液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备的制作方法

专利名称：液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及液晶显示器的制造领域，尤其涉及一种液晶显示面板缺陷的 处理方法、处理系统和维^i殳备。
背景技术：
在薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,以下简称TFT-LCD)的制造过程中，可能会由于洁净间异物、工 艺参数设置问题使产品产生缺陷。目前对缺陷的^^测一般有三种方法，第一 种是人工视觉检测法(Human Visual Inspection)，第二种是机器视觉检测 法(Machine Visual Inspection)， 第三种是电学参数检观寸法(Electrical Parameter Inspection)。目前大多数厂家依然使用第一种检测方法，该方 法的缺点是和检测员的主观性有很大关系，长时间的检测会造成人眼的疲劳 而影响检测结果的准确性。
在检测作业员完成缺陷检测，确定缺陷位置后，维修作业员首先找到缺 陷位置，根据缺陷的实际形态、位置、亮度、尺寸等特征进行类型判别，确 定缺陷类型，例如像素缺陷或信号线缺陷，最后手动选择相应的维修方案进 行维修。 一般维修都是使用激光维修设备对缺陷发生区域进行切割、焊接或
化学气相沉淀等工艺对缺陷进行修复，并经过重新检测合格后按照正常品进 入下一工序。
由此可见，现有技术中的判别缺陷类型以及维修方案确定等过程掺杂了 大量的人为因素， 一方面要求维修作业员对不良特性和发生机理非常熟悉， 还需要对设备操作和参数有较多的实际经验，另 一方面造成缺陷类型判断的 准确率较低，维修效率较低，设备稼动率较低。

发明内容
本发明的目的是为了克服现有技术中液晶显示面板缺陷的类型判断准确 率较低、维修效率较低的缺点，提供一种液晶显示面板缺陷的处理方法、处 理系统和维修4殳备。
为实现上述目的，本发明提供了一种液晶显示面板缺陷的处理方法，包
括
步骤l、采集液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像； 步骤2、对所述缺陷图像进行分析并判定缺陷类型； 步骤3、根据所述缺陷类型查找对应的维修方案。 上述步骤2具体为
对缺陷图像进行滤波处理后，对经过滤波处理后的缺陷图像进行分割处
理；
对分割处理后的缺陷图像进行二值化处理，提取缺陷图像中每一层的图
像；
对每一层图像的紋理特征及边缘连续性特征进行分析； 从紋理特征及边缘连续性特征不符合要求的区域提取缺陷特征； 根据所述缺陷特征获得对应的缺陷类型。 上述步骤3之后还可以包括
步骤4、根据所述维修方案对液晶显示面板的缺陷区域进行维修。 一种液晶显示面板缺陷的处理系统，其特征在于，包括 图像采集模块，用于获取液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像； 缺陷判别模块，与所述图像采集模块连接，用于对所述缺陷图像进行分 析并判定缺陷类型；
维修选择模块，与所述缺陷判别模块连接，同时与存储有各种缺陷类型 以及对应的维修方案的存储模块连接，用于根据所述缺陷类型选择维修方案， 所述存储模块中的维修方案来自于图形用户接口录入或编程器下载。上述缺陷判别模块可以包括
特征提取单元，与所述图像采集模块连接，用于从所述缺陷图像中提取 缺陷特征；
缺陷判别单元，与所述特征提取单元连接，用于根据所述缺陷特征判定 缺陷类型；
缺陷存储单元，与所述缺陷判别单元连接，用于记录各种缺陷类型的缺 陷特征。
上述特征提取单元包括
图像滤波子单元，用于对获取的缺陷图像进行滤波； 图像分割子单元，与所述图像滤波子单元连接，用于对滤波后的缺陷图 像进行分割处理；
层图像提取子单元，与所述图像分割子单元连接，用于对所述分割处理 后的图像进行二值化处理，提取薄膜晶体管每一层的图像；
特征提取子单元，与层图像提取子单元连接，通过对所述每一层的图像 的紋理特征及边缘连续性特征进行分析，从紋理特征及边缘连续性特征不符 合要求的区域中提取缺陷特征。
一种包括上述的液晶显示面板缺陷的处理系统的液晶显示面板缺陷的维 修设备，包括
激光系统，用于根据维修方案对液晶显示面板缺陷进行激光维修；
机电系统，用于提供气体和用电控制，协助激光系统和液晶显示面板缺 陷的处理系统完成缺陷图像采集和缺陷维修；
至少一台控制主机，用于为所述的机电系统、激光系统和液晶显示面板 缺陷的处理系统提供必要的操作指令和软件支持。
上述激光系统包括
激光器，用于提供维修激光；
波长选择器，位于维修激光的传输光路中，邻近所述激光器，用于选择
7维修激光的波长；
多倍率目镜组，位于维修激光的传输光路中，邻近所要维修的液晶显示 面板，用于引导所述维修激光对液晶显示面板进行维修；
透射光源，位于放置所要维修的液晶显示面板的机台下方，为维修提供 背景照明用背光。
上述机电系统包括位于机台上的横向支架，固定在横向支架上、且与横 向支架垂直的纵向支架，纵向支架上装配有所述激光系统和液晶显示面板面 缺陷的处理系统。
上述液晶显示面板缺陷的处理系统还包括
输入/输出模块，用于和控制主机联系。
本发明提供了一种液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备， 通过采集缺陷图像，对缺陷图像进行分析获取缺陷特征，根据缺陷特征判别 缺陷类型，使得缺陷类型的判别更加准确，根据缺陷类型选定维修方案，在 控制主机的控制下，由机电系统、激光系统完成对缺陷液晶面板的维修，提 高维修效率，维修设备的稼动率也得以提高。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。


图1为本发明液晶显示面板缺陷的处理方法实施例一的流程图； 图2为本发明液晶显示面板缺陷的处理方法实施例二的流程图； 图3为本发明液晶显示面板缺陷的处理系统实施例的结构示意图； 图4为本发明液晶显示面板缺陷的处理系统实施例中缺陷判别模块的结 构示意图5为本发明液晶显示面板缺陷的维修设备实施例的结构示意图6为本发明液晶显示面板缺陷的维修设备实施例中激光系统组成示意
图；图7为本发明实施例中缺陷类型示意图一；
图8为本发明实施例中缺陷类型示意图二；
图9为本发明实施例中维修方案录入流程示意图10为本发明实施例中对液晶面板缺陷维修时的具体实施流程图。
具体实施例方式
本发明实施例中的激光维修设备所维修的TFT-LCD的TFT器件通常是多 层、多交叉状的，图形复杂度高，缺陷的特征也具有多样性和复杂性，但同 时相同型号的液晶面板器件结构基本一致，TFT图形具有较强的重复性。每 种缺陷的发生机理不同可能会需要不同的维修方案，本发明实施例提供的技 术方案能够自动对缺陷进行判断并根据缺陷类型选择维修方案进行维修。
图1为本发明液晶显示面板缺陷的处理方法实施例一的流程图，包括如 下步骤
步骤IOI、采集液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像； 步骤102、对缺陷图像进行分析并判定缺陷类型； 步骤103、根据缺陷类型查找对应的维修方案。
本实施例中对缺陷图像进行分析并判定缺陷类型具体为对缺陷图像进 行滤波处理后，对经过滤波处理后的缺陷图像进行分割处理；对分割处理后 的图像进行二值化处理，提取缺陷图像中每一层的图像；对每一层图像的紋 理特征及边缘连续性特征进行分析；从紋理特征及边缘连续性特征不符合要 求的区域提取缺陷特征；根据所述缺陷特征获得对应的缺陷类型。同时设置 存储有与缺陷类型对应的维修方案的模块，能够4艮据缺陷类型直接查找对应 的维修方案。本实施例中对缺陷图像进行分析获取缺陷特征的步骤可以通过 专用集成电路或通用集成电路实现。
本实施例中能够通过对缺陷区域的缺陷图像进行分析，判定缺陷类型， 然后根据缺陷特征自动选择维修方案，能够提高缺陷类型判别的准确性，确定维修方案，并可进一步的增加维修步骤，根据维修方案对液晶显示面板进
行维修。图2为本发明液晶显示面板缺陷的处理方法实施例二的流程图，如图2所示，包括如下步骤
步骤201、采集液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像；
步骤202、对缺陷图像进行分析并判定缺陷类型；
步骤203、根据缺陷类型从记录模块中查找对应的维修方案；
步骤2(M、根据维修方案进行维修。
本实施例是在上述实施例的基础上，增加了根据维修方案对液晶显示面板缺陷进行维修的步骤。
本实施例中能够通过采集缺陷图像，然后对采集的缺陷图像进行分析并判定缺陷类型，再根据缺陷类型查找对应的维修方案，能够提高缺陷检测的准确性，并能提高维修效率。
图3为本发明液晶显示面板缺陷的处理系统实施例的结构示意图，如图3所示，处理系统包括图像采集模块l、缺陷判别模块2、维修选择模块3和存储模块4,其中图像采集模块1用于获取液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像；缺陷判别模块2与所述图像采集模块1连接，用于对所述缺陷图像进行分析并判定缺陷类型；维修选择模块3与缺陷判别模块2连接，同时与存储各种缺陷类型以及对应的维修方案的存储模块4连接，用于根据所述缺陷类型选择相应的维修方案，存储模块4中的维修方案来自于图形用户接口(GUI )录入或编程器下载，该存储模块4为神经网络结构能够接收外界输入，也可以自我学习。
本实施例中的液晶显示面板缺陷的处理系统，能够自动根据采集到的缺陷区域的缺陷图像判别缺陷类型，并能选择与该缺陷类型相对应的维修方案，能够提高缺陷判别的准确率，提高维修效率。
本实施例中的缺陷判别模块可进一步按照功能划分，图4为本发明液晶显示面板缺陷的处理系统实施例中缺陷判别模块的结构示意图，如图4所示，缺陷判别模块2进一步包括特征提取单元21、缺陷判别单元22和缺陷存储单元23，特征提取单元21用于对缺陷区域的缺陷图像进行分析，提取缺陷特征，缺陷判别单元22用于根据缺陷存储单元23对缺陷类型及其对应的缺陷特征的记载判别缺陷类型，缺陷存储单元23用于记录缺陷类型及其对应的缺陷特征，本实施例是将缺陷类型及其对应的缺陷特征与缺陷类型及其对应的维修方案分别存储。
其中特征提取单元21包括图像滤波子单元211、图像分割子单元212、层图像提取子单元213、特征提取子单元214,其中图像滤波子单元211用于对获取的缺陷图像进行滤波，图像分割子单元212与图像滤波子单元211连接，用于对滤波后的缺陷图像进行分割，层图像提取子单元213用于对分割处理后的图像进行二值化处理，提取薄膜晶体管每一层的图像；特征提取子单元214与层图像提取子单元连接，通过对所述每一层的图像的紋理特征及边缘连续性特征进行分析，从紋理特征及边缘连续性特征不符合要求的区域中提耳又缺陷特征，再由缺陷判别单元22根据缺陷特征判定缺陷类型，最后由维修选择模块3根据缺陷类型从存储模块4中选择维修方案。本实施例中的特征提取单元对图像进行处理的功能可以通过专用集成电路(ASIC)或通用集成电^各实现，也可以是通过软件实现。
本实施例中的液晶显示面板缺陷的处理系统能够获取缺陷图像，根据缺陷图像判定缺陷类型，再查找对应的维修方案，能够提高缺陷类型判别的准确率，并准确的查找对应的维修方案。
本实施例中的缺陷处理装置能够在下述的液晶显示面板缺陷的维修设备实施例中使用，同时也能执行上述的液晶显示面板缺陷的处理方法实施例中的步骤。
本发明还提供了 一种液晶显示面板缺陷的维修设备，除包括上述实施例中的液晶显示面板缺陷的处理系统之外，还包括激光系统、机电系统和控制主机，其中液晶显示面板缺陷的处理系统能够根据缺陷图像判定缺陷类型，并判定维修方案；激光系统根据选定的维修方案进行激光维修；机电系统用于提供气体和用电控制，协助激光系统和液晶显示面板缺陷的处理系统进行缺陷图像采集和对液晶显示面板进行激光维修;控制主机用于为激光系统、机电系统和液晶显示面板缺陷的处理系统提供必要的操作指令和软件支持。
本实施例中的机电系统是维修设备的基础，包括基础的气体和用电控制单元以及传感器等必备部件，图5为本发明液晶显示面板缺陷的维修设备实施例的结构示意图，如图5所示，维修设备的机台61上放置待维修的液晶面板62,机台可以使用大理石结构，横向支架63固定在机台上，横向支架63包括X轴线性马达及轨道，纵向支架64固定于横向支架63上，包括Y轴线性马达及轨道，在纵向支架64上装配有激光系统和液晶显示面板缺陷的处理系统构成的光学系统65。光学系统65可以在与液晶面板垂直的Z轴方向上运动，其运动由Z轴步进马达控制。机电系统还与控制主机7连接，图中虚线表示控制主机通过PLC总线控制马达驱动器来驱动马达运动，同时还可以控制装配在纵向支架64上的光学系统65。
本实施例中提供的液晶显示面板缺陷的维修设备能够自动对缺陷进行分类，并根据缺陷类型选择相应的维修方案进行维修，能够提高缺陷类型检测的准确率，提供维修效率。
图6为本发明液晶显示面板缺陷的维修设备实施例中激光系统组成示意图，如图6所示，本实施例中的激光系统包括激光器50、多倍率目镜组58、透射光源521、反射光源522、狭缝光源(S1U光源)523以及激光维修光路中的其他光学器件，如偏转棱镜53、倍频器54、波长选择器55、狭缝选择器(Slit选择器)56、聚焦透镜57、第一分光镜591、第二分光镜592、第三分光镜593，其中激光器50用于提供检测和维修激光，激光器的原理是激光增益介质受到激励泵浦源的作用在谐振腔内产生受激辐射的光子发出不同波长的脉沖激光，本实施例中还"^殳有激光冷却装置51,用循环水来冷却激光器50。光源包括透射光源521、反射光源522和狭缝光源523,透射光源521位于机台下方，为维修液晶面板62提供背景照明用背光，反射光源522是激光光路的一部分，为CCD摄取图像提供照明，狭缝光源523也是激光光路的一部分，为狭缝选择器56调整形状时提供照明；其中偏转棱镜53使激光完成一定角度的偏转，改变激光输出方向，倍频器54用来放大激光，波长选择器55可以有效选择透光激光，狭缝选择器56用来控制激光射出的形状，分光镜可以根据光的折射率差异透过不同的光，本实施例光路中包括3个分光镜，其中第一分光镜591将反射光源522发出的光引入到光路中，第二分光镜592将缺陷图像输出到液晶显示面板缺陷的处理系统8,第三分光镜593将狭缝光源发出的光引入到光路中，聚焦透镜57对摄取的缺陷图像进行会聚以得到清晰的图像，多倍率目镜组58由多个倍率的镜头组成，本实施例中的包括5X、 20X、 50X、 IOOX，不同倍率的镜头的转换通过目镜选择器的带动完成。5X、 20X的作用是用来观察物体，确定缺陷区域；50X、 IOOX可以用来放大缺陷确定缺陷边界和形态颜色等特性，并可以透射激光进行激光维修。
本实施例中的液晶显示面板缺陷的处理系统其中还可以包括与控制主机联系的输入/输出模块。
在具体实施过程中，图像信息输入是由目镜组获得的缺陷图像经会聚透镜会聚，再经由分光镜反射光路传输到CCD图像釆集模块，图像采集模块对以光形式传来的信号进行采集获得彩色的图像信息并传送给缺陷判别模块。缺陷判别模块分为三个单元，第一个是特征提取单元，其作用是对彩色图像数据进行分析处理，经由图像滤波滤除杂波，然后以一定比例对每幅彩色图像进行等份分割，缩小处理范围，再对图像进行图像二值化，图像二值化是指根据彩色图像，即TFT器件每个部分的颜色深浅不同，如栅线层为金黄色，源漏电极层为浅黄色，设定灰度阈值，把每一层提取出来，最后对图像进行边缘检测，即检测提取的每一层图像以及各层之间的紋理特 及边缘连续性特征，对于图形不连续或紋理特征不符合要求的部分进行缺陷特征提取；将提取到的缺陷特征输入到缺陷判别单元，由缺陷判别单元根据缺陷存储单元的记载进行缺陷类型的判定，维修选择模块选定维修方案，最后经输入/输出模块传送到控制主机，有控制主机控制完成进一步的维修工作，缺陷存储单元中存储有各种缺陷的缺陷特征，具有自我学习能力。
本发明实施例中还包括一台控制主机，为机电系统、激光系统和液晶显示面板缺陷的处理系统提供必要的操作指令和软件支持。控制主机可以通过
可编程控制(PLC)总线驱动线性马达，通过电缆(Cable)与光学系统相连，通过用户界面(UI)实现激光相关控制及图像传输结果的传输，在上述实施例中提到的各种缺陷的缺陷特征以及对应该缺陷的维修方案都可以从控制主机中录入并写入到存储数据库。
本发明实施例提供的液晶显示面板缺陷的维修设备，能够根据缺陷区域的缺陷图像判定缺陷类型，并查找相应的维修方案对液晶显示器面板进行维修，该技术方案减少了人为因素的干扰，提高了缺陷检测的准确率和维修效率，设备稼动率得以提高。
现在以栅线(Gate)层金属残留导致的像素缺陷为例对本发明所涉及的处理方法、处理系统和维修设备进行说明。栅线层金属残留缺陷可如图7和图8所示，图7中液晶显示面板上包括栅线图形91、数据线图形92、各色像素对应的ITO电极93、 TFT器件94、金属残留95，对采集到的图像进行二值化处理后可以得到如图8所示的图像，其中包括正常的二值化栅线图形96以及二值化金属残留图形98，经过处理获得维修方案，确定要对金属残留实施切除(cutting )，维修时沿图7中所示的切除维修线97进行切除。
为了使用正确的维修方法，应该在缺陷存储单元中录入该类型的缺陷对应的缺陷特征，在维修选择模块中录入与缺陷类型对应的维修方案，即一些维修参数，具体过程如图9所示，包括如下步骤
步骤301、录入缺陷的名称和对应的缺陷特征，针对上述实施例中的栅线层金属残留，缺陷特征为栅线层图形边缘梯度突变，不连续；步骤302、选择维修激光参数，例如对于栅线层金属残留，选择使用532nm 的激光，形状为线性激光；
步骤303、选择使用的目镜倍数，例如选择使用50X的目镜； 步骤304、选择维修方案，选择切除，对金属残留实施切除。 对于录入完毕后作为维修方案一使用，对于其他类型的缺陷及其维修方 案也可以采取同样的方式从控制主机录入，并最终在存储模块中形成与每一 种缺陷类型对应的缺陷特征，以及相应的维修方案，以上对缺陷特征以及维 修方案的录入可以通过控制主机录入，其中的维修参数不仅限于上述步骤中 列举的参数，还包括例如背光源亮度等参数；对于维修方案可通过软件UI写 入到随机存取存储器(RAM)中，或从编程器下载，可以应用神经网络实现自
我学习，完善维修方案。
在对存有栅线层金属残留缺陷的液晶面板进行维修时，如图10所示，包
括如下步骤
步骤401、将液晶面板放入到机台上，然后利用CCD照相机进行对位，读 取对位标记和液晶面寺反标识(Panel ID)，利用液晶面寺反标识可以从工厂电 算系统中获得由检测作业员上传缺陷位置信息；
步骤402、通过读取对位标记查找液晶面板的零点坐标；
步骤403、确定上述缺陷位置和零点坐标后机电系统发送指令控制线性马 达带动光学系统运动到缺陷位置并由目镜采集缺陷图像；
步骤404、图像采集模块获取上述缺陷图像并传送给缺陷判别模块；
步骤405、缺陷判别模块对获取的图像进行滤波、分割、二值化、边缘检 测并提取缺陷特征，该缺陷特征显示栅线层图形边缘梯度突变，不连续；
步骤406、根据缺陷特征判断缺陷类型为栅线层金属残留，并执行步骤 407,若没有判断出缺陷的类型，则结束维修维^^步骤；
步骤407、由维修选择模块查找相应的维修方案，对于栅线层金属残留的 维修方案如上所述为维修方案一；步骤408、若找到相应的维修方案，则将相应的维修方案通过输入/输出 模块发送到控制主机并执行步骤409，若没有找到维修方案则结束维修步骤；
步骤409、控制主机根据维修方案控制马达驱动器和激光系统完成定位， 同时调整激光器的参数，例如使用532nm的激光，使用线性光源，选择50X 的目镜，最后对栅线层金属残留部分沿栅线走线进行切除，完成维修。
本发明提供的液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备，通 过采集缺陷区域缺陷图像，对缺陷图像进行分析获取缺陷特征，根据缺陷特 征判别缺陷类型，使得缺陷类型的判别更加准确，^^艮据缺陷类型选定维修方 案，在控制主机的控制下，机电系统、激光系统完成对缺陷液晶面板的维修， 提高了维修效率，维修设备的稼动率也得以提高。
最后应说明的是以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其进 行限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技 术人员应当理解其依然可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换， 而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明技术方案的 精神和范围。
1权利要求
1、一种液晶显示面板缺陷的处理方法，其特征在于，包括步骤1、采集液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像；步骤2、对所述缺陷图像进行分析并判定缺陷类型；步骤3、根据所述缺陷类型查找对应的维修方案。
2、 根据权利要求1所述的液晶显示面板缺陷的处理方法，其特征在于， 所述步骤2具体为对缺陷图像进行滤波处理后，对经过滤波处理后的缺陷图像进行分割处理；对分割处理后的缺陷图像进行二值化处理，提取缺陷图像中每一层的图像；对每一层图像的紋理特征及边缘连续性特征进行分析； 从紋理特征及边缘连续性特征不符合要求的区域提取缺陷特征； 根据所述缺陷特征获得对应的缺陷类型。
3、 根据权利要求1或2所述的液晶显示面板缺陷的处理方法，其特征在 于，所述步骤3之后还包括步骤4、根据所述维修方案对液晶显示面板的缺陷区域进行维修。
4、 一种液晶显示面板缺陷的处理系统，其特征在于，包括图像采集模块，用于获取液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像； 缺陷判别模块，与所述图像釆集模块连接，用于对所述缺陷图像进行分 析并判定缺陷类型；维修选择模块，与所述缺陷判别模块连接，同时与存储有各种缺陷类型 以及对应的维修方案的存储模块连接，用于根据所述缺陷类型选择维修方案， 所述存储模块中的维修方案来自于图形用户接口录入或编程器下载。
5、 根据权利要求4所述的液晶显示面板缺陷的处理系统，其特征在于， 所述缺陷判别模块包括特征提取单元，与所述图像采集模块连接，用于从所述缺陷图像中提取缺陷特征；缺陷判别单元，与所述特征提取单元连接，用于根据所述缺陷特征判定 缺陷类型；缺陷存储单元，与所述缺陷判别单元连接，用于记录各种缺陷类型的缺陷 特征。
6、 根据权利要求5所述的液晶显示面板缺陷的处理系统，其特征在于， 所述特征提取单元包括图像滤波子单元，用于对获取的缺陷图像进行滤波； 图像分割子单元，与所述图像滤波子单元连接，用于对滤波后的缺陷图 像进行分割处理；层图像提取子单元，与所述图像分割子单元连接，用于对所述分割处理 后的图像进行二值化处理，提取薄膜晶体管每一层的图像；特征提取子单元，与层图像提取子单元连接，通过对所述每一层的图像 的紋理特征及边缘连续性特征进行分析，从紋理特征及边缘连续性特征不符 合要求的区域中提取缺陷特征。
7、 一种包括权利要求4-6任一所述的液晶显示面板缺陷的处理系统的液 晶显示面板缺陷的维修设备，其特征在于，包括激光系统，用于根据维修方案对液晶显示面板缺陷进行激光维修； 机电系统，用于提供气体和用电控制，协助激光系统和液晶显示面板缺陷的处理系统完成缺陷图像采集和缺陷维修；至少一台控制主机，用于为所述的机电系统、激光系统和液晶显示面板缺陷的处理系统提供必要的操作指令和软件支持。
8、 根据权利要求7所述的液晶显示面板缺陷的维修设备，其特征在于， 所述激光系统包括激光器，用于提供维修激光；波长选择器，位于所述维修激光的传输光路中，邻近所述激光器，用于选择维修激光的波长；多倍率目镜组，位于所述维修激光的传输光路中，邻近所要维修的液晶 显示面板，用于引导所述维修激光对液晶显示面板进行维修；透射光源，位于放置所要维修的液晶显示面板的机台下方，为维修提供 背景照明用背光。
9、 根据权利要求7所述的液晶显示面板缺陷的维修设备，其特征在于， 所述机电系统包括位于机台上的横向支架，固定在横向支架上、且与横向支 架垂直的纵向支架，所述纵向支架上装配有所述激光系统和液晶显示面板面 缺陷的处理系统。
10、 根据权利要求7所述的液晶显示面板缺陷的维修设备，其特征在于， 所述液晶显示面板缺陷的处理系统还包括输入/输出模块，用于和所述控制主机联系。
全文摘要
本发明提供了一种液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备。其中液晶显示面板缺陷的处理方法包括采集液晶显示面板上缺陷区域的缺陷图像；对所述缺陷图像进行分析并判定缺陷类型；根据所述缺陷类型查找对应的维修方案。液晶显示面板缺陷的处理系统包括图像采集模块、缺陷判别模块和维修选择模块。液晶显示面板缺陷的维修设备包括上述的处理系统，还包括激光系统、机电系统和至少一台控制主机。本发明提供的液晶显示面板缺陷的处理方法、处理系统和维修设备，通过对缺陷图像进行分析判别缺陷类型，然后按照相应的维修方案对液晶面板进行维修，能够提高缺陷类型判别的准确性，提高维修效率。
文档编号G02F1/13GK101666923SQ20081011954
公开日2010年3月10日 申请日期2008年9月2日 优先权日2008年9月2日
发明者吕志超 申请人:北京京东方光电科技有限公司