信息存储读出运算系统及其制造方法

专利名称：信息存储读出运算系统及其制造方法
技术领域：
本发明涉及向被形成规定尺寸的液晶面板贴合被切出成为与该液晶面板宽度对 应的尺寸的偏光膜的薄片来制造液晶显示元件的液晶显示元件的连续制造方法和装置。更 具体地说，本发明涉及在连续制造液晶显示元件的装置中所使用的信息存储读出运算系统 和信息存储读出运算系统的制造方法，该装置包括存储与通过对连续状光学膜的检查所 检测出的疵点相关的信息的信息存储介质、被标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜 的层积体卷筒、根据从信息存储介质读出的疵点信息来求切断位置的切断位置运算机构。
背景技术：
如图1所示，液晶面板W在例举画面尺寸为对角42英寸的大型电视用液晶面板 时，其为由纵向(540 560)mmX横向(950 970)mmX厚度0. 7mm(700 μ m)左右的矩形 玻璃基板夹住且配置有透明电极和滤色片等的5μπι左右的液晶层构成的层状面板。液晶 面板W自身的厚度是1.4mm(1400 μ m)左右。液晶显示元件通常是通过分别向该液晶面板 W的正面侧(识别侧)和背面侧(背光侧)贴合包含偏光片和保护膜的偏光膜的薄片11" 而生成。如图2所示，薄片11"从具有层积结构的挠性光学膜10所包含的偏光膜11成形 为例如图1所示的尺寸。在液晶显示元件的功能中，液晶分子的取向方向与偏光片的偏光方向紧密关联。 液晶显示元件技术首先应用于使用了 TNCTwisted Nematic 扭转向列)型液晶的IXD(液 晶显示装置)，之后应用于使用了 VA (VerticalAlignment 垂直排列)型液晶、IPS (Inplane Switching:平面转换)型液晶等的LCD。省略详细的技术说明，但在使用了 TN型液晶面板 的LCD中，利用配置在液晶面板的玻璃基板内面的具有各自研磨方向的上下两片取向膜而 使液晶分子在光轴方向以扭转90°的状态排列，在加载电压时，与取向膜垂直地并排。若要 使从显示画面的左右看到的图像形成为相同，例如必须将识别侧的取向膜的研磨方向设定 成45° (把另一取向膜的研磨方向设定成135° )。因此，与此对应地必须将分别向液晶面 板的正面侧和背面侧贴合的偏光膜的薄片所包含的偏光片的偏光方向也相对于显示画面 的纵向或横向倾斜45°方向而配置。因此，贴合于TN型液晶面板的液晶显示元件的偏光膜的薄片需要从包含具有上 述45°方向的偏光方向的偏光片的光学膜，与TN型液晶面板的大小对应地冲裁或切断加 工成矩形。这种情况例如公开于日本特开2003-161935号公报(专利文献1)或日本特许第 3616866号公报(专利文献幻中。不言而喻，被加工成矩形的薄片的宽度即薄片的短边比 光学膜的宽度小。将如上所述从光学膜冲裁或切断加工成矩形的薄片称为“单片型薄片”。在制造使用了单片型薄片的液晶显示元件的过程中，单片型薄片预先从光学膜冲 裁或切断，以在粘接层粘贴有分离膜的状态成形为矩形。成形的单片型薄片在液晶显示元 件的制造工序中被收纳于储料库。被收纳于储料库的单片型薄片在向液晶面板W贴合时， 例如通过吸附输送装置一片一片地向与液晶面板贴合的贴合位置输送。在向液晶面板W贴 合前，自由剥离地层积于形成的粘接层的分离膜被剥离，由此，单片型薄片经由露出的粘接层与液晶面板W贴合。由于单片型薄片具有挠性，所以贴合时存在周缘产生挠曲或翘曲的 问题。因此，在使用单片型薄片的液晶显示元件的制造工序中，为了使每一片的分离膜容易 进行剥离动作，以便高精度且迅速进行与液晶面板的对位和贴合，不得不采用挠曲或翘曲 少、容易输送和贴合、具有一定程度的刚性且四边被修整的单片型薄片。例如在单片型薄片 不是向偏光片的单面而是向双面层积40 80 μ m厚度左右的保护膜而利用厚度使其具有 刚性就是因为这个缘故。在液晶显示元件的制造技术的初期阶段，该光学膜的薄片或该薄 片所包含的偏光膜的薄片通常被称为“偏光板”，该称呼在现在仍是通用名。在这种TN型液晶显示元件的制造技术中，冲裁或切断加工工序后，不能把成形的 薄片直接向液晶面板连续地贴合而作为一连串的工序来制造液晶显示元件。这是因为，此 时所使用的光学膜的薄片如上所述必须成形为使长边或短边的指向相对于向偏光片的纵 向或横向延伸的取向方向(即成形前的光学膜的输送方向或与其交叉的方向)成45°方 向，不能将如上所述成形的薄片以保持原样的相同姿势向液晶面板连续地贴合。如在专利 文献1或2所看到的那样，为了将薄片贴合于液晶面板，必须利用模具等从比液晶面板的长 边宽度宽的连续状光学膜在相对光学膜的长度方向成45°的方向上冲裁，并将一片一片的 薄片向与液晶面板贴合的贴合工序供给。或者，所使用的连续状光学膜必须是从宽度相当 宽的连续状光学膜在相对其长度方向成45°的方向上预先冲裁或切断的长光学膜、或者是 成形的一片一片的光学膜的薄片相互连接成膜状的长光学膜。这些方法都未离开单片型薄 片制造技术的领域。专利文献3是VA型液晶和IPS型液晶等实用化之前所应用的技术，其公开了如下 装置，即一边把包含偏光膜的光学膜连续供给一边把成形为必要长度的偏光膜的薄片依次 向液晶面板贴合以生成液晶面板。该装置是制造使用了 TN型液晶的LCD的贴标签装置。该 装置所使用的光学膜必须是从宽度相当宽的连续状光学膜与液晶面板宽度对应地在相对 偏光膜的延伸方向成45°的方向上切断加工的一片长光学膜、或者是如上所述的一片一片 的光学膜的薄片相互连接成膜状的长光学膜。因此，该装置不能直接应用于从层积结构的 连续状光学膜连续成形偏光膜的薄片并向使用VA型液晶或IPS型液晶的液晶面板贴合来 制造液晶显示元件的制造装置。关于制造使用了单片型薄片的液晶显示元件的自动化技术，例如被日本特开 2002-23151号公报(专利文献4)所公开。挠性的单片型薄片由于端部弯曲或下垂等而 容易产生挠曲或翘曲，对于与液晶面板的对位和贴合时的精度和速度而言，成为较大的技 术障碍。因此，为了容易进行吸附输送和向液晶面板的对位和贴合，要求单片型薄片具有 一定程度的厚度和刚性。例如被日本特开2004-144913号公报(专利文献5)、日本特开 2005-298208号公报(专利文献6)或日本特开2006-58411号公报(专利文献7)所公开的 技术能够认为是着眼于该技术课题而努力作出的。相对于TN型液晶面板而言，VA型液晶面板和IPS型液晶面板的液晶分子并不是 以扭转状态排列。因此，在使用了这些液晶面板的液晶显示元件中，基于根据液晶取向状态 而得到的视场角特性，不需要像使用TN型液晶面板的情况那样将光学膜薄片的偏光方向 相对于液晶显示元件的长边或短边的指向设定成45°方向。使用这些液晶面板的液晶显示 元件将偏光轴的方向与液晶面板的长边或短边并行且将相互相差90°方向的光学膜的薄 片分别贴合于液晶面板的正面侧和背面侧。在VA型液晶面板和IPS型液晶面板中，在考虑到视角特性的对称性和识别性的情况下，由于光学膜的薄片的偏光轴方向表示最大对比度 的方向，所以优选光学膜的薄片的光学轴相对于液晶面板的长边或短边方向平行。因此，向 这些液晶面板贴合的光学膜的薄片通过把包含向纵向或横向伸展处理过的偏光膜的连续 状光学膜连续输送，并相对该连续状光学膜的输送方向在横向上切断，作为具有与光学膜 的宽度相同宽度的矩形的光学膜的薄片而能够连续成形，该薄片具有上述优点。被用于大型电视机的显示元件所使用的液晶，从提高视场角特性的观点来看，正 从TN型液晶向VA型液晶和IPS型液晶转移。伴随这种技术开发环境的变化，如日本特开 2004-361741号公报(专利文献8)所示那样，以这些液晶面板为前提而用于提高生产效率 的提案也在开发。专利文献8公开的技术是把连续状光学膜连续输送并与液晶面板的大小 对应地切断光学膜，把切断的光学膜的薄片向液晶面板连续贴合的技术。但是，由于存在以下所示的技术课题，所以液晶显示元件的制造依然保持以单片 型薄片制造为主流。液晶显示元件的制造中的重要技术课题是事前确认制造的显示元件的 缺陷以防止出现不良品。多数缺陷主要起因于连续状光学膜所包含的偏光膜的内在疵点。 但现状是制造没有疵点的光学膜极其困难，因此，以将层积的各个膜所包含的疵点完全除 去的状态来提供连续状光学膜也不一定现实。另一方面，能够识别的损伤或疵点即使很少， 但从维持液晶显示元件自身品质的观点来看，也不容许把这种包含损伤或疵点的光学膜的 薄片作为电视用的薄片而使用。例如当把从光学膜成形的薄片的长边设定为约Irn左右时， 在不能事前把疵点部位除去的情况下，单纯通过计算，则制造的每1000个液晶显示元件就 产生多达20 200个包含疵点的不良品。因此，现状是使划分成矩形的光学膜的不存在疵点的正常区域，适当避开同样被 划分成矩形的光学膜的存在缺陷的不良区域而作为正常品的薄片(以下称为“正常薄片”) 从连续状光学膜冲裁或切断。或者，不区别正常区域和不良区域，把光学膜的薄片冲裁或切 断成矩形，仅在以后的工序中进行分选、排除来处理其中的作为不良品的薄片(以下称为 “不良薄片”)。因此，由于产品精度和制造速度这两方面的限制而处于难以将单片型薄片制 造方法的生产效率提高到当前的效率以上的状况。本申请人以即使提高量少仍要提高制造单片型薄片的生产效率为目的，例如如日 本特许第3974400号公报(专利文献9)、日本特开2005-62165号公报(专利文献10)或 日本特开2007-64989号公报(专利文献11)所示那样，提出了偏光膜的事前检查装置。这 些提案主要包含以下两个工序。在第一工序中，首先检查连续供给的连续状光学膜的偏光 膜内在的疵点，对检测出的疵点位置进行图像处理并将图像处理后的信息进行编码。然后， 从连续状光学膜冲裁单片型薄片时，在作为切屑而残留的端部利用记录装置将编码后的信 息直接印刷，之后卷绕连续状光学膜而生成卷筒。在第二工序中，由读取装置读取在从生成 的卷筒输送的连续状光学膜印刷的编码信息，根据判断是否合格的结果在疵点部位进行标 记。之后，从连续状光学膜冲裁单片型薄片，根据预先标记的标记将光学膜的单片型薄片分 选成正常薄片和不良薄片。这些工序对于提高制造单片型薄片的成品率是不可缺少的技术 手段。并且，本申请人在日本特开2007-140046号公报(专利文献12)中提出了如下的 制造方法把从连续状光学膜的层积体卷筒连续输送的连续状光学膜(该文献中称为“偏 光板原料卷筒”)所包含的载体膜(该文献中称为“脱模膜”)剥离而使包含粘接层的偏光膜(该文献中称为“偏光板”)露出，在对偏光膜内在的疵点进行检查后，避开偏光膜的疵点 部位而仅把正常区域冲裁成矩形，使用其他的输送介质把冲裁的正常薄片(该文献中称为 “板状产品”)移送到与液晶面板贴合的贴合位置。但上述方法并没有实现把从连续状光学 膜成形的光学膜的正常薄片通过载体膜送到与液晶面板贴合的贴合位置。该技术是把暂时 切断的单片型薄片与其他输送介质贴合而将其移送到与液晶面板贴合的贴合位置，不得不 承认该技术仍是属于制造单片型薄片范围内的液晶显示元件的制造方法。如专利文献13所示，本申请人提出有涉及将光学膜的薄片与液晶面板贴合的方 法及装置的发明。该发明是能够从把事前成形的单片型薄片取入液晶显示元件的制造工序 并使其与液晶面板贴合的液晶显示元件的制造技术，切换到在液晶显示元件的制造工序中 把偏光膜的薄片连续成形并直接与液晶面板贴合的液晶显示元件的连续制造技术的划时 代的提案。该发明的特征在于，液晶显示元件的一连串制造工序包含为了进行确定偏光膜 的不良区域和正常区域的检查，从连续状光学膜把载体膜和表面保护膜暂时剥离的工序； 在检查后把替代载体膜和替代表面保护膜再次层积于连续状光学膜的工序。这些工序在液 晶显示元件的连续制造中是为了一边保护因载体膜和表面保护膜的剥离而露出的偏光膜 的粘接层的露出面和没有粘接层的面，一边进行内在的疵点检查的必须工序。但这些工序 不仅使将成形的光学膜的正常薄片与液晶面板贴合的方法或装置整体变得相当复杂，而且 使工序数增加，使每个工序的控制变得困难。因此，专利文献13记载的发明存在不得不牺牲制造速度的缺陷。专利文献1 专利文献2 专利文献3 专利文献4 专利文献5 专利文献6 专利文献7 专利文献8 专利文献9 专利文献10专利文献11专利文献12专利文献13日本特开2003-161935号公报 日本特许第3616866号公报 日本特公昭62-14810号公报 日本特开2002-23151号公报 日本特开2004-144913号公报 日本特开2005-298208号公报 日本特开2006-58411号公报 日本特开2004-361741号公报 日本特许第3974400号公报 日本特开2005-62165号公报 日本特开2007-64989号公报 日本特开2007-140046号公报 日本特开2009-061498号公报

发明内容
本发明以这些相关发明为基础通过锐意研究而构想到能够连续制造液晶显示元 件以使制造液晶显示元件的产品精度和制造速度飞跃提高，并根本性改善产品成品率。VA型液晶面板和IPS型液晶面板从自液晶取向状态得到的视场角特性来看不存 在TN型液晶面板特有的技术制约、即必须以偏光膜的偏光方向相对于液晶面板的长边或 短边的指向成45°方向的方式将偏光膜的薄片与液晶面板的正面侧和背面侧的面贴合的技术制约。因此，使用VA型液晶面板或IPS型液晶面板的液晶显示元件在连续状光学膜的 供给中，相对输送方向成直角方向地进行切断，通过把切出的偏光膜的薄片与液晶面板连 续贴合而能够连续制造液晶显示元件。而且，在连续状光学膜的供给中，使该供给不间断， 其所包含的由连续状偏光膜的事前检查而检测出的包含疵点的不良薄片和不包含疵点的 正常薄片分别被切出，仅把其中的正常薄片向与液晶面板贴合的贴合位置供给，由此，在液 晶显示元件的连续制造过程中，能够使产品精度和制造速度飞跃提高，并能够大幅度改善 产品成品率。本发明的目的在于，能够将包含具有粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于 所述粘接层的连续状载体膜的完成检查的连续状光学膜(以下称为“完成检查的连续状光 学膜”)向贴合位置供给，并把由事前检查检测出的包含疵点的不良薄片和不包含疵点的正 常薄片分别连续地切出，从而实现使完成检查的连续状光学膜的供给不间断地仅把切出的 正常薄片与液晶面板连续贴合的机构，由此，使液晶显示元件的连续制造中的产品精度和 制造速度飞跃提高，并大幅度改善产品成品率。上述目的通过提供如下结构而能够实现，该结构包含存储有对连续状光学膜所 包含的连续状偏光膜的事前检查而检测出的疵点的信息的信息存储介质、结束检查并标记 有识别标识的连续状光学膜的层积体卷筒、基于根据标记于层积体卷筒的识别标识的读取 自信息存储介质读出的疵点信息来求出切断位置的切断位置运算机构。本发明的第一形态提供连续制造液晶显示元件的装置所使用的信息存储读出运 算系统。本信息存储读出运算系统是连续制造液晶显示元件的装置所使用的信息存储读出 运算系统，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒切出成为与液晶面板的长边或短边对应 的规定长度的薄片与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含具有 与形成规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自 由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜。该信息存储读出运算系统的特征在于，包括 信息存储介质，其存储通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点 的位置信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒； 以及切断位置运算机构，其使用基于识别标识从信息存储介质读出的疵点的位置信息和基 于自层积体卷筒放出完成检查的连续状光学膜时的放出量而算出的长度测量数据，来确定 划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片 切断位置。通过使用本信息存储读出运算系统，在连续制造液晶显示元件的装置中，基于运 算的不良薄片切断位置和正常薄片切断位置，在完成检查的连续状光学膜上，在相对完成 检查的连续状光学膜的输送方向成直角的方向，自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达 连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，从而能够切出正常薄片。在本发明的一实施方式中，完成检查的连续状光学膜还包含有自由剥离地层积于 连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的连续状表面保护膜。本发明的第二形态提供一种制造信息存储读出运算系统的方法，该信息存储读出 运算系统用于连续制造液晶显示元件的装置。本方法用于连续制造液晶显示元件的装置， 该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出 成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显 示元件，该连续状光学膜包含具有与形成规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜。该方法的 特征在于，包含如下步骤向连续状偏光片的至少一个面层积连续状保护膜来制造连续状 偏光膜，对连续状偏光膜进行检查来检测连续状偏光膜内在的疵点，经由粘接层将连续状 载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜来制造完成检查的连续状光学膜，生成用于识别完 成检查的连续状光学膜的识别标识并将其标记于完成检查的连续状光学膜，将标记有识别 标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状，从而制造标记有识别标识的完成检查的连 续状光学膜的层积体卷筒的步骤；将通过进行检查而检测出的疵点的位置信息存储到预先 准备的信息存储介质来制造存储有疵点的位置信息的信息存储介质的步骤；提供切断位置 运算机构的步骤，该切断位置运算机构构成为，使用基于识别标识从信息存储介质读出的 疵点的位置信息和基于自层积体卷筒放出完成检查的连续状光学膜时的放出量而算出的 长度测量数据，来确定划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的 正常薄片的正常薄片切断位置。在本发明的一实施方式中，制造层积体卷筒的步骤还包含有将连续状表面保护膜 自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的步骤。在本发明的一实施方式中，制造层积体卷筒的步骤包括以下步骤中的任一个或它 们的组合利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤；透射从光源照射的光而将连续 状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它 们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜 内在的疵点作为亮点来检测的步骤。本发明的第三形态提供一种制造信息存储读出运算系统的其他方法，该信息存储 读出运算系统用于连续制造液晶显示元件的装置。本方法用于连续制造液晶显示元件的装 置，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切 出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶 显示元件，该连续状光学膜包含具有与形成规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽 度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜。该方法 的特征在于，包含如下步骤准备连续状临时光学膜的卷筒，该连续状临时光学膜包括包 含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜，一边自该 卷筒放出连续状临时光学膜一边将连续状临时载体膜剥离而露出包含粘接层的连续状偏 光膜，对包含露出的粘接层的连续状偏光膜进行检查来检测包含粘接层的连续状偏光膜内 在的疵点，将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的露出的粘接层来制造完成检 查的连续状光学膜，生成用于识别完成检查的连续状光学膜的识别标识并将其标记于完成 检查的连续状光学膜，将标记有识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状，从而 制造标记有识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒的步骤；将通过进行检查而 检测出的疵点的位置信息存储到预先准备的信息存储介质来制造存储有疵点的位置信息 的信息存储介质的步骤；提供切断位置运算机构的步骤，该切断位置运算机构构成为，使用 基于识别标识从信息存储介质读出的疵点的位置信息和基于自层积体卷筒放出完成检查 的连续状光学膜时的放出量而算出的长度测量数据，来确定划定包含疵点的不良薄片的不 良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置。在本发明的一实施方式中，连续状临时载体膜在一个面具有通过在脱模处理后涂布包含粘接剂的溶剂并使其干燥而形成的能够转印的粘接层。在本发明的一实施方式中，连续状载体膜在层积于连续状偏光膜的露出的粘接层 的面上实施脱模处理。在本发明的一实施方式中，制造层积体卷筒的步骤还包含有将连续状表面保护膜 自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的步骤。在本发明的一实施方式中，制造层积体卷筒的步骤包括以下步骤中的任一个或它 们的组合利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤；透射从光源照射的光而将连续 状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它 们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜 内在的疵点作为亮点来检测的步骤。


图1是画面尺寸为对角42英寸的大型电视用液晶显示元件的例子；图2是表示制造液晶显示元件所使用的连续状光学膜结构和将从连续状光学膜 切出的偏光膜的薄片贴合后的液晶显示元件的图；图3是表示使用本发明一实施方式的信息存储读出运算系统的液晶显示元件的 连续制造装置的概略图；图4是图3所示的装置中的制造步骤的流程图；图5是表示本发明一实施方式的被标记了与存储于信息存储介质的疵点信息相 关联的识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R的制造装置的图；图6是图5所示的装置中的制造步骤的流程图；图7是表示本发明其他实施方式的被标记了与存储于信息存储介质的疵点信息 相关联的识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R的制造装置的图；图8是图7所示的装置中的制造步骤的流程图；图9是表示疵点检查装置、疵点种类和疵点检测方法的表；图10是表示本发明一实施方式的包括存储疵点信息的信息存储介质、被标记了 识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒和切断位置运算机构的信息存储读出 运算系统的图；图11是表示本发明一实施方式的向完成检查的连续状光学膜标记的识别标识的 种类的图；图12是表示计算在供给的完成检查的连续状光学膜上应形成区分不良区域和正 常区域的切割线的位置的方法的图；图13是表示用于计算在供给的完成检查的连续状光学膜应形成切割线的位置的 方法的流程图；图14是表示用于计算在供给的完成检查的连续状光学膜应形成切割线的位置的 其他方法的流程图；图15是表示用于计算在供给的完成检查的连续状光学膜应形成切割线的位置的 其他方法的流程图；图16是表示作为图13所示方法的演算结果而生成的切断位置信息的图17是表示作为图14所示方法的演算结果而生成的切断位置信息的图；图18是表示作为图15所示方法的演算结果而生成的切断位置信息的图；图19是表示包含本发明一实施方式的信息存储读出运算系统的液晶显示元件的 连续制造装置中的切断位置确认装置的动作的图；图20(1)、(2)是表示包含本发明一实施方式的信息存储读出运算系统的液晶显 示元件的连续制造装置中的识别、分选不良薄片而进行动作的不良薄片排除装置的图；图21是表示包含本发明一实施方式的信息存储读出运算系统的液晶显示元件的 连续制造装置中、将控制姿势的液晶面板向贴合位置输送的图；图22是表示本发明一实施方式的液晶显示元件的连续制造装置中正常薄片与液 晶面板贴合的贴合装置的图。附图标记说明1液晶显示元件的连续制造装置10完成检查的连续状光学膜 10'连续状临时光学膜11包含粘接层的连续状偏光膜11'尚未形成粘接层的连续状偏光膜 12粘接层13连续状表面保护膜 14连续状载体膜 14'连续状临时载体膜20识别标识 80切断位置信息100光学膜供给装置 110支架装置120识别标识读取装置 130、170膜供给装置131编码器 140、180速度调整装置 150切断装置160切割线形成位置确认装置 190不良薄片排除装置200贴合装置 210载体膜卷绕驱动装置 220边缘检测装置230直进位置检测装置 300液晶面板输送装置 400控制装置410信息处理装置 415切断位置运算机构 420存储装置500第一实施方式的信息存储读出运算系统所使用的层积体卷筒的制造装置500'第二实施方式的信息存储读出运算系统所使用的层积体卷筒的制造装置510偏光片的生产线 510'临时光学膜供给线520保护膜的生产线520'包含露出的粘接层的偏光膜的供给线530连续状偏光膜的检查线530'包含粘接层的连续状偏光膜的检查线540,540'标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的生产线550层积体卷筒R的生产线 560贴合驱动装置560'临时光学膜供给驱动装置570,570'组装有编码器的长度测量装置 580检查装置581图像读取装置 590、590'载体膜供给装置620识别标识印刷装置 630卷绕驱动装置640表面保护膜贴合装置 650临时载体膜卷绕驱动装置700控制装置 710信息处理装置 720存储装置
800信息存储介质
具体实施例方式本说明书中，把单面或双面层积有连续状保护膜的连续状偏光片(polarizer)中 与液晶面板贴合的一面形成有粘接层的连续状膜称为连续状偏光膜，把从该连续状偏光膜 成形为矩形的通称为“偏光板”的薄片称为“偏光膜的薄片”或简称为“薄片”。而且，在从 与连续状表面保护膜和连续状载体膜成一体的连续状偏光膜切出薄片时，在需要将薄片与 “偏光膜的薄片”进行区分的情况下把其称为“光学膜的薄片”，将从其所包含的连续状表面 保护膜或连续状载体膜切出的薄片称为“表面保护膜的薄片”或“载体膜的薄片”。以下，参照附图详细说明本发明的实施方式。1、连续制造液晶显示元件的装置的结构图3是表示包含本发明的信息存储读出运算系统的连续制造液晶显示元件的装 置1的概略图。本装置1包含光学膜供给装置100，其安装有完成检查的连续状光学膜层积 体卷筒R ；输送装置300，其输送液晶面板，该液晶面板贴合有从完成检查的连续状光学膜 切出的偏光膜的正常薄片；控制装置400，其控制光学膜供给装置100和液晶面板输送装置 300整体的动作。完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R在连续状光学膜上被标记有识 别标识20，该连续状光学膜包括具有与液晶面板的宽度对应宽度的包含粘接层的连续状 偏光膜和自由剥离地层积于粘接层的连续状载体膜。识别标识20优选与对连续状偏光膜 或包含粘接层的偏光膜进行检查而检测出且预先存储在信息存储介质800的疵点信息80 相关。信息存储介质800如后所述是在完成检查的连续状光学膜的制造工序中存储包含检 测出的疵点位置的疵点信息80的信息存储介质。作为信息存储介质能够使用软盘、CD、 DVD、闪存、硬盘等。根据由对连续状偏光膜或包含粘接层的偏光膜的检查而检测出的疵点 而生成的疵点信息80也可以在层积体卷筒R的制造装置中在生成疵点信息80后不经由信 息存储介质800而直接通过网络或专用线路向连续制造液晶显示元件的装置1的存储装置 420传送。这时，存储装置420作为本发明的信息存储介质而起作用。光学膜供给装置100包括从完成检查的连续状光学膜切出偏光膜的薄片11"的 切断工位A、把切出的偏光膜的薄片11"中的不良薄片排除的排除工位C、将正常薄片与液 晶面板贴合的贴合工位B。如后所述，光学膜供给装置100也可以把贴合工位B和排除工 位C重复配置。液晶面板输送装置300的详情将使用图21在后面论述。控制装置400具 有如下功能，即根据由识别标识读取装置120对识别标识20的读取而从信息存储介质800 或控制装置400的存储装置420读出疵点信息80，并基于该疵点信息来演算在完成检查的 连续状光学膜切出切痕的切断位置。光学膜供给装置100包括支架装置110，其用于自由旋转地安装完成检查的连 续状光学膜的层积体卷筒R ；识别标识读取装置120，其用于读取识别标识20 ；膜供给装置 130，其包含在一侧内置有用于计测完成检查的连续状光学膜的放出量的编码器131的一 对进给辊；速度调整装置140，其包含用于以一定速度进行膜供给的蓄能辊(τ· * -一 Λ 口)；切断装置150，其用于基于长度测量数据和疵点信息80，在完成检查的连续状光学 膜上在与输送方向垂直的方向上进行切割以形成切割线，根据由编码器131算出的完成检 查的连续状光学膜的放出量得到该长度测量数据，该疵点信息80根据识别标识20的读取而被读出；切断位置确认装置160，其用于确认形成的切割线的位置；膜供给装置170，其包 含进给辊；速度调整装置180，其包含用于以一定速度进行膜供给的蓄能辊；不良薄片排除 装置190，其用于识别偏光膜的不良薄片并将其从连续状载体膜排除；贴合装置200，其包 含一对贴合辊，该一对贴合辊用于将切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常 薄片从连续状载体膜剥离并使其与液晶面板贴合；载体膜卷绕驱动装置210，其用于卷绕 连续状载体膜；边缘检测装置220，其用于确认偏光膜的正常薄片的前端；以及直进位置检 测装置230，其用于检测偏光膜的正常薄片的直进位置。图4是表示利用这些装置进行的连 续制造液晶显示元件的装置1中的各制造步骤的流程图。2、完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R的制造<完成检查的连续状光学膜10的结构>安装于光学膜供给装置100的完成检查的连续状光学膜是卷绕有具有挠性的完 成检查的连续状光学膜10，如图2所示，该完成检查的连续状光学膜10包括在层积有连 续状保护膜的连续状偏光片及偏光片的与液晶面板贴合的面上形成有粘接层12的连续状 偏光膜11、具有层积于连续状偏光膜11的未形成粘接层12的面的粘接面的连续状表面保 护膜13、自由剥离地层积于连续状偏光膜11的粘接层12的连续状载体膜14。在液晶显示 元件的连续制造装置1中，使用卷绕有该完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R。尚 未形成粘接层12的连续状偏光膜11'(为了与形成有粘接层12的“包含粘接层的连续状 偏光膜11”区别而把尚未形成粘接层12的连续状偏光膜称为“连续状偏光膜11' ”)或包 含粘接层的连续状偏光膜11，事前检查是否存在内在的疵点。在制造完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R时所使用的检查方法存在两 种方法。一种是在将连续状保护膜层积于由PVA膜生成的连续状偏光片的连续状偏光膜 11'的制造工序中，检查制造过程中的连续状偏光膜11'的方法。另一种是使用连续状临 时光学膜10'的层积体卷筒R'进行检查的方法，该连续状临时光学膜10'至少包含预 先制造并准备的包含粘接层的连续状偏光膜11和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状 临时载体膜14'。具体而言，上述检查方法为通过一边从层积体卷筒R'输送连续状临时 光学膜10' —边将连续状临时载体膜14'剥离来检查包含露出的粘接层的连续状偏光膜 11的方法。完成检查的连续状光学膜10优选具有与被贴合的液晶面板的长边或短边大致 相同的宽度。层积于连续状偏光片的单面或双面的连续状保护膜优选是透明保护膜。连续 状载体膜14是如下的脱模膜，即在液晶显示元件的制造工序中保护连续状偏光膜11的粘 接层12，并且当偏光膜的正常薄片从连续状载体膜14剥离而与液晶面板贴合时，被卷绕而 除去。由于连续状载体膜14具有将切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常 薄片输送到贴合工位B的载体功能，所以在此称为“载体膜”。连续状偏光膜11'或包含粘接层的连续状偏光膜11例如经过以下的工序来制 造。首先把50 80μπι厚度左右的PVA(聚乙烯醇类)膜用碘染色并进行交联处理，对PVA 膜实施向纵向或横向延伸的取向处理。其结果是，在与PVA膜的延伸方向平行的方向上排 列有碘配位体，从而形成在与具有该方向的振动的偏光被吸收的延伸方向平行的方向上具 有吸收轴的连续状偏光片。为了制作除具有优良的均勻性和精度之外还具有优良光学特性 的连续状偏光片，优选PVA膜的延伸方向与膜的纵向或横向一致。通常，偏光片或包含偏光 片的连续状偏光膜1Γ的吸收轴与连续状偏光膜11'的长度方向平行，偏光轴成为与其垂直的横向。偏光片的厚度是20 30 μ m。然后，经由粘接剂在制作的连续状偏光片的两 面层积保护连续状偏光片的连续状保护膜。通常，连续状保护膜多使用40 80 μ m厚度左 右的透明TAC(三乙酰纤维类)膜。从液晶显示元件的薄型化的观点来看，也存在仅在连续 状偏光片的一个面贴合连续状保护膜的情况。最后，在层积有连续状保护膜的连续状偏光 片的一个面，形成与液晶面板贴合的丙烯酸类粘接层，制造包含粘接层的偏光膜11。如图2 所示，粘接层的厚度是10 30μπι。包含粘接层的连续状偏光膜11的厚度通常是110 220 μ m左右。连续状偏光膜11'的一侧能够替换成使用环烯类聚合物或TAC类聚合物等具有 光学补偿功能的相位差膜。连续状偏光膜11 ‘还能够通过在TAC类透明基体材料上提供将 聚酯类或聚酰亚胺类等聚合物进行涂布/取向并进行固定的层来制造。在是向液晶显示元 件的背光侧贴合的连续状偏光膜11'的情况下，还能够在连续状偏光片的背光侧的连续状 保护膜贴合提高亮度的膜而附加功能。另外，关于连续状偏光膜11'的结构，提出有包括在 连续状偏光片的一个面贴合TAC膜而在另一个面贴合PET膜的各种变更。连续状表面保护膜13和连续状载体膜14通常使用PET (聚对苯二甲酸乙二醇酯 类)膜。连续状表面保护膜13和连续状载体膜14都在连续制造液晶显示元件的最后工序 之前被剥离除去，是所谓的制造工艺材料。在液晶显示元件的制造工序中，连续状表面保护 膜13是用于保护连续状偏光膜11的没有粘接层的面使其不受污染或损伤的膜，连续状载 体膜14是用于保护粘接层露出的面的膜。连续状临时载体膜14'也是同样的膜。在未形成用于与液晶面板贴合的粘接层的连续状偏光膜11'上形成粘接层的方 法之一，是在连续状偏光膜11'的与液晶面板贴合的面上层积能够转印地形成粘接层的连 续状载体膜14的方法。具体的转印方法如下。首先，在连续状载体膜14的制造工序中，对 层积于连续状偏光膜的与液晶面板贴合的面的连续状载体膜14的一个面实施脱模处理， 通过向该面涂布包含粘接剂的溶剂并使其干燥，在连续状载体膜14生成粘接层。然后，例 如把包含生成的粘接层的连续状载体膜14连续输送，并将其层积于与其同样输送的连续 状偏光膜11'，从而将连续状载体膜14的粘接层转印到连续状偏光膜11'而形成粘接层 12。也可以代替这样形成的粘接层，将包含粘接剂的溶剂直接涂布于连续状偏光膜11'的 与液晶面板贴合的面并使其干燥来形成粘接层12。连续状表面保护膜13通常具有粘接面。该粘接面与连续状偏光膜11的粘接层 12不同，在液晶显示元件的制造工序中，在从偏光膜的薄片11"把表面保护膜的薄片(未 图示)剥离除去时，必须与表面保护膜的薄片一体地剥离。图2(产品)的图表示把表面保 护膜的薄片剥离并除去的状态。与在连续状偏光膜11是否层积有连续状表面保护膜13无 关，也可以在连续状偏光膜11的识别侧保护膜表面，实施保护液晶显示元件最外面的硬涂 层处理或包含防眩处理的能够得到防眩晕等效果的表面处理。(层积体卷筒R的制造)以下分别使用图5和图6、图7和图8来说明制造在液晶显示元件的连续制造装置 中所使用的信息存储读出运算系统的层积体卷筒R的装置和方法的第一和第二实施方式。 在液晶显示元件的连续制造装置中所使用的信息存储读出运算系统包括存储完成检查的 连续状光学膜的疵点信息80的信息存储介质800、被标记了与疵点信息80相关联的识别标 识20的完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R、演算在完成检查的连续状光学膜10上切割的切痕位置的切断位置运算机构。〈第一实施方式〉图5是示意性表示本发明一实施方式的制造完成检查的连续状光学膜的层积体 卷筒R的装置500的图。图6是表示与图5所示的装置500对应的制造完成检查的连续状 光学膜的层积体卷筒R的方法的制造步骤的流程图。图5所示的装置500包括生产线510，其制造连续状偏光片；生产线520，其制造 层积于连续状偏光片的连续状保护膜；生产线530，其是包含经由粘接剂一边把连续状保 护膜层积于连续状偏光片一边制造连续状偏光膜11'的工序；生产线M0，其包含如下工 序，即在已进行有无疵点的检查的连续状偏光膜11'的一个面层积形成有能够转印的粘接 层的连续状载体膜14，在另一个面根据需要自由剥离地层积连续状表面保护膜13来制造 完成检查的连续状光学膜；生产线阳0，其包含在向完成检查的连续状光学膜标记识别标 识20后将其卷绕而制造层积体卷筒R的工序。生产线530还包含检查连续状偏光膜11 ‘ 有无内在疵点的工序。生产线540还包含在完成检查的连续状光学膜标记识别标识20的 工序。装置500还包含进行整个装置的控制的控制装置700。如图5所示，生产线510包括如下工序，即对自由旋转地安装于成为连续状偏光片 的基体材料的PVA膜的卷筒51且利用贴合驱动装置560或未图示的其他驱动装置从卷筒 51输送的PVA膜进行染色、交联/伸展处理后，进行干燥来制造连续状偏光片。生产线520 包括如下工序，即对自由旋转地安装于成为连续状保护膜基体材料的通常是透明的TAC膜 的卷筒52且同样地利用贴合驱动装置560或未图示的其他驱动装置从卷筒52输送的透明 TAC膜进行皂化处理后，进行干燥来制造连续状保护膜。生产线530包括在生产线510和 520的终端具有一对贴合辊561和562的贴合驱动装置560，该生产线530可以包含如下工 序，即在偏光片与保护膜的界面涂布以聚乙烯醇类树脂为主剂的粘接剂，通过两贴合辊利 用仅数μ m的粘接层将两膜进行干燥粘接来制造连续状偏光膜11 ‘(图6的步骤1)。贴 合驱动装置560包括有长度测量装置570，该长度测量装置570将用于根据自制造的连续状 偏光膜11'前端的放出量来计算长度测量数据的编码器组装在贴合辊的任一个。由此，能 够测定连续状偏光膜11'的放出量(该图的步骤2、。贴合辊561和562 —边压接连续状 偏光片和连续状保护膜一边进行贴合来制造连续状偏光膜11 ‘。贴合辊561和562还与后 述的卷绕驱动装置630连动，一边输送连续状偏光膜11 ‘ 一边连续进行供给。生产线530还包括有连续状偏光膜11'的检查工位M，通过检查连续状偏光膜 11'的表面和内部来检测内在的疵点。检查工位M包含检测连续状偏光膜11'的表面和内 面有无疵点的检查装置580。如图9所示，检查装置580例如进行反射检查、透射检查、正交 偏光透射检查。检查工位M可以包含本领域技术人员所公知的以下所示的三种检查装置的 任一种或它们的组合。第一检查装置是利用光反射来检测连续状偏光膜11'表面的疵点检查装置。能够 检测的疵点如图9所示那样仅限于CCD照相机能够检测的表面凹凸及损伤或斑点。第二检查装置是把光源照射的光向连续状偏光膜1Γ垂直入射且使光学式检测 单元受光，把连续状偏光膜11'内在的疵点作为阴影来检测的疵点检查装置。能够检测的 疵点如图9所示那样是内部异物和在内部形成的气泡等。第三检查装置是基于正交偏光条件的疵点检测装置。随着这种疵点检查装置的实用化，连续状偏光膜的疵点检查的精度飞跃提高。作为大型液晶显示元件用的连续状偏光 膜，通常倾向只利用通过了基于正交偏光条件所进行的疵点检查的偏光膜。检查方法如下。 首先把作为检查对象的连续状偏光膜11'以及与其对应的偏光滤光片配置成使它们的吸 收轴成为正交偏光。接着，使光源发出的光垂直或倾斜地向连续状偏光膜11 ‘入射，以使偏 光滤光片的吸收轴相对连续状偏光膜11'的吸收轴成90°的方式，将偏光滤光片设置在 光学式检测单元的正前方，在该状态下，使透射连续状偏光膜11'的光由光学式检测单元 受光，从而将连续状偏光膜11'内在的疵点作为亮点检测出。能够检测的疵点如图9所示 那样，除了表面凹凸之外大体包括所有的疵点。控制装置700处理在检查工位M检测出的疵点图像，并生成与疵点相关的信息 80 (步骤4)。控制装置700进而把生成的疵点信息80存储到存储装置720 (步骤幻，然后 存储到信息存储介质800 (步骤14)。为了把疵点信息80备份，也可以向多个信息存储介质 存储疵点信息80。在生成疵点信息80后也可以不经由信息存储介质800而直接通过网络 或专用线路向连续制造液晶显示元件的装置1的存储装置420传送。这时，存储装置420 作为本发明的信息存储介质起作用。检查装置580与控制装置700的关联性如下所示。检查装置580例如包括包含 CXD照相机的图像读取装置581。图像读取装置581与控制装置700所包含的信息处理装 置710连接。由图像读取装置581读取的图像数据，与由连接到信息处理装置710的长度 测量装置570计测的长度测量数据相关联地进行信息处理。信息处理装置710将由图像读 取装置581得到的图像数据和由长度测量装置570测到的基于自连续状偏光膜11'的检 查位置(通常是前端位置)的放出量的长度测量数据，相关联地进行信息处理，由此生成与 连续状偏光膜11 ‘内在的疵点相关的信息80 (步骤4)，并将其存储到存储装置720 (步骤 5)。疵点信息80至少包括与疵点位置相关的位置数据，而且能够包括与疵点种类、疵点的 大小等相关的信息。信息处理装置710接着生成用于将当前制造的连续状光学膜的层积体卷筒与其 他连续状光学膜的层积体卷筒识别的识别标识20。识别标识20优选与疵点信息80相关 联。该识别标识20在液晶显示元件的连续制造中用于从信息存储介质800或存储装置420 读出疵点信息80。生成的识别标识20被标记在最终制造的完成检查的连续状光学膜(步 骤1 ，制造出标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10 (步骤1 。识别标识20 能够包含与疵点信息80相关联的制造批量和卷筒m数等信息。连续状偏光膜1Γ的疵点检查完成后，必须在连续状偏光膜1Γ的一个面形成 用于与液晶面板贴合的粘接层12。如图5所示，生产线540包含有载体膜供给装置590，其 安装有预先能够转印地形成有粘接层的连续状载体膜14的卷筒59。连续状载体膜14事 前在载体膜的生产线(未图示)上以20 50μπι厚度左右的PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯 类)膜作为基体材料被制造。在连续状载体膜14的一个面，一般是在PET膜的一个面实施 脱模处理后向该面涂布包含丙烯酸类粘接剂的溶剂并使其干燥，形成10 30 μ m厚度左右 的能够转印的粘接层，在该粘接层自由剥离地层积脱模膜。把连续状载体膜14从载体膜供 给装置590 —边剥离脱模膜一边供给，并利用一对载体膜贴合辊591和592自由剥离地层 积于连续状偏光膜11'。由此，在连续状载体膜14形成的粘接层就被转印到连续状偏光膜 11'而制造出包含粘接层的连续状偏光膜11。
生产线540还能够包括表面保护膜供给装置640，其将具有粘接面的连续状表面 保护膜13层积于连续状偏光膜11的、层积有连续状载体膜14的面的相反侧的面上。生产 线540还包括在将连续状表面保护膜13和/或连续状载体膜14层积于连续状偏光膜11而 制造完成检查的连续状光学膜10后，用于标记识别标识20的装置620。标记识别标识20 的位置优选设为与连续状偏光膜11'的疵点检查的开始位置对应的位置。生产线550包括有光学膜卷绕驱动装置630，该光学膜卷绕驱动装置630具有在 利用装置620将识别标识20标记于完成检查的连续状光学膜10后，将其卷绕而制成层积 体卷筒R的一对卷绕辊631和632(步骤1 。在将连续状保护膜层积于连续状偏光片的 双面的情况下，装置500包括两个连续状保护膜的生产线520、520'(在此，省略了生产线 520')。也可以在连续状保护膜的生产线520附加在将连续状保护膜层积于连续状偏光片 前对保护膜表面(非层积面)实施硬涂层处理、防眩晕处理或防眩处理的加工处理线。〈第二实施方式〉图7是示意性表示本发明一实施方式的制造完成检查的连续状光学膜10的层积 体卷筒R的装置500'的图，图8是表示与图7所示的装置500'对应的制造完成检查的连 续状光学膜10的层积体卷筒R的方法的制造步骤的流程图。对于图7所示的装置500'，除了与第一实施方式的装置500不同的结构之外，对 于相同结构则使用同一附图标记说明该装置500'。第二实施方式的装置500'使用预先 制造并准备的连续状临时光学膜10'的层积体卷筒R'。层积体卷筒R'是连续状临时光 学膜10'被卷绕成卷筒状的层积体卷筒，该连续状临时光学膜10'至少包括包含粘接层 的连续状偏光膜11和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜14'。在此所说 的连续状偏光膜11是在连续状保护膜层积于连续状偏光片的连续状层积体上已形成有粘 接层的连续状膜，是所谓的包含粘接层的连续状偏光膜。连续状偏光膜11是未检测有无内 在疵点的疵点检查前的包含粘接层的连续状偏光膜，在该粘接层上自由剥离地层积有保护 它的连续状临时载体膜14'。因此，装置500'包括临时光学膜供给线510'，其从自由 旋转地安装在支架装置上的连续状临时光学膜10'的层积体卷筒R'供给连续状临时光 学膜10'；偏光膜供给线520'，其从连续状临时光学膜10'把连续状临时载体膜14'剥 离，以便在使包含粘接层的连续状偏光膜11露出的状态下供给该连续状偏光膜11。第二实施方式的装置500'使用预先制造的连续状临时光学膜10'的层积体卷 筒R'。因此，本装置500'当然不具有连续状偏光片的生产线和连续状保护膜的生产线。 而且也不需要如下工序，即像第一实施方式的生产线530那样利用贴合驱动装置560的一 对贴合辊561和562向界面涂布粘接剂来将连续状偏光片和连续状保护膜干燥粘接的工 序。与之对应的生产线如图7所示是连续状临时光学膜10'的层积体卷筒R'的供给线 510'(图8所示的步骤1)。在该供给线510'包括有临时光学膜供给驱动装置560'，其包 含从安装在支架装置上的层积体卷筒R'输送连续状临时光学膜10'的一对进给辊561' 和562'。临时光学膜供给驱动装置560'包括有长度测量装置570'，其将用于测量自连 续状临时光学膜10'前端的放出量来计算长度测量数据的编码器组装在进给辊的任一个。 由此，能够测定连续状临时光学膜10'的放出量(步骤幻。进给辊561'和562'与卷绕 被制造的完成检查的连续状光学膜10并制成层积体卷筒R的卷绕驱动装置630连动，一边 输送连续状临时光学膜10' —边连续进行供给。
图7所示的连续状临时光学膜10'的供给线510'，利用临时光学膜供给驱动装 置560'将包含连续状临时载体膜14'的连续状临时光学膜10'送入剥离工位L。供给线 520'包括如下的剥离工位L，即利用临时载体膜剥离装置650把连续状临时载体膜14'从 连续状临时光学膜10'剥离，使包含粘接层的连续状偏光膜11以露出状态被供给。生产线 530'包括如下的检查工序，即、将包含露出的粘接层的连续状偏光膜11送入检查工位M以 检测包含露出的粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点。第二实施方式的完成检查的连续 状光学膜10的层积体卷筒R的制造利用生产线530'开始制造。被预先制造的连续状临时光学膜10'的层积体卷筒R'在该制造工序中，优选使 用形成有能够转印的粘接层的连续状临时载体膜14'。其原因在于，在装置500'中，在从 层积体卷筒R'输送连续状临时光学膜10'并从连续状临时光学膜10'剥离连续状临时 载体膜14'时，将自由剥离地形成于连续状临时载体膜14'的粘接层转印到连续状偏光 膜11'以制造包含粘接层的连续状偏光膜11。生产线530'包括与第一实施方式的装置 500所包括的检查工位M同样的检查工位M。在装置500中，检查有无内在疵点的对象是不包含粘接层的连续状偏光膜11'自 身，与此相对在装置500'中，检查对象为包含处于露出状态的粘接层的连续状偏光膜11。 检查工位M包含有检测包含粘接层的连续状偏光膜11的表面和内面有无疵点的检查装置 580。如图9所示，检查装置580例如进行反射检查、透射检查、正交偏光透射检查。能够包 含于检查工位M的检查装置与上述第一实施方式的情况相同。控制装置700处理在检查工 位M检测出的疵点图像，并生成与疵点相关的信息80 (步骤6)。生成的疵点信息80经由存 储装置720存储到信息存储介质800 (步骤7和步骤16)。为了进行备份，也可以将疵点信 息80存储到多个信息存储介质。检查装置580与控制装置700的关联性与第一实施方式的装置500相同。由图像 读取装置581读取的图像数据，与由连接到信息处理装置710的长度测量装置570'测量的 长度测量数据相关联地进行信息处理。信息处理装置710使由图像读取装置581读取的图 像数据和由长度测量装置570'测量的、基于自连续状临时光学膜10'通过临时光学膜供 给驱动装置560'的位置(通常是前端位置)的放出量的长度测量数据相关联地进行信息 处理，由此，生成与包含粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点相关的信息80(步骤6)，并存 储到存储装置720(步骤7)。信息处理装置710接着生成用于将当前制造的连续状光学膜的层积体卷筒与其 他连续状光学膜的层积体卷筒识别的识别标识20。识别标识20优选与疵点信息80相关 联。该识别标识20在液晶显示元件的连续制造中用于从信息存储介质800或存储装置420 读出疵点信息80。生成的识别标识20被标记在最终制造的完成检查的连续状光学膜(步 骤14)，制造出标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10 (步骤1 。标记识别标 识20的位置优选设定为与包含粘接层的连续状偏光膜11的疵点检查的开始位置对应的位 置。识别标识20能够包含与疵点信息80相关联的制造批量和卷筒m数等信息。第二实施方式的生产线MO'包括安装有连续状载体膜14的卷筒59'的载体膜 供给装置590'。连续状载体膜14事前在载体膜的生产线(未图示)上以20 50μπι厚 度左右的PET (聚对苯二甲酸乙二醇酯类)膜作为基体材料来制造，在该PET膜的一个面 实施脱模处理，不像第一实施方式的生产线540那样形成能够转印的粘接层，所以不需要脱模膜。从载体膜供给装置590'供给连续状载体膜14并利用一对载体膜贴合辊591'和 592'将连续状载体膜14自由剥离地层积于连续状偏光膜11的粘接层。第二实施方式的 装置500 ‘的生产线550由于具有与第一实施方式的装置500同样的结构和功能，所以在此 省略说明。3、利用信息存储读出运算系统的液晶显示元件的连续制造图10是表示本发明一实施方式的信息存储读出运算系统的示意图，该信息存储 读出运算系统包括图5或图7所示的装置中生成的被标记了识别标识20的完成检查的 连续状光学膜10的层积体卷筒R、存储疵点信息80的信息存储介质800和/或存储装置 410、演算在完成检查的连续状光学膜10切出切痕的位置的切断位置运算机构415。在此， 与图4的流程图相关，说明本发明一实施方式的使用信息存储读出运算系统来连续制造液 晶显示元件的方法和装置。(标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10的输送)如上述那样制造的层积体卷筒R被安装在液晶显示元件的连续制造装置1的光学 膜供给装置100输送装置上，把完成检查的连续状光学膜10从层积体卷筒R输送(图4的 步骤1)。被输送的光学膜10的长度测量由另行设置于光学膜供给装置100的编码器131 根据光学膜的放出量来计算(图4的步骤幻。用于计算长度测量数据的编码器也可以设置 于光学膜供给装置100的支架装置110上(未图示)。由编码器131算出的长度测量数据 优选存储在控制装置400的存储装置420中。(识别标识20的种类)图11表示本发明一实施方式的标记于完成检查的连续状光学膜10的识别标识20 种类的例子。识别标识20可以使用一维代码或二维代码或IC标签等，可以存储将完成检 查的连续状光学膜10特定的识别信息、例如批号等数据。(切断位置的演算)从层积体卷筒R把标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10 (以下简称 为“完成检查的连续状光学膜10”)连续地输送时，由识别标识读取装置120读取标记于完 成检查的连续状光学膜10的识别标识20(图4的步骤2、。接着，根据识别标识20的读取 而从信息存储介质800或存储装置420读出疵点信息80。信息处理装置410的切断位置运 算机构415使用读出的疵点信息80 (具体说就是疵点位置数据)和利用编码器131算出的 长度测量数据来演算划定正常薄片Xα的正常薄片切断位置和划定不良薄片Xβ的不良薄 片切断位置。切断位置运算机构415根据疵点位置和完成检查的连续状光学膜10的长度测量 数据如下求得形成于完成检查的连续状光学膜10的切割线位置(切断位置)的信息(以 下称为“切断位置信息”)。在制造液晶显示元件时，切割线如下形成，即利用切断装置150 相对供给的完成检查的连续状光学膜10的输送方向而在横向上，在该光学膜上自连续状 载体膜的相反侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度。这种切断方法也被称为 半切割。生成的切断位置信息优选被存储在存储装置420。在由光学膜上游侧的切割线和从该切割线向下游侧仅离开规定距离的切割线这 两个部位的切割线所形成的区域，具有偏光膜的正常区域，其具有由要贴合的液晶面板的 边的长度来确定的规定尺寸长度且不包含疵点；偏光膜的不良区域，其通常比规定尺寸长度短且包含疵点。由切断装置150根据两个部位的切割线所形成的偏光膜11的不良区域 成为由不良薄片排除装置190从完成检查的连续状光学膜10 (具体说是连续状载体膜14) 排除的不良薄片X β。同样地，正常区域成为从完成检查的连续状光学膜10(具体说是连续 状载体膜14)剥离并利用贴合装置200与液晶面板的一侧贴合的正常薄片Xa。图12是表示对于被供给的完成检查的连续状光学膜10计算区分不良区域和正常 区域的切断位置的方法的示意图。图13 图15是表示用于计算被供给的完成检查的连续 状光学膜10的切断位置的不同方法的流程图。图16 图18是表示作为利用这些不同的 方法进行演算的结果的切断位置信息如何确定的图。以下，使用图12 图18来详细说明切断位置信息的演算方法。首先如上所述，输 送完成检查的连续状光学膜10 (图13的步骤1)，由识别标识读取装置120来读取标注于光 学膜的识别标识20 (图13的步骤2、。从完成检查的连续状光学膜10的放出量得到长度测 量数据。根据识别标识20的读取，信息处理装置410从信息存储介质800或存储装置420 读出对应的疵点信息80。接着，在图13的步骤3和步骤4中，切断位置运算机构415根据读出的疵点信息 80和长度测量数据来比较光学膜的薄片长度和相当于正常区域的长度χ α。首先在步骤3 中，切断位置运算机构415演算从完成检查的连续状光学膜10所处的位置(例如图12中， 作为A所示的位置。把该位置设定为第一切断位置)到疵点位置的距离X。接着在步骤4 中，切断位置运算机构415演算从距离χ减去与正常区域相当的长度χα后的距离(χ-χα) =X'。完成检查的连续状光学膜10的与正常区域相当的长度χα根据液晶面板的大小由 系统管理员设定并预先存储在存储装置420。然后，切断位置运算机构415判断算出的距离 x'比预先存储在存储装置420的与光学膜的正常区域相当的长度χα大还是小。在χ' > χα时，能够在完成检查的连续状光学膜10上确保正常区域Xa (步骤 5)。因此，切断位置运算机构415把从位置A (第一切断位置)在完成检查的连续状光学膜 10的上游侧仅离开χα的位置B作为用于形成与正常区域相当的正常薄片Χα的下一个切 断位置(第二切断位置)来确定(步骤6)。同样地，切断位置运算机构415计算从第二切 断位置B减去与正常区域相当的长度χα后的长度，在该长度比χα大时，把从第二切断位 置B在光学膜的上游侧仅离开χ α的位置C作为第三切断位置来确定，进而同样地把下一 个位置D作为第四切断位置来确定。另一方面，在χ' ^xa时，即图12所示的χ' "^xa时，则不能在完成检查的 连续状光学膜10上确保正常区域χα。这时，切断位置运算机构415向χ"‘加上规定的 尺寸xO来计算与不良区域X β相当的长度(χ' “ +χ0) =χβ。即从位置D在完成检查的 连续状光学膜10上的上游侧仅离开χ β的位置E作为用于形成与光学膜的不良区域相当 的不良薄片X β的切断位置来确定(步骤6)。汇总上述情况，切断位置运算机构415基于根据识别标识20的读取而从信息存储 介质800或存储装置420读出的对应的疵点信息80和从完成检查的连续状光学膜10的放 出量算出的长度测量数据进行以下(a)和(b)的演算，即(a)在χ' > χα时，到下一个切断位置的距离=Χα(b)在χ'彡χα时，到下一个切断位置的距离=(χ' +χΟ) = χβ，把该位置作为 下一个切断位置来确定。
但在利用切断位置运算机构415进行演算的结果是与不良区域相当的长度 (χ' +χ0) =χβ是与正常区域相当的长度χα相等的值时，S卩(X' +χΟ) =χα时，信息处 理装置410不能识别或分选正常区域X α和不良区域Χβ。即、由于不良区域不能作为不良 区域X β来识别，所以可认为信息处理装置410不能判断该区域是正常区域X α还是不良 区域Χβ中的哪一个。这种情况假定成如下情况，即完成检查的连续状光学膜10的内在疵 点位置与光学膜的下一个切断位置无限接近的情况，或在与正常区域相当的长度χα疵点 连续分布的情况。因此，在构成(χ' +χΟ) =χα时，优选信息处理装置410至少根据下述 的任一方法来进行信息处理，以便能够识别或分选正常区域X α和不良区域Χβ。在上述(b)的情况下，即使由切断位置运算机构415算出的到下一个切断位置的 距离(χ' +χΟ)是与正常区域相当的长度χα，该区域也不是正常区域Χα。为了识别上述 情况，本发明的一实施方式中如图13的步骤5所示那样，把分别表示正常区域和不良区域 的数据与切断位置信息相关联。例如在由切断位置运算机构415演算的结果成为(χ' +χΟ) =xa的情况下，如图16所示，信息处理装置410将表示不良区域的值X γ =1与该切断 位置或其前一个切断位置的任一个相关联。另一方面，在此之外的情况下即Χ' >xa的情 况下，信息处理装置410将表示正常区域的值XY=O与该切断位置或其前一个切断位置 的任一个相关联。在χβ <χα的情况下，表示不良区域的值X Y =1也与切断位置相关 联。在本发明的其他实施方式中，算出的到下一个切断位置的距离(x' +x0)成为与 正常区域相当的长度χα时，如图14的步骤5所示那样，切断位置运算机构415修正演算 结果以使下一个切断位置成为(x' +x0' )(χ0' >χ0)。如图17所示，该方法通过计算与 χα不同的χβ=(χ' +χΟ')而能够识别或分选(x' +x0')的长度区域即不良区域Χβ 和正常区域Xα。在本发明的其他实施方式中，算出的到下一个切断位置的距离(χ' +χΟ)是与正 常区域相当的长度Χ α时，如图15的步骤5所示那样，切断位置运算机构415修正演算结 果以使下一个切断位置成为(x' +x0)/m(m是2以上，优选2或3)。如图18所示，该方法 通过计算与χα不同的χβ = (x' +x0)/m而能够识别或分选(x' +x0)/m的长度区域即 不良区域Χβ和正常区域Χα。汇总以上情况，本发明中作为生成用于识别或分选不良区域与正常区域的信息的 方法，例如能够使用以下的任一方法。(1)作为用于识别或分选(χ' +χΟ)的长度的不良区域Χβ和正常区域Χα的信 息而生成X Y的方法。(2)生成与χα不同的到下一个切断位置的距离=χ' +χΟ' (χ0'>χα)的方法。(3)生成与χα不同的到下一个切断位置的距离=(x' +x0)/m(m= 2以上)的方法。特别是在采用⑵或(3)方法的情况下，(x' +x0) = χα，但基于切断位置运算 机构415进行修正的结果是成为(χ' +x0')兴χα或是(χ' +x0)/m兴χ α，因此，这些 切断位置信息自身作为表示正常区域Xa和被识别或分选的不良区域X β的信息(即(1) 的方法中与XY相当的信息)起作用。2
当切断位置被确定时，接着在步骤7中，信息处理装置410在(1)的情况下，把确 定的到下一个切断位置的长度与信息X Y相关联并存储到存储装置420。在上述(2)或(3) 的情况下，信息处理装置410把在步骤6中确定的到下一个切断位置的长度存储到存储装 置 420。(切割线的形成)在利用识别标识读取装置120读取识别标识20后，完成检查的连续状光学膜10 被送到切断工位A。在图4的步骤5中，切断装置150根据由切断位置运算机构415所确定 的切断位置信息和光学膜的长度测量数据，在光学膜上依次形成切割线(即切断装置150 将光学膜半切割)。作为切断装置150例如能够使用激光切断装置、刀具装置等公知的装置。(切断位置的确认)在切断工位A中，基于切断位置信息，切断装置150在光学膜上沿横向依次形成切 割线。但若依次形成的切割线位置不正确，则难以提高液晶显示元件的产品精度。因此，在 液晶显示元件的连续制造中，在光学膜上正确地形成切割线是重要的。图19是表示切断位置确认装置160的动作(图4的步骤6)的示意图。切断位置 确认装置160确认在完成检查的连续状光学膜10上相对于其输送方向在横向形成的切割 线实际位置与由切断位置运算机构415算出的切断位置之间的偏差。从完成检查的连续状 光学膜10的输送方向看，切断位置确认装置160隔着切断装置150而设置在上游侧和下游 侧。在下游侧切断位置确认装置160的更下游侧设置有包含进给辊的膜供给装置170，由 此，使在形成切割线时在极短时间暂时停止的完成检查的连续状光学膜10的供给重新开 始。另一方面，在上游侧切断位置确认装置160的更上游侧设置有包含蓄能辊的速度调整 装置140，由此，在形成切割线时即使完成检查的连续状光学膜10的输送被暂时停止，也维 持基于包含进给辊的膜供给装置130的光学膜的供给。相对于完成检查的连续状光学膜10的输送方向在横向形成的切割线的位置，与 由切断位置运算机构415算出的切断位置是否一致的确认，能够通过求出完成检查的连续 状光学膜10的流向(X方向)和横断方向(Y方向)的正确位置来进行确认。优选为，如下 进行确认，即在前后隔着切断位置的两个部位通过测量实际切断位置及光学膜的边缘(侧 端部)位置与各自位置的基准线之间在X方向和Y方向上的偏差来进行上述确认。例如利 用包含CCD照相机的切断位置确认装置160来对完成检查的连续状光学膜10的切断位置 和边缘位置进行摄影，使其形成图像。在摄影范围内预先设置有各自的基准线。基准线是 表示由切断位置运算机构415算出的切断位置的线。完成检查的连续状光学膜10的切断 位置和边缘位置由被摄影的图像内的对比度差来判断。然后计算预先设定的基准线与切断 位置和边缘位置的距离(偏差)，根据算出的距离(偏差)来修正切断装置150的位置和角 度。具体而言，对形成的切割线位置与由切断位置运算机构415确定的切断位置之间 的偏差进行确认的检查，作为一例按以下所示的顺序进行。(1)利用包含CXD照相机的切断位置确认装置160对切断位置和两个部位的边缘 位置进行摄影，利用图像内的对比度差来取得切断位置X和边缘位置Yl、Y2。(2)在从X方向看沿预先设定于上游侧的切断位置确认装置160的摄影范围内的Y方向延伸的基准线与从X方向看沿预先设定于下游侧的切断位置确认装置160的摄影范 围内的Y方向延伸的基准线的中间位置，预先设定有沿Y方向延伸的切断基准位置165，上 游侧基准线与下游侧基准线之间的距离Y被预先存储在存储装置420。从X方向看在下游 侧切断位置确认装置160的摄影范围内预先设定有沿X方向延伸的基准线。(3)根据取得的切断位置X及边缘位置Yl、Y2与上述基准线，计算切断位置的修 正量α和切断角度的修正量δ。切断位置的修正量α是测量的偏差量α S卩、切断位置X 与下游侧的沿Y方向延伸的基准线之间的偏差量a。切断角度的修正量δ可以基于由相 距完成检查的连续状光学膜10边缘位置的距离测量到的Y方向的两个部位的偏差量即相 距沿X方向延伸的下游侧基准线和上游侧基准线的偏差量β 、β 2、和两基准线之间的距 离Y，通过以下的式子计算。[公式1]
权利要求
1.一种信息存储读出运算系统，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置将从连 续状光学膜的层积体卷筒切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片与液 晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含具有与形成规定尺寸的液晶 面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘 接层的连续状载体膜，该信息存储读出运算系统的特征在于，包括信息存储介质，其存储通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的 疵点的位置信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒；以及切断位置运算机构，其使用基于所述识别标识从所述信息存储介质读出的所述疵点的 位置信息和基于自所述层积体卷筒放出所述完成检查的连续状光学膜时的放出量而算出 的长度测量数据，来确定划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点 的正常薄片的正常薄片切断位置；由此，在连续制造液晶显示元件的装置中，基于所述不良薄片切断位置和所述正常薄 片切断位置，在所述完成检查的连续状光学膜上，在相对所述完成检查的连续状光学膜的 输送方向成直角的方向，自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层 侧的面的深度，从而能够切出正常薄片。
2.如权利要求1所述的信息存储读出运算系统，其特征在于，完成检查的连续状光学 膜还包含有自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的连续状表面保护膜。
3.—种制造信息存储读出运算系统的方法，该信息存储读出运算系统用于连续制造液 晶显示元件的装置，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的 线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合 来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含具有与形成规定尺寸的液晶面板的长边 或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续 状载体膜，该方法的特征在于，包含如下步骤向连续状偏光片的至少一个面层积连续状保护膜来制造连续状偏光膜，对连续状偏光 膜进行检查来检测连续状偏光膜内在的疵点，经由粘接层将连续状载体膜自由剥离地层积 于连续状偏光膜来制造完成检查的连续状光学膜，生成用于识别所述完成检查的连续状光 学膜的识别标识并将其标记于所述完成检查的连续状光学膜，将标记有所述识别标识的所 述完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状，从而制造标记有识别标识的完成检查的连续状 光学膜的层积体卷筒的步骤；将通过进行检查而检测出的疵点的位置信息存储到预先准备的信息存储介质来制造 存储有疵点的位置信息的信息存储介质的步骤；提供切断位置运算机构的步骤，该切断位置运算机构构成为，使用基于所述识别标识 从所述信息存储介质读出的所述疵点的位置信息和基于自所述层积体卷筒放出所述完成 检查的连续状光学膜时的放出量而算出的长度测量数据，来确定划定包含疵点的不良薄片 的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，制造层积体卷筒的所述步骤还包含有将连 续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的步骤。
5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，制造层积体卷筒的所述步骤包括以下步 骤中的任一个或它们的组合利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤；透射从光源 照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤；或将连续状偏光膜和偏光 滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从 而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的步骤。
6.一种制造信息存储读出运算系统的方法，该信息存储读出运算系统用于连续制造液 晶显示元件的装置，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的 线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合 来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含具有与形成规定尺寸的液晶面板的长边 或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续 状载体膜，该方法的特征在于，包含如下步骤准备连续状临时光学膜的卷筒，该连续状临时光学膜包括包含粘接层的连续状偏光 膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜，一边自所述卷筒放出所述连续状 临时光学膜一边将所述连续状临时载体膜剥离而露出包含所述粘接层的连续状偏光膜，对 包含露出的所述粘接层的连续状偏光膜进行检查来检测包含所述粘接层的连续状偏光膜 内在的疵点，将连续状载体膜自由剥离地层积于所述连续状偏光膜的露出的粘接层来制造 完成检查的连续状光学膜，生成用于识别所述完成检查的连续状光学膜的识别标识并将其 标记于所述完成检查的连续状光学膜，将标记有所述识别标识的所述完成检查的连续状光 学膜卷绕成卷筒状，从而制造标记有识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒的 步骤；将通过进行检查而检测出的疵点的位置信息存储到预先准备的信息存储介质来制造 存储有疵点的位置信息的信息存储介质的步骤；提供切断位置运算机构的步骤，该切断位置运算机构构成为，使用基于所述识别标识 从所述信息存储介质读出的所述疵点的位置信息和基于自所述层积体卷筒放出所述完成 检查的连续状光学膜时的放出量而算出的长度测量数据，来确定划定包含疵点的不良薄片 的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，连续状临时载体膜在一个面具有通过在脱 模处理后涂布包含粘接剂的溶剂并使其干燥而形成的能够转印的粘接层。
8.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，连续状载体膜在层积于连续状偏光膜的 露出的粘接层的面上实施脱模处理。
9.如权利要求6到8中任一项所述的方法，其特征在于，制造层积体卷筒的所述步骤还 包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的步骤。
10.如权利要求6到9中任一项所述的方法，其特征在于，制造层积体卷筒的所述步骤 包括以下步骤中的任一个或它们的组合利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤； 透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤；或将连续状偏 光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透 射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的步骤。
全文摘要
一种连续制造液晶显示元件的装置所使用的信息存储读出运算系统及其制造方法。本发明的课题在于提高液晶显示元件连续制造的精度和速度，根本性解决提高成品率的课题。该信息存储读出运算系统在连续制造液晶显示元件的装置中使用，包括信息存储介质，其存储与通过对连续状光学膜所包含的偏光膜的检查而检测出的疵点相关的信息，连续状光学膜包括包含粘接层的偏光膜和自由剥离地层积于粘接层的载体膜；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒；及切断位置运算机构，其使用基于识别标识从信息存储介质读出的疵点信息，来运算划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置。
文档编号G02F1/13GK102043277SQ20101022944
公开日2011年5月4日 申请日期2010年7月9日 优先权日2009年10月13日
发明者中园拓矢, 岛江文人, 梅本清司 申请人:日东电工株式会社