本发明实施例涉及立体显示技术，尤其涉及2d/3d可切换光学模组母板、检测装置、检测方法及制备方法。
背景技术：
在三维立体显示的众多技术当中，祼眼立体显示由于无需观看者戴眼镜的优点在三维立体显示领域中备受青睐。目前，实现祼眼立体显示技术的主要方式是通过在显示面板前或者后设置光学模组，在水平方向上将显示面板的像素单元分割为奇数列像素和偶数列像素，从而为观看者的左右眼分别提供两幅不同的图像，利用观看者左眼图像和右眼图像的视差效应形成景深，进而产生立体显示效果。
图1是现有技术中的二维/三维(2d/3d)可切换光学模组的结构示意图，图2是图1所示2d/3d可切换光学模组沿aa’的剖面结构图，参考图1和图2，该2d/3d可切换光学模组包括相对设置的第一基板11和第二基板12；第一基板11和第二基板12相对的一侧分别设置有第一透明导电层110和第二透明导电层120，2d/3d可切换光学模组区还包括显示区100和围绕显示区的周边区域200，周边区域200内设置有封框胶13，且围绕显示区100设置；封框胶13夹持在第一基板11和第二基板12之间，与第一基板11和第二基板12形成密封空间；第一透明导电层110包括相互绝缘第一部111和第二部112；第二部112位于周边区域200；与第二部112交叠的封框胶13内设置有导通第一透明导电层110和第二透明导电层120的导电球130。第一基板11和第二基板12之间设置有光学功能层14，光学功能层14在第一导电层110和第二透明导电层120通入测试信号时，改变折射率，对显示面板的出射光进行调控，形成对应左右眼的两幅图像，从而实现3d模式。其中，第二导电层120通过导电球130通入测试信号。
然而，若封框胶13内设置的导电球130不处于被压缩的状态，或者没有封框胶13的高度高时，就会导致导通不良，第二透明导电层120接收不到驱动信号，使2d/3d可切换光学模组驱动失效。现有的2d/3d可切换光学模组的检测过程中，前段制程中的宏观检查机只能检测包括密封胶类不良、盒内异物、棱镜缺失、液晶不足等问题，而导电球导通不良的问题发现率为零；这一问题的测试只能在后段制程中进行，即只能在2d/3d可切换光学模组母板完成切割作业后，由立体测试设备进行液晶翻转测试才能发现，在进行该测试过程时，前段制程已生产大量产品，如若不能对该问题进行及时测试反馈，就容易造成大批量导通不良的模组被生产出来，产生批量报废。
技术实现要素：
本发明提供一种2d/3d可切换光学模组母板及其检测装置、检测方法，实现及时反馈导通不良的情况，减少异常模组的生产。
第一方面，本发明实施例提供了一种2d/3d可切换光学模组母板，包括：
相对设置的第一基板和第二基板；所述第一基板和所述第二基板相对的一侧分别设置有第一透明导电层和第二透明导电层；
所述2d/3d可切换光学模组母板包括多个2d/3d可切换光学模组区；所述多个2d/3d可切换光学模组区包括显示区和围绕所述显示区的周边区域；
所述周边区域内设置有封框胶，且围绕所述显示区设置；所述封框胶夹持在所述第一基板和所述第二基板之间，与所述第一基板和所述第二基板形成密封空间；
每个2d/3d可切换光学模组区内的所述第一透明导电层包括相互绝缘第一部和第二部；所述第二部位于所述周边区域；
与所述第二部交叠的所述封框胶内设置有导通所述第一透明导电层和所述第二透明导电层的导电球；
所述第一部连接有第一测试走线，所述第二部连接有第二测试走线。
可选地，所述第一基板和所述第二基板之间设置有柱镜层，所述柱镜层位于所述密封空间内，所述柱镜层和所述第一基板或所述第二基板之间设置有液晶层，所述液晶层中的液晶分子填充于所述密封空间中。
可选地，所述多个2d/3d可切换光学模组区中的所述第一测试走线和所述第二测试走线延伸至所述2d/3d可切换光学模组母板的边缘。
可选地，还包括设置于所述2d/3d可切换光学模组母板的边缘的多个第一连接端子以及多个第二连接端子，每条所述第一测试走线与一对应的所述第一连接端子连接；每条所述第二测试走线与一对应的所述第二连接端子连接。
可选地，还包括：第一测试总线和第二测试总线；所述多个2d/3d可切换光学模组区的多条所述第一测试走线与所述第一测试总线连接，多条所述第二测试走线与所述第二测试总线连接，所述第一测试总线和所述第二测试总线延伸至所述2d/3d可切换光学模组母板的边缘。
可选地，还包括设置于所述2d/3d可切换光学模组母板的边缘的一个第一连接端子以及一个第二连接端子，所述第一测试总线与所述第一连接端子连接；所述第二测试总线与所述第二连接端子连接。
可选地，所述第一测试走线和所述第二测试走线材料为金属或金属氧化物。
第二方面，本发明实施例还提供了一种2d/3d可切换光学模组母板的检测装置，用于对第一方面任一所述的2d/3d可切换光学模组母板进行导通检测，包括：
切割组件，用于切割所述2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板，露出所述第一基板上的所述第一测试走线和第二测试走线；
电源组件，用于向所述第一测试走线和所述第二测试走线输入测试信号，对各所述2d/3d可切换光学模组区进行导通测试。
可选地，所述切割组件包括支撑杆和滑动连接于所述支撑杆上的切割刀头。
第三方面，本发明实施例还提供了一种2d/3d可切换光学模组母板的检测方法，用于检测第一方面任一所述的2d/3d可切换光学模组母板，包括：
切割所述2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板，露出所述第一基板上的所述第一测试走线和第二测试走线；
向所述第一测试走线和所述第二测试走线输入测试信号，测试各所述2d/3d可切换光学模组区的导通情况。
第四方面，本发明实施例还提供了一种2d/3d可切换光学模组的制备方法，包括：
制备如第三方面任一所述的2d/3d可切换光学模组母板；
切割所述2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板，露出所述第一基板上的所述第一测试走线和第二测试走线；
向所述第一测试走线和所述第二测试走线输入测试信号，测试各所述2d/3d可切换光学模组区的导通情况；
切割所述2d/3d可切换光学模组母板，形成多个2d/3d可切换光学模组。
本发明实施例提供的2d/3d可切换光学模组母板及其检测装置、检测方法，通过在光学模组母板的各光学膜组区中的第一部和第二部分别设置第一测试走线和第二测试走线，可以在2d/3d可切换光学模组母板制作完成后，对整个母板进行导电球导通测试，提前导通检测的时间，解决了现有技术不能在前段工艺制程中进行导电球导通检测，易产生大量不良模组的问题，从而及时反馈导通不良的情况，减少异常模组的生产，提高产品良率，有效提高后段产能。
附图说明
图1是现有技术中的2d/3d可切换光学模组的结构示意图；
图2是图1所示2d/3d可切换光学模组沿aa’的剖面结构图；
图3为本发明实施例提供的一种2d/3d可切换光学模组母板结构示意图；
图4是图3所示2d/3d可切换光学模组母板沿bb’的剖面结构示意图；
图5是本发明实施例提供的另一种2d/3d可切换光学模组母板的剖面结构示意图；
图6是本发明实施例提供的又一种2d/3d可切换光学模组母板的俯视图；
图7是本发明实施例提供的又一种2d/3d可切换光学模组母板的俯视图；
图8是本发明实施例提供的又一种2d/3d可切换光学模组母板的俯视图；
图9是本发明实施例提供的一种2d/3d可切换光学模组母板的检测装置的结构示意图；
图10是本发明实施例提供的一种切割组件结构示意图；
图11是本发明实施例提供的一种2d/3d可切换光学模组母板的检测方法流程图；
图12是本发明实施例提供的一种2d/3d可切换光学模组的制备方法流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
图3为本发明实施例提供的一种2d/3d可切换光学模组母板结构示意图，
图4是图3所示2d/3d可切换光学模组母板沿bb’的剖面结构示意图，参考图1、图3和图4，该2d/3d可切换光学模组母板包括：相对设置的第一基板11和第二基板12；第一基板11和第二基板12相对的一侧分别设置有第一透明导电层110和第二透明导电层120；2d/3d可切换光学模组母板包括多个2d/3d可切换光学模组区300；多个2d/3d可切换光学模组区300包括显示区100和围绕显示区的周边区域200；周边区域200内设置有封框胶13，且围绕显示区100设置；封框胶13夹持在第一基板11和第二基板12之间，与第一基板11和第二基板12形成密封空间；每个2d/3d可切换光学模组区300内的第一透明导电层110包括相互绝缘第一部111和第二部112；第二部112位于周边区域200；与第二部112交叠的封框胶13内设置有导通第一透明导电层110和第二透明导电层120的导电球130；第一部111连接有第一测试走线151，第二部连接有第二测试走线152。
其中，该2d/3d可切换光学模组母板中各2d/3d可切换光学模组区通过切割，可以形成多个2d/3d可切换光学模组，通过放置于显示面板的出光侧来调控显示面板的出射光，即配合显示面板实现2d/3d模式的切换。因此，该2d/3d可切换光学模组母板中，第一基板、第二基板以及导电层均需采用透明材料，例如，第一基板和第二基板可采用玻璃基板，第一透明导电层和第二透明导电层可选用金属氧化物透明导电薄膜ito或igzo等。在该2d/3d可切换光学模组母板制备过程中，第一透明导电层110可通过激光干刻分成绝缘的第一部111和第二部112，第一测试走线151和第二测试走线152分别连接第一透明导电层110上绝缘的第一部111和第二部112，即可通过第一测试走线151和第二测试走线152向第一透明导电薄膜110和第二透明导电薄膜120通入测试信号，从而驱动第一基板11和第二基板12之间的光学功能层，即通过光学功能层的功能变化来证实封框胶13中导电球130的导通情况。
本发明实施例提供的2d/3d可切换光学模组母板，通过在光学模组母板的各光学膜组区中的第一部和第二部分别连接第一测试走线和第二测试走线，可以在2d/3d可切换光学模组母板制作完成后，即对整个母板进行导电球导通测试，提前导通检测的时间，解决了现有技术不能在前段工艺制程中进行导电球导通检测，易产生大量不良模组的问题，从而及时反馈导通不良的情况，减少异常模组的生产，提高产品良率，有效提高后段产能；也可在切割2d/3d可切换光学模组母板形成单个2d/3d可切换光学模组时，保留该第一测试走线和第二测试走线，从而在每个生产检测工序中进行导电球导通测试，替代了现有的检测过程均需要检测设备连接的2d/3d可切换光学模组连接器，避免了2d/3d可切换光学模组连接器的损坏，可提高产品良率。
图5是本发明实施例提供的另一种2d/3d可切换光学模组母板的剖面结构示意图，参考图4和5，可选地，第一基板11和第二基板12之间设置有柱镜层141，柱镜层141位于密封空间内，柱镜层141和第一基板11或第二基板12之间设置有液晶层142，液晶层142中的液晶分子填充于密封空间中。
具体的，该2d/3d可切换光学模组母板制成的2d/3d可切换光学模组的工作原理为：柱镜层141和液晶层142组成光学功能层14，液晶层142中的液晶分子受加载在第一透明电极层110和第二透明电极层120上的驱动信号控制，液晶层142的折射率发生变化，当液晶层142的折射率与柱镜层141的折射率不同时，柱镜层141中的柱镜对显示面板的出射光进行汇聚并分像成对应左右眼的左右眼图，此时光学功能层14实现3d模式；当液晶层142的折射率与柱镜层141的折射率相同时，光学功能层14不再具备柱镜层141的汇聚分像作用，此时光学功能层14实现2d模式。
为了方便2d/3d可切换光学模组母板制作完成后即可进行封框胶中导电球的导通情况的测试，可以对各2d/3d可切换光学模组区中的第一测试走线和第二测试走线的布线方式进行适当的设计。图6是本发明实施例提供的又一种2d/3d可切换光学模组母板的俯视图，参考图6，可选地，多个2d/3d可切换光学模组区中的第一测试走线151和第二测试走线152延伸至2d/3d可切换光学模组母板的边缘。由此，在2d/3d可切换光学模组母板制作完成后，只需在母板边缘进行切割，暴露出各2d/3d可切换光学模组区中第一测试走线151和第二测试走线152，并向第一测试走线151和第二测试走线152中通入测试信号即可进行测试。可选地，第一测试走线和第二测试走线材料为金属或金属氧化物。
为了方便检测装置更好地连接第一测试走线和第二测试走线，本发明实施例提供的又一种2d/3d可切换光学模组母板，图7是本发明实施例提供的又一种2d/3d可切换光学模组母板的俯视图，参考图7，可选地，该2d/3d可切换光学模组母板还包括设置于边缘的多个第一连接端子21以及多个第二连接端子22，每条第一测试走线151与一对应的第一连接端子21连接；每条第二测试走线152与一对应的第二连接端子22连接。通过设置连接端子，可以对应在测试设备设置连接端口，通过连接端子与连接端口的匹配连接，可由检测装置对各2d/3d可切换光学模组母板中的各2d/3d可切换光学模组区进行自动化测试，减少手动连接各2d/3d可切换光学模组区中第一测试走线151和第二测试走线152的繁琐过程。
图8是本发明实施例提供的又一种2d/3d可切换光学模组母板的俯视图，参考图8，2d/3d可切换光学模组母板还可包括第一测试总线251和第二测试总线252；多个2d/3d可切换光学模组区的多条第一测试走线151与第一测试总线251连接，多条第二测试走线152与第二测试总线252连接，第一测试总线251和第二测试总线252延伸至2d/3d可切换光学模组母板的边缘。该2d/3d可切换光学模组母板中将各个2d/3d可切换光学模组区中的第一测试走线151和第二测试总线152并联后分别连接第一测试总线251和第二测试总线252，其测试过程可由检测装置直接连接第一测试总线251和第二测试总线252，通过检测装置直接向第一测试总线251和第二测试总线252中通入测试信号，即可对全部2d/3d可切换光学模组区进行统一检测，相比于逐个检测各2d/3d可切换光学模组区，可有效减少检测时间。继续参考图8，可选地，还可在2d/3d可切换光学模组母板的边缘设置一个第一连接端子31以及一个第二连接端子32，第一测试总线251与第一连接端子31连接；第二测试总线252与第二连接端子32连接。
本发明实施例还提供了一种2d/3d可切换光学模组母板的检测装置，用于对本发明实施例提供的2d/3d可切换光学模组母板进行导通检测，图9是本发明实施例提供的一种2d/3d可切换光学模组母板的检测装置的结构示意图，参考图9、图3及图4，该2d/3d可切换光学模组母板的检测装置包括：切割组件91，用于切割2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板12，露出第一基板11上的第一测试走线151和第二测试走线152；电源组件92，用于向第一测试走线151和第二测试走线152输入测试信号，对各2d/3d可切换光学模组区进行导通测试。
本发明实施例提供的2d/3d可切换光学模组母板的检测装置，通过切割模组，切割2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板，露出第一基板上的第一测试走线和第二测试走线，然后利用电源组件，向第一测试走线和第二测试走线输入测试信号，对各2d/3d可切换光学模组区进行导通测试，实现了在2d/3d可切换光学模组母板制作完成后，对整个母板进行导电球导通测试，提前导通检测的时间，解决了现有技术不能在前段工艺制程中进行导电球导通检测，易产生大量不良模组的问题，从而及时反馈导通不良的情况，减少异常模组的生产，提高产品良率，有效提高后段产能。
图10是本发明实施例提供的一种切割组件结构示意图，参考图10，该切割组件91包括支撑杆911和滑动连接于支撑杆911上的切割刀头912。示例性地，如图10所示，该切割组件91可安装于2d/3d可切换光学模组母板的宏观检查设备上，其中，2d/3d可切换光学模组母板101被放置于宏观检查装置的载台102上，并通过定位销103进行位置固定，切割组件91则固定安装在宏观检查机载台上，通过滑动连接的切割刀头912对该2d/3d可切换光学模组母板101进行切割，该切割过程只对2d/3d可切换光学模组母板101的第二基板12进行切割，示例性地，第二基板12的边缘切割宽度可为2cm，从而暴露出第一基板11上的第一测试走线151和第二测试走线152，继而通过电源组件92连接漏出的第一测试走线151和第二测试走线152，对2d/3d可切换光学模组母板101进行导通测试。本发明提供的切割组件可与宏观检查装置作为一个整体，在宏观检查装置进行密封胶类不良、盒内异物、棱镜缺失、液晶不足等异常检测的同时，可以进行封框胶内导电球导通情况的测试，该方案可适应自动检测工艺，提高生产效率。
本发明实施例还提供了一种2d/3d可切换光学模组母板的检测方法，图11是本发明实施例提供的一种2d/3d可切换光学模组母板的检测方法流程图，下面参考图11对该2d/3d可切换光学模组母板的检测装置的检测方法进行介绍，该2d/3d可切换光学模组母板的检测方法包括：
s110、切割2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板，露出第一基板上的第一测试走线和第二测试走线；
s120、向第一测试走线和第二测试走线输入测试信号，测试各2d/3d可切换光学模组区的导通情况。
具体的，可参考图5、图9及图10，在电源组件92向第一测试走线151和第二测试走线152输入测试信号后，可通过测试信号驱动各2d/3d可切换光学模组区中的光学功能层14，例如光学功能层14中的液晶层142，检测该光学功能层14的工作状态，即可判断各2d/3d可切换光学模组区的导通情况。
本发明实施例提供的2d/3d可切换光学模组母板的检测方法，通过切割2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板，露出第一基板上的第一测试走线和第二测试走线，然后向第一测试走线和第二测试走线输入测试信号，对各2d/3d可切换光学模组区进行导通测试，实现了在2d/3d可切换光学模组母板制作完成后，对整个母板进行导电球的导通测试，提前导通检测的时间，解决了现有技术不能在前段工艺制程中进行导电球导通检测，易产生大量不良模组的问题，从而及时反馈导通不良的情况，减少异常模组的生产，提高产品良率，有效提高后段产能。
本发明实施例还提供了一种2d/3d可切换光学模组的制备方法，图12是本发明实施例提供的一种2d/3d可切换光学模组的制备方法的流程图，参考图12，该2d/3d可切换光学模组的制备方法包括：
s210、制备2d/3d可切换光学模组母板；
其中，该步骤制备的2d/3d可切换光学模组母板为本发明实施例提供的2d/3d可切换光学模组母板。
s220、切割2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板，露出第一基板上的第一测试走线和第二测试走线；
s230、向第一测试走线和第二测试走线输入测试信号，测试各2d/3d可切换光学模组区的导通情况；
s240、切割2d/3d可切换光学模组母板，形成多个2d/3d可切换光学模组。
本发明实施例提供的2d/3d可切换光学模组面板的制备方法，通过切割2d/3d可切换光学模组母板的边缘处的第二基板，露出第一基板上的第一测试走线和第二测试走线，然后向第一测试走线和第二测试走线输入测试信号，在切割2d/3d可切换光学模组母板之前，对各2d/3d可切换光学模组进行导通测试，实现了在2d/3d可切换光学模组母板制作完成后，对整个母板进行导电球的导通测试，提前导通检测的时间，解决了现有技术不能在前段工艺制程中进行导电球导通检测，易产生大量不良模组的问题，从而及时反馈导通不良的情况，减少异常模组的生产，提高产品良率，有效提高后段产能。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。