专利名称：显示器电路结构的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种显示器电路结构，特别是关于一种测试与修复两用的电路结构。
背景技术：
主动式显示器的像素阵列是由多个互相垂直的数据线及扫描线所组成。像素阵列中的每个像素单元以薄膜晶体管作为开关，该薄膜晶体管的源极与栅极分别连接至该像素单元的数据线及扫描线。当数据线或扫描线断裂时，信号无法由断裂处馈入，导致画面质量降低，故显示器通常具有修复线(rescue line)的设计。
请参照图1，为已知含有修复线的显示器电路的平面图。显示器100的下基板101具有一主动区110(Active area)及一个接合区120(bondingarea)，接合区120是位于主动区110周边。框胶130涂布于主动区110与接合区120之间或主动区110周边，以供下基板101与上基板(未绘示)黏合。主动区110内设有多条扫描线112、多条数据线114及多个薄膜晶体管115。接合区120内部则设有数据驱动单元128电性连接于该等数据线114，以及扫描驱动单元129电性连接于该等扫描线112。在接合区120边缘具有三条测试线(shorting bar)122、124及126分别与红、蓝、绿三种像素以及测试单元(未绘示)连接以测试是否有坏点。测试完毕后，测试线122、124及126即以激光截断(laser cut)，图标虚线C-C即为截断线。
已知技术中，修复线116是沿框胶130内侧环绕于主动区110外缘，并未与测试线122、124及126相连接。修复线116作动方式说明如下。正常状态下，修复线116与数据线114或扫描线112上下重迭且以绝缘层(未绘示)隔开。假设数据线114具有断裂点117，则数据驱动单元128无法由路径A将数据信号传入像素102中。此时，将熔接点103a及103b处的绝缘层熔穿，以导通修复线116与数据线114。因此，数据信号可改由路径B，即传递至熔接点103a时，改由修复线116传递至熔接点103b，再经由数据线114的另一端输入至像素102的薄膜晶体管115。
然而，若断裂点118位于修复线116外侧的区域140中，则数据信号无法传至修复线116，而导致修复线116失去作用。其原因归纳如下1.目前修复线都是设计在框胶130内的位置，因此无法对修复线116外侧区域140所发生的故障进行修复，例如，因接触垫烧毁(Pad burn)或走线擦伤(lead scratch)等因素造成的故障。但目前这些区域的损害所造成的报废，在后段制程及客户端却是最常发生的问题，尤其对于单价高的电视产品，损失更为严重。
2.目前修复线116及测试线122、124及126的分开设计，也减少了显示器基板的空间利用率。
综上所述，若能将两者结合，将可增加显示器基板的设计空间。爰此，本发明提出一种电路结构来解决上述缺点。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示器电路结构，系将修复线与测试线结合共享，以降低显示器的报废率，并增加显示器基板的空间利用率。
本发明的显示器电路结构，包括基板上设置至少一薄膜晶体管、至少一第一走线以及至少一第二走线。该基板具有主动区及接合区。该薄膜晶体管设置于该主动区内。该第一走线设置于该接合区内。该第二走线包括第一端电性连接该第一走线；第二端电性连接该薄膜晶体管；重迭部与该第一走线重迭；以及牺牲部位于该第一端以及该第二端之间。
本发明还提供一种显示器模块，包含基板，具有主动区及接合区；至少一薄膜晶体管，设置于该主动区内；至少一第一走线，设置于该接合区内；至少一第二走线，具有第一端电性连接该第一走线；第二端电性连接该薄膜晶体管；重迭部与该第一走线重迭；及牺牲部位于该第一端以及该第二端之间；至少一外部电路，与该第一走线电性连接；以及至少一测试单元，与该第一走线电性连接。
上述重迭部可选择性熔穿，该牺牲部可选择性切除。当该重迭部未被熔穿，而该牺牲部未被切除时，上述电路结构可用以测试显示器是否有坏点。测试完后，该牺牲部即被切除。此时，若显示器的线路故障，则熔穿该重迭部，以将上述电路结构作为修复线。
使用本发明节省了已知技术中修复线的配置空间，而且可以使原来不能修复的区域(non repair area)变成可修复区域。此外，对于高成本的电视产品，可减少接触垫烧毁(Pad burn)或走线擦伤(lead scratch)而报废的比率。
图1为已知含有修复线的显示器电路的平面图；图2为本发明的电路结构应用于显示器中；图3为本发明的电路结构中，重迭部的侧剖面图；图4为本发明应用于显示器的测试；以及图5为本发明应用于显示器的修复示意图。
100 显示器204 第一走线101 下基板204a 第一红色走线102 像素 2041 熔接点103a 熔接点2042 辅助线103b 熔接点206a 第一绿色走线110 主动区208a 第一蓝色走线112 扫描线205 数据线114 数据线207 扫描线115 薄膜晶体管210 基板116 修复线211 像素阵列117 断裂点212 主动区118 断裂点214 接合区120 接合区220 第二红色走线(第二走线)122 测试线222 端点124 测试线224 端点126 测试线226 重迭部128 数据驱动单元 228 牺牲部129 扫描驱动单元 230 第二绿色走线130 框胶 240 第二蓝色走线200 显示器250 绝缘层
201 数据驱动单元 252 连接窗203 扫描驱动单元 300 测试单元400 印刷电路板具体实施方式
兹配合图标详述本发明「显示器电路结构」，并列举较佳实施例说明如下请参照图2，为本发明的电路结构应用于显示器中。显示器200包括基板210分为主动区212及接合区214。主动区212内部设有像素阵列211，其上方具有上盖(未绘示)或彩色滤光片(未绘示)。框胶216涂布于主动区212周围，以黏合基板210与该上盖或该彩色滤光片。接合区214内设有数据驱动单元201、扫描驱动单元203、至少一第一走线204及至少一第二走线220，第一走线204是与测试单元(未绘示)电性连接。
像素阵列211包括多个薄膜晶体管202。每个薄膜晶体管202经由数据线205电性连接至数据驱动单元201，并且经由扫描线207电性连接至扫描驱动单元203。值得一提的是，第二走线220的一端点222连接至第一走线204，另一端点224经由数据驱动单元201电性连接至薄膜晶体管202。两端点222及224之间具有重迭部226与第一走线重迭，以及牺牲部228位于基板210的预定截断区域，如图中虚线C-C上方部分。
较佳地，牺牲部228是位于重迭部226与端点222之间。重迭部226是与第一走线204电性连接且牺牲部228与第一走线204共同构成圈环结构。
请参照图3，为重迭部226的侧剖面图。绝缘层250具有连接窗252(contact hole)位于重迭部226与第一走线204之间，以激光融接使第一走线204电性连接至第二走线220，其中连接窗252的材料包括金属或导电材料，绝缘层的材料包括氮化硅(silicon nitride；SiNx)、闸氮化硅(gatesilicon nitride；g-SiNx)、单晶硅(amorphous silicon；a-si)或蚀刻阻挡氮化硅(etching stopper silicon nitride；ES-SiNx)。附带一提的是，重迭部226与第一走线204的上下位置不需限制，换句话说，第一走线204可位于第二走线220下方。
在测试显示器200时，上述第一走线204及第二走线220作为测试线之用；但在数据线205或扫描线207故障时，则作为修复线之用，以二个实施例分别说明如下。
请参照图4，为本发明应用于显示器的测试。为了分别测试整个显示器200的红色子像素R、绿色子像素G及蓝色子像素B是否正常，基板210的接合区214中设置了三条测试用的第一走线204a、206a及208a以供电性连接至测试单元300，例如multi-jump control(MJC)。
第一走线204a电性连接至多条第二走线220，经由该等第二走线220电性连接至显示器200中所有的红色子像素R。同样地，第一走线206a电性连接至多条第二走线230，经由该等第二走线230电性连接至显示器200中所有的绿色子像素G。第一走线208a电性连接至多条第二走线240，经由该等第二走线240电性连接至显示器200中所有的蓝色子像素B。
为了方便说明，以下将连接于红色子像素R的第一走线204a称为「第一红色走线204a」，而第二走线220则称为「第二红色走线220」。以此类推，第一走线206a与208a分别称为「第一绿色走线206a」与「第一蓝色走线208a」。第二走线230及240分别称为「第二蓝色走线230」与「第二绿色走线240」。
测试红色子像素R的过程详述如下。电路测试前，牺牲部228不能被截断，并且重迭部226需与第一红色走线204a彼此电性绝缘，剖面结构可参考图3，重迭部226与第一红色走线204a的上下位置不需限制，换句话说，第一红色走线204a可位于第二走线220下方，第一红色走线204a与重迭部226之间具有绝缘层(未标示)而无连接窗252。测试时，第一红色走线204a需电性连接至测试单元300。
电路测试方法如下，测试单元300提供测试信号至第一红色走线204a，使测试信号经过该等第二红色走线220而到达所有红色子像素R的薄膜晶体管202。依箭号所示，测试信号由测试单元300、第一红色走线204a、第二红色走线220的端点222、牺牲部228、重迭部226、第二红色走线220的另一端点224、数据驱动单元201，进而传递至薄膜晶体管202。同理，若要测试绿色子像素G与蓝色子像素B，测试单元300只要分别提供测试信号至第一走线206a与208a即可，测试信号之后的传递路径不再赘述。
第一红色走线204a、第一绿色走线206a与第一蓝色走线208a除了与测试单元300连接之外，亦电性连接至印刷电路板400以作为修复之用。
请参照图5，为本发明应用于显示器的修复示意图。为方便了解，将基板210绘制成两部分解释。显示器200经测试后，牺牲部228即被激光截断而呈断线状态。第一红色走线204a、第一绿色走线206a与第一蓝色走线208a电性连接至印刷电路板400，藉此与主动区212中的辅助线2042电性连接。当数据线205故障时，例如图示的断裂点260，数据信号即无法由正常路径输入该行红色子像素中。此时，只需将重迭部226上方的连接窗(未标示)熔通，数据信号即可经由第二红色走线220、第一红色走线204a、印刷电路板400、辅助线2042、熔接点2041的顺序输入该行红色子像素R中。
值得一提的是，当主动区212至数据驱动单元201之间的区域发生线路故障时，本发明亦能发挥修复功能。此外，也可以节省主动区212内部的修复线设计空间。
上述实施例虽以修多条据线为例，但本发明亦可应用于修复扫描线。另外，子像素不限于图标的配置方式。第一走线可为短路棒(shorting bar)。第二走线可为倒勾状走线。数据驱动单元201或扫描驱动单元203可用覆晶薄膜(COF)或卷带封装(TAB)于胶卷上。印刷电路板400可以任意外部电路取代。第一走线连接于外部电路，该外部电路再以覆晶薄膜或卷带封装的胶卷连接至薄膜晶体管而完成整个修复结构。
上列详细说明是针对本发明较佳实施例的具体说明，惟上述实施例并非用以限制本发明的权利要求范围，凡未脱离本发明技艺精神所为的等效实施或变更，均应包含于本案的权利要求范围中。
权利要求
1.一种显示器电路结构，包括基板，具有主动区及接合区；至少一薄膜晶体管，设置于该主动区内；至少一第一走线，设置于该接合区内；以及至少一第二走线，具有第一端电性连接该第一走线；第二端电性连接该薄膜晶体管；重迭部与该第一走线重迭；以及牺牲部位于该第一端以及该第二端之间。
2.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该牺牲部是位于该重迭部与该第一端之间。
3.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该重迭部是与该第一走线电性连接且该牺牲部与该第一走线共同构成圈环结构。
4.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该第一走线是与外部电路电性连接。
5.根据权利要求4所述的显示器电路结构，其中该外部电路包括柔性电路板。
6.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该第一走线是与测试单元电性连接。
7.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该重迭部是与该第一走线电性绝缘。
8.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该重迭部是与该第一走线电性连接。
9.根据权利要求1所述的显示器电路结构，还包括绝缘层位于该重迭部以及该第一走线之间，其中该绝缘层的材料包括氮化硅、闸氮化硅、单晶硅或蚀刻阻挡氮化硅。
10.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该绝缘层具有连接窗，以电性连接该第一走线以及该重迭部。
11.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该第二走线为倒勾状走线。
12.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该牺牲部包含至少一断线。
13.根据权利要求1所述的显示器电路结构，其中该至少一第一走线包括第一红色走线、第一绿色走线以及第一蓝色走线；以及该至少一第二走线包括第二红色走线、第二绿色走线以及第二蓝色走线，该第二红色走线、该第二绿色走线以及该之该第二蓝色走线的该些第一端是分别电性连接于该第一红色走线、该第一绿色走线以及该第一蓝色走线。
14.一种显示器模块，包含基板，具有主动区及接合区；至少一薄膜晶体管，设置于该主动区内；至少一第一走线，设置于该接合区内；至少一第二走线，具有第一端电性连接该第一走线；第二端电性连接该薄膜晶体管；重迭部与该第一走线重迭；及牺牲部位于该第一端以及该第二端之间；至少一外部电路，与该第一走线电性连接；以及至少一测试单元，与该第一走线电性连接。
全文摘要
一种显示器电路结构，包括基板上设置至少一薄膜晶体管、至少一第一走线以及至少一第二走线。该基板具有主动区及接合区。该薄膜晶体管设置于该主动区内。该第一走线设置于该接合区内。该第二走线包括第一端电性连接该第一走线；第二端电性连接该薄膜晶体管；重叠部与该第一走线重叠；以及牺牲部位于该第一端以及该第二端之间。
文档编号G02F1/136GK1845328SQ200610067868
公开日2006年10月11日 申请日期2006年3月13日 优先权日2006年3月13日
发明者杨诏棠, 黄教忠 申请人:友达光电股份有限公司