受激发射损耗显微镜装置的制作方法

文档序号:11889975阅读:来源:国知局
技术总结
STED显微镜装置(1A)包括输出STED光(LS1)的STED光源(11)、输出激励光(LE1)的激励光源(12)、呈现用于通过相位调制将STED光(LS1)成形为圆环状的相位图案的相位调制型的SLM(13)、用于向观察对象区域照射激励光(LE2)和相位调制后的STED光(LS2)的光学系统(15A)、对从观察对象区域产生的荧光(PL)进行检测的检测器(16)、以及控制相位图案的控制部(17a)。控制部(17a)为了控制相位调制后的STED光(LS2)的圆环的内径而设定相位图案。由此,实现了在分辨率和所需时间方面能够提高使用者的便利性的STED显微镜装置。

技术研发人员:泷口优
受保护的技术使用者:浜松光子学株式会社
文档号码:201580017560
技术研发日:2015.03.19
技术公布日:2016.11.16

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