1.一种现场金相显微镜检验用可调节支架，包括用于支撑现场金相显微镜的底座(5)，其特征在于，所述底座(5)的底面设有两个支撑装置，所述支撑装置包括第一连接杆(4)，所述第一连接杆(4)的一端与底座(5)铰接，所述第一连接杆(4)的另一端铰接有第二连接杆(12)，第二连接杆(12)远离第一连接杆(4)的一端铰接有安装块(2)，所述安装块(2)远离第二连接杆(12)的表面设有支撑板(1)，所述支撑板(1)远离安装块(2)的表面设有磁铁块(13)，所述底座(5)的两侧还设有调节装置，所述调节装置包括大小相同的第一螺纹管(3)和第二螺纹管(7)，所述第二螺纹管(7)的侧面铰接有滑块(8)，所述底座(5)靠近滑块(8)的侧面开设有滑槽(10)，所述滑块(8)能配合安装在滑槽(10)内，所述第一螺纹管(3)铰接在连接杆(12)的侧面，所述第一螺纹管(3)和第二螺纹管(7)的内部均螺纹连接螺杆(11)。
2.根据权利要求1所述的一种现场金相显微镜检验用可调节支架，其特征在于，所述滑槽(10)的两端表面均粘接有限位块(9)，且滑块(8)能与限位块(9)接触。
3.根据权利要求1所述的一种现场金相显微镜检验用可调节支架，其特征在于，所述螺杆(11)位于第二螺纹管(7)上方的一端还套接有手轮(6)。