一种显示面板和显示面板的测试方法与流程

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板和显示面板的测试方法。

背景技术：

随着显示技术的不断发展，显示面板的应用范围越来越广泛，人们对显示面板的要求也越来越高。

微发光二极管(microlightemittingdiode，microled/μled)显示面板因其具有高分辨率的特点已成为显示领域研发的热点。在制作microled显示面板时，microled芯片与背板的键合工艺存在一定的良率损失，形成的microled显示面板为不合格产品的几率增加，从而增加了键合后续工艺的浪费。

技术实现要素：

本发明提供一种显示面板和显示面板的测试方法，以实现对发光器件键合良率的检测，有利于及时发现显示面板的制作过程是否存在异常，避免键合后续工艺浪费的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括显示区和围绕所述显示区设置的非显示区；所述显示面板还包括位于所述显示区内的多个像素驱动电路和多个发光器件以及位于所述非显示区内的控制电路；

所述控制电路与所有的所述像素驱动电路电连接，所述控制电路用于根据接入的控制信号调节输出至各所述像素驱动电路的第一扫描信号；

所述像素驱动电路根据接收到的所述第一扫描信号调节对应的所述发光器件的发光状态。

进一步地，所述控制电路包括多个开关模块，每个所述开关模块与一行的所述像素驱动电路电连接；

所有的所述开关模块的控制端短接以接入所述控制信号，所有所述开关模块的第一端短接以接入有效的第一扫描信号，每个所述开关模块的第二端与对应的一行所述像素驱动电路电连接。

进一步地，所述开关模块包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的膜层结构与所述像素驱动电路中薄膜晶体管的对应膜层结构同层设置。

进一步地，所述像素驱动电路包括：

参考写入模块，所述参考写入模块与所述控制电路电连接，所述参考写入模块用于根据所述控制电路输出的所述第一扫描信号控制是否将第一参考信号写入所述发光器件的第一电极；其中，所述第一参考信号的电平值大于所述发光器件的第二电极接入的第二电源信号的电平值。

进一步地，所述像素驱动电路还包括：

驱动模块，所述驱动模块用于在发光阶段驱动对应的所述发光器件发光；

数据写入模块，所述数据写入模块用于在数据写入阶段将数据信号写入所述驱动模块的控制端；

存储模块，所述存储模块用于维持所述驱动模块的控制端的电位；

所述参考写入模块还用于在所述数据写入阶段将第二参考信号写入所述发光器件的第一电极；其中，所述第二参考信号的电平值小于等于所述发光器件的第二电极接入的第二电源信号的电平值。

进一步地，所述参考写入模块还用于在所述发光阶段调节对应的所述发光器件的发光时间。

进一步地，所述驱动模块包括至少一个驱动子模块，所有所述驱动子模块的控制端短接作为所述驱动模块的控制端，所有所述驱动子模块的第一端短接作为所述驱动模块的第一端，所有所述驱动子模块的第二端短接作为所述驱动模块的第二端。

进一步地，所述数据写入模块的控制端接入第二扫描信号，所述数据写入模块的第一端接入数据信号；

所述驱动模块的控制端与所述数据写入模块的第二端电连接，所述驱动模块的第一端接入第一电源信号，所述驱动模块的第二端与对应的所述发光器件的第一电极电连接，所述发光器件的第二电极接入第二电源信号；

所述存储模块的第一端与所述驱动模块的控制端电连接，所述存储模块的第二端与所述驱动模块的第二端电连接；

所述参考写入模块的控制端接入所述第一扫描信号，所述参考写入模块的第一端与参考信号线电连接，所述参考写入模块的第二端与对应的所述发光器件的第一电极电连接。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，用于测试本发明任意实施例提供的显示面板，所述显示面板的测试方法包括：

控制所述控制电路向各所述像素驱动电路输出有效的所述第一扫描信号；

根据所述发光器件的发光状态测试对应的所述发光器件的键合良率。

进一步地，所述控制电路包括多个开关模块，每个所述开关模块与一行的所述像素驱动电路电连接；

所述控制所述控制电路向各所述像素驱动电路输出有效的所述第一扫描信号包括控制所有的所述开关模块导通。

本发明实施例的技术方案，通过设置控制电路与所有的像素驱动电路电连接，控制电路根据接入的控制信号调节输出至各像素驱动电路的第一扫描信号；像素驱动电路根据接收到的第一扫描信号调节对应的发光器件的发光状态，以实现对发光器件键合良率的检测，有利于及时发现显示面板的制作过程是否存在异常，避免键合后续工艺浪费的问题。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2为图1沿剖线aa’剖面得到的剖面结构示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图5为图4所示的像素驱动电路的一种时序信号图；

图6为图4所示的像素驱动电路的另一种时序信号图；

图7为本发明实施例提供的一种像素驱动电路的结构示意图；

图8为本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

microled显示面板的制作过程包括驱动背板的制作，microled芯片的制作，microled芯片与驱动背板的键合，以及后续彩色化工艺等。在microled芯片与驱动背板键合时，需要对microled芯片和驱动背板进行加热，而用于设置microled芯片的衬底和驱动背板的衬底的热膨胀系数不同，导致microled芯片与驱动背板邦定时存在错位，从而降低了microled芯片和驱动背板的键合良率。例如，用于设置microled芯片的衬底为蓝宝石，驱动背板的衬底为玻璃，蓝宝石和玻璃的热膨胀系数不同，增加了microled芯片与驱动背板邦定错位的几率，从而使得microled芯片与驱动背板形成的microled显示面板的良率降低，增加了键合后续工艺的浪费。另外，在彩色化工艺中，需要对设置有microled芯片的衬底进行剥离，再涂布彩色化材料，使microled显示面板实现彩色化，在剥离microled芯片的衬底时，增加了带动microled的错位的几率，进一步地降低了键合良率，使得microled显示面板的良率降低。

针对上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图2为图1沿剖线aa’剖面得到的剖面结构示意图。如图1和图2所示，该显示面板100包括显示区110和围绕显示区110设置的非显示区120；显示面板100还包括位于显示区110内的多个像素驱动电路111和多个发光器件112以及位于非显示区120的控制电路121；控制电路121与所有的像素驱动电路111电连接，控制电路121用于根据接入的控制信号sw调节输出至各像素驱动电路111的第一扫描信号；像素驱动电路111根据接收到的第一扫描信号调节对应的发光器件112的发光状态。

具体地，如图1和图2所示，像素驱动电路111包括薄膜晶体管和存储电容，薄膜晶体管和存储电容为多层薄膜结构，例如，薄膜晶体管包括半导体有源区，本征半导体有源区igzo作为薄膜晶体管的沟道，本征半导体两侧的掺杂区分别作为薄膜晶体管的源极s和漏极d。像素驱动电路111还包括第一金属层m1，位于栅极绝缘层gi上的m1作为薄膜晶体管的栅极，位于薄膜晶体管右侧的m1作为存储电容的一电极。像素驱动电路111还包括第二金属层m2，与薄膜晶体管的源极s和漏极d接触的第二金属层m2为薄膜晶体管的源极s和漏极d提供信号，位于薄膜晶体管右侧的m2作为存储电容的另一电极。像素驱动电路111还包括电极层m3，薄膜晶体管中的源极和漏极中的一个通过电极层m3与发光器件112的一个电极电连接，发光器件112的另一个电极通过电极层m3接入阴极信号或者阳极信号，实现对发光器件112的有源驱动。像素驱动电路111与发光器件112一一对应，发光器件112例如可以为microled，像素驱动电路111与发光器件112通过键合工艺实现电连接，像素驱动电路111为与其对应的发光器件112提供驱动电流，从而实现像素驱动电路111驱动与其对应的发光器件112发光。

具体地，结合图1和图2，控制电路121与像素驱动电路111电连接，当控制电路121在控制信号sw的作用下输出有效的第一扫描信号时，控制电路121可以控制像素驱动电路111为发光器件112提供驱动信号，从而使得发光器件112发光。在像素驱动电路111与发光器件112通过键合实现电连接后，可以通过调节控制信号sw使控制电路121输出有效的第一扫描信号，有效的第一扫描信号控制像素驱动电路111为发光器件112提供驱动信号。若像素驱动电路111与发光器件112键合良好，像素驱动电路111输出的驱动信号能够使得发光器件112发光。若像素驱动电路111与发光器件112键合失败，像素驱动电路111输出的驱动信号无法流至发光器件112，此时发光器件112不发光。

因此，在控制电路121为像素驱动电路111提供有效的第一扫描信号时，通过检测发光器件112是否发光即可实现对像素驱动电路111和发光器件112键合良率的检测，进而实现对显示面板良率的检测，有利于及时发现显示面板的制作过程是否存在异常，将不符合要求的显示面板剔除，对符合要求的显示面板进行后续的工艺，避免后续工艺的浪费，节约了显示面板的制作成本。

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。结合图1至图3，控制电路121包括多个开关模块1211，每个开关模块1211与一行的像素驱动电路111电连接；所有的开关模块1211的控制端短接以接入控制信号sw，所有开关模块1211的第一端短接以接入有效的第一扫描信号scan，每个开关模块1211的第二端与对应的一行像素驱动电路111电连接。

具体地，结合图1至图3，在测试阶段，有效的第一扫描信号scan为像素驱动电路111能够为发光器件112提供驱动信号对应的第一扫描信号。所有的开关模块1211的控制端短接后接入控制信号sw，从而实现所有的开关模块1211的控制端输入相同的控制信号，控制信号sw控制所有的开关模块1211同时导通或截止。所有开关模块1211的第一端短接后接入有效的第一扫描信号scan，可以实现同时向所有的开关模块1211输入有效的第一扫描信号scan。

当控制信号sw控制所有的开关模块1211导通时，每个开关模块1211将第一端接入的有效的第一扫描信号scan分别通过各自的第二端输出至对应行的像素驱动电路111，像素驱动电路111根据有效的第一扫描信号scan形成驱动信号驱动发光器件112发光。当像素驱动电路111与发光器件112键合良好时，像素驱动电路111为发光器件112提供的驱动信号通过发光器件112，发光器件112发光，反之发光器件112不发光，由此实现对显示面板的检测。

继续参考图3，开关模块1211可以包括薄膜晶体管t，薄膜晶体管t的栅极作为开关模块1121的控制端，薄膜晶体管t的源极作为开关模块1121的第一端，薄膜晶体管t的漏极作为开关模块1121的第二端。当薄膜晶体管t为n型晶体管时，薄膜晶体管t的栅极输入的控制信号sw为高电平时，薄膜晶体管t导通，薄膜晶体管t的栅极输入的控制信号sw为低电平时，薄膜晶体管t截止。当薄膜晶体管t为p型晶体管时，薄膜晶体管t的栅极输入的控制信号sw为低电平时，薄膜晶体管t导通，薄膜晶体管t的栅极输入的控制信号sw为高电平时，薄膜晶体管t截止。在键合工艺完成后，薄膜晶体管t的栅极输入的控制信号sw控制薄膜晶体管t导通，以将有效的第一扫描信号scan输出至像素驱动电路111。

可选地，结合图1至图3，可以设置薄膜晶体管t的膜层结构与像素驱动电路111中薄膜晶体管的对应膜层结构可以同层设置。具体地，结合图1至图3，像素驱动电路111由薄膜晶体管构成，薄膜晶体管包括多层膜层，在形成像素驱动电路111中的薄膜晶体管的各膜层时，可以在非显示区120中同时形成薄膜晶体管t的对应的膜层，例如可以设置薄膜晶体管t的栅极结构与像素驱动电路111中薄膜晶体管的栅极结构同时制作，可以设置薄膜晶体管t的有源层与像素驱动电路111中薄膜晶体管的有源层同时制作，可以设置薄膜晶体管t的源漏结构与像素驱动电路111中薄膜晶体管的源漏结构同时制作，从而可以减少制作控制电路121中的薄膜晶体管t的工艺流程，简化显示面板的制作流程，降低制作显示面板的工艺难度和时长。

需要说明的是，在正常显示阶段，显示面板的测试阶段结束后，控制信号sw控制控制电路121停止输出第一扫描信号，避免像素驱动电路111在显示面板的非发光阶段为发光器件112提供驱动信号，使发光器件112发光的现象。示例性地，当控制电路121包括多个开关模块1211，每个开关模块1211包括薄膜晶体管t时，在工作阶段，控制信号sw控制薄膜晶体管t截止。例如，薄膜晶体管t为n型晶体管时，控制信号sw可以与驱动芯片中的接地端电连接，保证薄膜晶体管t均为截止状态。

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。结合图1至图4，该像素电路111包括参考写入模块1111，参考写入模块1111与控制电路121电连接，参考写入模块1111用于根据控制电路121输出的第一扫描信号scan1控制是否将第一参考信号写入发光器件112的第一电极，第一参考信号由参考信号输入端ref送入，第一参考信号的电平值大于发光器件112的第二电极接入的第二电源信号vee的电平值。

具体地，结合图1至图4，在测试阶段，像素驱动电路111为发光器件112提供驱动信号，以便通过检测发光器件112是否能够正常发光实现对发光器件112键合良率的检测，此时控制电路121中的开关模块1211导通，控制电路121输出的第一扫描信号scan1为有效的第一扫描信号scan，并输出至像素驱动电路111的参考写入模块1111，参考写入模块1111根据有效的第一扫描信号scan1将第一参考信号写入发光器件112的第一电极。

发光器件112例如可以为micro-led。发光器件112的第一电极可以为microled的阳极，第二电极可以为microled的阴极。microled的第二电极接入的第二电源信号vee的电平值可以为低电平，例如为接地信号。因此，在测试阶段，此时控制电路121中的开关模块1211导通，控制电路121输出的第一扫描信号scan1为有效的第一扫描信号scan，针对p型晶体管，有效的第一扫描信号scan为低电平信号，针对n型晶体管，有效的第一扫描信号scan为高电平信号，参考写入模块1111接收到有效的第一扫描信号scan导通，第一参考信号通过参考写入模块1111写入发光器件112的第一电极，由于第一参考信号的电平值大于发光器件112的第二电极接入的第二电源信号vee的电平值，若发光器件112发光，则说明发光器件112键合良好，若发光器件112不发光，则说明发光器件112键合异常，实现对发光器件112键合情况的检测。

可选地，结合图1至图4,，像素驱动电路111还可以包括：

驱动模块1112，驱动模块1112用于在发光阶段驱动对应的发光器件112发光；

数据写入模块1113，数据写入模块1113用于在数据写入阶段将数据信号写入驱动模块1112的控制端；

存储模块1114，存储模块1114用于维持驱动模块1112的控制端的电位；

参考写入模块1111还用于在数据写入阶段将第二参考信号写入发光器件112的第一电极，第二参考信号的电平值小于等于发光器件112的第二电极接入的第二电源信号vee的电平值。

具体地，结合图1至图4，在正常显示阶段，像素驱动电路111控制发光器件112发光的过程可以分为数据写入阶段和发光阶段。在数据写入阶段，数据写入模块1113在第二扫描信号scan2的控制下将数据信号data写入驱动模块1112的控制端，并将数据信号data输出至存储模块1114，存储模块1114维持驱动模块1112的控制端的电压。同时，参考写入模块1111在第一扫描信号scan1的控制下将第二参考信号写入发光器件112的第一电极，对发光器件112的第一电极的电位进行初始化，避免发光器件112发光。例如，第二参考信号的电平值可以等于第二电源信号vee的电平值。在发光阶段，驱动模块1112根据数据信号data向发光器件112提供驱动信号，驱动发光器件112发光，驱动信号可以为电流驱动信号或电压驱动信号。

示例性地，数据写入模块1113的控制端接入第二扫描信号scan2，数据写入模块1113的第一端接入数据信号data；驱动模块1112的控制端与数据写入模块1113的第二端电连接，驱动模块1112的第一端接入第一电源信号vdd，驱动模块1112的第二端与对应的发光器件112的第一电极电连接，发光器件112的第二电极接入第二电源信号vee；存储模块1114的第一端与驱动模块1112的控制端电连接，存储模块1114的第二端与驱动模块1112的第二端电连接；参考写入模块1111的控制端接入第一扫描信号scan1，参考写入模块1111的第一端与参考信号线电连接，以接收第一参考信号或者第二参考信号，参考写入模块1111的第二端与对应的发光器件112的第一电极电连接。

在数据写入阶段，第一扫描信号scan1控制参考写入模块1111的第二端输出第二参考信号，对发光器件112的第一电极进行初始化。第二扫描信号scan2控制数据信号data写入数据写入模块1113，并输出至存储模块1114。在发光阶段，第一扫描信号scan1控制参考写入模块1111的第二端停止输出第二参考信号。驱动模块1112根据数据电压data和第一电源信号vdd形成驱动信号以驱动发光器件112发光。

结合图1至图4，参考写入模块1111包括第一晶体管t1，驱动模块1112包括驱动晶体管td，数据写入模块1113包括第二晶体管t2，存储模块包括存储电容cst。图5为图4所示的像素驱动电路的一种时序信号图，下面结合图4和图5，以第一晶体管t1、驱动晶体管td和第二晶体管t2均为n型晶体管为例对像素驱动电路的工作过程进行说明，也可以设置第一晶体管t1、驱动晶体管td和第二晶体管t2均为p型晶体管，驱动时序中的电平高低颠倒即可。

在数据写入阶段t1，第一扫描信号scan1和第二扫描信号scan2均为高电平信号，第一晶体管t1和第二晶体管t2导通。数据信号data通过第二晶体管t2写至存储电容cst的第一端，第二参考信号通过第一晶体管t1写入发光器件112的第一电极。而且，存储电容cst的第二端同样为第二参考信号的电平。因此，存储电容cst上存储的电压为数据信号data的电平值。此时驱动晶体管td的栅源电压为数据信号data的电平值，大于驱动晶体管td的阈值电压，驱动晶体管td导通。

在发光阶段t2，第一扫描信号scan1和第二扫描信号scan2均输入低电平，控制第一晶体管t1和第二晶体管t2截止。驱动晶体管td导通，为发光器件112提供驱动信号，使发光器件112发光。当驱动晶体管td的栅源电压降低至驱动晶体管td的阈值电压时，驱动晶体管td截止，发光器件112停止发光。

另外，在数据写入阶段t1，参考写入模块1111在第一扫描信号scan1的控制下将第二参考信号写入发光器件112的第一电极，发光器件112的第一电极初始化，存储电容cst上存储的电压为数据信号data的电平值，即驱动晶体管td的栅源电压为数据信号data的电平值。在进入发光阶段t2时，当驱动晶体管td的源极电位发生跳变时，通过存储电容cst的耦合作用，驱动晶体管td的栅极跟随驱动晶体管td的源极的电位改变，使得驱动晶体管td的栅源电压差vgs仅与数据信号data相关，避免了上一帧时驱动晶体管td的源极存在残留电位以及第二电源信号vee的电压降对驱动信号的影响，从而提高显示面板的显示均一性。

而且，为了使驱动晶体管td在数据写入阶段t1导通，在数据写入阶段t1，驱动晶体管td的栅源电压差vgs大于驱动晶体管td的阈值电压。在参考写入模块1111输入第二参考信号至驱动晶体管td的源极之前，驱动晶体管td的源极的电位为第二电源信号vee的电平值和发光器件112的电压降之和，第二电源信号vee例如可以为地信号，驱动晶体管td的源极的电位为正值。对应的驱动晶体管td的栅极电压的可调范围为驱动晶体管td的源极的电位与阈值电压之和至第一电源信号vdd的电平值。驱动晶体管td的栅极电压为数据信号data对应的电平值，即数据信号data的可调范围为驱动晶体管td的源极的电位与阈值电压之和至第一电源信号vdd的电平值，数据信号data的可调范围比较小。

在参考写入模块1111输入第二参考信号至驱动晶体管td的源极后，驱动晶体管td的源极的电位为第二参考信号，第二参考信号的电平值小于或等于第二电源信号vee的电平值，对应的驱动晶体管td的栅极电压的可调范围为第二参考信号的电平值至第一电源信号vdd的电平值，第二参考信号例如可以为接地信号，因此增加了数据信号data的可调范围。示例性地，发光器件112的电压降为3v，第一电源信号vdd的电平值为5v，第二电源信号vee的电平值为0v，第二参考信号的电平值为0v。在参考写入模块1111输入第二参考信号至驱动晶体管td的源极之前，数据信号data的可调范围为3-5v。在参考写入模块1111输入第二参考信号至驱动晶体管td的源极后，数据信号data的可调范围为0-5v，因此拓宽了数据信号data的可调范围。

另外，像素驱动电路111可以采用数字驱动控制发光器件112发光，也可以采用模拟驱动控制发光器件112发光。当像素驱动电路111采用数字驱动控制发光器件112发光时，可以通过控制发光器件112的发光时间实现不同灰阶对应的发光亮度。

需要说明的是，在检测阶段，参考写入模块1111写入的第一参考信号控制发光器件112的第一电极的电平值大于第二电极的电平值，使发光器件112发光，从而实现对显示面板的检测。在正常显示阶段的数据写入阶段，参考写入模块1111写入的第二参考信号控制发光器件112的第一电极的电平值小于或等于第二电极的电平值，使发光器件112不发光，实现发光器件112的第一电极的初始化，避免发光器件112在数据写入阶段漏光。参考信号线为参考写入模块1111提供第一参考信号和第二参考信号，参考信号线可以由驱动芯片控制，显示面板在检测阶段，驱动芯片控制参考信号线输出第一参考信号，显示面板在工作阶段，驱动芯片控制参考信号线输出第二参考信号。

图6为图4所示的像素驱动电路的另一种时序信号图。结合图4和图6，参考写入模块1111还用于在发光阶段调节对应的发光器件112的发光时间。具体地，在像素驱动电路111进入发光阶段t2后的第三阶段t3，第二扫描信号scan2输入高电平，第一晶体管t1导通，第二参考信号通过第一晶体管t1写入发光器件112的第一电极，发光器件112的第一电极的电平值小于等于第二电极的电平值，发光器件112停止发光。因此，可以通过调节发光阶段第一晶体管t1的通断时间，在发光阶段调节对应的发光器件112的发光时间，进而在数字驱动发光器件112时调节发光器件的发光亮度，进而提高对发光时间的调节精确度，有利于实现对发光器件112灰阶亮度的精确控制。

另外，在调节发光器件112的发光时间时，需要保证发光器件112的灰阶亮度不变。灰阶亮度l为瞬时亮度l’与发光时间t的乘积，即l＝l′×t。瞬时亮度l’为发光器件112的发光转换效率ε和电流密度j的乘积，即l′＝ε×j。而电流密度j与发光转换效率ε成正相关，即当电流密度j增大时，发光转换效率ε也增加。当发光时间t减小时，为了保证发光器件112的灰阶亮度l不变，发光器件112的瞬时亮度l’增加，而电流密度j和发光转换效率ε同时增加，使得电流密度j和发光转换效率ε增加的幅度小于发光时间t减小的幅度。发光器件112的功耗p＝ivt。其中，i为流过发光器件112的电流，v为发光器件112的第一电极和第二电极之间的电压，t为发光器件112的发光时间。当发光时间减小时，电流i增加的幅度小于发光时间减小的幅度，因此功耗减小。

示例性地，当参考写入模块1111在发光阶段调节对应的发光器件112的发光时间为发光阶段时，即t＝t2，对应的发光器件112的功耗为p＝ivt2。当参考写入模块1111在发光阶段调节对应的发光器件112的发光时间为发光阶段的一半时，即t′＝t2/2，为了保证发光器件112的灰阶亮度不变，电流密度j增大，使电流i变为原来的3/2倍，发光转换效率ε也增加，变为原来的4/3倍，此时瞬时亮度l’为原来的两倍，灰阶亮度l不变，对应的功耗降低为原来的四分之三。

图7为本发明实施例提供的一种像素驱动电路的结构示意图。如图7所示，驱动模块1112包括至少一个驱动子模块11121，所有驱动子模块11121的控制端短接作为驱动模块1112的控制端，所有驱动子模块11121的第一端短接作为驱动模块1112的第一端，所有驱动子模块11121的第二端短接作为驱动模块1112的第二端。

具体地，每个驱动子模块11121可以包括薄膜晶体管。图7示例性地示出了驱动模块包括两个驱动子模块11121，每个驱动子模块11121包括一个n型晶体管，分别为第一驱动晶体管td1和第二驱动晶体管td2，第一驱动晶体管td1和第二驱动晶体管td2并联。在发光阶段，第一驱动晶体管td1和第二驱动晶体管td2提供的驱动信号之和输出至发光器件112，驱动发光器件112发光。因此，在发光器件112所需的驱动电流不变的情况下，单个驱动晶体管提供的驱动电流的大小减小为原来的一半，从而可以降低驱动晶体管的功耗。

需要说明的是，图7中示例性地示出了驱动模块1112包括两个驱动子模块11121，在其他实施例中，驱动模块1112可以包括多个驱动子模块11121，对应的每个驱动子模块11121中驱动电流的大小减小为原来的1/n，n为驱动子模块11121的个数。

本发明实施例还提供一种显示面板的测试方法，用于测试本发明实施例中提供的显示面板。图8为本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图。如图8所示，该测试方法包括：

s810、控制控制电路向各像素驱动电路输出有效的第一扫描信号；

具体地，显示面板的驱动芯片为控制电路提供控制信号，用于控制控制电路是否输出有效的第一扫描信号。当控制信号控制控制电路输出有效的第一扫描信号时，像素驱动电路根据有效的第一扫描信号驱动与其对应的发光器件发光。

s820、根据发光器件的发光状态测试对应的发光器件的键合良率。

具体地，如果发光器件正常发光，则像素驱动电路和发光器件之间的键合良好。如果发光器件不能正常发光，则像素驱动电路和发光器件之间的键合异常。因此可以根据发光器件的发光状态测试对应的发光器件的键合良率，进而实现对显示面板良率的检测，有利于及时发现显示面板的制作过程是否存在异常，将不符合要求的显示面板剔除，对符合要求的显示面板进行后续的工艺，避免后续工艺的浪费，节约了显示面板的制作成本。

需要说明的是，显示面板的发光器件不能正常发光还包括发光器件损坏等情况，对应的显示面板同样不符合产品要求。

在上述技术方案的基础上，控制电路包括多个开关模块，每个开关模块与一行的像素驱动电路电连接，控制控制电路向各像素驱动电路输出有效的第一扫描信号包括控制所有的开关模块导通。具体地，所有的开关模块导通，使得所有的开关模块同时输出有效的第一扫描信号，显示面板中的像素驱动电路同时为发光器件提供驱动信号，驱动发光器件发光，实现了整个显示的检测。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。