影响到均匀性结果的评估。

技术实现要素：

本发明的主要目的在于提供一种显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质，旨在提高曲面显示屏均匀性测试结果的准确性。

为实现上述目的，本发明提供一种显示屏均匀性的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：

获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片；

获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值；

获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果。

可选的，所述显示状态图片包括全白场图片和棋盘格图片，所述获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片的步骤具体包括：

在所述待测屏播放白色图片时，对所述待测屏进行拍摄，获取所述待测屏的全白场图片；

在所述待测屏播放棋盘格图片时，对所述待测屏进行拍摄，获取所述待测屏的棋盘格图片；

根据所述棋盘格图片和预设算法规则，获取所述全白场图片中的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片。

可选的，所述获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值的步骤具体包括：

获取参考屏的样本图片，并获取所述样本图片内各个像素点对应的样本像素值；

根据预设计算规则，计算所述各个像素点对应的样本像素值的样本均值。

可选的，所述获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果的步骤具体包括：

获取所述测试图片内各个像素点对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，判断是否存在测试像素值大于所述样本均值的像素点；

在存在所述测试像素值大于所述样本均值的像素点时，则判定所述待测屏的均匀性不满足测试要求。

可选的，所述在存在所述测试像素值大于所述样本均值的像素点时，则所述待测屏的均匀性不满足测试要求的步骤之后，还包括：

获取所述测试像素值大于所述样本均值的像素点，作为所述测试图片中不均匀区域的峰值像素点，并获取所述峰值像素点的坐标位置。

可选的，所述获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值的步骤具体包括：

获取所述参考屏的样本图片，根据预设划分规则，将所述样本图片均等划分为区域样本图片，并获取各个区域样本图片内各个像素点对应的区域样本像素值；

根据预设计算规则，计算所述各个区域样本像素值对应的区域样本均值。

可选的，所述获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果的步骤具体包括：

根据预设划分规则，将所述测试图片均等划分为区域测试图片，并将所述区域测试图片与对应的区域样本图片叠加处理得到各个区域对应的测试叠加图片；

获取所述测试叠加图片内各个像素点的叠加像素值，根据对应的区域样本均值，判断是否存在叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点；

在存在叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点时，则获取所述叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点，作为所述测试图片中不均匀区域的谷值像素点，并获取所述谷值像素点的坐标位置。

可选的，所述显示屏均匀性的测试方法还包括以下步骤：

根据所述谷值像素点的坐标位置和所述峰值像素点的坐标位置，确定所述测试图片中不均匀区域的位置区域。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种显示屏均匀性的测试终端，其特征在于，所述测试终端包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的测试程序，其中所述测试程序被所述处理器执行时，实现如上所述的显示屏均匀性的测试方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有测试程序，其中测试程序被处理器执行时，实现如上述的显示屏均匀性的测试方法的步骤。

本发明提供一种显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质，通过获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片；获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值；获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果。通过以上方式，本发明通过获取待测屏的有效区域，作为待测屏的测试图片，并将测试图片对应的测试像素值与预设的样本图片对应的样本均值进行对比，从而根据对比结果确定待测屏的均匀性。本发明的测试结果可准确地反映待测屏整体的均匀性；同时，本发明的测试无需技术人员进行相关技术操作即可完成，避免了人为因素导致的测试偏差，提高了测试结果的准确性，也有利于减少测试所消耗的时间，提高均匀性测试的效率。

附图说明

图1是本发明实施例方案涉及的显示屏均匀性的测试终端硬件结构示意图；

图2为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例中的全白场图片示意图；

图4为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例中的棋盘格图片示意图；

图5为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例中的测试图片示意图；

图6为图2中步骤s30的第一细化流程示意图；

图7为图2中步骤s30的第二细化流程示意图；

图8为图2中样本图片均分后的区域样本图片示意图；

图9为图2中测试图片均分后的区域测试图片示意图；

图10为图2中区域测试图片与对应区域样本图片叠加后的测试叠加图片的示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例方案的主要思路是：获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片；获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值；获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果。

本发明实施例涉及的显示屏均匀性的测试方法主要应用于显示屏均匀性测试终端，该终端可以通过多种方式实现。例如，终端可以包括诸如手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑等移动终端，以及诸如智能电视、pc终端等固定终端。

后续描述中将以pc终端作为显示屏均匀性的测试终端进行说明，本领域技术人员将理解的是，除了特别用于移动目的的元件之外，根据本发明的实施方式的构造也能够应用于其它类型的终端。

参照图1，图1为本发明实施例方案中涉及的显示屏均匀性的测试终端硬件结构示意图。本发明实施例中，显示屏均匀性的测试终端可以包括处理器1001(例如cpu)，通信总线1002，用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信；用户接口1003可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard)；网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如wi-fi接口)；存储器1005可以是高速ram存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器，存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

可选地，该终端还可以包括摄像头、rf(radiofrequency，射频)电路，传感器、音频电路、wifi模块等等。其中，传感器比如光传感器、运动传感器以及其他传感器。具体地，光传感器可包括环境光传感器及接近传感器，其中，环境光传感器可根据环境光线的明暗来调节显示屏的亮度，接近传感器可根据感光设备与参照物的距离，关闭显示屏和/或背光。作为运动传感器的一种，重力加速度传感器可检测各个方向上(一般为三轴)加速度的大小，静止时可检测出重力的大小及方向，可用于终端姿态的应用(比如横竖屏切换、相关游戏、磁力计姿态校准)、振动识别相关功能(比如计步器、敲击)等；当然，该终端还可配置陀螺仪、气压计、湿度计、温度计、红外线传感器等其他传感器，在此不再赘述。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的终端硬件结构并不构成对显示屏均匀性的测试终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

继续参照图1，图1中作为一种计算机可读存储介质的存储器1005可以包括操作系统、网络通信模块以及测试程序。

在图1中，网络通信模块主要用于连接服务器，与服务器进行数据通信；而处理器1001可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片；

获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值；

获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果。

进一步的，所述显示状态图片包括全白场图片和棋盘格图片，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

在所述待测屏播放白色图片时，对所述待测屏进行拍摄，获取所述待测屏的全白场图片；

在所述待测屏播放棋盘格图片时，对所述待测屏进行拍摄，获取所述待测屏的棋盘格图片；

根据所述棋盘格图片和预设算法规则，获取所述全白场图片中的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片。

进一步的，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

获取参考屏的样本图片，并获取所述样本图片内各个像素点对应的样本像素值；

根据预设计算规则，计算所述各个像素点对应的样本像素值的样本均值。

进一步的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

获取所述测试图片内各个像素点对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，判断是否存在测试像素值大于所述样本均值的像素点；

在存在所述测试像素值大于所述样本均值的像素点时，则判定所述待测屏的均匀性不满足测试要求。

进一步的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

获取所述测试像素值大于所述样本均值的像素点，作为所述测试图片中不均匀区域的峰值像素点，并获取所述峰值像素点的坐标位置。

进一步的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

获取所述参考屏的样本图片，根据预设划分规则，将所述样本图片均等划分为区域样本图片，并获取各个区域样本图片内各个像素点对应的区域样本像素值；

根据预设计算规则，计算所述各个区域样本像素值对应的区域样本均值。

进一步的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

根据预设划分规则，将所述测试图片均等划分为区域测试图片，并将所述区域测试图片与对应的区域样本图片叠加处理得到各个区域对应的测试叠加图片；

获取所述测试叠加图片内各个像素点的叠加像素值，根据对应的区域样本均值，判断是否存在叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点；

在存在叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点时，则获取所述叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点，作为所述测试图片中不均匀区域的谷值像素点，并获取所述谷值像素点的坐标位置。

进一步的，所述预设参考数据包括参考低通像素数据和参考高通像素数据，处理器1001还可以调用存储器1005中存储的测试程序，并执行以下操作：

根据所述谷值像素点的坐标位置和所述峰值像素点的坐标位置，确定所述测试图片中不均匀区域的位置区域。

基于上述显示屏均匀性的测试终端硬件结构，提出本发明显示屏均匀性的测试方法各个实施例。

本发明提供一种显示屏均匀性的测试方法。

参照图2，图2为本发明显示屏均匀性的测试方法第一实施例的流程示意图。

本实施例中，所述测试方法包括以下步骤：

步骤s10，获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片；

显示屏的亮度均匀性反映了显示屏的质量好坏，若显示屏均匀，则图像显示效果较好；若不均匀，则显示效果较差，显示的图像就会出现各种痕迹。传统的显示屏均匀性的测试方法是利用人的视觉和亮度计相结合检测去判断其均匀性的好坏。这种方法由于利用了人的主观感觉，容易因为主观感觉的差异影响到评定的结果。还有一种常见的测试方法是九点测试法，即根据周围8个像素点与中心像素点的亮度，利用相关公式计算均匀性的结果，根据此结果作为最终亮度均匀性的评估。但是在采用九点测试法时，像素点位置选择不同将影响到后续的计算结果，在选点位置不恰当时将导致测试结果的不准确。而且目前电视机都是曲面电视机，目前测试方法针对的是形状规则的长方形电视机，对曲面电视机的测量方法也利用形状规则的长方形电视机的测量方法，也将影响到均匀性结果的评估。

基于上述问题，本实施例提出一种显示屏均匀性的测试方法，该方法测试过程不受人为因素的干扰，同时该方法是对显示屏整体进行分析测试，从而使获得的测试结果更为准确。值得说明的是，本实施例不仅可用于曲面显示屏的均匀性测试，同时还可用于形状规则显示屏的均匀性测试。

具体的，本实施例中，对均匀性进行测试的显示屏可称为待测屏。待测屏为不同均匀性的待测屏。若有多个待测屏，则拍摄不同待测屏的图片进行测试。在需要进行均匀性测试时，可使该待测屏显示状态图片。为了进一步提高图片显示精确度，可根据预设提取规则，进一步获取所述显示状态图片的有效区域部分，作为该待测屏对应的测试图片。如图3所示，其中由于显示屏的均匀性主要是亮度方面的属性，因此该显示状态图片是全白场图片(即在该待测屏中播放全场白图片)。在待测屏播放全白场图片时，通过图像采集设备拍摄待测屏当前显示的全白场图片。如图4所示，然后使待测屏播放用于标定的棋盘格图片，并通过图像采集设备拍摄待测屏当前显示的棋盘格图片。如图5所示，然后根据用于标定的棋盘格图片和张正友图像算法，截取出所述全白场图片中的有效区域部分，即曲面显示屏的有效白场图片。其中，根据棋盘格图片获取所述全白场图片的有效区域部分图片的原因是由于曲面显示屏的显示图片是非直面，因此通过棋盘格中的黑白交点进行标定。其中图像采集设备可以是摄像机、照相机等设备。对于图像采集设备，可以是测试终端自身配备的功能装置，也可以是测试终端外接的功能设备；而对于图像采集设备的功能参数，其分辨率越高越好，例如本实施例中可采用分辨率为2120*3800的摄像机进行拍摄，以获得更清晰的测试图片，提高测试结果的准确性。为了全面分析待测屏的均线性，测试图片应当包括完整的显示屏。

步骤s20，获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值；

本实施例中，在得到待测屏的测试图片时，进一步获取参考屏对应的预设的样本图片。其中，参考屏为均匀性效果好的显示屏。并将所述样本图片进行傅里叶变换，得到所述样本图片的频域数值，然后根据所述频域数值获取所述样本图片内各个像素点对应的像素值和像素点坐标，并将样本图片记为sample，然后根据公式计算各个像素点的像素值平均值，记为样本均值。

步骤s30，获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果。

本实施例中，在得到所述参考屏的样本图片对应的样本均值时，进一步获取所述待测屏对应的测试图片。然后获取所述测试图片内各个测试像素点对应的各个测试像素值，将各个测试像素值与所述样本均值进行比对，并根据比对后的结果判定所述待测屏均匀性的测试结果。如是否存在测试像素值大于样本均值的测试像素点，若存在则表示所述测试图片中存在亮度超过所述样本图片亮度的测试像素点，即表示所述待测屏的均匀性差，不符合要求。

本实施例提供一种显示屏均匀性的测试方法、终端及计算机可读存储介质，通过获取待测屏的显示状态图片，并获取所述显示状态图片的有效区域，作为所述待测屏对应的测试图片；获取预设的样本图片，计算所述样本图片对应像素值的样本均值；获取所述测试图片对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，并根据对比结果确定所述待测屏均匀性的测试结果。通过以上方式，本发明通过获取待测屏的有效区域，作为待测屏的测试图片，并将测试图片对应的测试像素值与预设的样本图片对应的样本均值进行对比，从而根据对比结果确定待测屏的均匀性。本发明的测试结果可准确地反映待测屏整体的均匀性；同时，本发明的测试无需技术人员进行相关技术操作即可完成，避免了人为因素导致的测试偏差，提高了测试结果的准确性，也有利于减少测试所消耗的时间，提高均匀性测试的效率。

参照图6，图6为图2中步骤s30的第一细化流程示意图。

基于上述图2所示实施例，步骤s30具体包括：

步骤s31，获取所述测试图片内各个像素点对应的测试像素值，将所述测试像素值和所述样本均值进行对比，判断是否存在测试像素值大于所述样本均值的像素点；

本实施例中，获取所述待测屏对应的测试图片。然后获取所述测试图片内各个测试像素点对应的各个测试像素值，将各个测试像素值与所述样本均值进行比对，并根据比对后的结果判定所述待测屏均匀性的测试结果。如是否存在测试像素值大于样本均值的测试像素点，若存在则表示所述测试图片中存在亮度超过所述样本图片亮度的测试像素点，即表示所述待测屏的均匀性差，不符合要求。若不存在测试像素值大于样本均值的测试像素点，即表示所述待测屏不存在亮度超过所述样本图片亮度的测试像素点，可判定该待测屏符合均匀性要求，或者进一步确定所述待测屏是否存在亮度至小于所述样本图片对应的样本均值的测试像素点。

步骤s32，在存在所述测试像素值大于所述样本均值的像素点时，则判定所述待测屏的均匀性不满足测试要求。

本实施例中，若存在则表示所述测试图片中存在亮度超过所述样本图片亮度的测试像素点，即表示所述待测屏的均匀性差，不符合要求。

步骤s33，获取所述测试像素值大于所述样本均值的像素点，作为所述测试图片中不均匀区域的峰值像素点，并获取所述峰值像素点的坐标位置。

本实施例中，若存在所述测试像素只大于所述样本均值的测试像素点，则该测试像素点的亮度超过样本图片的亮度均值，获取该测试像素点的坐标位置，作为测试图片中不均匀区域的峰值像素点，并记录该所述峰值像素点的坐标位置。具体实施例中，若有多个峰值像素点，则该多个峰值像素点位置坐标连接起来，可形成圆滑的部分正弦或者余弦曲线。

参照图7，图7为图2中步骤s30的第二细化流程示意图。

基于上述图2所示实施例，步骤s20包括：

步骤s21，获取所述参考屏的样本图片，根据预设划分规则，将所述样本图片均等划分为区域样本图片，并获取各个区域样本图片内各个像素点对应的区域样本像素值；

如图8所示，获取所述参考屏的样本图片，将所述样本图片进行平等划分，如平等划分为2*2的等分区域，即得到标定移动的核函数。获取等分后的具体实施例中，还可以平等划分为3*3的等分区域等。并将分区后的图片记为区域样本图片，然后获取各个区域样本图片内各个样本像素点对应的区域样本像素值。

步骤s22，根据预设计算规则，计算所述各个区域样本像素值对应的区域样本均值。

本实施例中，获取各个区域样本图片内各个样本像素点对应的区域样本像素值时，按照预设计算规则，如根据公式计算各个区域样本像素值对应的样本平均值，记为区域样本均值。

基于上述图2所示实施例，步骤s30包括：

步骤34，根据预设划分规则，将所述测试图片均等划分为区域测试图片，并将所述区域测试图片与对应的区域样本图片叠加处理得到各个区域对应的测试叠加图片；

如图9所示，本实施例中，如上述样本图片的划分规则，同样将所述测试图片进行均等划分，记为区域测试图片。如图10所示，然后将区域样本图片与对应的区域测试图片进行叠加处理，在叠加处理的过程中，需确保区域样本图片的显示屏区域和区域测试图片的白色区域进行叠加；在叠加处理完成时，即得到各个区域测试图片对应的测试叠加图片。

步骤s35，获取所述测试叠加图片内各个像素点的叠加像素值，根据对应的区域样本均值，判断是否存在叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点；

本实施例中，按照上述方法获取各个所述测试叠加图片内各个叠加像素点的叠加像素值，然后根据对应区域样本均值，判断是否存在叠加像素值小于所述区域样本均值的叠加像素点。

步骤s36，在存在叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点时，则获取所述叠加像素值小于所述区域样本均值的像素点，作为所述测试图片中不均匀区域的谷值像素点，并获取所述谷值像素点的坐标位置。

本实施例中，若存在叠加像素值小于所述区域样本均值的叠加像素点，即获取所述叠加像素值小于所述区域样本均值的叠加像素点，并记为所述测试图片中不均匀区域的谷值像素点，并获取所述固执像素点的作为坐标位置。具体实施例中，若有多个峰值像素点，则该多个峰值像素点位置坐标连接起来，可形成圆滑的部分正弦或者余弦曲线。

进一步地，步骤s30之后，还包括

步骤s40，根据所述谷值像素点的坐标位置和所述峰值像素点的坐标位置，确定所述测试图片中不均匀区域的位置区域。

本实施例中，在获取到所述谷值像素点的坐标位置和所述峰值像素点的坐标位置后，进一步根据所述谷值像素点的坐标位置和所述峰值像素点的坐标位置，确定所述测试图片中不均匀区域的位置区域，然后可根据需要进行对应操作。如对所述不均匀区域进行mura图像补偿等。

进一步的，本发明还提供一种显示屏均匀性的测试终端。

本发明显示屏均匀性的测试终端包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的测试程序，所述测试程序被所述处理器执行时，实现如上述的显示屏均匀性的测试方法的步骤。

其中，测试程序被执行时所实现的方法可参照本发明显示屏均匀性的测试方法的各个实施例，此处不再赘述。

进一步的，本发明还提供一种计算机可读存储介质。

本发明计算机可读存储介质上存储有测试程序，其中所述测试程序被处理器执行时，实现如上述的显示屏均匀性的测试方法的步骤。

其中，测试程序被执行时所实现的方法可参照本发明显示屏均匀性的测试方法的各个实施例，此处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。