一种用于显微镜下精确定位的平移台的制作方法
【专利摘要】本发明设计了一种用于显微镜下精确定位的平移台，适用于二维材料定点转移过程。在平移台上增加标记，从而在不对基底有任何操作的前提下给基底上的任一位置做标记。通过基底与平移台的相对位置和样品相对基底的位置，就能确定基底上某一位置的样品相对于平移台的相对位置，从而达到对基底上某一位置的标记作用。
【专利说明】
一种用于显微镜下精确定位的平移台
技术领域
[0001]本专利主要涉及一种用于显微镜下精确定位的平移台，适用于二维材料定点转移过程。针对目前所使用的大多数平移台的表面没有位置刻度，而在二维材料的操作过程中，显微镜下观察时，相对所需要寻找的微米量级的单层二维材料，基底尺寸在毫米量级，很难快速准确的找出基底上的单层二维材料。本专利所设计的一种用于显微镜下精确定位的平移台能帮助实验者快速准确的在基底上定位，而不需对基底有任何额外操作。
【背景技术】
[0002]平移台是提供一个平稳的台面，供各种光学组件放置的，可以让光学元件按照预期方向作直线移动或角度摆动。一般平移台只能提供一个维度上的运动，多维度平移台都是由一维平移台组合而成。目前常用的平移台有手动和自动之分，滑动和推进结构也五花八门，但在毫米甚至亚毫米量级的精度范围内基本都能做到行程稳定，回程差较小。但在二维材料的定点转移过程中需要对载有二维材料的基底进行稳定的精确的操作，所以使用平移台对基底进行操作是比较合适的，但是普通的一维平移台或多维平移台并不是专门为二维材料的定点转移定制的，将其用在转移中还存在很多缺陷与不足。
[0003]使用平移台进行定点转移最大的不足在于平移台尺寸过大，而二维材料基底过小。目前平移台台面尺寸一般在40mm-80mm，而二维材料基底的尺寸一般在1mm以内。虽然平移台使用的是精密测微丝杆，但是由于台面尺寸太大，无法确定基底摆放的位置，普通基底又没有明确的标记，所以通常无法使用普通的平移台在已找到过单层二维材料样品的基底上再一次迅速的寻找样品。
[0004]—般情况下，我们通常会使用二维材料定点转移显微镜完成单层二维材料的寻找及转移实验。在寻找单层二维材料的过程中，平移台相当于普通显微镜的载物台。如果平移台上没有任何标志能确定二维材料的基底相对于平移台的位置，而基底上又没有任何标记的情况下，需要花很长的时间来完成二次寻找基底上样品的工作。为了适用于所有的二维材料基底，有必要对用于显微镜下精确定位的平移台进行一部分的改进，以期适用于二维材料的定点转移。
【发明内容】
[0005]目前的平移台虽然有精密测微丝杆，但是现在测微丝杆只能准确的测出平移台的行程或者说是相对位置。在希望确定比平移台小得多的二维材料基底的绝对位置时，特别是在显微镜下寻找基底上的某一确切位置时，由于需要寻找的面积较大并且丝杆精度和量程有限，测微丝杆几乎起不到任何作用。为了克服这些问题，我们设计了一种用于显微镜下精确定位的平移台:通过在目前的平移台上增加辅助标记，以达到能确定这一基底在转移系统中的绝对位置，从而方便在显微镜下较容易的再次找出基底上的二维材料一一即通过控制基底与平移台、显微镜镜头的相对位置，给在表面无任何记号的二维材料基底上的任一位置做上标记，以方便下次查找。
[0006]技术方案
在平移台上增加标记，从而在不对基底有任何操作的前提下给基底上的任一位置做标记。我们提供的方案是在平移台上增加标尺以达到标记的目的。要确定的位置有两组:1、基底相对于平移台表面的相对位置;2、基底上的某一位置相对于基底的相对位置。通过这两组相对位置，只要固定基底相对于平移台的位置，就能确定基底上某一位置的样品相对于平移台的相对位置，从而达到对基底上某一位置的标记作用。
[0007]有益效果
本专利通过对平移台的两组标尺，将基底上某一位置确定为四个坐标。在基底的旋转过程中找到第一次基底上确定的这一位置，而不用对基底进行任何其他的标记，可方便的寻找基底上没有任何标记的微小样品。
【附图说明】
[0008]下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0009]图1是本专利所设计的三维平移台主视图。
[0010]图2是本专利所设计的三维平移台侧视图。
[0011 ]图3是本专利所设计的三维平移台俯视图。
[0012]图中I是平移台X轴移动方向标尺;2是平移台Y轴移动方向标尺;3是平移台表面横向标尺;4是平移台表面纵向标尺。
实施例
[0013]在平移台表面及平移台侧面各做一组标尺，即平移台表面标尺和平移台轴向标尺各一组。
[0014]在用显微镜观察时，基底会放置于平移台表面，在平移台表面做一组二维定位标尺就能确定基底相对于平移台的相对位置。因为基底形状和大小并不是很确定，要求精度太高意义不大，所以这组标尺的精确度要求在毫米级别。
[0015]我们在试验中操作二维材料转移时，最大需用到的是40x的物镜，通常40x物镜下显微镜视野面积在0.1mm2一0.4mm2之间，通过计算可以确定视野直径大约在0.34mm一0.6mm之间。所以这里所需的标尺精度需在0.34mm之内。而在用显微镜观察时，要移动基底以观察基底不同的位置，即移动平移台相对显微镜头的位置。此时在平移台的侧面做一组标尺，就可以确定平移台相对整个系统的相对位置。这一组标尺的精确度应在0.34_之内。
[0016]实施时，我们采用了三个单轴平移台组合使用的方法，从上到下依次是横向平移台、纵向平移台、高低升降台。所制作的平移台轴向标尺分别为横向平移台侧面制作平移台X轴方向标尺，在纵向平移台侧面制作Y轴方向标尺。
[0017]在使用时，先确定基底在平移台表面的相对位置，记下平移台表面标尺数据。再操作平移台移动基底，找到基底上的二维材料，记下此时平移台侧面X轴移动方向和Y轴移动方向标尺的数值。结合使用这两组数据以确定基底上的某一位置。以后再次寻找此基底上同一二维材料时，只需对照第一组数据，将基底放置在该数据指定的平移台表面位置，然后对照平移台侧面X轴移动方向和Y轴移动方向标尺的数值，将平移台移动到数值指定的位置，就能查看到所定位的样品。如果显微镜中所观察到的画面有很大差异，只需90度旋转基底，并重复上述步骤，最多四次即可迅速的寻找到所需要定位的样品。
【主权项】
1.一种用于显微镜下精确定位的平移台，其特征在于:在平移台的表面和侧面各有平移台表面标尺和平移台轴向标尺一组，以便于在显微镜下确定样品的具体位置。2.—种用于显微镜下精确定位的平移台，其特征在于平移台表面标尺精度在毫米级别。3.—种用于显微镜下精确定位的平移台，其特征在于平移台轴向标尺精度在亚毫米级别。
【文档编号】G02B21/26GK105929527SQ201610482319
【公开日】2016年9月7日
【申请日】2016年6月28日
【发明人】黄书宇, 邱俊
【申请人】南京安京太赫光电技术有限公司