准装置总体W10标注。它允许，相对于预给定的校准轴线14校 准一个示意地通过箱12示出的光学成像系统，即该样地在空间中调校成像系统12,使得成 像系统12的光学轴线16相对于校准轴线14具有确定的、希望的位置和定向。在通常情况 下该校准具有如下目的；该样地调校成像系统12,使得成像系统的光学轴线16相对于校准 轴线14平行地并且尤其是同轴地延伸。
[0033] 成像系统12可W包含任意数量的光学透镜，该些光学透镜作为一个单元相对于 校准轴线14是可调节的。成像系统12可W相应地实施为单透镜系统或多透镜系统。纯粹 出于清楚考虑，在图1中示出单个透镜18 ;但是该在任何情况下都不应理解为限制。在希 望的情况下，成像系统12可W变换地或附加地包括一个或多个其它光学元件，例如衍射元 件。
[0034] 成像系统12通过校准保持装置20保持在一个在图1中仅示意地绘出的安装基底 22上。安装基底22用于保持该校准装置10的各种光学部件，其中包括一对光阔元件24、26 和一个福射源28,该福射源能够发射出具有相对于校准轴线14平行、优选同轴的束轴的福 射束30。W福射束30的传播方向为参照，福射源28的安装位置位于有待校准的成像系统 12前面，而该对光阔元件24、26的安装位置在成像系统12后面。安装基底22是眼科学的 诊断和治疗仪器的一部分。除了成像系统12、福射源28和光阔对24、26,另外的光学部件 也可W固定在安装基底22上或者在其上是可固定的，它们对于成像系统12的校准目的而 言不是必需的，但是对于诊断和治疗仪器的功能而言是必需的。例如，一个或多个转向镜、 扫描仪的构件、一个或多个摄像机、OCT(光学相干断层扫描）或化CR(光学低相干反射）测 量装置和类似装置的部件还可W附加地安设或是可安设在安装基底22上。该些另外的光 学部件在专业领域中是公知的并且在该里不需要更详细说明。
[0035] 安装基底22例如可W具有导轨形状，但是它也可W具有所有任意的更复杂的几 何形状。
[0036] 校准保持装置20允许相对于安装基底22手动地和/或电控地调节成像系统12。 校准轴线14相对于安装基底22具有预给定的位置和定向，因此成像系统12的相对于安装 基底22的调校同时意味着相对于校准轴线14的调校。校准保持装置20能够例如实现成 像系统12围绕一个或多个摆动轴线相对于安装基底22摆动。变换地或附加地，校准保持 装置20能够实现成像系统12在一个或多个平移方向上相对于安装基底22的平移移动。
[0037] 光阔元件24、26各通过一个光阔保持装置32固定在安装基底22上。因为光阔元 件24、26仅仅对于校准目的是必需的，但是对于仪器（成像系统12安装到该仪器中）的真 正的诊断或治疗运行不是必需的，所W光阔保持装置32能够使光阔元件24、26离开一一已 校准的一一成像系统12的光学轴线16的区域。为此光阔保持装置32例如能够实现光阔元 件24、26在安装基底22上的可拆卸的固定，例如W插接或螺纹连接技术。变换地可设想， 光阔保持装置32能够实现光阔元件24、26的摆动或其它位移运动，从而它们在真正的诊断 或治疗运行中不会发生干扰。光阔元件24、26的该类摆动或其它移动可W是可手动执行的 或光阔保持装置32可W是可电控的并且可W化合适的驱动装置（例如电动机）实施，W便 能够自动化地将光阔元件24、26投入使用和停用。
[003引福射源28发射出在可见或/和不可见的波长范围中的福射。它可W是对于眼科 学仪器的诊断或治疗运行也必需的福射源。变换地，它可W是对于眼科学仪器的运行不需 要的辅助福射源，该辅助福射源在眼科学仪器的主运行中保持关断或甚至可从安装基底22 拆除。在希望的情况下，福射源28可W与光阔元件24、26类似在使用位置和停用位置之间 可调节地（例如可摆动地）设置在安装基底22上。福射可W在福射源28本身中产生；变 换地也可设想，福射源28仅构成一个用于福射的输出头，该福射在校准装置10或眼科学仪 器（如果该福射源28也安装在该眼科学仪器中的话）的其它位置产生并且例如通过光学 纤维或通过福射臂输送给输出头。
[0039] 光阔元件24、26在校准轴线14方向上相对彼此的距离例如为几厘米或几十厘米。 类似的距离可W存在于成像系统12和第一光阔元件24(即两个光阔元件24、26中在福射 传播方向上最先到达的光阔元件）之间。
[0040] 两个光阔元件24、26的每个都具有一个例如圆形的光阔开口 34，见图2。在该图中 代表性地示出光阔元件24,其中，如果没有明确指出区别，则下面的说明同样也适用于光阔 元件26。光阔开口 34可W例如具有在0.1至2mm范围中的直径。在光阔元件24、26的使 用位置中，即在实施成像系统12的校准时，两个光阔元件24、26的光阔开口 34相对于校准 轴线14对中。换言么校准轴线14延伸通过光阔开口 34的开口中屯、点。当福射束30-- 其束轴相对于校准轴线14同轴并且从一个入射侧（物体侧）射入到成像系统12中一一的 至少部分福射不仅穿过第一光阔元件24的光阔开口 34,而且所述福射部分也到达第二光 阔元件26的光阔开口 34的区域中，则成像系统12已被正确地校准。福射束30可W是发 散的，其中，它优选具有非常小的发散度。变换地，它可W是没有发散度的准直束。例如，福 射束30可W由激光福射构成。
[0041] 为了检测福射束30的福射是否射到两个光阔元件24、26的光阔开口 34,在所示的 实施例中两个光阔元件中的每个都配备有合适的传感装置，W便检测到福射束30的福射 射入到相关的光阔开口 34的区域中。如在图2中举例地借助光阔元件24示出那样，在光 阔开口 34的区域内部设有多个对福射源28的福射敏感的传感器元件36的系统，该些传感 器元件在所示的例子中W二维栅格布置系统分布。传感器元件36至少在光阔元件24中不 填满光阔开口 34的整个开口横截面，而是在传感器元件之间W及W相对于光阔开口 34的 开口边缘留有中间空间。该些中间空间允许福射束30的福射穿过光阔开口 34。在一种变 换实施方式中可W在光阔开口 34的圆周内部存在仅一个唯一的传感器元件36。
[0042] 在图2的所示例子中，传感器元件36仅位于光阔开口34的圆周内部，而不在圆周 外部。但是在本发明的范围中不应排除的是，在光阔开口34的外部也设置一个或多个传感 器元件。
[0043] 一个对于福射源28的福射至少部分可透过的材料块38用作传感器元件36的支 架，该材料块完全覆盖光阔开口 34并且例如通过粘接或其它方式固定在光阔元件24上。 材料块38可W由刚性的、即形状稳定的材料构成或它可W由柔性材料构成。就材料块的厚 度而言，它可W像薄膜一样薄或者按照板或盘的类型构造。例如材料块38可W由玻璃或 PMMA(聚甲基丙締酸甲醋）或PE(聚己締）或PC(聚碳酸醋）组成。显然，每种透明或半透 明的材料都适合形成材料块38,如果在材料块上能够W所希望的位置稳定性设置传感器元 件36的话。传感器元件36可W例如粘贴到材料块38上或者通过平印（lithografisches) 方法安设在其上。多个传感器元件36在材料块38上的分布式布置是有利的，可W获得关 于射入的福射强度的按位置分辨的信息。
[0044] 显然，光阔开口34可W例如是矩形或正方形开口而不是圆形开口。传感器元件36 与光阔开口34的形状无关地优选尽可能均匀地分布在整个开口横截面上。
[0045] 按照一种变换的实施方式，第二光阔元件26可W被去掉并且通过另一个例如用 于传感器元件36的板状支架取代，而该支架不是不许具有用作光阔的开口。足够的是，该 支架在校准轴线14穿透支架时所在的区域中装有一个或多个传感器元件36。该支架对于 福射束30的福射的可透过性是不需要的。即便该支架对于福射缺少可透过性，借助传感器 元件36仍可W获得关于成像光学装置12是否被正确校准的信息。
[0046] 传感器元件36通过相应的信号线路40将其传感器信号传送给电子信号处理单元 42,电子信号处理单元处理传感器信号。该处理可W包括产生图像信号，图像信号可W由信 号处理单元42送到显示单元（监视器）44用于显示。所显示的图像能够包含成像系统12 关于校准轴线14或/和光阔开口 34的实时校准状态的图形显示。在成像系统12的手动 校准的情况下，该样的图形显示让使用者更容易进行校准工作。在图1中在信号处理单元 42和显示单