技术特征：
技术总结
本发明公开了测试元件组、电学性能测试方法、阵列基板、显示装置。具体的，本发明提出了一种测试元件组，包括：设置在基板上的电性连接的多个薄膜晶体管以及多个测试接口，其中，至少两个所述薄膜晶体管的栅极与同一个所述测试接口相连。由此，在利用该测试元件组对阵列基板进行电学性能测试时，每次可对多个薄膜晶体管进行检测，进而检测一定数量薄膜晶体管的时间可以大大减小，提高了测试效率。
技术研发人员：廖中伟;樊超;赵永强;蒋冬舜;陈胡建
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司
技术研发日：2018.11.01
技术公布日：2019.01.08