光纤耦合式半导体激光器的匀光装置制造方法
【专利摘要】一种光纤耦合式半导体激光器的匀光装置，包括沿光路顺序设置的光纤耦合式半导体激光光源、准直透镜、第一复眼透镜、第二复眼透镜、聚光镜和辐照面；光纤耦合式半导体激光光源置于准直透镜的焦点上，第二复眼透镜的各小透镜的中心位于第一复眼透镜对应的小透镜的焦点上，辐照面设置在聚光镜的焦平面上。本实用新型能够极大程度的改善光纤耦合式半导体激光器输出光斑的均匀性，满足了太阳电池片的光致发光检测要求。
【专利说明】光纤耦合式半导体激光器的匀光装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光学仪器，尤其涉及一种太阳电池检测设备中的光纤耦合式半导体激光器匀光装置。
【背景技术】
[0002]太阳电池片可能存在材料本身的缺陷如结晶缺陷、碎片、材料污染等，这些缺陷在太阳电池后续的使用中会使太阳电池的性能劣化，所以需要在前期予以检测。目前，光致发光的检测方法能够有效的检测出太阳电池片中存在的材料本身的缺陷，这种方法采用的光源为单色激光光源，并且激光光源的强度需要达到150mW/cm2，太阳电池片的尺寸为156mmX 156mm，考虑到激光能量的损失，激光光源的功率至少需要达到50W，因此需要采用光纤耦合式半导体激光器。由于光致发光的检测方法要求激光光斑的均匀性在95%以上，而光纤耦合式半导体激光器直接输出的光斑为中间亮、边缘暗的高斯分布，并且其均匀性仅能达到40%，因此光纤耦合式半导体激光器匀光装置的研究是非常必要的。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的，就是为了提供一种光纤耦合式半导体激光器的匀光装置，以实现使用光致发光的检测方法对太阳电池进行检测。
[0004]为了达到上述目的，本实用新型采用了以下技术方案:一种光纤耦合式半导体激光器的匀光装置，包括沿光路顺序设置的光纤耦合式半导体激光光源、准直透镜、第一复眼透镜、第二复眼透镜、聚光镜和辐照面；光纤耦合式半导体激光光源置于准直透镜的焦点上，第二复眼透镜的各小透镜的中心位于第一复眼透镜对应的小透镜的焦点上，辐照面设置在聚光镜的焦平面上。
[0005]光纤耦合式半导体激光光源经准直透镜后成一束与光轴平行的平行光束，平行光束经过第一复眼透镜后聚焦到第二复眼透镜的中心处，即第一复眼透镜将光源形成多个光源进行照明，第二复眼透镜的每个小透镜将第一复眼透镜对应的小透镜重叠成像在辐照面上，使辐照面上得到均匀光斑。
[0006]本实用新型的光纤耦合式半导体激光器匀光装置能够极大程度的改善光纤耦合式半导体激光器输出光斑的均匀性，满足了太阳电池片的光致发光检测要求。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]图1是本实用新型的光纤耦合式半导体激光器的匀光装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0008]参见图1，本实用新型的光纤耦合式半导体激光器的匀光装置，包括沿光路顺序设置的光纤稱合式半导体激光光源1、准直透镜2、第一复眼透镜3、第二复眼透镜4、聚光镜5和辐照面6。光纤耦合式半导体激光光源I置于准直透镜2的焦点上，第二复眼透镜4的各小透镜的中心位于第一复眼透镜3对应的小透镜的焦点上，辐照面6设置在聚光镜5的焦平面上。
[0009]本实用新型光纤耦合式半导体激光器的匀光装置的工作原理是，光纤耦合式半导体激光光源I经准直透镜2后形成一束与光轴平行的平行光束，光束经过第一复眼透镜3后聚焦到第二复眼透镜4的中心处，即第一复眼透镜3将光源形成多个光源像进行照明，第二复眼透镜4的每个小透镜将第一复眼透镜3对应的小透镜重叠成像在辐照面上。由于第一复眼透镜3将光源的整个宽光束分为多个细光束照明，且每个细光束范围内的微小不均匀性由于处于对称位置细光束的相互叠加，使细光束的微小不均匀性获得补偿，从而使整个孔径内的光能量得到有效均匀的利用。从第二复眼透镜4出射的光斑通过聚光镜5聚集在辐照面6上，辐照面上光斑的每一点均受到光纤耦合式半导体激光光源所有点发出的照射，同时，光纤耦合式半导体激光光源上每一点发出的光束又都交会重叠在辐照面上的同一视场范围内，从而得到一个均匀的辐照面，满足了太阳电池片的光致发光检测要求。
【权利要求】
1.一种光纤耦合式半导体激光器的匀光装置，其特征在于:包括沿光路顺序设置的光纤耦合式半导体激光光源、准直透镜、第一复眼透镜、第二复眼透镜、聚光镜和辐照面；光纤耦合式半导体激光光源置于准直透镜的焦点上，第二复眼透镜的各小透镜的中心位于第一复眼透镜对应的小透镜的焦点上，辐照面设置在聚光镜的焦平面上。
【文档编号】G02B27/48GK204065561SQ201420450770
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年8月11日 优先权日:2014年8月11日
【发明者】刘小宇, 肖颖婕, 丁叶飞, 薛永胜, 祁永庆 申请人:上海太阳能工程技术研究中心有限公司