用于校准光学成像系统的方法和设备的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及光学成像系统的校准。
【背景技术】
[0002] 光学成像系统存在于大量的眼科学仪器中，不管是在用于诊断的仪器还是用于治 疗的仪器中。光学成像系统可W例如具有聚焦任务，例如在激光仪器中，W便将用于治疗眼 睛的激光束聚焦在眼睛上或眼睛中的一个点上。扩束望远镜（光束扩散器）例如在一些激 光仪器中用于扩散激光束那样也可W是光学成像系统，光学成像系统需要校准。用于物体 成像到图像传感器上的物镜同样可W是在本公开意义上的光学成像系统。通常本公开不限 于用于眼科学的仪器的物镜，如其典型地在眼科诊所或眼科医院中遇见到的那样。在该领 域之外的仪器中使用同样是可能的。
【发明内容】
[0003] 本公开的出发点是经常发生如下必要性，即精确地相对于给定的轴线（下面简称 为校准轴线）校准光学成像系统，校准轴线可W例如通过其中应当安装或已安装成像系统 的仪器的设计情况例如通过安装导轨确定，安装导轨用于安装仪器的至少一部分光学部 件。校准指的是，W确定的希望方式、典型地W平行方式相对于校准轴线调节成像系统的光 学轴线。为此，成像系统必需非常精密地相对于校准轴线被调节并且一-一旦达到希望的 最终位置一-可W固定在最终位置中。
[0004] 为了校准光学成像系统，例如可W借助两个相对彼此间隔距离布置的光阔元件。 该些光阔元件该样地固定在仪器上，使得校准轴线穿过两个光阔元件的光阔开口延伸，成 像系统应当相对于校准轴线校准。就此而言可W说，在任何情况下为了校准过程的目的，光 阔元件W其光阔开口限定了校准轴线。光阔元件在完成校准之后要么被完全拆除要么至少 从仪器的光学福射路径翻转出来，该些光阔元件位于成像系统的一侧，具体地在图像侧。光 束从成像系统的另一侧（对置侧）沿着校准轴线入射到成像系统中。对于仅仅基于校准人 员的眼睛观察的措施而言，光束必需处在可见的波长范围中。校准人员在此相对于校准轴 线及相应地相对于两个光阔元件）调节成像系统，直到他/她观察到，光束的光不仅通 过较近的第一光阔元件的光阔开口，而且通过较远的第二光阔元件的光阔开口。即因此必 须首先W光束射到第一光阔开口，接着还要调节出成像系统的正确的角度位置，由此附加 地要W光射到第二光阔开口。该可能对于校准人员而言是困难的、相应费力且无聊的过程， 因为可能容易发生W下情况，即他/她在寻找第二光阔开口时重新失去相对于第二光阔开 口的校准。
[0005] 与之不同，按照本发明的观点规定一种用于校准光学成像系统的方法，包括：
[0006] 至少在使用第一光阔元件的情况下限定校准轴线，其中，所述校准轴线连接第一 光阔元件的光阔开口与在第一光阔元件后面间隔距离设置的目标地点，
[0007] 相对于校准轴线校准所述光学成像系统，直到沿着校准轴线入射到成像系统上的 福射束的福射在经过成像系统之后穿过第一光阔元件的光阔开口射到目标地点，
[0008]至少在第一光阔元件的光阔开口或/和目标地点的区域中针对福射束的福射执 行用传感器检测福射，
[0009]为信号处理单元提供传感器信号，在所述福射检测时产生所述传感器信号。
[0010] 按照举例的扩展构型，由信号处理单元基于传感器信号产生用于显示图像的图像 数据。借助在显示图像上的合适视觉化，从事校准的人员可W例如轻易地识别所使用的福 射束相对于第一光阔元件的光阔开口或/和相对于目标地点（取决于在哪里执行福射检 巧。的实时位置并且因此识别成像系统的实时的校准状态。实时的校准状态在监视器上的 视觉化对于从事校准的人员而言能够简化和缩减校准工作。
[0011] 变换地或附加地，由信号处理单元可基于传感器信号产生用于调节装置的控制信 号，W便校准所述光学成像系统的至少一部分。W该方式能够实现校准过程的至少部分的 自动化，通过该自动化进一步减轻从事校准的人员的负担。
[0012] 就第一光阔元件而言所述传感器的福射检测可W仅在光阔开口的区域中执行。但 是同样可W的是，就第一光阔元件而言用传感器检测福射也在光阔开口外部执行。
[0013]在本发明的一种实施方式中，所述目标地点由第二光阔元件的光阔开口构成。就 该第二光阔元件而言，所述传感器的福射检测可W仅在光阔开口的区域中执行或它也可W 在光阔开口外部执行。为了形成目标地点，作为光阔元件的变换，例如可W使用没有光阔开 口的目标面，其中，在该目标面上设有一个或多个传感器，所述传感器检测目标面上的福射 入射（如果福射穿过第一光阔元件的话）。
[0014]由于校准状态的基于传感器的检测，所使用的福射束能够W选择方式含有在对于 人类可见的波长范围中或在不可见范围中的福射。尤其可W的是，使用一个在仪器一-对 于该仪器而言成像系统是确定的一-中可能总归存在的福射源，即便该福射源不是在可见 范围中福射，例如UV或IR激光器。但是显然也可W使用单独的福射源，单独的福射源对于 仪器的实际运行不是必需的。
[0015]有待校准的成像系统可W是透镜系统，它包括一个唯一的透镜或包括透镜组件。
[0016]按照本发明的另一个观点，规定一种用于校准光学成像系统的设备，其包括；一个 具有光阔开口的第一光阔元件，
[0017]一个在第一光阔元件后面间隔距离设置的目标元件，所述目标元件限定目标地 点，
[0018]一个用于福射束的福射源，其中，所述源该样布置或可该样布置，使得福射束可沿 着一个连接第一光阔元件的光阔开口与目标地点的校准轴线入射到第一光阔元件上，
[0019]用于成像系统的校准保持装置，其中，所述校准保持装置允许相对于校准轴线校 准成像系统，直到福射束的福射在经过成像系统之后穿过第一光阔元件的光阔开口射到目 标地点，
[0020] 传感器装置，用于至少在第一光阔元件的光阔开口或/和目标地点的区域中针对 福射束的福射进行福射检测，
[0021] 用于处理传感器装置的传感器信号的信号处理单元。
[0022] 按照一种实施方式，第一光阔元件或/和第二光阔元件上的传感器装置仅能够检 测光阔开口的区域中的福射，第二光阔元件的光阔开口构成目标地点。按照另一种实施方 式，第一光阔元件或/和该种第二光阔元件上的传感器装置能够不仅在光阔开口的区域中 而且在光阔开口外部检测福射。
[0023] -种有利的扩展构型规定，在至少一个光阔元件的情况下，光阔开口由一个对于 福射可透过的材料块覆盖，其中，所述材料块支撑至少一个用于检测福射束的福射的传感 器元件。所述传感器元件可W例如设置在光阔元件的光阔开口的区域中，W便能够实现在 光阔开口的区域中的福射监测。
[0024] 在一个实施例中，材料块支撑多个相对彼此间隔距离布置的传感器元件。至少一 部分数量（即两个或更多）的传感器元件、在希望的情况下相关的材料块的所有传感器元 件在此可W布置在光阔元件的光阔开口的区域中。传感器元件可W具有规则的分布，例如 呈矩阵形状，或它们可W不规则地分布，该能够有助于减少或避免不希望的衍射效应。
[00巧]第一光阔元件可W由一个装有材料块和传感器元件的光阔元件构成。变换地或附 加地，所述目标地点可W构成在一个装有材料块和传感器元件的光阔元件上。
[0026] 一个显示单元可W与信号处理单元连接，其中，所述信号处理单元被设置用于基 于传感器信号产生用于显示图像的图像数据并且在显示单元上显示所述显示图像。
[0027] 变换地或附加地，一个用于成像系统的调节装置可与信号处理单元连接，其中，所 述信号处理单元被设置用于基于传感器信号产生用于调节装置的控制信号，W便校准光学 成像系统的至少一部分。
[0028] 对于进一步的检查，例如为了测量成像系统的光学轴线外部的光路，所述第一光 阔元件的或/和一个构成目标地点的第二光阔元件的光阔开口的大小是可改变的。例如可 W得到手动可调节性或能够在进一步自动化的范围中可通过信号处理单元控制光阔大小。
【附图说明】
[0029] 本发明在下面借助示意性附图详细被阐述。其示出：
[0030] 图1用于校准光学成像系统的设备的一个实施例；和
[0031] 图2图1的设备的一个配有用于福射检测的传感装置的光阔元件的放大图。
【具体实施方式】
[0032] 图1中所示的校