专利名称：扫描检测装置的取像方法
技术领域：
本发明为一种扫描检测装置的取像方法，特别是指一种利用行进间取像，针对具周期性特征待检测物进行连续性的间接曝光，以快速判定待检测物良莠的取像方法。
背景技术：
在液晶显示板制造工厂中，为了在显示板中灌入液晶，在上下两片玻璃板中必须填入微粒(particle)来预留空间，在检测工作上必须计数固定区域中所包含的微粒数量，使其达到检验标准。现行的方法是利用显微镜人工目视来从事检测的工作，费时而不确实，实在有改进的必要。
更有一种液晶显示器(LCD)板料上的微细垫片计数系统的技术，其主要目的在于以机械视觉技术促进液晶显示器工厂自动化升级。此系统利用CCD摄影机、影像撷取系统及个人计算机组成一机械视觉自动化检测设备，而检测表面微粒的自动计算系统可用以改善目前人工计算的检验方式，除了统计数量之外，并能检测出微粒有无分布不均的情形。
在有些工厂里通常只有刚开始喷洒微细垫片时，工作人员会对刚开始生产的前面三片或四片的液晶显示器玻璃片实施目视检测，以调整喷嘴的喷出量，进而开始大量作业。事实上液晶显示器板料上的微细垫片的分布情形在液晶显示器制程上是一项攸关液晶显示器良率的重要步骤，因此微细垫片计数系统在液晶显示器制程品管方面有举足轻重的重要性。
然而，针对外来异物的检测一般利用影像撷取系统撷取LCD片的微粒影像，通常是采用静态取像或行进间取像，再经由曝光后取得清晰影像以进行检测，但是，行进间取像由于曝光不足，检测时间无法提升、以及LCD自发光的曝光强度不足，造成行进间取像的限制，检测的工作便会变得没有效率，或者必须提供高分辨率的影像撷取系统，再配合软件的高速计算方能达到检测的效果，因此，如果能提出一种快速判定待检测物良莠的取像方法，就扫描检测装置而言，便成为一被关注的议题。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种扫描检测装置的取像方法，主要是针对一具规律性的待检测物，通过一行进间取像，如progressive scan(逐行扫描)、line scan(行扫描)等，进行连续性的间接曝光，借由其拖曳(重叠)的影像撷取，产生其模糊(fuzzy)的影像，以取其重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据，打破传统行进间取像扫描必需以短快门控制以避免重叠曝光的迷思。
本发明的次要目的是善用重叠曝光的现象，使曝光行进距离等于待测物特征周期的整数倍，进而使异常的特征突显出来。
本发明提供一种扫描检测装置的取像方法，是利用行进间取像，针对具周期性特征待检测物进行取像，包含下列步骤提供至少一个影像撷取装置以进行该行进间取像；针对该待测物进行重叠的影像撷取；以连续性的间接曝光并产生模糊的重叠影像；及取该重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据。
本发明提供一种扫描检测装置的取像方法，提供至少一个影像撷取装置以进行行进间取像，并针对具周期性特征待检测物进行连续性的间接曝光，其特征在于针对该待测物进行重叠的影像撷取，产生模糊(fuzzy)的重叠影像，并该重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据。
本发明所提供的扫描检测装置的取像方法有如下优点
免去清晰影像的条件限制；及进一步利用曝光距离的控制突显异常。
有关本发明的详细内容及技术，兹就配合图式说明如下
图1为本发明的扫描检测装置的取像流程图；图2为第一待测物的原始影像图；图2A为第一待测物的原始影像正常列的亮度统计图；图2B为第一待测物的原始影像异常列的亮度统计图；图3为第一待测物的扫描影像的条纹影像图；图3A为第一待测物的扫描影像正常列的亮度统计图；图3B为第一待测物的扫描影像异常列的亮度统计图；图4为第二待测物的原始影像图；图4A为第二待测物的原始影像正常列的亮度统计图；图4B为第二待测物的原始影像异常列的亮度统计图；图5为第二待测物的扫描影像的条纹影像图；图5A为第二待测物的扫描影像正常列的亮度统计图；及图5B为第二待测物的扫描影像异常列的亮度统计图。
本发明所提出的扫描检测装置的取像方法，主要在于打破以往行进间取像作为检测时，如progressive scan、line scan等，必须要求所撷取的影像必须清晰的迷思，以极短曝光时间避免重叠曝光造成的拖曳现象。
图1为本发明的扫描检测装置的取像流程图，首先提供至少一个影像撷取装置以进行行进间取像(步骤100)，接着针对待测物进行重叠的影像撷取(步骤110)，并以连续性的间接曝光并产生模糊(fuzzy)的重叠影像(步骤120)，最后取其重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据(步骤130)。其中上述模糊(fuzzy)的重叠影像打破传统行进间取像扫描必需以短快门控制以“避免重叠曝光”的迷思，原因在于，行进间取像都必须面对重叠曝光，只是运用本方法可以免去清晰影像的条件限制，更进一步利用曝光距离的控制突显异常。
本发明的第一实施例以LCD面板检测作为标的测试物，说明运用本发明的取像方法的可行性，图2为第一待测物的原始影像图，如图所示，该原始影像的第7列为一正常列，第9列出现一异常特征影像点；图2A为第一待测物的原始影像正常列的亮度统计图，此图表示原始影像的第7列为一正常列；图2B为第一待测物的原始影像异常列的亮度统计图，此图表示原始影像的第9列为一异常列。
图3为第一待测物的扫描影像的条纹影像图，同样如图所示，该扫描影像的第7列为一正常列，第9列出现一异常特征影像点；图3A为第一待测物的扫描影像正常列的亮度统计图，此图表示扫描影像的第7列为一正常列，运用本发明所提的方法，进行重叠曝光后原始影像RGB周期特征的振幅互相抵消而明显减弱；图3B为第一待测物的扫描影像异常列的亮度统计图，此图表示原始影像的第9列为一异常列，运用本发明所提的方法，异常的特征强度并无互相抵消，仅有均摊而稍微减弱的现象，较佳者，若异常尺寸较曝光行进距离为大时，则仅在异常两端减弱，中心部分强度不变。
本发明的第二实施例亦以LCD面板检测作为标的测试物，说明运用本发明的取像方法的可行性，不同于第一实施例，第二影像的重叠曝光距离较接近影像RGB的周期，亮度较均匀，纵向条纹较不明显，图4为第二待测物的原始影像图，如图所示，该原始影像的第11列为一正常列，第13列出现一异常特征影像点；图4A为第二待测物的原始影像正常列的亮度统计图，此图表示原始影像的第11列为一正常列；图4B为第二待测物的原始影像异常列的亮度统计图，此图表示原始影像的第13列为一异常列。
图5为第二待测物的扫描影像的条纹影像图，同样如图所示，该扫描影像的第11列为一正常列，第13列出现一异常特征影像点；图5A为第二待测物的扫描影像正常列的亮度统计图，运用本发明所提的方法，进行重叠曝光后原始影像RGB周期特征的振幅互相抵消而明显减弱；图5B为第二待测物的扫描影像异常列的亮度统计图，此图表示原始影像的第13列为一异常列，运用本发明所提的方法，异常的特征强度并无互相抵消，仅有均摊而稍微减弱的现象。
本发明所提出的实施例以LCD面板检测作为标的测试物，在此方法的实现上，就影像撷取的阶段没有借由外部光源，原因在于LCD面板检测是由LCD的背光面板提供自发光源，不可有外部光源的打光，然此为本发明的应用，非用以限定本发明的应用范围，如一般行进间取像的应用范围包含保全监测、医疗监测、半导体生产设备影像检测、PCB(印刷电路板)检测、LCD面板检测、LED(发光二极管)亮度及颜色检测、大面积印刷品瑕疵检测等等，应可采用本发明所诉求的方法，借由其拖曳(重叠)的影像撷取，进行连续性的间接曝光并产生模糊(fuzzy)的影像，以取其重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据。
权利要求
1.一种扫描检测装置的取像方法，利用行进间取像，针对具周期性特征待检测物进行取像，其特征在于包含下列步骤提供至少一个影像撷取装置以进行该行进间取像；针对该待测物进行重叠的影像撷取；以连续性的间接曝光并产生模糊的重叠影像；及取该重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据。
2.如权利要求1所述的扫描检测装置的取像方法，可以应用于选自保全监测、医疗监测、半导体生产设备影像检测、印刷电路板检测、液晶显示器面板检测、发光二极管亮度及颜色检测、大面积印刷品瑕疵检测等的组合中的任何一种。
3.如权利要求1所述的扫描检测装置的取像方法，其特征在于该行进间取像可以选自逐行扫描与行扫描等的组合中的任何一种。
4.如权利要求1所述的扫描检测装置的取像方法，其特征在于该相对差异是指非周期性出现的特征。
5.一种扫描检测装置的取像方法，提供至少一个影像撷取装置以进行行进间取像，并针对具周期性特征待检测物进行连续性的间接曝光，其特征在于针对该待测物进行重叠的影像撷取，产生模糊的重叠影像，并该重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据。
6.如权利要求5所述的扫描检测装置的取像方法，其特征在于其可以应用于选自保全监测、医疗监测、半导体生产设备影像检测、印刷电路板检测、液晶显示器面板检测、发光二极管亮度及颜色检测、大面积印刷品瑕疵检测等的组合中的任何一种。
7.如权利要求5所述的扫描检测装置的取像方法，其特征在于中该行进间取像可以选自逐行扫描与行扫描等的组合中的任何一种。
8.如权利要求5所述的扫描检测装置的取像方法，其特征在于该相对差异是指非周期性出现的特征。
全文摘要
一种扫描检测装置的取像方法，是利用行进间取像，针对具周期性特征待检测物进行取像，提供至少一个影像撷取装置以进行一行进间取像，并针对具周期性特征待测物进行重叠的影像撷取，以连续性的间接曝光并产生非清晰性影像的重叠影像，最后取其重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据。本发明提供的扫描检测装置的取像方法，针对该待测物进行重叠的影像撷取，产生模糊(fuzzy)的重叠影像，并该重叠影像中的相对差异作为快速判定待检测物良莠的依据。
文档编号G02F1/133GK1482493SQ0213160
公开日2004年3月17日 申请日期2002年9月10日 优先权日2002年9月10日
发明者黄良印, 黄佳豪 申请人:均豪精密工业股份有限公司