光信息再现装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种光信息再现装置及其方法，在利用全息术的光信息再现装置中，高精度地检测对配置在页内的规定位置的位置偏差、旋转偏差、放大率偏差进行修正的已知图案。在利用全息术从光信息记录介质再现信息的光信息再现装置，包括：检测部，其从作为来自全息图的二维再现信号的页中检测已知图案的标记的位置信息；检测错误位置推测部，其推测由所述检测部检测出的标记的位置信息中有无检测错误，并且在有检测错误的情况下推测发生检测错误的位置；位置修正部，其对所述检测错误位置推测部确定的检测错误位置的标记位置信息进行修正；和信号检测部，其基于由所述修正部修正后的标记位置信息而从页内检测各信号。
【专利说明】
光信息再现装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及使用全息术从记录介质再现信息的装置。
【背景技术】
[0002]当前，使用蓝紫色半导体激光的Blu-ray Disc(TM)标准使得在民用中具有100GB程度的记录密度的光盘也能够商品化。今后光盘也要求超过500GB的大容量化。但是，为了在光盘中实现这样的超高密度，需要与现有的通过短波长化和物镜高NA化进行的高密度化技术不同的新方式的高密度化技术。
[0003]在关于下一代存储技术的研究进行中，利用全息术记录数字信息的全息记录技术受到关注。全息记录技术例如有日本特开2004-272268号公报(专利文献I)。该公报中记载了改变参考光对光信息记录介质的入射角度的同时在空间光调制器上显示不同的页数据而进行复用记录，即角度复用记录方式。进而，该公报中记载了通过用透镜使信号光聚光并在其光束腰部配置开口(空间滤波器)，来缩短邻接的全息图的间隔的技术。
[0004]此外，全息记录技术例如有W02004-102542号公报(专利文献2)。该公报中记载了使用在I个空间光调制器中将来自内侧的像素的光作为信号光，将来自外侧的环带状的像素的光作为参考光，用同一个透镜使两束光束在光信息记录介质上聚光，在透镜的焦点面附近使信号光与参考光干涉，记录全息像的移位复用方式的例子。
[0005]再现全息像时的标记检索技术，例如有日本特开2008-139125号公报(专利文献3)。该公报中记载了 “全息图数据区域确定装置I从光检测器输入的全息图图像中确定全息图占据的区域即全息图数据区域，具备帧缓存3、边缘检测单元5、模板(template)比较单元7、模板图像保存单元9和重心检测单元11。”
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1:日本特开2004-272268号公报
[0009]专利文献2:W02004-102542号公报
[0010]专利文献3:日本特开2008-139125号公报
【发明内容】
[0011]发明要解决的课题
[0012]然而，在利用全息术的光信息再现装置中，再现信息时，检测配置在页内的规定场所的已知图案，基于该已知图案的位置信息对位置偏差、旋转偏差、放大率偏差等进行处理，但在已知图案的检测本身发生误差的情况下，存在信噪比(SNR)降低的问题。这是因为在已知图案附近存在与该已知图案类似的用户数据的情况下，误检测成已知图案。
[0013]专利文献3中记载的技术中，没有公开如上所述的是否在确认已知图案的可靠性之后再使用该已知图案的课题、结构。
[0014]本发明鉴于上述问题，目的在于提供一种能够在全息存储中高精度地检测页内的已知图案的光信息再现装置及其方法。
[0015]用于解决课题的方案
[0016]解决上述课题，例如其一例为能够通过判断标记值自身的可靠性而解决。
[0017]发明效果
[0018]根据本发明，能够在全息存储中高精度地检测页内的已知图案。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]图1是表示光信息记录再现装置内的信号位置检测电路的实施例的概要图。
[0020]图2是表示光信息记录再现装置的实施例的概要图。
[0021]图3是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。
[0022]图4是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。
[0023]图5是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。
[0024]图6是表示光信息记录再现装置的动作流程的实施例的概要图。
[0025]图7是表示光信息记录再现装置内的信号生成电路的实施例的概要图。
[0026]图8是表示光信息记录再现装置内的信号处理电路的实施例的概要图。
[0027]图9是表示信号生成电路和信号处理电路的动作流程的实施例的概要图。
[0028]图10是表示具有反射层的光信息记录介质的层结构的实施例的概要图。
[0029]图11是表示光信息记录再现装置内的信号处理电路的实施例的概要图。
[0030]图12是表示页的实施例的概要图。
[0031]图13是表示检测标记时的标记位置偏差量、检测误差推测值、标记位置偏差量(修正后)的例子的示意图。
[0032]图14是表示光信息记录再现装置中的信号位置检测的动作流程的实施例的概要图。
[0033]图15是表示光信息记录再现装置内的信号处理电路的实施例的概要图。
[0034]图16是表示光信息记录再现装置中的信号位置检测的动作流程的实施例的概要图。
[0035]图17是表示光信息记录再现装置中的信号位置检测的动作流程的实施例的概要图。
【具体实施方式】
[0036]以下用【专利附图】
【附图说明】本发明的实施例。
[0037]实施例1
[0038]用图1至14说明本发明的第一实施例。
[0039]图2是表示利用全息术记录和/或再现数字信息的光信息记录介质的记录再现装置的框图。
[0040]光信息记录再现装置10经由输入输出控制电路90与外部控制装置91连接。进行记录的情况下，光信息记录再现装置10利用输入输出控制电路90从外部控制装置91接收要记录的信息信号。进行再现的情况下，光信息记录再现装置10利用输入输出控制电路90对外部控制装置91发送再现的信息信号。
[0041]光信息记录再现装置10具备拾取器11、再现用参考光光学系统12、固化光学系统13、盘旋转角度检测用光学系统14和旋转电机50，光信息记录介质I是能够用旋转电机50旋转的结构。
[0042]拾取器11起到对光信息记录介质I出射参考光和信号光、利用全息术在记录介质中记录数字信息的作用。此时，要记录的信息信号被控制器89经由信号生成电路86对拾取器11内的空间光调制器发送，信号光被空间光调制器调制。
[0043]再现光信息记录介质I中记录的信息的情况下，用再现用参考光光学系统12生成使从拾取器11出射的参考光以与记录时相反的方向对光信息记录介质入射的光波。用拾取器11内的后述的光检测器检测通过再现用参考光再现的再现光，用信号处理电路85再现信号。
[0044]对光信息记录介质I照射的参考光和信号光的照射时间，能够由控制器89通过快门控制电路87控制拾取器11内的快门的开闭时间而调整。
[0045]固化光学系统13起到生成用于光信息记录介质I的预固化和后固化的光束的作用。预固化指的是在光信息记录介质I内的要求的位置记录信息时，在对要求位置照射参考光和信号光之前预先照射规定的光束的前期工序。后固化指的是在光信息记录介质I内的要求的位置记录信息之后，为了使该要求的位置不能追加记录而照射规定的光束的后期工序。
[0046]盘旋转角度检测用光学系统14用于检测光信息记录介质I的旋转角度。要将光信息记录介质I调整为规定的旋转角度的情况下，能够用盘旋转角度检测用光学系统14检测与旋转角度对应的信号，使用检测出的信号用控制器89通过盘旋转电机驱动电路88控制光信息记录介质I的旋转角度。
[0047]从光源驱动电路82对拾取器11、固化光学系统13、盘旋转角度检测用光学系统14内的光源供给规定的光源驱动电流，能够从各光源以规定的光量发出光束。
[0048]此外，拾取器11和光盘固化光学系统13中，设置了能够使位置在光信息记录介质I的半径方向上滑动的机构，通过存取(access)控制电路81进行位置控制。
[0049]然而，利用全息术的角度复用的原理的记录技术，存在对参考光角度的偏差的容许误差非常小的情况。
[0050]从而，需要在拾取器11内设置检测参考光角度的偏差量的机构，用伺服信号生成电路83生成伺服控制用的信号，在光信息记录再现装置10内具备用于通过伺服控制电路84修正该偏差量的伺服机构。
[0051]此外，拾取器11、固化光学系统13、盘旋转角度检测用光学系统14中，也可以使部分光学系统结构或所有光学系统结构合并简化。
[0052]图3是表示光信息记录再现装置10中的拾取器11的基本光学系统结构的一例中的记录原理的图。从光源301出射的光束透过准直透镜302而向快门303入射。快门303打开时，光束在通过快门303之后，用例如由二分之一波片等构成的光学元件304控制偏振方向以使P偏振光与S偏振光的光量比成为规定比之后,对PBS (Polarizat1n BeamSplitter:偏振分束器)棱镜305入射。
[0053]透过PBS棱镜305后的光束起到信号光306的作用，用扩束器308扩大光束直径之后，透过相位掩模309、中继透镜310、PBS棱镜311而对空间光调制器312入射。
[0054]用空间光调制器312附加信息后的信号光在PBS棱镜311上反射，在中继透镜313和空间滤波器314中传播。之后，信号光被物镜315聚光在光信息记录介质I上。
[0055]另一方面，在PBS棱镜305上反射的光束起到参考光307的作用，用偏振方向变换元件316与记录时或再现时相应地设定为规定的偏振方向之后，经由反射镜317和反射镜318对检流计反射镜319入射。检流计反射镜319能够用致动器320调整角度，所以能够将通过透镜321和透镜322之后对光信息记录介质I入射的参考光的入射角度设定为要求的角度。其中，为了设定参考光的入射角度，也可以使用对参考光的波前进行变换的元件代替检流计反射镜。
[0056]通过这样使信号光和参考光在光信息记录介质I中相互重叠地入射，而在记录介质内形成干涉条纹图案，通过在记录介质中写入该图案而记录信息。此外，因为能够用检流计反射镜319改变对光信息记录介质I入射的参考光的入射角度，所以能够用角度复用进行记录。
[0057]此后，在同一个区域中改变参考光角度记录的全息像中，将与各个参考光角度对应的全息像称为页(page)，将同一区域中角度复用的页的集合称为册(book)。
[0058]图4是表示光信息记录再现装置10中的拾取器11的基本光学系统结构的一例中的再现原理的图。再现已记录的信息的情况下，如上所述使参考光对光信息记录介质I入射，用能够由致动器323调整角度的检流计反射镜324使透过光信息记录介质I后的光束反射，由此生成再现用参考光。
[0059]用该再现用参考光再现的再现光，在物镜315、中继透镜313和空间滤波器314中传播。之后，再现光透过PBS棱镜311而对光检测器325入射，能够再现已记录的信号。光检测器325例如能够使用CMOS图像传感器或CCD图像传感器等感光元件，但只要能够再现页数据，就可以是任意的元件。
[0060]图5是表不拾取器11的其他结构的图。图5中，从光源501出射的光束透过准直透镜502，对快门503入射。快门503打开时，光束通过快门503之后，用例如由1/2波片等构成的光学兀件504控制偏振方向以使P偏振光与s偏振光的光量比成为规定比之后,对PBS棱镜505入射。
[0061]透过PBS棱镜505后的光束经由PBS棱镜507对空间光调制器508入射。用空间光调制器508附加信息后的信号光506在PBS棱镜507上反射，在仅使规定入射角度的光束通过的角度滤波器509中传播。之后，信号光束被物镜510聚光在全息记录介质I上。
[0062]另一方面，在PBS棱镜505上反射的光束起到参考光512的作用，用偏振方向变换元件519与记录时或再现时相应地设定为规定的偏振方向之后，经由反射镜513和反射镜514对透镜515入射。透镜515起到使参考光512在物镜510的后焦面上聚光的作用，在物镜510的后焦面上聚光后的参考光,被物镜510再次变换为平行光而对全息记录介质I入射。
[0063]此处，物镜510或光学模块521例如能够在符号520所示的方向上被驱动，通过使物镜510或光学模块521的位置沿着驱动方向520偏移，物镜510与物镜510的后焦面上的聚光点的相对位置关系变化，所以能够将对全息记录介质I入射的参考光的入射角度设定为要求的角度。其中，也可以不驱动物镜510或光学模块521，而是改为用致动器驱动反射镜514，由此将参考光的入射角度设定为要求的角度。
[0064]通过这样使信号光和参考光在全息记录介质I中相互重叠地入射，而在记录介质内形成干涉条纹图案，通过在记录介质中写入该图案而记录信息。此外，通过使物镜510或光学模块521的位置沿着驱动方向520偏移，能够改变对全息记录介质I入射的参考光的入射角度，所以能够用角度复用进行记录。
[0065]再现已记录的信息的情况下，如上所述使参考光对全息记录介质I入射，用检流计反射镜516使透过全息记录介质I后的光束反射，由此生成再现用参考光。用该再现用参考光再现的再现光，在物镜510、角度滤波器509中传播。之后，再现光透过PBS棱镜507对光检测器518入射，能够再现已记录的信息。
[0066]图5所示的光学系统中，通过采用使信号光和参考光对同一个物镜入射的结构，与图3所示的光学系统结构相比，具有能够大幅小型化的优点。
[0067]图6是表示光信息记录再现装置10中的记录、再现的动作流程的图。此处特别说明关于利用全息术的记录再现的流程。
[0068]图6 (a)表示在光信息记录再现装置10中插入光信息记录介质I之后直到记录或再现的准备完成的动作流程，图6 (b)表示从准备完成状态到在光信息记录介质I中记录信息的动作流程，图6 (c)表示从准备完成状态到再现光信息记录介质I中记录的信息的动作流程。
[0069]如图6(a)所示，插入介质时(601)，光信息记录再现装置10例如进行插入的介质是否利用全息术记录或再现数字信息的介质的光盘判别(602)。
[0070]盘判别的结果是判断为利用全息术记录或再现数字信息的光信息记录介质时，光信息记录再现装置10读取光信息记录介质中设置的控制数据(603)，取得例如关于光信息记录介质的信息、例如关于记录或再现时的各种设定条件的信息。
[0071]读取控制数据之后，进行与控制数据相应的各种调整和关于拾取器11的学习处理(604)，光信息记录再现装置10中记录或再现的准备完成(605)。
[0072]从准备完成状态到记录数据的动作流程如图6(b)所示，首先接收要记录的数据(611)，对拾取器11内的空间光调制器发送与该数据对应的信息。
[0073]之后，为了能够在光信息记录介质中记录高品质的信息，根据需要事先进行例如光源301的功率优化和快门303的曝光时间的优化等各种记录用学习处理(612)。
[0074]之后，在寻轨动作(613)中控制存取控制电路81，使拾取器11和固化光学系统13的位置定位在光信息记录介质的规定位置。光信息记录介质I具有地址信息的情况下，再现地址信息，确认是否定位在目标位置，如果没有配置在目标位置，则计算与规定位置的偏差量，再次进行定位动作。
[0075]之后，用从固化光学系统13出射的光束对规定的区域进行预固化(614)，用从拾取器11出射的参考光和信号光记录数据(615)。
[0076]记录数据之后，用从固化光学系统13出射的光束进行后固化(616)。也可以根据需要对数据进行校验。
[0077]从准备完成状态到再现已记录的信息的动作流程如图6(c)所示，首先在寻轨动作(621)中，控制存取控制电路81，将拾取器11和再现用参考光光学系统12的位置定位在光信息记录介质的规定位置。光信息记录介质I具有地址信息的情况下，再现地址信息，确认是否定位在目标位置，如果没有配置在目标位置，则计算与规定位置的偏差量，再次进行定位动作。
[0078]之后，从拾取器11出射参考光，读取光信息记录介质中记录的信息￠22)，发送再现数据(613)。
[0079]图9是表示记录、再现时的数据处理流程的图，图9(a)表示输入输出控制电路90中接收记录数据611之后直到变换为空间光调制器312上的二维数据的信号生成电路86中的记录数据处理流程，图9 (b)表示用光检测器325检测二维数据之后直到输入输出控制电路90中发送再现数据624的信号处理电路85中的再现数据处理流程。
[0080]用图9(a)说明记录时的数据处理。接收用户数据(901)时，将其分割为多个数据串，为了再现时可以进行检错而使各数据串CRC化(902)，为了使开像素(ON Pixel)数与关像素(OFF Pixel)数大致相等、防止同一图案反复的目的而实施对数据串添加伪随机数数据串的加扰(903)之后，为了再现时可以进行纠错而进行里德-所罗门编码等纠错编码(904)。接着，将该数据串变换为MXN的二维数据，反复相当于I页数据的该处理而构成I页二维数据(905)。对于这样构成的二维数据附加作为再现时的图像位置检测和图像畸变修正的基准的标记(906)，对空间光调制器312传输数据(907)。
[0081]接着用图9(b)说明再现时的数据处理流程。用光检测器325检测出的图像数据被传输到信号处理电路85 (911)。以该图像数据中包含的标记为基准检测图像位置(912)，对图像的倾斜、放大率、变形等畸变进行修正(913)之后，进行二值化处理(914)，除去标记(915)，由此取得I页二维数据(916)。将这样得到的二维数据变换为多个数据串之后，进行纠错处理(917)，除去校验数据串。接着实施解扰处理(918)，用CRC进行检错处理(919)并删除CRC校验码之后，经由输入输出控制电路90发送用户数据(920)。
[0082]图7是光信息记录再现装置10的信号生成电路86的框图。
[0083]开始对输出控制电路90输入用户数据时，输入输出控制电路90对控制器89通知用户数据的输入已开始。控制器89接收该通知后，命令信号生成电路86对从输入输出控制电路90输入的I页数据进行记录处理。控制器89的处理命令经由控制用线708对信号生成电路86内的子控制器701通知。接收该通知后，子控制器701以使各信号处理电路并行工作的方式通过控制用线708进行各信号处理电路的控制。首先，控制存储器控制电路703在存储器702中保存从输入输出控制电路90经由数据线709输入的用户数据。存储器702中保存的用户数据达到一定量时，控制CRC运算电路704使用户数据CRC化。接着对于CRC化后的数据，控制加扰电路705实施附加伪随机数数据串的加扰，控制纠错编码电路706进行附加校验数据串的纠错编码。最后使拾取器接口电路707按空间光调制器312上的二维数据的排列顺序从存储器702中读取纠错编码后的数据，附加作为再现时的基准的标记之后，对拾取器11内的空间光调制器312转发二维数据。
[0084]图8是光信息记录再现装置10的信号处理电路85的框图。
[0085]控制器89在拾取器11内的光检测器325检测出图像数据时，命令信号处理电路85对从拾取器11输入的I页数据进行再现处理。控制器89的处理命令经由控制用线811对信号生成电路85内的子控制器801通知。接收该通知后，子控制器801以使各信号处理电路并行工作的方式经由控制用线811进行各信号处理电路的控制。首先，控制存储器控制电路803通过数据线812，在存储器802中保存从拾取器11经由拾取器接口电路810输入的图像数据。存储器802中保存的数据达到一定量时，控制图像位置检测电路809从存储器802中保存的图像数据内检测标记，提取有效数据范围。接着，使用检测出的标记，控制图像畸变修正电路808进行图像的倾斜、放大率、变形等畸变修正，将图像数据变换为期望的二维数据的尺寸。控制二值化电路807对于构成尺寸变换后的二维数据的多个比特的各比特数据，进行判定“0”、“ I”的二值化，在存储器802中以再现数据的输出顺序保存数据。接着用纠错电路806对各数据串中包含的错误进行纠正，用加扰电路805解除附加伪随机数数据串的加扰之后，用CRC运算电路804确认存储器802中的用户数据中不包括错误。之后，从存储器802对输入输出控制电路90转发用户数据。
[0086]图10是表不具有反射层的光信息记录介质的层结构的图。(I)表不对光信息记录介质记录信息的状态，(2)表示从光信息记录介质再现信息的状态。
[0087]光信息记录介质I从光拾取器11 一侧起具备透明覆盖层1000、记录层1002、光吸收/光透射层1006、光反射层1010和第三透明保护层1012。参考光1A与信号光1B的干涉图案记录在记录层1002中。
[0088]光吸收/光透射层1006以在记录信息时吸收参考光1A和信号光10B，在再现信息时使参考光透射的方式变换性质。例如，通过对光记录介质I施加电压而使光吸收/光透射层1006的着色、消色状态变化，即在记录信息时光吸收/光透射层1006是着色状态，吸收通过记录层1002后的参考光1A和信号光10B,在再现信息时成为消色状态,使参考光透过(T.Ando et.al.: Technical Digest IS0M(2006)，Th-PP-10)。通过光吸收 / 光透射层1006后的参考光1A在光反射层1010上反射成为再现用参考光10C。
[0089]此外，能够将A.Hirotsune et.al.: Technical Digest IS0M(2006)，Μο_Β_04 中记载的电致变色(EC)材料W03用于光吸收/光透射层1006。
[0090]通过对该材料施加电压而可逆的发生着色、消色，在记录信息时使其着色而吸收光，在再现信息时使其消色而使光透过。
[0091]根据图10的结构，不需要再现用参考光光学系统，能够实现驱动器的小型化。
[0092]以下，发明人对全息存储中高精度地检测页内的已知图案的技术进行详细说明。
[0093]图12是表示页的实施例的概要图。页421内，在四角配置有同步标记422。该同步标记422用于修正页的位置偏差、旋转、放大率偏差，用拾取器检测出页之后，首先进行该同步标记422的位置检测。在页421内的数据部424中，配置有标记423。该标记423用于处理使用同步标记422的修正中未除去的位置偏差，基于该标记423的位置信息计算数据部的位置偏差，进行数据部的检测。有时使用的拾取器内的相机的像素间距小于空间光调制器的像素间距，该情况下，数据部进行检测时，基于数据部的位置偏差的信息，进行恢复为空间光调制器的像素间距的过采样解除处理。
[0094]图11是表示光信息记录再现装置内的信号处理电路的实施例的概要图。拾取器11对页畸变调整电路401输出检测出的再现页。页畸变调整电路401检测出输入的再现页内的同步标记，基于该同步标记的位置信息，计算位置偏差量、旋转量、放大率偏差量，对信号位置检测电路402输出进行这些偏差的修正后的页数据。偏差量的修正例如使用图像处理领域中使用的仿射变换。信号位置检测电路402输入已修正的页数据，用后述的方法检测各信号的位置信息，对过采样解除电路403输出页数据和各信号的位置信息。过采样解除电路403输入页数据和各信号的位置信息，以使页数据的像素数与空间光调制器的像素数相等的方式解除页数据的过采样，对均衡电路404输出解除过采样后的页数据。过采样的方法例如采用使用预先计算的用于在各位置偏差量下解除过采样的滤波系数实施FIR滤波处理的方法。均衡电路404输入解除过采样后的页数据，通过进行FIR滤波处理除去像素间的干涉，对二值化电路405输出滤波处理后的页数据。二值化电路405输入滤波处理后的页数据，例如用阈值或最大似然解码或维特比解码进行二值化，对控制器89输出二值化后的信息。
[0095]图1是表示光信息记录再现装置内的信号位置检测电路的实施例的概要图。标记检测电路411输入页数据，检测页内的各标记的位置，对检测错误位置推测电路412输出页数据和标记位置信息。标记的位置检测中，例如计算已知的标记图案与页数据的信号的相互相关系数，将最大值的位置确定为标记位置。检测错误位置推测电路412输入页数据和标记位置信息，推测标记位置的检测错误位置，对标记位置修正电路413输出标记位置的检测错误位置和页数据。标记位置的检测错误位置的推测中，例如对于标记位置的偏差量，计算与附近的标记位置的偏差量的平均值的差，差值在规定值以上的情况下，判断发生了检测错误，由此确定标记位置的检测错误位置。标记位置修正电路413输入标记位置的检测错误位置和页数据，对于检测错误位置的标记位置，例如通过根据邻接标记位置线性插值进行修正，对信号位置计算电路414输出修正后的标记位置信息和页数据。信号位置计算电路414输入修正后的标记位置信息和页数据，根据附近的标记位置例如通过线性插值计算位于各标记附近的信号组的位置，输出各信号位置和页数据。
[0096]图13(a)是表示检测标记时的标记位置偏差量、(b)是表示检测误差推测值、(C)是表示标记位置偏差量(修正后)的例子的示意图。如图13(a)所示，计算与各标记对应的标记位置偏差dx。图13(b)所示的检测误差推测值Er例如能够通过如下式(I)所述计算与附近的标记的位置偏差量的平均值的差而计算。
[0097]Er = |dx_dx 的平均值 |......式(I)
[0098]例如，推测表示超过规定阈值的检测误差推测值Er的标记发生了检测误差，如图(c)所示根据邻接标记的位置偏差量用式(2)进行线性插值，由此对标记位置偏差量进行修正。此处，dxn表示第η个标记的位置偏差量，式(2)表示第η个标记发生了检测误差的情况的例子。此外，检测误差连续发生的情况下，例如根据没有发生检测误差的周边标记通过线性插值计算。
[0099]dxn = (dxn_!+dxn+1)/2
[0100]图14是表示光信息记录再现装置中的信号位置检测的动作流程的实施例的概要图。检测信号位置时，首先用431利用相互相关系数等检测标记的位置。之后，用432推测标记检测错误位置。用433根据邻接标记的位置对检测错误位置的标记位置进行修正。最后，用434利用标记位置的信息计算各信号的位置。此外，虽然未图示，但例如也可以基于修正后的标记位置信息解除过采样，根据SNR的值判断标记位置信息的修正是否正确。此夕卜，例如SNR低的情况下，也可以继续进行利用不同的标记信息插值等处理。
[0101]此外，用于判断标记检测误差的阈值，可以使用装置预先保持的值，也可以先用SNR等作为指标进行阈值的学习。此外，判断标记的可靠性的方法，也可以考虑使用标记的SNR等其他结构。本实施例中，判断标记自身的可靠性这一点尤其是特征性的，也存在本实施例以外的判断方法。
[0102]本实施例的方法中，因为能够仅用同一页内的信息实现标记位置的修正，所以具有装置结构能够简化的优点。
[0103]在以下叙述中，对于与本实施例相同的内容省略说明。
[0104]实施例2
[0105]用图15、16说明本发明的第二实施例。
[0106]图15是表示光信息记录再现装置内的信号处理电路的实施例的概要图。与实施例I所示的图11的电路的不同在于追加了缓存406。信号位置检测电路402输入页数据，且在起始页以外时输入上一页的标记位置偏差信息，用后述的方法检测各信号的位置信息，对过采样解除电路403输出已修正的页数据和各信号的位置信息，对缓存406输出标记位置偏差信息。缓存406输入标记位置偏差信息，保存该信息直到下一页的处理时，在检测下一页的信号位置时，对信号位置检测电路402输出。其他电路的动作与实施例1相同，所以省略说明。
[0107]图16是表示光信息记录再现装置中的信号位置检测的动作流程的实施例的概要图。检测位置信息时，首先用441利用相互相关系数等检测标记的位置。之后，用442推测标记检测错误位置。用443判断进行了标记检测的页是否起始页。443中不是起始页的情况下，用444根据上一页的同一个标记位置对检测错误位置的标记位置进行修正。标记位置的修正中，例如通过设为与上一页的同一标记位置的位置偏差量相等的量，计算标记位置偏差，对标记位置进行修正。最后，用445利用标记位置的信息计算各信号的位置。此外，443的判断中，是起始页的情况下，用446以与实施例1相同的方法根据邻接标记位置对检测错误位置的标记位置进行修正。
[0108]此外，虽然未图示，但例如也可以基于修正后的标记位置信息解除过采样，根据SNR的值判断标记位置信息的修正是否正确。此外，例如SNR低的情况下，也可以继续进行利用不同的标记信息插值等处理。
[0109]此外，检测错误位置的推测可以如上所述与同一页内的附近标记的信息比较来推测，也可以与同一册内的附近页内的标记的信息比较来推测，也可以与其他册内的同一页内或附近页内的标记信息比较来推测。
[0110]此外，检测错误位置的修正可以如上所述设为发生了与邻接页的标记的位置偏差量等量的偏差而计算标记位置，也可以根据附近页的标记位置信息和位置偏差量进行线性插值或非线性插值而计算标记位置，也可以根据其他册内的页的标记位置信息和位置偏差量同样进行线性插值或非线性插值，也可以设为发生了等量的偏差而计算标记位置。
[0111]本实施例的方法中，因为使用其他页的信息修正标记位置，所以具有与实施例1的方法相比有时精度更高的优点。
[0112]在以下叙述中，对于与本实施例相同的内容省略说明。
[0113]实施例3
[0114]用图17说明本发明的第三实施例。此外，装置的实施例例如能够用与实施例2相同的结构实现。
[0115]图17是表示光信息记录再现装置中的信号位置检测的动作流程的实施例的概要图。检测信号位置时，首先用451利用相互相关系数等检测标记的位置。之后，用452推测标记检测错误位置。用453对检测错误位置的标记位置与邻接页的标记位置进行比较，判断是否实际发生了检测错误。是否实际发生了检测错误的判断，例如求出452中推测为检测错误的标记位置的位置偏差量与邻接页的同一个位置的标记的位置偏差量的差，将差值超过规定阈值的部分判断为发生了检测错误，插值在规定阈值以下的情况下，判断没有发生检测错误。再现中的页是册内的起始页的情况下，可以再现下一页，也可以与其他册的同一页的标记位置进行比较，判断是否发生了检测错误。用454按照实施例1或实施例2中记载的方法仅对与邻接页没有相关性的部分修正标记位置。最后，用455利用标记位置信息计算各信号的位置。
[0116]此外，检测错误位置的推测可以如上所述与同一页内的附近标记的信息比较来推测，也可以与同一册内的附近页内的标记的信息比较来推测，也可以与其他册内的同一页内或附近页内的标记信息比较来推测。
[0117]此外，虽然未图示，但例如也可以基于修正后的标记位置信息解除过采样，根据SNR的值判断标记位置信息的修正是否正确。此外，例如SNR低的情况下，也可以继续进行利用不同的标记信息插值等处理。
[0118]此外，检测错误位置的修正可以如上所述设为发生了与邻接页的标记的位置偏差量等量的偏差而计算标记位置，也可以根据附近页的标记位置信息和位置偏差量进行线性插值或非线性插值而计算标记位置，也可以根据其他册内的页的标记位置信息和位置偏差量同样进行线性插值或非线性插值，也可以设为发生了等量的偏差而计算标记位置。
[0119]此外，判断是否实际发生了检测错误，可以如上所述根据与同一册内的邻接页的同一位置的标记位置偏差量的差值判断，也可以根据与其他册内的同一页或邻接页的标记位置偏差量的差值判断。
[0120]本实施例的方法中，因为在修正标记位置前进行是否实际发生了检测错误的判断，所以有时能够进行更高精度的检测。
[0121]此外，本实施例也能够如下叙述。即，一种利用全息术从记录了信息、记录了粗调整用的同步标记和微调整用的标记的光信息记录介质中再现信息的光信息再现装置，包括:检测部，其从光信息记录介质中的二维再现信号即页数据中，检测同步标记和标记的位置信息；控制部，其根据检测部检测出的标记的位置信息，判断该标记的位置信息的可靠性，判断存在检测错误时根据其他标记对存在检测错误的标记的位置信息进行修正。
[0122]本发明不限定于上述实施例，包括各种变形例。例如，上述实施例是为了易于理解地说明本发明而详细说明的，并不限定于必须具备说明的所有结构。此外，能够将某个实施例的结构的一部分置换为其他实施例的结构，或者在某个实施例的结构上添加其他实施例的结构。此外，对于各实施例的结构的一部分，能够追加、删除、置换其他结构。
[0123]此外，上述各结构、功能、处理部、处理单元等的一部分或全部，例如可以通过集成电路设计等而用硬件实现。此外，上述各结构、功能等，也可以通过处理器解释、执行实现各功能的程序而用软件实现。实现各功能的程序、表、文件等信息，能够保存在存储器、硬盘、SSD (Solid State Drive:固态硬盘)等记录装置、或者IC卡、SD卡、DVD等记录介质中。
[0124]此外，控制线和信息线表示了认为说明上必要的，并不一定表示了产品上所有的控制线和信息线。实际上也可以认为几乎所有结构都相互连接。
[0125]符号说明
[0126]1......光信息记录介质，10......光信息记录再现装置，11......拾取器，
[0127]12......再现用参考光光学系统，13......光盘固化(Cure)光学系统，
[0128]14……盘旋转角度检测用光学系统，81……存取控制电路，
[0129]82……光源驱动电路，83……伺服信号生成电路，
[0130]84……伺服控制电路，85……信号处理电路，86……信号生成电路，
[0131]87.......决门控制电路，88……盘旋转电机控制电路，
[0132]89......控制器，90......输入控制电路，91......外部控制装置，
[0133]301……光源，303.......决门，306……信号光，307……参考光，
[0134]308……扩束器，309……相位(Phase)掩模，
[0135]310......中继透镜，311......PBS 棱镜，
[0136]312……空间光调制器，313……中继透镜，314……空间滤波器，
[0137]315……物镜，316……偏振方向变换元件，320……致动器，
[0138]321......透镜，322......透镜，323......致动器，
[0139]324……反射镜，325……光检测器，
[0140]401……页畸变调整电路，402……信号位置检测电路，
[0141]403......过采样解除电路,404......均衡电路，
[0142]405……二值化电路，406……缓存，
[0143]411......标记检测电路，
[0144]412……检测错误位置推测电路，413……标记位置修正电路，
[0145]414......信号位置计算电路，421......页,422......同步标记，
[0146]423......标记，424......数据部，
[0147]501……光源，502……准直透镜，503.......快门，504……光学元件，
[0148]505……PBS棱镜，506……信号光，507……PBS棱镜，508……空间光调制器，
[0149]509……角度滤波器，510……物镜，511……物镜致动器，
[0150]512……参考光，513……反射镜，514……反射镜，515……透镜，
[0151]516……检流计反射镜，517……致动器，518……光检测器，
[0152]519......偏振方向变换兀件，520......驱动方向，521......光学模块。
【权利要求】
1.一种利用全息术从光信息记录介质再现信息的光信息再现装置，其特征在于，包括: 检测部，其从作为来自全息图的二维再现信号的页中检测已知图案的标记的位置信息； 检测错误位置推测部，其推测由所述检测部检测出的标记的位置信息中有无检测错误，并且在有检测错误的情况下推测发生检测错误的位置； 位置修正部，其对所述检测错误位置推测部确定的检测错误位置的标记位置信息进行修正；和 信号检测部，其基于由所述修正部修正后的标记位置信息而从页内检测各信号。
2.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述检测错误位置推测部基于同一页内的标记组的位置信息检测有无检测错误，并且在有检测错误的情况下推测发生检测错误的位置。
3.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述检测错误位置推测部基于标记的SNR推测有无检测错误，并且在有检测错误的情况下推测发生检测错误的位置。
4.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述位置修正部，对推测为发生了检测错误的标记位置，基于同一页内的标记组的位置信息进行线性插值或非线性插值，由此修正标记位置信息。
5.一种利用全息术从光信息记录介质再现信息的光信息再现装置，其特征在于，包括: 检测部，其从作为来自全息图的二维再现信号的页中检测已知图案的标记的位置信息； 记录部，其保存标记位置信息； 检测错误位置推测部，其推测由所述检测部检测出的标记的位置信息中有无检测错误，并且在有检测错误的情况下推测发生检测错误的位置； 位置修正部，其对所述检测错误位置推测部确定的检测错误位置的标记位置信息进行修正；和 信号检测部，其基于所述修正部修正后的标记位置信息而从页内检测各信号。
6.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述检测错误位置推测部基于与再现中的页不同的页内的同一个位置的标记的位置信息推测有无检测错误。
7.如权利要求5所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述检测错误位置推测部基于与再现中的页不同的页内的同一个位置的标记的位置信息推测有无检测错误。
8.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述位置修正部，对推测为发生了检测错误的标记位置，基于与再现中的页不同的页内的同一个位置的标记的位置信息进行线性插值或非线性插值或将其作为相同的位置，由此修正标记位置信息。
9.如权利要求5所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述位置修正部，对推测为发生了检测错误的标记位置，基于与再现中的页不同的页内的同一个位置的标记的位置信息进行线性插值或非线性插值或将其作为相同的位置，由此修正标记位置信息。
10.如权利要求1所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述位置修正部，对于推测为发生了检测错误的标记位置，基于与再现中的页不同的页内的同一个位置的标记的位置信息判断检测错误推测的妥当性，对判断为发生了检测错误的标记的位置信息，基于与再现中的页不同的页内的同一个位置的标记的位置信息进行线性插值或非线性插值或将其作为相同的位置，由此进行修正。
11.如权利要求5所述的光信息再现装置，其特征在于: 所述位置修正部，对于推测为发生了检测错误的标记位置，基于与再现中的页不同的页内的同一个位置的标记的位置信息判断检测错误推测的妥当性，对判断为发生了检测错误的标记的位置信息，基于与再现中的页不同的页内的同一个位置的标记的位置信息进行线性插值或非线性插值或将其作为相同的位置，由此进行修正。
12.—种光信息再现装置，从利用全息术记录了信息且记录了粗调用的同步标记和微调用的标记的光信息记录介质再现信息，其特征在于，包括: 检测部，其从作为来自光信息记录介质的二维再现信号的页数据中检测所述同步标记和所述标记的位置信息；和 控制部，其根据由所述检测部检测出的标记的位置信息，判断该标记的位置信息的可靠性，判断为存在检测错误时根据其他标记来对存在检测错误的所述标记的位置信息进行修正。
【文档编号】G03H1/22GK104246886SQ201280072074
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2012年4月6日 优先权日:2012年4月6日
【发明者】保坂诚 申请人:日立民用电子株式会社