图像形成装置、图像形成方法、存储介质以及计算机装置与流程

本发明涉及图像形成装置、图像形成方法、存储介质以及计算机装置。

背景技术：

以往，电子照相方式的图像形成装置需要进行感光体表面电位均匀充电处理的工序。该工序采用接触dc充电方式，即将直流电压施加于充电辊，使充电辊接触感光体表面，向感光体表面放电，从而使得感光体带电。

在该接触dc充电方式中，通过在充电辊和感光体表面之间产生放电，使感光体的表面电位带电，达到目标电位。

接触dc充电方式因充电辊与感光体表面接触，为此随着感光体转动，表面的感光体膜会被刮掉。

而且，随着膜厚变薄，施加在充电辊上的电压和感光体表面带电电压之间的关系发生变化，感光体逐渐难以保持成像所需要的表面电位。其结果，在打印图像中产生不良状况，需要更换感光体。

而如果感光体膜全部被刮掉，则感光体的表面将无法保持电荷，带电性能显著下降，在这种情况下，也需要更换感光体。

对于这些问题，以往用感光体的转速来计算感光体膜厚的刮削量，控制施加在充电辊上的电压，或者判断感光体的使用寿命。

相对于感光体膜厚的实际刮削量，在用带电状态的感光体的转速来预测感光体膜厚的刮削量时，由于受到以下因素等的影响，

(1)用户的使用环境

(2)感光体单元内刮刀与感光体抵押接触时的压力。

(3)显影部中的夹持压力

预测刮削量与实际刮削量之间存在很大差距。

作为上述课题的解决方案，专利文献1(特开平5-223513号公报)公开的技术方案是，不是用感光体的转速来计算感光体膜厚的刮削量，而是以高精度检测膜厚的刮削量为目的，根据充电偏压-充电直流电流的特性的斜率，求出感光体膜厚。

专利文献2(特开2009-098279号公报)公开的技术方案以提高感光体的膜厚推算结果的精度为目的，用在每种机种和工作期间所导出并保存的感光体膜厚推算运算式，基于工作信息，对感光体的消耗量(膜厚减少量)进行推定运算。

专利文献3(特开平8-33496号公报)公开的技术方案以提高感光体的膜厚检测结果的精度为目的，使得膜厚判断时施加于充电部件的电压的绝对值大于图像形成时施加于充电部件的电压的绝对值，或者使得施加的电压可以随着温度湿度变化。

但是以往的方法存在当噪声等因素引发异常结果时会发生膜厚预测错误的问题。

专利文献1至3虽然以提高膜厚推算结果的精度为目的，但是其技术内容间接地与提高膜厚推算控制的计算精度有关。

然而专利文献1至3无法解决当噪声等因素引发异常结果时会发生膜厚预测错误的问题。

技术实现要素：

鉴于上述问题，本发明提供一种图像形成装置，其目的在于，相对于推算的推算膜厚，能够以更高的精度来计算与当前时刻的行走距离对应的预测膜厚范围。

为了解决上述问题，本发明提供一种图像形成装置，其中具备，电压施加部，用于对转动的感光体的外周面充电的充电部件施加充电偏压；以及，电流电压检测部，用于生成反馈信号，该反馈信号表示从所述充电部件流到感光体的输出电流，其特征在于，具备，膜厚计算部，用于根据与施加到所述充电部件上的充电偏压有关的电压值、以及与所述感光体中的输出电流有关的电流值，求出所述感光体的膜厚；行走距离计算部，用于计算所述感光体在带电状态下的行走距离；计算膜厚保存部，用于将所述膜厚计算部求出的计算膜厚与所述行走距离相关联地保存；膜厚推算部，用于根据从所述计算膜厚保存部取得的多个时刻的计算膜厚和行走距离，求出当前时刻的推算膜厚；以及，膜厚范围预测部，用于根据所述膜厚推算部求出的推算膜厚，求出与当前时刻的行走距离对应的预测膜厚范围。

本发明的效果在于，相较于计算求出的推算膜厚，能够以更高的精度来计算与当前时刻的行驶距离对应的预测膜厚范围。

附图说明

图1是本发明采用的图像形成装置的概略结构的剖视图。

图2是本发明的第一实施方式涉及的图像形成装置所采用的电子照相处理的整体构成示意图。

图3是表示本发明的第一实施方式所涉及的图像形成装置的主要结构的功能框图。

图4是i-v特性曲线图。

图5是包括噪声发生时的i-v特性曲线图。

图6是表示温度湿度环境下感光体的i-v特性的斜率与膜厚之间关系的曲线图。

图7是本发明的第一实施方式所涉及的图像形成装置的膜厚推算部进行的膜厚推算处n理的概要的示意图。

图8是简单说明膜厚计算部求出的感光体计算膜厚的误差的影响的示意图。

图9是用来说明推算感光体膜厚时的预测膜厚范围dmin～dmax的示意图。

图10是本发明的第一实施方式所涉及的图像形成装置的主处理的流程图。

图11是本发明的第一实施方式所涉及的图像形成装置中的异常判断部所实行的异常判断处理的子程序的流程图。

图12是本发明的第二实施方式涉及的图像形成装置所采用的使用率计算处理的示意图。

图13是本发明的第二实施方式涉及的图像形成装置1的使用率计算处理流程图。

图14是本发明第三实施方式涉及的图像形成装置的主要构成功能框图。

图15是表示感光体的行走距离和膜厚之间关系的图。

具体实施方式

以下详述附图显示的本发明的实施方式。

本发明为了以比推算膜厚更高的精度来计算与当前时刻的行走距离对应的预测膜厚范围，具有如下结构:

即，本发明的图像形成装置具备，电压施加部，用于对转动的感光体的外周面充电的充电部件施加充电偏压；以及，电流电压检测部，用于生成反馈信号，该反馈信号表示从所述充电部件流到感光体的输出电流，其特征在于，具备，膜厚计算部，用于根据与施加到所述充电部件上的充电偏压有关的电压值、以及与所述感光体中的输出电流有关的电流值，求出所述感光体的膜厚；行走距离计算部，用于计算所述感光体在带电状态下的行走距离；计算膜厚保存部，用于将所述膜厚计算部求出的计算膜厚与所述行走距离相关联地保存；膜厚推算部，用于根据从所述计算膜厚保存部取得的多个时刻的计算膜厚和行走距离，求出当前时刻的推算膜厚；以及，膜厚范围预测部，用于根据所述膜厚推算部求出的推算膜厚，求出与当前时刻的行走距离对应的预测膜厚范围。

通过具备以上的结构，相较于计算求出的推算膜厚，能够以更高的精度来计算与当前时刻的行驶距离对应的预测膜厚范围。

以下针对上述特征用附图作详细解说。本实施方式记述中的构成要素、种类、组合、形状、相对配置等，仅仅是举例说明，除非特定记述，对本发明的范围没有限制。

<第一实施方式>

图1是本发明采用的图像形成装置的概略结构的剖视图。

以下参考图1，以复印模式为例，简单描述图像形成装置1中图像形成的流程。

在复印模式下的图像形成装置1中，原稿叠通过自动原稿输送装置(adf)2，被依次送往图像读取装置3，由图像读取装置3读取图像信息。然后，该被读取的图像信息通过图像处理单元，借助于作为写入装置的写入单元4转换为光信息。感光体6是感光鼓，借助于充电器均匀带电后，受到来自写入单元4的光信息曝光，形成静电潜像。

该感光体6上的静电潜像通过显影部7显影，成为调色剂图像。调色剂图像通过输送带8转印到转印纸上。转印纸经过定影部9定影调色剂像后被排出。

<第一实施方式涉及的图像形成装置所采用的电子照相处理>

图2是本发明的第一实施方式涉及的图像形成装置1所采用的电子照相处理的整体构成示意图。

图2所示的是一般的直接dc充电方式的电子照相处理构成，其中具备感光体6、充电辊(充电部件)12、曝光部13、显影部7、显示面板14、转印辊15、刮板16、除电器17、高压电源(充电)18、电流电压检测部19、控制单元10。

感光体16转动，高压电源18产生的直流高电压被施加到充电辊(充电部件)12上，使感光体6的表面均匀带电。然后，曝光部13射出与图像信号对应的图像光，该图像光使得感光体6的表面曝光，从而感光体6的表面上形成静电潜像。

接着，感光体6表面的静电潜像通过显影部7显影，成为调色剂图像。该感光体6上的调色剂图像通过转印辊15被转印到记录介质上。其后，通过定影装置定影，在记录介质上形成图像。

而后，除电器17照射的led光，去除感光体6表面的电荷后，进行充电处理。

控制单元10具备a/d转换部(adc)10a、cpu(中央处理单元)10b、rom(只读存储器)10c以及ram(随机存取存储器)10d。

显示面板14以0～100％之间的值来显示感光体6的使用率。

<控制部>

图3是表示本发明的第一实施方式所涉及的图像形成装置的主要结构的功能框图。

图3所示的控制部10具备电动机驱动部21、温度湿度检测部11、电流电压检测部19、电压施加部24、控制部30。

电动机驱动部21根据来自控制部30的驱动指示来驱动电动机，使得感光体6随着电动机的旋转而转动。

温度湿度检测部11检测感光体6周围气氛的温度湿度。

电压施加部24从控制部30取得表示感光体6所需施加的电压值的电压指令值后，调整高压电源18的输出电压，使得输出电压的电压值成为电压指令值对应的施加电压，并借助于充电辊12对感光体6施加电压。

电流电压检测部19生成表示从充电辊12流向感光体6的输出电流·输出电压的反馈信号，并输出到a/d转换部10a。

如上所述，图3所示的控制部30由例如具有cpu10b、rom10c、ram10d的微型计算机构成。

cpu10b从rom10c读出操作系统os，在ram10d上展开，启动os，在os管理下，从rom10c读出应用软件的程序(处理模块)，执行各种处理，由此实现图2所示的控制部30。

控制部30具备膜厚计算部30a、计算膜厚保存部30b、膜厚推算部30c、异常判断部30c1、膜厚范围预测部30d、范围外次数计数部30d1、膜厚推算信息保持部30e、推算膜厚误差计算部30f、使用率计算部30g、比较部30k、行走距离计算部30h、推算膜厚保存部30i、膜厚决定计算部30j。

膜厚计算部30a根据与流经感光体6的输出电流有关的电流值和施加于充电部件的充电偏压的电压值，求出感光体的i-v特性的斜率，进而根据i-v特性的斜率求出膜厚。

计算膜厚保存部30b将膜厚计算部30a求出的计算膜厚与行走距离计算部30h求出的行走距离相关联后保存到ram10d中。

膜厚推算部30c基于从计算膜厚保存部30b获取的多个时刻的计算膜厚以及行走距离，计算当前时刻的推算膜厚。膜厚推算部30c还根据从计算膜厚保存部30b取得的多个时刻的计算膜厚和行走距离，用最小二乘法求出与当前时刻的行走距离相对应的推算膜厚。

进而，推算膜厚误差计算部30f根据温度湿度检测部11检测到的温度湿度信息，求出推算膜厚误差δde。

膜厚范围预测部30d根据推算膜厚误差δde和膜厚推算部30c推算的推算膜厚，求出可作为当前时刻的膜厚的预测膜厚范围dmin～dmax。

膜厚范围预测部30d以前一次的推算膜厚的值越小，预测膜厚范围dmin～dmax就越窄的方式进行计算。

膜厚范围预测部30d使用基于前一次推算膜厚的推算膜厚误差δde，求出与当前时刻的行走距离对应的预测膜厚范围dmin～dmax。

异常判断部30c1在下一次推算膜厚的推算时，通过判断膜厚是否在膜厚范围预测部30d预测的预测膜厚范围dmin～dmax之内，来判断推算膜厚有效或无效。

当推算膜厚相对于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax，处于膜厚较厚一方的范围以外时，异常判断部30c1设推算膜厚无效。

当范围外次数计数部30d1计数得到的范围外次数连续达到一定次数以上时，异常判断部30c1设膜厚较薄一方的范围之外的推算膜厚有效。

在推算膜厚有效的情况下，异常判断部30c1丢弃计算膜厚保存部30b中保存的、计算膜厚dc变为比膜厚下限值dmin小之前得计算膜厚dc。

在范围次数外计数部30d1计数得到的范围外次数连续小于预定次数时，异常判断部30c1让膜厚推算部30c再次执行膜厚推算处理。

范围外次数计数部30d1对于膜厚推算部30c求出的推算膜厚，相对于膜厚范围预测部30d预测的预测膜厚范围dmin～dmax，处于膜厚较厚一方且所预测的预测膜厚范围dmin～dmax之外的情况下、或者处于膜厚较薄一方且所预测的预测膜厚范围dmin～dmax之外的情况下的范围外次数进行计数。

范围外次数计数部30d1被设于膜厚范围预测部30d内，对于膜厚推算部30c推算的推算膜厚，相对于膜厚范围预测部30d预测的预测膜厚范围dmin～dmax，处于膜厚较薄一方的情况下的范围外次数进行计数。

膜厚推算信息保持部30e保持膜厚推算信息(图6)，该膜厚推算信息表示膜厚推算部30c所使用的i-v特性的斜率(充电电流-充电偏压的斜率)与感光体6的膜厚之间的关系。

推算膜厚误差计算部30f根据膜厚推算信息和推算膜厚，计算膜厚推算信息和推算膜厚之间的推算膜厚误差δde。

比较部30k将由膜厚范围预测部30d预测的预测膜厚范围下限值dmin与可以基于感光体6的行走距离求出的感光体的膜被最大限度刮去时的最大磨耗膜厚值进行比较。

使用率计算部30g根据作为比较部30k的比较结果的预测膜厚范围的下限值或最大切削膜厚值之中较大一方的值，来计算感光体6的使用率。

使用率计算部30g根据膜厚范围预测部30d预测的预测膜厚范围的下限值，来计算感光体6的使用率。

行走距离计算部30h通过计时器10e计测在使感光体6转动的马达转动期间，且电压施加部24经由充电辊12向感光体6施加电压期间中的时间，通过施加时间乘以每秒单位转速，来求出充电期间感光体6的行走距离。

使用率显示控制部30m将使用率计算部30g求出的感光体6的使用率转换为0～100％之间的值，并显示在显示面板14上。

推算膜厚保存部30i在膜厚推算部30c推算得到的推算膜厚中附加异常判断部30c1判断的与推算膜厚有关的有效/无效后保存。

膜厚决定计算部30j将保存在推算膜厚保存部30i中的推算膜厚中有效的膜厚定为膜压并输出。

控制部30控制经由a/d转换部10a并根据电流电压检测部19生成的反馈信号，求出需要施加到感光体6上的电压值，将该电压值作为电压指令值给予电压施加部24，用以调整施加电压。

<i-v特性检测>

通过控制部30的控制，对感光体施加多个不同的电压而使其带电，检测施加时的电流，求出i-v特性，用该特性的斜率来检测膜厚(参照专利文献1)。

控制单元10为了导出感光体充电时のi-v特性，对感光体施加上述多个不同的电压，借助于a/d转换部10a检测此时的充电电流。

以下用假定在多个控制步骤中改变4次电压作为对感光体施加多个不同的电压为例进行说明。此时的控制步骤为下述[s1]～[s5]。

[s1]控制单元10对感光体施加电压v1的充电电压，检测此时的电流i1。

[s2]控制单元10对感光体施加电压v2的充电电压，检测此时的电流i2。

[s3]控制单元10对感光体施加电压v3的充电电压，检测此时的电流i3。

[s4]控制单元10对感光体施加电压v4的充电电压，检测此时的电流i4。

[s5]在执行[s1]～[s4]时，膜厚计算部30a从施加电压和检测电流导出i-v特性中的斜率m(参照图4)，求出与i-v特性的斜率m相对应的感光体6的膜厚d(参照图6)。

计算膜厚保存部30b在行走距离计算部30h求出的当前行走距离l与膜厚计算部30a求出的计算膜厚d之间建立关联，并将其保存到ram10d中。

设电压v1～v4分别是不同的电压值。另外，在计算膜厚保存部30b中，多个不同的电流-电压对(i1、v1)～(i4、v4)至少2点以上即可。

<i-v特性曲线>

图4是i-v特性曲线图。膜厚计算部30a根据图4所示的i-v特性曲线的斜率m，求出感光体的膜厚(参考专利文献2)。

具体而言，在用充电辊(充电部件)2对感光体6充电时，充电辊2和感光体6之间的电流idc与感光体6的感光层的膜厚d之间，idc＝k/d(k是常数)成立。

如上所述，膜厚计算部30a根据感光体6中的输出电流所涉及的电流值与施加到充电部件的充电偏压所涉及的电压值，求出感光体的i-v特性的斜率，进而，基于i-v特性的斜率求出膜厚。

<噪声发生时的i-v特性>

图5是包括噪声发生时的i-v特性曲线图。图5所示的〇标记是没有噪声时的i-v特性，△标记是有噪声时的i-v特性。

在上述控制步骤[s1]～[s5]中，可以通过计算i-v特性的斜率m，从斜率m求出膜厚d。

但是，如图5所示，在噪声等引起异常i-v特性发生的情况下，会发生基于错误的倾斜me求出错误的膜厚de的问题。

<温度湿度环境下的斜率和膜厚的关系>

图6是表示温度湿度环境下感光体的i-v特性的斜率与膜厚之间关系的曲线图。

在理想情况下，i-v特性的斜率与膜厚的关系保持一定。但是如图6所示，低温低湿ll环境(例如10℃、15％)下与常温常湿mm环境(例如23℃、50％)、高温高湿hh环境(例如27℃、80％)相比，感光体膜厚的误差会变得更大。

新的感光体时膜厚约为34μm，而被判断需要更换时的膜厚例如为13μm。

在膜厚检测控制中，根据使充电偏压变化多个点时的i-v特性的斜率来求出膜厚(参考专利文献2)。

i-v特性的斜率m和膜厚的关系如图6所示，膜厚薄则斜率变化显著。如图5所示，在因误差而检测出较大斜率的情况下，求出的感光体膜厚比实际膜厚薄。

在低于能够让感光体表面确实可靠地带电的最小膜厚阈值dref的情况下，例如在用膜厚检测结果进行使用寿命判断的图像形成装置中，在温度湿度环境、噪声等影响下求出的异常i-v特性，会意外导致感光体的使用寿命结束。

<膜厚推算处理的概述>

图7是本发明的第一实施方式所涉及的图像形成装置1的膜厚推算部30c进行的膜厚推算处理的概要的示意图。

图7简要显示对感光体6的推算膜厚进行的异常判断处理，纵轴是感光体6的计算膜厚dc，横轴是感光体6的行走距离l。

为了判断计算膜厚的正常/异常，将膜厚计算部30a曾经求出的计算膜厚值dc与行走距离计算部30h求出的感光体行走距离l相关联地保存到计算膜厚存储部30b中，膜厚推算部30c求出计算膜厚dc值相对于感光体行走距离l的斜率m以及截距(图7中的线41)。

根据这些计算结果，便可以求出从感光体行走距离l推算的推算膜厚de。

膜厚推算部30c根据从计算膜厚保存部30b取得的计算膜厚dc值，通过如用最小二乘法等求出相对于感光体行走距离l的计算膜厚dc的推移，求出位于图7所示的线41上的推算膜厚de。

膜厚推算部30c通过根据多个时刻的计算膜厚dc和行走距离l，按照最小二乘法计算与当前时刻的行走距离l对应的推算膜厚de，能够提高推算膜厚de的推算精度。

<关于感光体计算膜厚的误差影响>

图8是简单说明膜厚计算部30a求出的感光体计算膜厚dc的误差的影响的示意图。

如图8所示，有必要考虑从计算膜厚dc得到的i-v特性的斜率m的误差。

造成倾斜m误差主要有以下因素。

(1)充电偏压的输出电压v的误差

(2)充电电流的检测值i的误差

(3)感光体6与充电辊12之间的电阻误差

由于这些因素所引起的斜率误差的上下限幅度取决于输出充电偏压的电路板或感光体6等硬件系统构成的因素，因而固定地取决于图像形成装置1的机种。倾斜m的误差上下限幅度几乎与求出的倾斜m无关，几乎可以视为恒定值。根据该上下限幅度能够求出计算膜厚dc的误差(参见图8)。

在此，在斜率的计算值m大＝计算膜厚dc小的情况下，如图8中的线45～47所示，斜率误差引起的计算膜厚dc误差变小。

相反，在斜率计算值m小＝计算膜厚dc大的情况下，如图8中的线45～47所示，由斜率误差引起的计算膜厚dc误差变大。

这样，计算膜厚dc的误差幅度随着计算膜厚dc的结果而变化，计算膜厚dc的误差幅度可以基于计算膜厚dc的值来决定。

由于倾斜m-计算膜厚dc的相关关系随着温度湿度环境变动，因而在图8中决定误差幅度时还考虑环境影响。为此，通过使用温度湿度检测部11检测当前的温度湿度，补偿斜率m-计算膜厚dc的关系式，能够抑制误差幅度。

利用与计算膜厚dc的误差相同的理论，推算膜厚误差计算部30f对膜厚推算部30c求出的推算膜厚de(参见图7)，基于推算膜厚de来计算推算膜厚误差δde。例如，用如下线性函数定义，系数α和截距β可以基于图像形成装置1的机种固有的实测数据来决定。

δde＝α×de+β式(1)

此外，膜厚推算部30c通过根据温度湿度检测部11检测到的温度湿度信息来补偿推算膜厚de，具有提高推算膜厚de的预测精度的优点。

再者，推算膜厚误差计算部30f通过根据温度湿度检测部11检测到的温度湿度信息来补偿推算膜厚误差δde，具有提高推算膜厚误差δde的预测精度的优点。

膜厚范围预测部30d用以下式(2)、(3)求出膜厚范围上限值dmax、膜厚范围下限值dmin，作为当前时刻的膜厚的可取的范围。

膜厚范围预测部30d从推算膜厚de加上推算膜厚误差δde而得到的值中，减去最小磨耗速度vsmin乘以前一次膜厚推算时的行走距离(ln-le)而得到的值，求出膜厚范围上限值dmax。

dmax＝de+δde-vsmin×(ln-le)式(2)

另一方面，膜厚范围预测部30d从从推算膜厚de减去推算膜厚误差δde得到的值中，减去最大磨耗速度vsmax乘以前一次膜厚推算时的行走距离(ln-le)而得到的值，求出膜厚范围下限值dmin。

dmin＝de-δde-vsmax×(ln-le)式(3)

在此，来自前一次膜厚推算时的行走距离(ln-le)是从当前的行走距离ln减去前一次行走距离le而得到的值。

膜厚范围预测部30d根据膜厚推算部30c求出的推算膜厚de，计算与当前时刻的行进距离l相对应的预测膜厚范围dmin～dmax，由此可以高精度地求出测厚膜厚范围。

膜厚范围预测部30d通过基于推算膜厚de和推算膜厚误差δde求出预测膜厚范围dmin～dmax，从而在推算膜厚de薄的情况下膜厚推算时的推算膜厚误差δde减小，具有提高预测膜厚范围dmin～dmax的预测精度的优点。

此外，上述最小磨耗速度vsmin以及最大磨耗速度vsmax分别表示允许感光体膜厚磨耗的最小速度以及最大的速度。最小磨耗速度vsmin和最大磨耗速度vs作为图像形成装置1的机型固有的值，是已定值，影响的因素主要如下。

(1)清洁刮板的压力

(2)显影夹持部(显影辊和感光体)的按压力。

(3)环境(如果是低温环境，则清洁刮板变硬，易于磨耗)。

<预测膜厚范围>

图9是用来说明推算感光体膜厚时的预测膜厚范围dmin～dmax的示意图。

通常，感光体6的膜厚在初始状态下给出±10％的容许范围，+10％的初始膜厚被称为初始最大膜厚dsmax，-10％的初始膜厚被称为初始最小膜厚dsmin，这些为纵轴上显示的感光体的计算膜厚dc的初始值。进而，在纵轴下方示出了表示避免发生异常的膜厚的界限值的最小膜厚阈值dref。

符号48是表示膜厚在最厚情况下推移的线。也就是说，表示从初始最大膜厚dsmax开始，以最小磨耗速度vsmin消磨感光体6时推移的线。

符号49是表示在膜厚最薄情况下推移的线。也就是说，表示从初始最小膜厚dsmin开始，以最大磨耗速度vsmax消磨感光体6时推移的线。

图9所示的预测膜厚范围51可以作为上述膜厚范围上限值dmax～膜厚范围下限值dmin的范围来预测。该预测膜厚范围51随着推算膜厚de而变动。

在本实施方式中，作为一例超过预测膜厚范围51的膜厚范围上限值dmax的计算膜厚dc，如图9所示，在存在计算膜厚dcu1～dcu4的情况下，将它们全部忽略。

另一方面，作为一例低于预测膜厚范围51的膜厚范围下限值dmin的计算膜厚dc，如图9所示，在计算膜厚dcd1～dcd3持续接连三次的情况下，将第三次的计算膜厚dcd3设为有效。

按照图8所示的理论，推算膜厚de越薄，推算膜厚误差δde越小，根据上述计算式(2)、(3)预测的预测膜厚范围dmin～dmax变窄。

因此，如图9所示，感光体6的膜厚越磨耗，推算膜厚de越薄的状态(感光体行走距离l越长的状态)，就越能够高精度地推算膜厚。

图9是用来说明对感光体6的推算膜厚de进行的异常判断处理的示意图，纵轴为感光体6的计算膜厚dc，横轴为感光体6的行走距离l。

如图9所示，关于从推算膜厚de的结果得到的预测膜厚范围51，由于感光体行走距离l越长推算膜厚de越小，因而利用感光体的行走距离l预测的预测膜厚范围dmin～dmax就越窄。也就是说，由符号51表示的第1范围移动到第2范围52，预测膜厚范围dmin～dmax变得比较狭窄。其结果，便能够以良好的精度来计算当前时刻的行走距离的预测膜厚范围dmin～dmax。

膜厚范围预测部30d通过采用前一次的推算膜厚de的值越小，预测膜厚范围dmin～dmax就越窄的方式，使得推算膜厚de较薄情况下，膜厚推算时的推算膜厚误差δde减小，具有提高预测膜厚范围dmin～dmax的预测精度的优点。

<异常判断处理>

以下参考图9，对求出的计算膜厚dc处于预测膜厚范围51之外的的情况下的异常判断处理进行说明。

当计算膜厚dc的计算结果是超过膜厚范围上限值dmax的时，设计算膜厚dc为无效。此时，由于膜厚比预计更厚，因此判断是比实际膜厚状态更有利(未受到刮削)的状态。

在用计算膜厚dc的结果来判断感光体6的使用寿命时，通过把计算膜厚dc视为无效，可以避免过度有利判断的风险。

相反，在计算膜厚dc低于膜厚范围下限值dmin的情况下，最初将计算膜厚dc视为无效。

但是，如果小于膜厚范围下限值dmin是真实状态，则存在未将早期判断反馈到控制处理中会带来异常图像的问题。

对此，在出现范围之外的结果的情况下，早期实行再次膜厚检测，迅速判断范围之外的计算膜厚的真伪。

范围外次数计数部30d对范围外次数进行计数，并在一定次数(例如3次)以上计算膜厚dc连续小于下限状态的情况下，判断膜厚实际上处于薄的状态，设小于下限的计算膜厚dc有效。

此时，如果尚保留在做出小于下限的判断之前的计算膜厚dc，则会有用于推算膜厚de的推算的斜率m比较平缓而做出比较有利的判断的问题，因而除了有效的小于下限的计算膜厚dc以外，应该废弃过去求出的计算膜厚dc。

另外，不管是超过上限状态还是小于下限状态，只要在被范围外次数计数部30d1判断为范围外的次数持续规定次数以上，膜厚推算处理本身的可信性受到怀疑，因此可以不将之后的推算膜厚de的结果反映在控制中，便能够避免上述问题。

<主处理>

图10是本发明的第一实施方式所涉及的图像形成装置1的主处理的流程图。

在步骤s5中，控制部30处于待机状态。

在步骤s10中，控制部30开始膜厚计算实行判断。

在步骤s15中，控制部30判断是否满足膜厚计算实行条件。在此，如果满足膜厚计算实行条件(s15、是)，则进入步骤s20。相反，如果不满足膜厚计算实行条件(s15、否)，则返回到步骤s5。

在步骤s20中，控制部30实行膜厚计算动作。具体而言，控制部30将表示需要向感光体6施加的电压值的电压指令值输出到电压施加部24。电压施加部24将电压调整为与电压指令值对应的施加电压，并经由充电辊12向感光体6施加电压。

在步骤s25中，膜厚计算部30a根据充电偏压和充电电流之间的关系来求感光体膜厚dc。

在步骤s30中，计算膜厚保存部30b保存上述求出的计算膜厚dc和行走距离信息l。

在步骤s35中，控制部30调用异常判断处理子程序(图11)。

<异常判断处理>

图11是本发明的第一实施方式所涉及的图像形成装置1的异常判断部30c1实行的异常判断处理的子程序流程图。

如上所述，异常判断部30c1基于前一次的推算膜厚de的结果，判断计算膜厚dc是否在预测膜厚范围dmin～dmax以内，决定计算膜厚dc有效或无效。

在步骤s110中，膜厚推算部30c根据从计算膜厚保存部30b取得的计算膜厚dc，推算当前时刻的推算膜厚de。此时，膜厚推算部30c根据从计算膜厚保存部30b取得的多个时刻的计算膜厚dc，用最小二乘法推算当前时刻的推算膜厚de。

在步骤s115中，膜厚范围预测部30d根据式(2)，求出膜厚范围上限值dmax，并根据式(3)，求出膜厚范围下限值dmin。

在步骤s120中，异常判断部30c1判断最新的计算膜厚dc是否在以下的范围(dmin～dmax)以内。

dmin≤(最新dc)≤dmax式(4)

异常判断部30c1在下一次膜厚推算时，通过判断预测膜厚de是否在预测的预测膜厚范围dmin～dmax之内来判断膜厚de是有效还是无效，从而判断推算膜厚de的有效/无效，提高推算膜厚de的精度，进而提高下一次膜厚推算的精度。

在最新的计算膜厚dc在上述式(4)的范围之内的情况下，前往步骤s123，并设范围外连续次数计数k的值为0(k＝0)，进行初始化处理。

而后进入步骤s125，判断最新计算膜厚dc有效，回归主程序。

而在最新的计算膜厚dc未在上述式(4)的范围之内的情况下，前往步骤s128，并设范围外连续次数计数k的增值(k＝k+1)。.

而后前往步骤s130，异常判断部30c1在范围外次数的计数器k技术结果为一定次数以上时，连续判断计算膜厚dc是否满足下式(5)

dmin>(最新的dc)式(5)

在最新的计算膜厚dc满足上述式(5)的情况下，前往步骤s135，异常判断部30c1判断最新的计算膜厚dc为有效，返回主程序。

异常判断部30c1具有范围外次数计数部30d1，用对膜厚推算部30c推算的推算膜厚de相对于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax处于膜厚较薄一方且范围外时的范围外次数进行计数，在范围外次数计数部30d1计数得到的范围外次数的计数k连续达到一定次数以上的情况下，将处于膜厚较薄一方的范围外的推算膜厚de判断为有效。

异常判断部30c1在范围外次数计数部30d1计数得到的范围外次数连续达到一定次数以上的情况下，通过设定处于膜厚较薄一方且范围外的推算膜厚de有效，能够在持续出现膜厚较薄的推算膜厚d时，倾向于认为感光体6的膜厚被刮削，从而通过设为有效而将膜厚控制在不致于发生图像异常的安全一方。

在推算膜厚有效的情况下，异常判断部30c1丢弃计算膜厚保存部30b中保存的、计算膜厚dc变为比膜厚下限值dmin小之前得计算膜厚dc，从而能够防止把用受到过去的推算膜厚de的影响而求出的推算膜厚判断为处于膜厚较厚一方。

异常判断部30c1在范围外次数计数部30d1计数得到的范围外次数连续达到一定次数以上的情况下，通过不将膜厚推算部30c求出的推算膜厚用于图像形成的控制，能够避免使用无效的推算膜厚而造成发生异常状态的问题。

在最新的计算膜厚dc未满足上述式(5)的条件的情况下，前往步骤s140，异常判断部30c1将计算膜厚dc判断为无效，并返回主程序。

在推算膜厚de相对于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax，处于膜厚较厚一方且范围外时，异常判断部30c1将推算膜厚de判断为无效。

在推断膜厚de相对于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax，处于膜厚较厚一方且范围外时，异常判断部30c1通过设推算膜厚de无效，能够避免尽管实际上已达到使用寿命，却判断尚未到达使用寿命，导致发生异常图像的不良情况。

在范围次数计数部30d1计数得到的膜厚处于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax的范围外的次数连续未达到规定次数的情况下，异常判断部30c1让膜厚推算部30c再次实行膜厚推算处理，能够早期判断推算膜厚de异常的真伪。

<第一实施方式的效果>

与现有技术不同，为了判断计算膜厚dc是正常还是异常，预存过去膜厚推算时的推算膜厚de以及感光体的行走距离l，并通过对推算膜厚de的值，考虑推算膜厚误差δde的幅度可以用推算膜厚de的函数来定义的推算膜厚误差δde的上下限幅度、以及膜厚的磨耗速度的上下限，从而能够求出以后的膜厚值的可取范围。

该预测膜厚范围dmin～dmax随着前一次的推算膜厚de而变动，膜厚越薄则范围越窄，能够以良好的精度求出膜厚，因此能够判断膜厚检测结果有无异常，求出高精度的推算膜厚de。

<第二实施方式>

在第一实施方式中，由于i-v特性的斜率-计算膜厚dc之间的关系随着噪声环境和湿度温度环境而变化，因此在图8中决定有关于感光体的膜厚的误差范围时考虑了环境影响。

对此，第二实施方式的特征在于，通过用温度湿度检测部11预测当前的气氛温湿度，补偿斜率m-计算膜厚dc的关系式，来抑制误差的范围。

对于参考图9求出的推算膜厚de，利用与计算膜厚dc的误差相同的理论，推算膜厚误差计算部30f可以基于推算膜厚de来定义推算膜厚误差δde。

例如，用类似式(11)的线性函数来定义，推算膜厚误差δde、系数α、推算膜厚de、截距β可以基于机种固有的实测数据来决定。

δde＝α×de+β式(11)

在计算感光体的使用率时，可以用下式(12)计算膜厚的可取范围的下限值(膜厚范围下限值dmin)。

膜厚范围预测部30d从用推算膜厚de减去推算膜厚误差δde所得的值，减去最大磨耗速度vsmax乘以前一次膜厚推算时的行走距离(ln-le)所得到的值，来求出膜厚范围下限值dmin。

dmin＝de-δde-vsmax×(ln-le)式(12)

最大磨耗速率vsmax表示感光体的膜厚允许磨耗的最大速度。最大磨耗速度vsmax取决于机种的固有值，影响因素主要如下。

(1)清洁刮板的压力

(2)显影夹持部(显影辊和感光体)的按压力

(3)环境(如果是低温环境，则清洁刮板变硬，易于磨耗)。

<使用率计算处理>

图12是本发明的第二实施方式涉及的图像形成装置1所采用的使用率计算处理的示意图。

在第二实施方式中，如图12所示，用膜厚范围下限dmin来实行使用率计算处理，以避免在计算感光体的使用率ur时，使用异常数据来早期判断感光体的使用寿命是否结束。

在图12中，横轴表示感光体的使用寿命判断时计算使用率ur之际的感光体的行走距离l，纵轴表示感光体的推算膜厚de。

以往，根据从最初的感光体膜厚出发，以设想的最大磨耗速度vsmax，让感光体6受到磨耗时的推算最小膜厚dmin_cal(符号49)，来求出使用率ur(％)。

在此，如式(13)所示，通过从初始膜厚ds减去感光体的行走距离l乘以最大磨耗速度vsmax所获得的值来求出推算最小膜厚dmin_cal。

dmin_cal＝ds-vsmax×l式(13)

第二实施方式的特征在于，先根据前一次膜厚推算时的推算膜厚de求出膜厚范围下限值dmin，再根据该膜厚范围下限值dmin来计算使用率ur，由此每次膜厚推算均能够求出精度更高的使用率ur。

图12中以符号62表示膜厚范围下限值dmin。

比较最大磨耗膜厚dsmax和膜厚范围下限值dmin，在dmin<dmin_cal的范围64中，基于推算最小膜厚dmin_cal来计算使用率ur。

另一方面，在dmin>dmin_cal的范围65中，基于膜厚范围下限值dmin，计算使用率ur。

这样，通过在使用率ur的计算中使用推算最小膜厚dmin_cal和膜厚范围下限值dmin中的值较大的一方，能够进一步提高使用率ur以及感光体使用寿命的判断精度。这是因为实际的感光体6的膜厚比最大磨耗膜厚更小。

由于噪声的影响，膜厚范围下限值dmin(符号62)会出现异常的值，因此在这种情况下，感光体6的使用率计算中不使用膜厚范围下限值dmin。

另外，关于推算膜厚误差δde，根据上述式(12)，随着感光体6磨耗，能够提高推算膜厚误差δde的精度。

图12中显示的符号63是使用率ur的计算中使用的膜厚值。

在感光体6的行走距离l长且膜厚较薄的情况下，伴随该膜厚值，能够提高膜厚推算的精度。为此，第二实施方式通过在感光体的行走距离l超过某一阈值之后进行感光体的膜厚推算以及使用率ur的计算，能够进一步提高精度。

<使用率计算处理>

图13是本发明的第二实施方式涉及的图像形成装置1的使用率计算处理流程图。

在步骤s210中，比较部30k判断感光体6的行走距离l是否大于阈值lref。

在感光体6的行走距离l大于阈值lref的情况下，进入步骤s215，膜厚范围预测部30d根据前一次的推算膜厚de，计算膜厚范围下限值dmin。

即，膜厚范围预测部30d从用推算膜厚de减去推算膜厚误差δde所得到的值中，减去最大磨耗速度vsmax乘以前一次膜厚推算时的行走距离(ln-le)而得到的值，由此求出膜厚范围下限值dmin。

dmin＝de-δde-vsmax×(ln-le)式(14)

在此，从前一次推算膜厚de减去本次的推算膜厚de求出推算膜厚误差δde。

膜厚范围预测部30d通过用基于前一次推算膜厚de的推算膜厚误差δde来求出与当前行走距离l对应的预测膜厚范围dmin～dmax，使得推算膜厚误差δde随着感光体6的膜厚减少而降低，从而能够提高预测膜厚范围dmin～dmax的预测精度。

在步骤s220中，比较部30k判断膜厚范围下限值dmin是否大于最大磨耗膜厚。

在膜厚范围下限值dmin大于推算最小膜厚dmin_cal的情况下(范围64)，前往步骤s225，使用率计算部30g用膜厚范围下限值dmin来计算使用率ur。

具体而言，使用率计算部30g根据膜厚范围预测部30d预测的膜厚范围下限值dmin(参考式(14))，计算感光体6的使用率ur。用初始膜厚ds、不出现异常图像所需的膜厚dref，可以如下式(15)，根据初始膜厚被刮掉的刮削量ds-dmin与允许刮削量ds-dref之间的比率来计算使用率ur。

ur＝[(ds-dmin)/(ds-dref)]×100式(15)

使用率计算部30g根据预测膜厚范围下限值dmin，计算感光体6的使用率，由此能够提高使用率计算的精度。

使用率计算部30g在行进距离计算部30h求出的感光体6的行进距离l超过了预定阈值后，基于预测膜厚范围下限值dmin，计算感光体6的使用率，由此能够提高感光体6的使用率的预测精度。

相反，在感光体6的行走距离l在阈值lref以下的情况下(s210，否)，或者膜厚范围下限值dmin在推算最小膜厚dmin_cal以下的情况下(范围65)，前往步骤s230，如下式(16)，使用率计算部30g用推算最小膜厚dmin_cal(参考式(13))来计算感光体6的使用率ur。

ur＝[(ds-dmin_cal)/(ds-dref)]×100式(16)

使用率计算部30g根据预测膜厚范围下限值dmin和推算最小膜厚dmin_cal中相对较大的值来计算感光体6的使用率，但与已经记录在处理卡盒id信息等中的使用率信息相比，如果求出的使用率ur较小，则为了避免使用率减少且令用户犹豫不决，保持已经记录在id信息等中的使用率信息不再更新。

也就是说，无论是步骤s225还是步骤s230，在求出使用率ur后，进一步判断上述求出的使用率(％)是否在处理卡盒(pcdu)的id芯片中记录的使用率(％)以上(步骤s235)，如果判断结果为求出的使用率(％)在处理卡盒(pcdu)的id芯片中的使用率(％)以上，则前往步骤s240，将处理卡盒(pcdu)的id芯片中的使用率信息更新为上述求出的使用率(％)，而如果判断结果为求出的使用率(％)小于处理卡盒(pcdu)的id芯片中记录的使用率(％)，则保持处理卡盒(pcdu)的id芯片中的使用率信息不变。

<第二实施方式的效果>

与现有技术不同，为了判断计算膜厚dc是正常还是异常，本实施方式预存过去的膜厚推算时的推算膜厚de和感光体行作距离l，计算相对于感光体行走距离l的膜厚值的斜率α和截距β。基于这些计算结果，可以推算基于感光体行走距离l推算的推算膜厚de。

在判断感光体6的使用寿命时，根据最近的推算膜厚de和基于推算膜厚de的推算膜厚误差δde，计算膜厚的可取范围的下限值即膜厚范围下限值dmin。用该下限值计算使用率ur，判断使用寿命。该膜厚范围下限值dmin基于前一次的推算膜厚de，而且随着感光体的行走距离l增加，膜厚越薄，使用率ur的计算精度越高，因此通过考虑基于推算膜厚de的膜厚可取范围，能够求出精度良好的感光体使用率ur。

<第三实施方式>

<控制部>

图14是本发明第三实施方式涉及的图像形成装置的主要构成功能框图。图14所示的标记中与图3相同的标记表示相同构成,在此省略说明。

第三实施方式的特征在于具备可使用剩余天数计算部30p、推算膜厚/日期时间信息保存部30p1、差值判断部30p2、经过天数判断部30p3。

可使用剩余天数计算部30p根据膜厚范围的下限值,计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数。

可使用剩余天数计算部30p根据膜厚推算部30c求出的当前时刻的推算膜厚和日期时间信息、以及从推算膜厚/日期时间信息保存部30p1取得的感光体的行走距离超过预定阈值的时刻的推算膜厚和日期时间信息,计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数。

可使用剩余天数计算部30p根据由膜厚推算部30c求出的当前时刻的推算膜厚和日期时间信息、以及从推算膜厚/日期时间信息保存部30p1取得的推算膜厚在预定阈值以下时的推算膜厚和日期时间信息,计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数。

当差值判断部30p判断某个时刻与当前时刻之间的推算膜厚的差值为预定阈值以上时,可使用剩余天数计算部30p求出感光体6和显影部7的可使用剩余天数。

但经过天数判断部30p3判断从某个时刻到当前时刻之间所经过天数为预定阈值以上时,可使用天数计算部30p求出感光体6以及显影部7的可使用剩余天数。

推算膜厚/日期时间信息保存部30p1保存由行走距离计算部30h求出的感光体的行走距离在预定阈值以上的时刻的推算膜厚和日期时间信息。

差值判断部30p2判断某时刻与当前时刻之间得推算膜厚的差值是否在预定阈值以上。

经过天数判断部30p3判断从某个时刻到当前时刻为止所经过天数是否在预定阈值以上。

<可使用剩余天数计算处理的概要>

可使用剩余天数计算部30p根据上述推算膜厚de和使用率ur,求出显影部7的可使用剩余天数。通过可使用剩余天数计算部30p计算可使用剩余天数,容易把握用户或服务人员到准备好新显影部7为止所需的大致时间。

可使用剩余天数计算部30p根据式(17),从100[％]减去使用率ur[％]得到的值除以使用率ur[％]，该值再除以从更换年月日起的使用天数du,求出可使用剩余天数dl。

dl＝(100-ur[％])÷(ur[％]÷du)式(17)

可使用剩余天数计算部30p根据式(18),将从初始膜厚ds减去当前时刻的推算膜厚de而得到的值，除以从初始膜厚ds减去阈值dref而得到的值,再将该值乘以100，求出使用率ur[％]。

ur[％]＝(ds-de)÷(ds-dref)×100式(18)

可使用剩余天数计算部30p根据公式(19)，从当前时刻的推算膜厚de减去阈值deref而得到的值，除以从初始膜厚ds减去当前时刻的推算膜厚de而得到的值,进而将该值除以从感光体6的交换日期开始的使用天数du，求出可使用剩余天数。

dl＝(de-deref)÷((ds-de)÷du)式(19)。

通常,根据下述感光体6的行走距离l和打印页数np,求出可使用剩余天数dl。

可使用剩余天数计算部30p根据式(20),求出从寿命规定行驶距离ld减去当前时刻的感光体的行走距离l所得到的值,将该值除以，用当前时刻的感光体6的行走距离l除以从更换年月日开始的使用天数du得到的值，求出可使用剩余天数dl。

dl＝(ld-l)÷(l÷du)式(20)

或者，可使用剩余天数计算部30p根据式(21),求出从寿命页数nl减去当前时刻的打印页数np的值,将该计算值除以，用当前时刻的打印页数np除以从更换年月日起的使用天数du得到的值,求出可使用剩余天数dl。

dl＝(nl-np)÷(np÷du)式(21)

由于将以寿命规定的行走距离ld或页数n设为相对于感光体膜厚d具有一定宽裕的值,因而，实际上感光体6(显影部7)可以使用得更长久。

通过基于前述推算膜厚de求出使用率ur,并基于该使用率ur求出可使用剩余天数dl,能够将可使用剩余天数dl与膜厚相关联，从而提高可使用剩余天数dl的精度。

〈感光体的行进距离和膜厚的关系〉

图15是感光体的行走距离l和膜厚d之间关系的图。如图8和图15所示,在感光体的膜厚d较厚的初始状态、即感光体的行走距离较短的状态下,如图15所示,推算膜厚de的范围变宽,推算膜厚de的精度下降。

因此,在某种程度上,可以用膜磨损之后膜厚d变薄的状态作为起点，来求出剩余天数dl,提高可使用剩余天数dl的计算精度。

可使用剩余天数计算部30p根据式(22),将从当前时刻的推算膜厚de减去阈值dref得到的值，除以从以感光体的行走距离l增大后的某个时刻的推算膜厚det(图15中的p3)减去当前时刻的推算膜厚de所得到的值,进而用该值除以从感光体的行走距离增大后的某个时刻所起经过的天数dp,从而求出可使用剩余天数dl。

dl＝(de-dref)÷((det-de)÷dp)式(22)

通过用可使用剩余天数计算部30p按照式(22)求出可使用剩余天数dl,从而只要根据高精度状态下的推算膜厚de的数据，便能够预测可使用剩余天数dl。

另外,通过后述的差分值判定部30p2判断推断膜厚差值δde的结果所引起的,可使用剩余天数计算部30p根据式(23),将从当前时刻的推算膜厚de减去阈值dref得到的值，除以从推算膜厚de达到规定值以下的时刻的值de1(图15中的p4)减去当前时刻的推算膜厚de所得到的值,进而用该值除以从推算膜厚de达到规定膜厚d的时刻起所经过的天数dp，求出可使用剩余天数dl。

dl＝(de-dref)÷((de1-de)÷dp)式(23)

通过可使用剩余天数计算部30p按照式(23)求出可使用剩余天数dl,只要根据高精度状态下的推算膜厚de的数据，便能够预测可使用剩余天数dl。

〈推算膜厚差值〉

根据公式(24),差值判断部30p2将感光体行走距离l增加后的时刻的推算膜厚det1，减去当前时刻的推算膜厚detn所求出的值,作为推算膜厚差值δde。

δde＝(det1-detn)式(24)

而后，差值判断部30p2判断某个时刻与当前时刻之间的推算膜厚差值δde是否在预定阈值以上。

或者，差值判断部30p2根据式(25),将从规定膜厚d中减去当前时刻的推算膜厚de所求出的值作为推算膜厚差值δde。

δde＝(d-de)式(25)

而后，差值判断部30p2判断某个时刻与当前时刻之间的推算膜厚差值δde是否在预定阈值以上。

如果式(24)或式(25)求出出的推算膜厚差值δde在某种程度为较大的值,则膜磨损率(以天为单位的膜磨损量)的推测容易产生误差,因此，对于基于推算膜厚de计算可使用剩余天数dl的时期，优选从推算膜厚de成为小于阈值deref的时刻起进行基于推算膜厚de计算可用剩余天数dl。

出于同样的理由,经过天数判断部30p3判断从某个时刻到当前时刻所经过天数是否在预定阈值以上。

优选从感光体行走距离l增加后的某一时刻起经过天数dp、或者从推算膜厚de达到规定膜厚的时刻起经过天数dp超过了某一阈值dpref的时刻起,计算可使用剩余天数dl。

<第三实施方式的效果>

相比于根据页数或行走距离信息计算可使用剩余天数dl,用可使用剩余天数计算部30p基于预测膜厚范围的下限值，计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl,能够提高可使用剩余天数dl的预测精度。

通过根据由膜厚推算部30c求出的当前时刻的推算膜厚和日期时间信息、以及从推算膜厚/日期时间信息保存部30p1取得的感光体的行走距离超过某个阈值的时刻的推算膜厚和日期时间信息,求出感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl,能够提高膜磨损率的预测精度,提高可使用剩余天数dl的预测精度。

通过根据膜厚推算部30c求出的当前时刻的推算膜厚和日期时间信息、以及从推算膜厚/日期时间信息保存部30p1取得的推算膜厚在预定阈值以下时的推推算膜厚和日期时间信息,计算感光体6及显影部7的可使用剩余天数dl,能够提高膜磨损率的预测精度,提高可使用剩余天数dl的计算精度。

当判断某个时刻与当前时刻之间的推算膜厚差值δde达到预定阈值以上时,通过计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl,能够在不受测量误差影响的情况下，提高可使用剩余天数dl的计算精度。

当判断为从某时刻到当前时刻的经过天数为预定阈值以上时,通过计算感光体6以及显影部7的可使用剩余天数dl,能够在不受测定误差的影响的情况下，提高可使用剩余天数dl的计算精度。

<本实施方式的作用、效果>

<第1方式>

本方式是图像形成装置1，其中具备，电压施加部24，用于对转动的感光体6的外周面充电的充电辊12施加充电偏压；以及，电流电压检测部19，用于生成反馈信号，该反馈信号表示从充电辊12流到感光体6的输出电流，其特征在于，具备，膜厚计算部30a，用于根据与施加到充电辊12上的充电偏压有关的电压v、以及与感光体6中的输出电流有关的电流i，求出感光体6的膜厚；行走距离计算部30h，用于计算感光体6在带电状态下的行走距离l；计算膜厚保存部30b，用于将膜厚计算部30a求出的计算膜厚dc与行走距离l相关联地保存；膜厚推算部30c，用于根据从计算膜厚保存部30b取得的多个时刻的计算膜厚dc和行走距离l，求出当前时刻的推算膜厚de；以及，膜厚范围预测部30d，用于根据膜厚推算部30c求出的推算膜厚de，求出与当前时刻的行走距离l对应的预测膜厚范围dmin～dmax。

按照本方式，根据推算膜厚de来求出对应当前时刻的行驶距离l的预测膜厚范围dmin～dmax，能够高精度地求出预测膜厚范围。

<第2方式>

本方式的特征在于，膜厚推算部30c根据从计算膜厚保存部30i取得的多个时刻的计算膜厚dc和行走距离l，按照最小二乘法求出与当前时刻的行走距离l对应的推算膜厚。

按照本方式，根据多个时刻的计算膜厚dc和行走距离l，用最小二乘法计算与当前时刻的行走距离l对应的推算膜厚de，能够提高推算膜厚de的推算精度。

<第3方式>

本方式的特征在于，膜厚推算部30c具备异常判断部30c1，用于在下一次膜厚推算时，通过判断推算膜厚de是否在膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax之内，来判断推算膜厚de是有效还是无效。

根据本方式，在推算下一个膜厚时，通过判断推算膜厚de是否进入预测的预测膜厚范围dmin～dmax内，来判断推算膜厚de有效还是无效，从而判断推算膜厚de的有效/无效并提高推算膜厚de的精度，进而提高下一个膜厚推算的精度。

<第4方式>

本方式的特征在于，图像形成装置具有，膜厚推算信息保持部30e，用于保持表示膜厚推算部30c所使用的充电偏压-充电电流的曲线的斜率与感光体6的膜厚之间关系的膜厚推算信息；以及，推算膜厚误差计算部，用于根据膜厚推算信息以及推算膜厚de，计算膜厚推算信息和推算膜厚de之间的推算膜厚误差δde，膜厚范围预测部d根据推算膜厚de和推算膜厚误差δde，计算预测膜厚范围dmin～dmax。

按照本方式，通过基于推算膜厚de和推算膜厚误差δde来计算预测膜厚范围dmin～dmax，具有推算膜厚de越薄膜厚推算时的推算膜厚误差δde就变得越小，预测膜厚范围dmin～dmax的预测精度变的越高的优点。

<第5方式>

本方式的特征在于，膜厚范围预测部30d以前一次推算膜厚de的值越小预测膜厚范围dmin～dmax就越窄的方式进行计算。

按照本方式，通过以前一次的推算膜厚de的值越小预测膜厚范围dmin～dmax就越窄的方式计算，具有推算膜厚de越薄膜厚推算时的推算膜厚误差δde就变得越小，预测膜厚范围dmin～dmax的预测精度越高的优点。

<第6方式>

本方式的特征在于，图像形成装置具有用于检测当前温度湿度的温度湿度检测部11，膜厚推算部30c根据温度湿度检测部11检测到的温度湿度信息，补偿推算膜厚de。

按照本方式，通过根据温度湿度信息补偿推算膜厚de，具有提高了推算膜厚de的预测精度的优点。

<第7方式>

本方式的特征在于，图像形成装置具备用于检测当前温度湿度的温度湿度检测部11，膜厚推算部30c根据温度湿度检测部11检测到的温度湿度信息，补偿推算膜厚误差δde。

按照本方式，通过根据温度湿度信息补偿推算膜厚误差δde，具有提高了推算膜厚误差δde的预测精度的优点。

<第8方式>

本方式的特征在于，在推算膜厚de相对于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax，处于膜厚较厚一方且范围外时，异常判断部30c1设推算膜厚de无效。

按照本方式，在推算膜厚de处于膜厚较厚一方且范围外的情况下，通过设定推算膜厚de无效，能够防止尽管实际上已经达到使用寿命时期，却被判断为还没有达到使用寿命，以至于产生异常图像的问题。

<第9方式>

本方式的特征在于，异常判断部30c1具有范围外次数计数部30d1，用于对膜厚推算部30c推算的推算膜厚de相对于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax处于膜厚较薄一方且预测膜厚范围的范围外时的范围外次数进行计数，异常判断部c1在范围外次数计数部30d1计数所得的范围外的次数连续达到一定次数以上的情况下，设处于膜厚较薄一方的范围外的推算膜厚de有效。

按照本方式，在计数得到的范围外次数连续在一定次数以上的情况下，通过设处于膜厚较薄一方的范围外的推算膜厚de有效，在处于膜厚较薄一方的推算膜厚d持续的情况下，判断感光体6的膜厚倾向于被刮削，通过设定为有效而进行安全控制。

<第10方式>

本方式的特征在于，在推算膜厚有效的情况下，异常判断部30c1舍弃计算膜厚保存部30b中保存的、计算膜厚dc变为比膜厚下限值dmin小之前的计算膜厚dc。。

按照本方式，在推算膜厚有效的情况下，异常判断部30c1丢弃计算膜厚保存部30b中保存的、计算膜厚dc变为比膜厚下限值dmin小之前的计算膜厚dc，从而能够防止在受到过去的推算膜厚de影响的状况下求出的推算膜厚而被误认为膜厚处于较厚一方。

<第11方式>

本方式的特征在于，异常判断部30c1具有范围外次数计数部30d1，用于对在膜厚推算部30c推算的推算膜厚de处于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax的膜厚较厚一方的预测膜厚范围外的情况下，或者膜厚推算部30c推算的推算膜厚de处于膜厚较薄一方的预测膜厚范围外的情况下的范围外次数进行计数，当范围外次数计数部30d1计数得到的范围外次数连续小于一定次数时，异常判断部30c1让膜厚推算部30c再次实行膜厚推算处理。

按照本方式，在由范围外次数计数部30d1计数的范围外次数连续小于一定次数的情况下，通过使得膜厚推算部30c再次实行膜厚推算处理，能够较早判断推算膜厚de的异常的真伪。

<第12方式>

本方式的特征在于，异常判断部30c1具有范围外次数计数部30d1，用于对在膜厚推算部30c推算的推算膜厚de相对于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围dmin～dmax处于范围外的范围外次数进行计数，当范围外次数计数部30d计数得到的范围外次数连续在一定次数以上时，异常判断部30c1不将膜厚推算部30c推算的推算膜厚用于有关于图像形成的控制。

按照本方式，在计数得到的范围外次数连续在一定次数以上的情况下，通过在有关图像形成的控制中不使用膜厚推算部30c推算的推算膜厚，能够避免使用无效的推算膜厚而发生异常状态的问题。

<第13方式>

本方式的图像形成装置1的特征在于，具备使用率计算部30g，用于根据膜厚范围预测部30d预测的预测膜厚范围下限值dmin，计算感光体30的使用率。

按照本方式，通过根据预测膜厚范围下限值dmin来计算感光体6的使用率，能够提高使用率计算精度。

<第14方式>

本方式的特征在于，图像形成装置1具有，行走距离计算部30h，用于计算感光体6的行走距离l；以及，比较部30k，用于比较由膜厚范围预测部30d预测的预测膜厚范围下限值dmin和可以基于感光体6的行走距离l求出的感光体6的膜磨耗最大时的最大磨耗膜厚值，使用率计算部30g根据预测膜厚范围下限值dmin和最大磨耗膜厚值之中较大一方的值，计算感光体6的使用率。

按照本方式，通过根据预测膜厚范围下限值dmin或最大磨耗膜厚值之中较大一方的值，计算感光体6的使用率，并与已经记录在处理卡盒内的id信息等中的使用率信息比较，在计算的使用率ur较低的情况下，保持id信息等中已经记录的使用率信息，不进行更新，用以避免使用率降低而混淆用户。

<第15方式>

本方式的特征在于，膜厚范围预测部30d用基于前一次的推算膜厚de的推算膜厚误差δde，求出与当前时刻的行走距离l对应的预测膜厚范围下限值dmin。

按照本方式，通过用基于前一次的推算膜厚de的推算膜厚误差δde来计算与当前时刻的行走距离l对应的预测膜厚范围下限值dmin，随着感光体6的膜厚的减小，推算膜厚误差δde降低，从而能够提高预测膜厚范围下限值dmin的预测精度。

<第16方式>

本方式的特征在于，使用率计算部30g在行走距离计算部30h求出的感光体6的行走距离l超过预定阈值之后，基于膜厚范围预测部30d所预测的预测膜厚范围下限值dmin，计算感光体6的使用率。

按照本方式，在行走距离计算部30h求出的感光体6的行走距离l超过预定阈值后，基于预测膜厚范围下限值dmin计算感光体6的使用率，由此能够提高感光体6的使用率的预测精度。

<第17方式>

本方式的图像形成装置1的特征在于,具有根据预测膜厚度范围的下限值,计算感光体和显影部的可使用剩余天数dl的可使用剩余天数计算部30p。按照本方式,根据预测膜厚范围的下限值来计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl,其相较于根据页数或行走距离信息计算，能够提高剩余天数dl的预测精度。

<第18方式>

本方式的图像形成装置1的特征在于,具备用于保存在行走距离计算部30h求出的感光体的行走距离超过预定阈值的时刻的推算膜厚以及日期时间信息的推算膜厚/日期时间信息保存部30p1,可使用剩余天数计算部30p根据膜厚推算部30c求出的当前时刻的推算膜厚和日期时间信息、以及从推算膜厚/日期时间信息保存部30p1取得的感光体的行走距离超过预定阈值的时刻的推算膜厚和日期时间信息，计算感光体6以及显影部7的可使用剩余天数dl。

按照本方式,通过根据膜厚推算部30c求出的当前时刻的推算膜厚和日期时间信息、以及从推算膜厚/日期时间信息保存部30p1取得的感光体的行走距离超过某一阈值的时刻的推算膜厚和日期时间信息,求出感光体6以及显影部7的可使用剩余天数dl,能够提高膜磨损率的预测精度,提高可使用剩余天数dl的预测精度。

<第19方式>

本方式的图像形成装置19的特征在于,具有用于保存推算膜厚为预定阈值以下时的推算膜厚和日期时间信息的推算膜厚/日期时间信息保存部30p1,可使用剩余天数计算部30p根据膜厚推算部30c求出的当前时刻的推算膜厚和日期时间信息、以及从推算膜厚/日期时间信息保存部30p1取得的推算膜厚为预定阈值以下时的推算膜厚和日期时间信息,计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl。

按照本方式,通过根据膜厚推算部30c求出的当前时刻的推算膜厚和日期时间信息、以及从推算膜厚/日期时间信息保存部30p1取得的推算膜厚在预定阈值以下时的推算膜厚和日期时间信息,计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl,能够提高膜磨损率的预测精度,提高可使用剩余天数dl的计算精度。

<第20方式>

本方式的图像形成装置1的特征在于,具备用于判断某时刻与当前时刻之间的推算膜厚差值δde是否在预定阈值以上的差值判断部30p2,p当差值判断部30p2判断某时刻与当前时刻之间的推算膜厚差值δde在预定阈值以上时,可使用剩余天数计算部30计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl。

按照本方式,当判断为某时刻与当前时刻之间的推算膜厚差值δde为预定阈值以上时,通过计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl,能够在不受测量误差影响的情况下提高可使用剩余天数dl的计算精度。

<第21方式>

本方式的图像形成装置1的特征在于,具备用于判断从某时刻到当前时刻之间的经过天数是否为预定阈值以上的经过天数判断部30p3,可使用剩余天数计算部30p在经过天数判断部30p3判断从某时刻到当前时刻之间的经过天数为预定阈值以上时,计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl。

根据本方式,当判断为从某时刻到当前时刻之间的经过天数为预定阈值以上时,通过计算感光体6和显影部7的可使用剩余天数dl,能够在不受测定误差影响的情况下，提高可使用剩余天数dl的计算精度。

<第22方式>

本方式的图像形成方法是用于图像形成装置的方法，所述图像形成装置具备，电压施加部24，用于对转动的感光体6的外周面充电的充电辊12施加带电偏压；以及，电流电压检测部19，用于生成表示从充电辊12输出到感光体6的输出电流的反馈信号，所述图像形成方法的特征在于，实行以下步骤，膜厚计算步骤，根据与施加到充电辊12上的充电偏压有关的电压v、以及与感光体6中的输出电流有关的电流i，求出感光体6的膜厚；行走距离计算步骤，计算处于带电状态的感光体6的行走距离l；计算膜厚保存步骤，将在所述膜厚计算步骤中求出的计算膜厚dc与行走距离l相关联地保存；膜厚推算步骤，根据在计算膜厚保存步骤中取得的多个时刻的计算膜厚dc和行走距离l，求出当前时刻的推算膜厚de；以及，膜厚范围预测步骤，根据在膜厚推算步骤中求出的推算膜厚de，求出对应当前时刻的行走距离l的预测膜厚范围dmin～dmax。

第22方式的作用和效果与第1方式相同，在此省略其说明。

<第23方式>

本方式有关程序，其特征在于，让处理器执行第17方式所记载的图像形成方法中的各步骤。

按照本方式，能够让处理器执行图像形成方法所具有的步骤。